ICT測(cè)試原理經(jīng)典實(shí)用

1、ict測(cè)試原理ict測(cè)試原理一.ict的功能 ict也叫在線測(cè)試儀，是一臺(tái)靜態(tài)元件測(cè)試儀，它能準(zhǔn)確，高速地測(cè)量pcb上已裝元件的不良問(wèn)題，包括元件的漏件，錯(cuò)件，裝反，空焊，來(lái)料不良，pcb上金道之間的開(kāi)短路等?？蓽y(cè)元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器，ic等絕大多數(shù)電子元件。ict測(cè)試原理二. ict的硬件結(jié)構(gòu) ict包括ict系統(tǒng)主機(jī)，電腦系統(tǒng)，壓床，測(cè)試治具。其中ict系統(tǒng)主機(jī)包括：電源部分，量測(cè)控制板，i/o卡，dc量測(cè)板，ac量測(cè)板，開(kāi)關(guān)板，hp-jet量測(cè)板，高壓量測(cè)板(選配件)。ict測(cè)試原理公司公司: tri (test research inc.)德律科技德律科技

2、產(chǎn)地產(chǎn)地: 臺(tái)灣臺(tái)灣 工作條件工作條件治具類型治具類型: 真空治具真空治具.真空壓力真空壓力: 最小最小56cmhg.外部真空管外部真空管2根根.氣壓氣壓: 4kg/cm2 6kg/cm2.氣壓管氣壓管1根根.操作溫度操作溫度: 0。c 30。c.環(huán)境濕度環(huán)境濕度: 25% rh-75%rh.最小工作空間最小工作空間:深：深：1.5 公尺。公尺。寬：寬：2.0 公尺。公尺。高：高：2.0 公尺。公尺。ict測(cè)試原理tri 8001測(cè)試畫(huà)面測(cè)試畫(huà)面ict測(cè)試原理公司公司: tri (test research inc.)德律科技德律科技產(chǎn)地產(chǎn)地: 臺(tái)灣臺(tái)灣 工作條件工作條件電源電源:3 ac 2

3、20v-245v, 50/60 hz 5% 氣壓氣壓: 46kgfcm2ict測(cè)試原理tri 518測(cè)試操作畫(huà)面測(cè)試操作畫(huà)面ict測(cè)試原理相匹配的治具簡(jiǎn)介ict測(cè)試原理 相匹配的治具必需為真空治具相匹配的治具必需為真空治具, 即治具下壓的即治具下壓的動(dòng)力為真空動(dòng)力為真空. 真空治具根據(jù)繞線長(zhǎng)度分為真空治具根據(jù)繞線長(zhǎng)度分為: 長(zhǎng)線長(zhǎng)線治具治具,短線治具和無(wú)線治具短線治具和無(wú)線治具. 我們現(xiàn)在使用的治具為長(zhǎng)線治具我們現(xiàn)在使用的治具為長(zhǎng)線治具. 治具內(nèi)部結(jié)構(gòu)如下治具內(nèi)部結(jié)構(gòu)如下:ict測(cè)試原理sensor壓棒ict測(cè)試原理探針彈簧密封墊ict測(cè)試原理氣管氣管油壓撐竿油壓撐竿雙絞線繞線buffer b

4、oardict測(cè)試原理interfaceict測(cè)試原理introduction of agilent 3070 ict測(cè)試原理agilent 3070 family307x, up to 5200 nodes327x, up to 1300 nodes317x, up to 2600 nodesict測(cè)試原理anatomy of the agilent medalist 3070agilent 3070 hardware agilent 3070electronics cabinetdut power suppliesexternal instrumentstestheadflat scree

5、n monitor on moveable arm. keyboard on moveable arm.end cabinet contains computer, power distribution unit, testhead rotation switch.testheadtest fixture emergency power off switchtest fixturemother board (one per bank)module power suppliesict測(cè)試原理 agilent3070 測(cè)試畫(huà)面測(cè)試畫(huà)面ict測(cè)試原理anatomy of the agilent me

6、dalist i3070 fixtureprobe to pin wiringtest probesupport plateprobe platepersonality pinalignment plateprinted circuit boardfixture framevacuum gasketr1stimulusresponseict測(cè)試原理anatomy of the agilent medalist 3070agilent 3070 testheadbank 2 bank 1module 2 module 0module 3 module 1slot 1slot 1slot 1slo

