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文檔簡介

1、TYPE C數(shù)據(jù)線規(guī)格書 V1.0關(guān)鍵詞: TYPE C、數(shù)據(jù)線摘要:本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格,性能及測試規(guī)范??s略語:1 范圍標(biāo)準(zhǔn)適用于TYPE A TO C 數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書,未盡規(guī)格描述以TYPE C 協(xié)會(huì)規(guī)范 V1.1為準(zhǔn)。2 編寫依據(jù)序號(hào) No.文件編號(hào) Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗(yàn)方法2MIL-STD-202GTest method standard electronic and electrical componentparts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗(yàn)方法4GB4098射頻電纜試驗(yàn)方法5EIA-364-101Attenuati

2、on Test Procedure for Electrical Connectors,Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems6EIA-364-106Standing Wave Ratio (SWR) Test Procedure for ElectricalConnectorsEIA-364-108Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR7Measured in the Time and Frequency Domain Test Procedurefor

3、 Electrical Connectors, Cable Assemblies orInterconnection Systems8GB5441.2工作電容試驗(yàn) -電橋法9EIA-364-103Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors,Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems10IEC 68-2-1基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) A:寒冷11GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) A :低溫試驗(yàn)方法12IEC 68-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) A:

4、干熱13GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) B :高溫試驗(yàn)方法14IEC 68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) J和導(dǎo)則:長霉 0020 的15GB/T 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) J和導(dǎo)則:長霉16ASTM G 21Standard Practice for Determining Resistance of Synthetic1序號(hào) No.文件編號(hào) Doc No.文件名稱 Doc TitlePolymeric Materials to FungiIEC 61587-1Mechanical structures for

5、 electronic equipment Tests for IEC1760917 and IEC 60297 Part 1 Climatic mechanical tests andsafety aspects for cabinets racks subracks and chassis18GR 487Generic Requirements for Electronic Equipment Cabinets19IEC 68-2-30基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Db 及導(dǎo)則:交變濕熱( 12 12h 循環(huán))20GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) Db :交變濕熱試驗(yàn)方法21

6、IEC 68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)試驗(yàn) Kb :鹽霧,交變(氯化鈉溶液)22GB/T 2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)試驗(yàn) Kb :鹽霧,交變(氯化鈉溶液)23IEC 529Degrees of protection provided by enclosure(IP code)24GB 4208外殼防護(hù)等級(jí)( IP 代碼)25EIA-364-38BCable pull-out test procedure for electrical connectors26EIA-364-41CCable flexing test procedure for ele

7、ctrical connectors27IEC 60950Safety of information technology equipment28EN 60950Safety of information technology equipment29UL 60950Safety of information technology equipment30GB 4943信息技術(shù)設(shè)備的安全31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗(yàn)33UL1581Reference standard

8、for electical wires,cables,and flexiblecords34GR 1217Generic requirements for separable electrical connectors usedin telecommunications hardware35GR 950Generic Requirements for Optical Network Unit (ONU)Closures36USB Type-C Cable and Connector SpecificationV1.13 數(shù)據(jù)線正常工作和存儲(chǔ)條件3.1數(shù)據(jù)線應(yīng)能在下列條件下正常工作:工作環(huán)境溫度

9、:-20 +55 ;(僅作單體驗(yàn)證目的,與整機(jī)匹配時(shí)以整機(jī)試驗(yàn)環(huán)境為準(zhǔn));相對(duì)濕度: 5% 95% ;大氣壓力: 86 kPa 106kPa;2數(shù)據(jù)線的存儲(chǔ)溫度:-40 +85;4 數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細(xì)尺寸以及工藝要求以3D 圖檔為準(zhǔn)1、 type C 金屬插頭,要求必須是整體拉伸成型,不能是折彎成型,不接受接縫;2、 金屬插頭部分,要求做不銹鋼原色,表面噴砂處理: 50u”150u” MATTNICKELPLATING OVER ALL3、 保證至少 3A 通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)格(BOM 清單 , 包括端子圖紙2D &可拆解版本的3D )要有確認(rèn)才能認(rèn)可 (認(rèn)

