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文檔簡介

1、DIN EN 10228-3 標準鋼質(zhì)鍛件的 NDT內(nèi)容頁碼前言21范圍32標準33定義34協(xié)定項目45成文程序46人員資質(zhì)57設備以及附件58日常校合及檢查69制作階段610表面狀況711敏感度712掃描813分類1114記錄級別以及接受標準1415尺寸1616報告附錄A 環(huán)向剪波掃描最大測試深度。B 有關 %DAC 的波幅16前言本歐洲標準由 ECISS/TC28 鋼制鍛件技術委員會編制。在歐洲標準中已標明了某一國家標準的狀況,以背書的形式標明,如與國家標準沖突,將在要么以 1998 年 11月最新版的同樣原文, 1998 年 11月撤消。要么其他部分的歐洲標準為:PART1: 磁粉探傷P

2、ART2: PT (著色探傷)PART4 :奧氏體以及奧氏體-鐵素體不銹鋼鍛件超聲波探傷。根據(jù) CEN/CENELEC 內(nèi)部規(guī)定,下列國家的標準機構使用在歐洲標準:荷蘭.奧地利 比利時 丹麥 芬蘭 法國 德國 希臘 冰島 愛爾蘭 意大利 盧森堡公國 挪威 葡萄牙 西班牙 瑞典 瑞士 和英國1范圍EN10228-3 描述了使用的技術指南,鐵素體以及馬氏體鍛件的超聲波探傷,機械掃描技術, 如可能使用油浸測試,但是需要買賣雙方進行協(xié)商。EN10228-3 適用于四類鍛件,按鍛件的形狀以及生產(chǎn)方法進行分類,1、2、3 類為基本簡單形狀的鍛件,4 類覆蓋了復雜形狀的鍛件。EN10228-3 不適用于:模

3、鍛件渦輪葉片以及發(fā)動機鍛件。奧氏體以及奧氏體 -鐵素體不銹鋼鍛件超聲波探傷適用于本標準的PART42標準EN10228-3 由過期或不過期的標準以及其他出版物的規(guī)定組成, 在正文的相應地方引用了下 列的標準以及出版物: 對于過期的標準, 只有當本規(guī)范由修改或更新的標準組成時, 隨后的 修改或這些修改版本的出版物將適用于本規(guī)范。 對于未過期的標準, 最新的版本適用于本規(guī) 范。EN473PrEN 12668NDT 人員資質(zhì)NDT-UT 設備的特性以及核實PART1 : 設備PART2 : 探頭PART3 :組合設備PrEN583UT 檢驗PART2 :敏感度以及范圍設置PART5 :特性以及不連續(xù)

4、的尺寸PrEN12223UT 檢驗 -校合塊PrEN1330NDT- 術語PART4:使用在 UT中的術語。3定義 為此目的, prEN1330-4 中所述的定義適用于本規(guī)范。4協(xié)定項目在詢價或定單的階段,在買賣雙方之間,有關 UT 的下面方面應進行協(xié)商: 在制作階段,應進行 UT (見第9 條);A 測試量以及是否需 100%的柵格掃描 100% 的掃描。(見第 12 條);B 使用雙晶探頭對臨近表面進行檢測(見7.2.6);C 要求的質(zhì)量級別,或使用的質(zhì)量級別以及區(qū)域(見第 14 條);D 如與表 5,表 6 或表 7 的詳細要求不同,適用的記錄 /接受標準;E 無論需特殊的掃描,除第 7

5、 及 12 條規(guī)定的要求,需要相應的設備或偶合劑;F 如不是手工掃描(見第 1 條);G 對于延伸斷續(xù)波所使用的尺寸(見第 15 條);H 敏感度設置方法(見第 11 條);I 是否在測試時需買方或其代表出席到場;J 是否需書面的程序上交給買方認可(見第 5 條)。5成文程序5 1 總則按成文的程序進行 UT 檢測,只要在詢價單或定單中有規(guī)定, 成文的程序要提交買方認可 第 5 條);5 2 形式 本成文程序按以下形式編制:產(chǎn)品說明書;或A 一特定應用的成文程序;或B EN10228-3- 如對于該應用伴隨著檢驗的詳細要求。5 3 內(nèi)容 成文程序至少包含以下要求:待檢鍛件的描述A 參考文件B