7、t 1slot 1: asruslot 6: module control cardall others: pin cardspin 78 - 1pin 1 - 78ict測(cè)試原理fixture numberingbrc: bank row columnbank 2 bank 1module 2module 3module 0module 1slot 1: asruslot 6: controlslot 1: asruslot 6: controlslot 1: asruslot 6: controlslot 1: asruslot 6: controlmother boardmother b

8、oardrow 1row11row 13row 23row 1row11row 13row 23column 78 1 78 11a at: 2 20 61clock_enable at: 2 18 48double density node at: 2 20 1 61bank 1 node: 1 18 48ict測(cè)試原理 anatomy of the agilent medalist 3070 the module control cards the analog stimulus - response unit (asru)agilent 3070 modulemother cardasr

9、u cardcontrol cardpin cardslot 1slot 2slot 3pin cardslot 4slot 8slot 6slot 7slot 5slot 9slot 10slot 11pin cardpin cardpin cardpin cardpin cardpin cardpin cardmodule card configurationict測(cè)試原理asru card提供模擬激勵(lì)信號(hào)使用測(cè)量運(yùn)算放大器進(jìn)行反饋信號(hào)的測(cè)量 提供上電測(cè)試的電源通道配在每個(gè)模塊第1號(hào)插槽 ict測(cè)試原理module control card控制實(shí)際的測(cè)試過(guò)程 2個(gè)rcvc,測(cè)試頻率帶有8個(gè)

10、通用開(kāi)關(guān) (gp relay) 配在每個(gè)模塊的第 6 號(hào)插槽ict測(cè)試原理 mux s i a b l gmoadetectorauxsourcehybrid double densitychannel achannel b. . . . . . . . . . . . channel hpin cardx1.x8 xg xlanalog subsystemdigital subsystem9:2r1asruict測(cè)試原理hybrid 32 cardchannel 0channel 8. . . . . . 6:2pin cardx1.x8 xg xldigital subsystem3:2

11、mux s i a b l gmoadetectorauxsourceanalog subsystemasruict測(cè)試原理ict test程式與夾具程式與夾具命名規(guī)則1.ict程式命名規(guī)則程式命名規(guī)則 設(shè)備型號(hào)設(shè)備型號(hào)t(tr8001,tr518), a(agilent 3070) t,a+ p/n+ec+ 夾具套數(shù)夾具套數(shù) 2.ict夾具命名規(guī)則夾具命名規(guī)則 設(shè)備型號(hào)設(shè)備型號(hào)t,a+p/n+夾具套數(shù)夾具套數(shù)ict測(cè)試原理mhs機(jī)種為例： p/n：69y4784 ec:n31078r ict程式命名程式命名: a90y4784n31078r_01 ict程式命名程式命名:a90y4784_0

12、1ict測(cè)試原理三. ict的基本測(cè)試原理 1. 隔離量測(cè)原理 ict其實(shí)是一臺(tái)高級(jí)的萬(wàn)用表，但它具有隔離(guarding)功能，這是它不同于萬(wàn)用表的最大特點(diǎn)。guarding的作用是使一個(gè)被測(cè)元件在測(cè)試時(shí)不受旁路元件的影響，而萬(wàn)用表做不到這一點(diǎn)。在 ict 內(nèi)部電路中利用一顆 op放大器 當(dāng)做一個(gè)隔離點(diǎn)（最多可有五個(gè)隔離點(diǎn)），如果是: ict測(cè)試原理source: ict測(cè)試原理an overview of 3070 testunpoweredtestsshorts analog incircuitvtep/testjetpoweredtestssetup powersuppliesdig