10、證時(shí)必須提供以上文件)。4.2線材主體信息:外觀5V/3A A plug TO C plug, cover式,白色半霧面, 素材細(xì)咬花處理,MT11006主體結(jié)構(gòu)項(xiàng)目規(guī)格長度16mm顏色白色半霧面材質(zhì)OvermoldNON-PVC&Cable &無鹵Housing &說明不含金屬插頭部分滿足 ROSH, 且無如下有害物質(zhì)添加:溴系阻燃劑Brominated Flame Retardants氯系阻燃劑Chlorinated Flame Retardants聚氯乙烯Polyvinyl Chloride (PVC)其他輔料鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化銻 Antimo

11、ny Trioxide鈹及其化合物Beryllium (Be) and its compounds接口USB Breceptacleto滿足 5V 3ATYPE C plug其他應(yīng)符合 5.2 節(jié)測試標(biāo)準(zhǔn)Voltage Rating:30VAC/DC導(dǎo)體材質(zhì)規(guī)格如下:材質(zhì):鍍錫銅Signal NameWire Gauge (AWG)VBUS /GND80m 絕緣材質(zhì) NON-PVC ,須滿足5.2 章節(jié)測試性能要求3關(guān)鍵尺寸USB2.0 B plug參考協(xié)會(huì)規(guī)范TYPE C plug1. 紅圈標(biāo)示尺寸為重點(diǎn)尺寸,其余尺寸依據(jù)協(xié)會(huì)規(guī)范要求2. 各組件 BOM LIST 原材料信息需明確到具體牌號(hào)

12、3. 應(yīng)滿足 TYPE C 2.0 規(guī)格45鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測試區(qū)域和方法:TYPE C/A :TYPE C/A產(chǎn)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域?yàn)镻IN 針頭部觸點(diǎn), 因此鍍層工藝為考慮成本一般只覆蓋PIN 針觸點(diǎn)位置,其他區(qū)域?yàn)閒lash Au, 所以鍍層的量測范圍定義在PIN 針觸點(diǎn)弧頂?shù)淖罡咛庡儗雍穸葹樵谟|點(diǎn)弧頂最高點(diǎn)0.5mm 的范圍內(nèi)進(jìn)行測量,同一觸點(diǎn)在0.5mm 范圍內(nèi)測量三次取平均值0.5mm6線序Table 3-20 USB Type-C toUSB 2.0 AMUSB 2.0AMWiring USB Type-C PlugPinSignal NamePinSignal Name

13、A1, B1, A12, B12GND4GNDA4, B4, A9, B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D-ShellShieldShellShieldNotes:1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be connected to VBUS2. Contacts B6 and B7 should not be present in the USB Type-C plug.3. All VBUS pins shall be connected together within the USB Type-C plug. By

14、pass capacitors are not requiredfor the V BUS pins atthis cable.4. All Ground return pins shall be connected together within the USB Type-C plug.5. All USB Type-C plug pins that are not listed in this table shall be open (not connected).Table 4-13 DFP CCCurrent Source toResistor pull-up toResistor p

15、ull-up toTermination (Rp)1.7 5.5 V4.755.5 V3.3 V± 5%Requirements DFPAdvertisementDefault USB Power80 A ± 20%56 k ± 20%(Note 1)36 k ±20%1.5A5V180 A ± 8%22 k ±5%12 k ±5%3.0A5V330 A ± 8%10 k ±5%4.7 k ±5%Notes:71. For Rp when implemented in the USB Type-

16、C plug on a USB Type-C to USB 3.1Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Micro-B Receptacle Adapter Assembly or aUSB Type-C captive cable connected to a USB host, a value of56 k ± shall5% be used, in order to provide tolerance to IR d