6、檢驗人員資質(zhì);C 制作階段所需進行的檢驗;D 規(guī)定的適用質(zhì)量等級的檢驗區(qū)域;E 掃描表面的準備;F 耦合劑;G 檢驗設備的描述H 校合以及設置;I 掃描計劃;J 檢驗操作的描述以及次序;K 記錄 / 評判級別;L 不連續(xù)特性;M 接受標準;N 檢查報告;6 人員資質(zhì)人員的資質(zhì)符合 EN473 ;7設備及輔助設備7 1 缺陷探測器 缺陷探測器應具有 A-SCAN 的性能以及滿足 prEN12668-1 。7 2 探頭72 1 一般要求 標準以及剪切波探頭應符合 prEN12668-2 。只要有進一步的要求, 可能使用輔助的探頭。 輔助的探頭不能用于初始探測缺陷, 建議輔助 的探頭符合 prEN1

7、2668-2 。722 形狀 /仿形一旦 EN583-2 要求,應為仿形的探頭。72 3 標準頻率 探頭應具備一標準頻率,范圍為 1MHz6MHz 。72 4 標準探頭 探頭有效晶體直徑的范圍為 10MM40MM 。725 剪切波探頭 剪切波探頭的波束角度范圍為 35° 70° 探頭有效晶體面積范圍為 20MM2625MM2 72 6 雙晶探頭如需對臨近表面進行檢查(見第 4 條),那么就使用雙晶探頭。7 3 校合塊校合塊應滿足 prEN12223 。7 4 參考校合塊當敏感度由距離波幅曲線校正 (DAC )的方法確定時 /或根據(jù) DAC 方法,缺陷按相對于參考 反射物的波

8、幅確定大小時, 要具備參考校合塊。 參考校合塊的表面狀況代表了待檢構件的表 面狀況。除非有特殊的規(guī)定, 參考校合塊應包含至少 3 個反射體可以覆蓋全部檢查深度范圍。參考校合塊的形狀根據(jù)使用的情況而定,它可能按下面其中一項要求制成: 超出待檢構件的長度;或A 與待檢構件同材質(zhì)以及與待檢構件同熱處理狀態(tài); 或B 與待檢構件具有相似的聲學特性。除非要檢查一特殊 DGS (距離增益尺寸)圖表的準確性,參考校合塊不能用作 DGS 方法。注意:參考校合塊反射物的尺寸由表5、6 中規(guī)定的詳細尺寸決定。表 5、6 中詳細規(guī)定的不同反射物的尺寸用作測試敏感度的正確性。7 5 耦合劑耦合劑與應用情況相適應, 同樣

9、類型的偶合劑應用于校合、 敏感度設置、 掃描操作以及缺陷 評判。檢查結束時,如留在工件上的偶合劑對后續(xù)的制作或檢驗作業(yè)或工件的完整性有一反面的影 響,應清除該殘留的偶合劑。注意:合適的偶合劑應為:水(具有或沒有腐蝕抑制劑或軟化劑),油脂,油,甘油以及水纖維漿糊。8日常校合及檢查按prEN12668-3中詳細規(guī)定的要求對組合設備(缺陷探測器及探頭)進行校合。9. 制作階段在最終質(zhì)量熱處理后進行UT ;除非在詢價或下單時協(xié)定(見第 4條),即對于鍛件的區(qū)域在最終質(zhì)量熱處理后進行檢查是不實際的。注意:對于圓柱形及矩形鍛件,需要穿孔,建議在穿孔之前進行UT檢查。10. 表面狀況10. 1 一般要求待掃

10、描的表面應沒有油漆、附著的鱗片、已干的耦合劑、表面不規(guī)則或其他任何的物質(zhì),它們可能減少耦合劑的作用、阻礙探頭的移動或引起評判的錯誤。10. 2與質(zhì)量有關的表面粗躁度表面粗躁度應與要求的質(zhì)量級別相一致(見表1)表1 :與質(zhì)量有關的表面粗躁度與質(zhì)量有關的表面粗躁度表面光潔度質(zhì)量級別以及粗躁毒 R1234< 25um< 12.5umw 12.5umw 6.3um機械加工XXXX機械加工及熱處理XXX-注意:X表示對于載定的表面光潔度能達到的質(zhì)量級別10. 3鍛制表面狀況只要鍛件以鍛制表面狀態(tài)供貨時,只要能達到載定的質(zhì)量級別,該鍛件就認為是可接受的。注意:很困難對鍛制表面進行一綜合的檢查。