13、ital incircuitanalog poweredpinsother poweredict測(cè)試原理part 3 pins testict測(cè)試原理pins測(cè)試概述 ict測(cè)試的原理要求夾具的探針和電路板的測(cè)試點(diǎn)(testpad)要有良好的電氣接觸. pins測(cè)試就是在測(cè)試正式開(kāi)始前驗(yàn)證探針和測(cè)試點(diǎn)有無(wú)有無(wú)接觸的工序. pins測(cè)試只定性驗(yàn)證有無(wú)接觸，pins pass是最低要求，并不能保證接觸良好.(繞線出現(xiàn)錯(cuò)誤；pins接觸不好，阻抗大，但依然有current flow;隔離點(diǎn)無(wú)法 測(cè))ict測(cè)試原理pins test“a”“b”“c”“d”“e”“f”“g”“node_names”+2

14、.5v10kdvmsnode e has no current flow. it is capacitively isolated and cannot be tested in pins test.ict測(cè)試原理pins test - syntaxnodes anodes bnodes cnodes d!nodes e” ! node capacitively isolatednodes ”fnodes ”gict測(cè)試原理pins test called from testplanpins test的預(yù)定義 sub set_custom_option global off, pretest,

15、 failure ！設(shè)置全局常量 global chek_point_mode chek_point_mode=pretest !choose off, pretest, failure ！選擇pins測(cè)試模式，off不進(jìn)行pins測(cè)試 ！pretest在其它測(cè)試前進(jìn)行pins測(cè)試 ！failure其它測(cè)試fail后，進(jìn)行pins測(cè)試end subict測(cè)試原理pins測(cè)試的調(diào)試 pins測(cè)試中的節(jié)點(diǎn)排列順序不影響測(cè)試結(jié)果 pins測(cè)試中沒(méi)有其他測(cè)試選項(xiàng) 所以pins測(cè)試只有node的取舍 哪些節(jié)點(diǎn)pins不可測(cè)?p 電容阻隔的點(diǎn)（capacitively isolated） ipg自動(dòng)注釋p

16、 只連到ic的nc腳的 ipg自動(dòng)注釋p 所連器件在板上都沒(méi)有放(no pop)的 手動(dòng)確認(rèn)ict測(cè)試原理part 4 shorts test & opens test l201l201-1l201-2100 ohmsdvm0.1vict測(cè)試原理shorts test overviewict測(cè)試原理shorts test! ipg: rev b.03.60 threshold 12settling delay 50.00usettling delay 525.0ushort “l(fā)201-1” to “l(fā)201-2”settling delay 50.00ushort “j201-1”

17、to “j201-2”. . .threshold 1000. . .nodes “data7”nodes “r201-2”nodes “r201-1”. . .threshold 8. . .nodes “r202-2”nodes “r202-1”nodes “gnd”dvml201series resistance = 6ohmsr202 at 33ohmsdvmr201 at 20kl201-1l201-2r201-1r201-2r202-1r202-2ict測(cè)試原理expected shortsl201l201-1l201-2100 ohmsdvm0.1v如圖，對(duì)l201 進(jìn)行shor

18、ts測(cè)試，預(yù)期為短路。a).設(shè)置閥值為12歐姆，如果r測(cè)量12(threshold) ， 則測(cè)試pass，反之，fail。 b).設(shè)置從加信號(hào)到開(kāi)始測(cè)量的延時(shí)，以致等待信號(hào)穩(wěn)定。c).測(cè)量?jī)蓚€(gè)節(jié)點(diǎn)之間的阻值，并判斷！語(yǔ)法如下：! in the “shorts” file ! syntax ! short “node_1” to “node_2” !threshold 12settling delay 50usettling delay 525ushorts “l(fā)201-1” to “l(fā)201-2 ict測(cè)試原理shorts test (good board)testing for shorts

19、100mv100 w“a”“b”“c”“d”“e”“f”“g”“node_names”ict測(cè)試原理shorts test (bad board)testing for shorts100mv100 w“a”“b”“c”“d”“e”“f”“g”?which node is shorted to node c? a short has been detected from node c to one of the remaining nodes d, e, f or gict測(cè)試原理shorts test (bad board)testing for shorts100mv100 w“a”“b”

20、“c”“d”“e”“f”“g”?which node is shorted to node c? a short has been detected from node c to one of the remaining nodes d, e, f or gnode c is not shorted to nodes d and enode c is shorted to either nodes f or gnode c may be shorted to node gthis is not assumed!node c is shorted to node gict測(cè)試原理假象短路的調(diào)試