17、rop on V BUS and GND in the cable assembly.5 技術(shù)要求5.1線材外觀要求線材外觀要求如下:1、 參照樣品和 PDM 圖紙檢驗(yàn),線纜兩端插頭的結(jié)構(gòu)外型(型號(hào))金屬插頭/pin腳檢查外觀標(biāo)簽檢查注塑部位線材外觀要求與樣品一致;2、 插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形;3、 用干布(無塵布)能擦除的臟污,允許;用干布(無塵布)不能擦除的臟污,不允許; 【注:金屬插頭臟污不良超出 1%(不良數(shù) / 樣本數(shù))時(shí),提交不合格電子流確認(rèn)】4、 插頭上不允許有油漬;5、劃痕 L 2mm,W 0.1mm,用手觸摸無深度感,允收一條;6、 USB A 公插頭內(nèi)不允許有溢膠

18、的現(xiàn)象;7、USB A 公插頭內(nèi)的連接器PIN 腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN 腳內(nèi)陷 /斷裂不良;8、金屬插頭( USBA 公以及 TYPE C 公)與注塑部分匹配正常,不允許歪斜,夾角 90o± 2.5o1、參照樣品和PDM圖紙檢驗(yàn),標(biāo)簽上的印刷圖案和字體要求一致;2、標(biāo)簽不允許破損、漏貼;1、注塑部位(USB A 公外膜、 DC 插頭外膜、磁環(huán)外膜)不允許缺膠、破損;2、合模線 ( 毛邊 ) H 0.2mm;3、水口位(毛邊)在不刺手的前提下,H 1mm,可接收;4、壓痕 L 5mm, W 0.2mm, USB A 公外膜每面允收一條,DC外膜允收一條;5、點(diǎn)狀壓痕D

19、1.5mm,USB A 公外膜每面允收一條,DC 外膜允收一條;1、 線材不允許有破損、漏銅;2、 線材上不允許有臟污;3、 點(diǎn)狀壓痕 D 2.5mm, DS 25mm,允收 6個(gè);4、 線狀壓痕 L 5mm, W 1mm,DS25mm,允收 3條;扎帶下的壓痕允許;85、 有感刮傷: L 5mm,W 1mm, DS 25mm,允收2 條;無感刮傷: L 30mm,W 1mm,DS 30mm,允收 3 條;未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線檢驗(yàn)通用操作指導(dǎo)書5.2線材性能要求Test conditionTemperature: 15 to 35 Air pressure : 86 to106 kPaRel

20、ative humidity : 25% to 85%NOTest Test procedure description1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損, 配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi), 接觸良好, 電氣性能正常。測試前,測試后插拔力應(yīng)滿足要求,樣品外觀結(jié)構(gòu)、 功能及電氣性能應(yīng)正常,允許端子接觸點(diǎn)表面有正常磨損,但不允許有物理損壞測試速度為12.5mm/分鐘2插入力EIA364-131.插拔力測試儀器2.測試速度為12.5mm/分鐘3.單位為 N3拔出力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為 12.5mm/分鐘3. 單位為 N4滾筒測試跌落高度1 米,跌落次數(shù)150 次,每50 檢查一次

21、,跌落速度參考值10-12次 / 分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置為準(zhǔn))5 端子強(qiáng)度測試1.F1/F2(+/-Y) =50N ,做到 75N 觀察損壞情況F3,F4(+/-X) =50N F5(+Z) =100NPerformanceRelatedstandard以插入力和拔出力測試 EIA364-09 標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù),測試 TYPEC端子插拔次數(shù) 10000 次(正反方向各 5000 次,每 2500 次換一個(gè)方向)做完 25 次插拔之后,插拔力變化不能超過33%A 公插拔 1500 次測試結(jié)束后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求插拔耐久測試前后:EIA364-13Type C: 插入力 5 20

22、N ;USB AM: 35N(MAX)插拔耐久測試前后:EIA364-13Type C: 拔出力 820NUSB AM: 10N(Min)測試后,樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常,功能和電氣性能正應(yīng)常的上下左右 4 個(gè)方向力量要求大于 5.0Kg ,插入方向要求大于 10Kg,連接器不允許有失效,接口9F1 和 F2 方向的測試均采用新樣品測試, F3-F5 方向視情況進(jìn)行互用施力點(diǎn)為接口到SR 處 15mm(從外殼 平 面 量起15mm ; 如SR 不 足允許有可恢復(fù)的變形,數(shù)據(jù)線電氣性能正常;結(jié)構(gòu)無松脫,無斷裂6 殼體抗拉脫7 端子強(qiáng)度耐久測試15mm,以 SR 的末端為施力位置,如 SR 末端剛

23、性不足以施加力, 則以剛性位置的末端為施力位置)測試速度: 5mm/min器件選型標(biāo)準(zhǔn):公頭鐵殼上掛重10kgf ,持續(xù)時(shí)間1 分鐘進(jìn)料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):公頭鐵殼上掛重6kgf ,持續(xù)時(shí)間1 分鐘測試力: F1=F2=2kgf測試次數(shù): 2000 次 / 方向;施力點(diǎn)為接口到 SR處 15mm(從靠近金屬頭尾部量起 15mm。如 SR 不足兩端殼體都需要測試抗拉脫力,測試后兩端殼體不應(yīng)有脫落現(xiàn)象數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應(yīng)正常,端子不應(yīng)有損壞或嚴(yán)重變形15mm,以 SR的末端為施力位置,如SR 末端剛性不足以施加力,則以剛性位置的末端為施力位置);測試速度: 10-15 次 /min8端子鍍層膜厚

24、膜厚測試儀。Type C 端 / uB母座。最少樣品數(shù)量:每個(gè)端子3pcs9成品電阻測試1、 C TO A 測試2、屏蔽層測試殼對(duì)殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會(huì)規(guī)范1.1 要求Type C /B plugPlatinggold Au不小于30,Plating Ni不小于 8 025時(shí)實(shí)驗(yàn)室測試標(biāo)準(zhǔn):線 材 規(guī) 格Vbus: 0.135最大1M,電源 22AWGGND:0.135 最大10溫升測試TYPEC Vbus/GND通電 5A(4 對(duì) pin) ,USB AM單 VBUS/GND通電 3ATYPE C/USB AM 非電源pin 腳通流0.25A ;利用 shield/GND

25、回流,通流不低于3A11 接觸阻抗LLCR 是從 REC焊接點(diǎn)的尾部到Plug 焊點(diǎn) , 包括 Plug 端和 Rec 所有USB Type-C25時(shí)測試Cableand溫度穩(wěn)定 30 分鐘后測試Connector針對(duì) plug 單體和 cableSpecificat組件整體的兩項(xiàng)測試均ion需滿足任意點(diǎn)溫升不允許超過30 度VBUS/GND初始接觸阻抗30m連接器 , 其他 pin 初始接觸阻抗10內(nèi)部的端子和 Paddle Cards40m Max 最大 , 所有 Pin 環(huán)* 使用四線測試法境測試后 LCCR最大增量為 10* 測試電壓 20mV最大 , 電流 100mA.m13耐壓測試

26、兩兩 pin之間打(含外殼)認(rèn)證測試:100VAC/60s/0.5mA產(chǎn)線測試:100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩 pin之間打(含外殼)認(rèn)證測試: 300VDC 60s100M產(chǎn)線測試:300VDC/0.1s/10M ?15高溫存儲(chǔ)轉(zhuǎn)接頭:部品外觀無損壞 ;( 70±2) ,24H線纜電氣性能正常完成后返回常溫停留24 小時(shí)以上 ,進(jìn)行測試連接器:( 105± 2) ,120H完成后返回常溫停留24 小時(shí)以上 ,進(jìn)行測試16低溫存儲(chǔ)( -40 ± 2) ,120H完成后返回常溫停留24 小時(shí)以上 ,進(jìn)行測試17溫度沖擊采用兩箱法, 低溫 -40