21、假象短路出現(xiàn)的原因是特定的節(jié)點(diǎn)的測(cè)試順序造成誤判,必須在程序發(fā)布前排除 方法是將出錯(cuò)的節(jié)點(diǎn)（或者節(jié)點(diǎn)群）挪到被短路的節(jié)點(diǎn)(或節(jié)點(diǎn)群）后面。這個(gè)過(guò)程在調(diào)試中可能要重復(fù)幾次,挪動(dòng)時(shí)最好在同一個(gè)threshold設(shè)置群之內(nèi). 可以自己設(shè)置threshold，但是要遵循threshold值從大到小的順序, threshold最低盡量不要設(shè)到4以下，尤其是電源點(diǎn)。否則會(huì)有漏掉真正短路的可能. 不要輕易把節(jié)點(diǎn)放到測(cè)試文件的末尾，這樣可能造成開(kāi)短路 覆蓋率的缺失，尤其是電源點(diǎn)或者vcc這類本身就是低阻抗的節(jié)點(diǎn). 調(diào)試時(shí)settling delay可以加的比較大，在優(yōu)化時(shí)再減小ict測(cè)試原理shorts te

22、st - report optionsreport common devicesreport limit 12short #1from: d3 22044to: d4 21938common devices: u1 u4 report netlist, common devicesreport limit 12short #1from: d3 22044 u1.5 u4.3 u5.2 u7.5to: d4 21938 u1.8 u4.4 u6.2 u2.10 common devices: u1 u4report phantomsshort #1from: d3 22044to: d4 219

23、38ict測(cè)試原理part 5 analog testcapacitorsconnectorsdiodesfetsfusesinductorsjumpersresistorsswitchestransistorszenersict測(cè)試原理part 6 testjet & vtep & ivtepict測(cè)試原理the vtep/ivtep/testjet testbga with floating metal tops/heat spreaders are testable!pcbac signalgroundvtep sensor plate c measuredelectro

24、nics board(amplifier)to multiplexcardmetal bga under-testfloatingmetal topict測(cè)試原理testjet測(cè)試能力的極限值為20ff，vtep測(cè)試能力的極限值為5ff。低于5的值使用ivtep來(lái)進(jìn)行測(cè)試，但是ivtep的測(cè)試速度比較慢，而且不能用來(lái)測(cè)試連接器。bar = num pins in range051015202530 0 to 5 5 to 10 10 to 15 15 to 20 20 to 25 25 to 30 30 to 35 35 to 40 40 to 45 45 to 50testjet limit

25、measurement (in ff)vtep limit1.27 mm pitch593 solder balls0.8mm pitch1202 sbtestjet和vtep的測(cè)試界限aug, 2010ict測(cè)試原理the vtep/testjet verificationict測(cè)試原理the testjet testdefault threshold low 20 high 10000device “u1” test pins 1 test pins 2, 3 test pins 4, 5, 6 ! test pins 7 ! ground pins commented by ipg te

26、st pins 8 test pins 13 ! test pins 14 ! fixed pins commented by ipgdevice “u2” bottom; test pins 1 test pins 2 .ict測(cè)試原理turn on autodebug for ivtep + vtepict測(cè)試原理autodebug calculates the threshold limit before adbafter adbict測(cè)試原理the testjet test - after debugdefault threshold low 20 high 10000device “

27、u1”; threshold low 15 high 10000 test pins 1 test pins 2, 3; threshold low 350 high 10000 test pins 4, 5, 6; threshold low 450 high 10000 ! test pins 7 ! ground pins commented by ipg test pins 8 ! test pins 13 ! test measures 9 test pins 8 test pins 14 ! fixed pins commented by ipgdevice “u2” bottom

28、; test pins 1; threshold low 15 high 10000 test pins 2 test pins 3; threshold low 40 high 10000 .ict測(cè)試原理part 10 overview of boundary-scantest datain (tdi)test dataout (tdo)ict測(cè)試原理typical ic with boundary-scanboundarycellscorelogictest datain (tdi)test dataout (tdo)test modeselect (tms)test clock(tck)test access port controller (tap)the device can be controlledand tested through tdi, tck,tms, & tdoarrows denote access pointsict測(cè)試原理basic test of ic with boundary-scantest datain (tdi)test dat