27、,高溫 70,高低溫各停留不少于20 分鐘,最大轉(zhuǎn)換時(shí)間為 20 秒,10 個(gè)循環(huán)。18鹽霧測試5% NaCl,35 , 連續(xù)噴霧 48 小時(shí)(針對(duì) pin 針, uB 鐵殼部分應(yīng)可承受至少 24H 連續(xù)噴霧),噴霧時(shí)接口需斜向下放置, 確保鹽霧能進(jìn)入, 但同時(shí)不能在接口中形成積水。 然后移出進(jìn)行 2 小時(shí)晾干。樣品外觀無損壞;線纜電氣性能正常測試后,樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常,功能和電氣性能應(yīng)正常試驗(yàn)后,樣品外觀應(yīng)無 EIA 364 明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。VBUS/GND初始接觸阻抗 30m , 其他 pin 初始接觸阻抗 40m Max 最大 , 所有 Pin 環(huán)境測試后LCCR

28、最大增量為 10 m ( 僅針對(duì)連接器 )19高溫高濕試驗(yàn)溫度( 70± 2) ,濕度 (85 ±樣品外觀無損壞 ;主要考察膠3)%RH,進(jìn)行 168 小時(shí)料和線料20交變濕熱25 55,相對(duì)濕度(95± 3),測試后,樣品外觀、機(jī)主要考察端11168 小時(shí)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常,功能和子電氣性能應(yīng)正常21混合氣體腐蝕測試時(shí)間:7 天,試驗(yàn)后,樣品外觀應(yīng)無連接器測試產(chǎn)品狀態(tài):5 天非配插, 5 天配插,明顯腐蝕、變色、及鍍溫濕度: 70%RH, 30 ,層剝落等現(xiàn)象,功能應(yīng)氣體種類: Cl2 : 10+/-3 ppb, NO2:正常。200+/-50ppb, H2S: 10

29、+/-5 ppb,VBUS/GND初始接觸阻SO2: 100+/-20 ppb抗 30m , 其他 pin 初始接觸阻抗 40m Max 最大 , 所有 Pin 環(huán)境測試后LCCR最大增量為 10 m( 僅針對(duì)連接器 )22耐化學(xué)溶劑測將家用化學(xué)物品( 1.護(hù)手霜; 2.防曬線纜、 SR、殼體不會(huì)有試乳液; 3.口紅; 4.化妝粉底; 5.驅(qū)蟲明顯腐蝕、開裂凍膠; 6.食用油,所用化學(xué)用品型號(hào)或配方為我司終端現(xiàn)有用品) 涂在線纜、 SR、殼體上。放置72 小時(shí)后用水清洗掉家用化學(xué)品再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查 2.將以下溶劑( 1.汽油; 2.酒精; 3.人工汗液; 4.5%食鹽水,所用化學(xué)用品型號(hào)或

30、配方為我司終端現(xiàn)有用品)涂在線纜、SR、殼體上。放置 72 小時(shí)(汽油放置24 小時(shí))后用水清洗掉溶劑再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查23耐 UV 輻射測耐UV輻照進(jìn)行 1 個(gè)循環(huán)為24 小時(shí)的測試試,具體為在干熱40下,太陽輻射強(qiáng)度為1120W/,保持 20 小時(shí),再關(guān)閉太陽輻射源 4 小時(shí),試驗(yàn)持續(xù)循環(huán)96 小時(shí)24EMC參考終端產(chǎn)品USB 數(shù)據(jù)線充電線可EMC class A標(biāo)準(zhǔn)靠性測試規(guī)范 V1.2CE/FCC25DifferentialThis test ensures that the D+/D75 ohms min and 105 ohmsEIAImpedance- lines ofthec

31、able assemblymax.364-108have the proper impedance.400 ps rise timeFor the entire cable assembly.(20%-80%).26PropagationThe purposeofthe test isto20 ns max.EIADelayverifytheend-to-end400 ps rise time364-103propagationof the D+/D- linesof(20%-80%).the cable assembly.1227 Intra-pairThistest ensuresthatthe signal100 ps max.EIA 364Skewon both the D+ and D-lines of400 ps rise time103cableassemblyarriveatthe(20%-80%).receiver at the same time.D+/D -PairThis test ensures

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