11、建議拋丸、噴砂或表面打磨以確保聲學偶 合。通常只適用于質(zhì)量級別1。11. 敏感度11. 1總則足夠的敏感度以確保按顯示記錄能探測到最小的不連續(xù)性/對于規(guī)定的某一質(zhì)量級別的評估等級(見表5, 6及7 )。對某一探頭(見第 4條)使用11.2及11.3 (DAC或DGS)中祥述的其中一種方法以設置掃 描敏感度。使用在每一情況下的程序應符合prEN583-2 。11 2 標準探頭 在使用平底孔基礎上的距離波幅曲線( DAC )方法;A 距離增益尺寸方法。11 3 剪切波探頭 使用側面鉆孔直徑為 3MM 的 DAC 方法;A DGS 方法。DAC 及 DGS 方法不能與剪切波探頭作比較。11 4 重復

12、檢驗 只要進行重復檢驗,用原先使用的同樣方法設置敏感度( DAC 或 DGS)。12掃描12 1 總則 使用手工接觸脈沖回波方法進行掃描。最小掃描覆蓋寬度要求由鍛造的類型確定且是采用柵格式掃描還是 100% 全部掃描已經(jīng)在詢 價和定單中指定(參見第 4 條)。表 2 描述了根據(jù)制造形狀及方法確定的鍛造類型。表 3 指定了用于鍛造類型 1、 2 及 3 的標準掃描要求。表4指定了外徑內(nèi)徑比小于1.6: 1的鍛造類型3a及3b的剪波掃描要求。剪波在圓周方向的掃描深度受探頭角度及鍛造直徑的影響(見附錄 A )。12.2 復合鍛造就符合鍛件或復合鍛件的部件(類型4)及小直徑的鍛件,掃描方式要在買賣雙方

13、的詢價及定單中達成一致。包括:探頭角度要求,掃描方向,掃描程度(柵格掃描還是100%全部掃描)。12.3 柵格掃描柵格掃描要讓探頭沿著表 3 及表 4 中定義的柵格線來回移動掃描。在柵格掃描時如果有不合格地地方,在該位置附近要進行額外的掃描以確定其缺陷程度。12.4100%全部掃描需要對表 3 及表 4 中指定位置進行 100%全部掃描,探頭連續(xù)重疊的掃描的寬度至少為探頭 掃描深度的 10%。12.5 掃描速度 手工掃描速度不超過 1 50mm/s 。P10,EN10228-3: 1998表3:標準探頭的掃描范圍類型柵格掃描1)100%全部掃描1) 2)11a直徑D ( mm)掃描數(shù)量至少要對

14、圓柱的 180 °范 圍面積進行 100%全部掃 描。D < 200200 v D < 500500 v D w 10001000 v D90°位置260°位置345°位置430°位置61b按方格線的方式進行柵格掃描 要對兩個垂直的面進行柵格掃描在兩個垂直的面上進行100%全部掃描。21圓柱的一個面的 360 °范圍以及一 個側面上進行方格線掃描。3)4)對圓柱體的一個面進行至 少180 °的范圍內(nèi)進行 100%全部掃描,并且對一 個側面進行100%掃描。33a在圓柱體外側表面360 °范圍內(nèi)進行方格線

15、柵格式掃描4)在圓柱體外側表面 360 ° 范圍內(nèi)進行100%全部掃描3b、3c對圓柱體一個表面及一個側面進行360。的柵格線掃描,4)對圓柱體的一個表面及一 個側面進行100%全部掃描4掃描覆蓋范圍必須在詢價及定單中指定。1) 如果在詢價及定單中有指定的話要進行附加掃描檢查(如3a沿兩個軸線方向)2) 100%掃描檢查意味著在兩個連續(xù)的掃描件至少有探頭深度100%的交迭。3) 就1a及1b,如果發(fā)現(xiàn)有氣孔,那么對應面的掃描線量要均衡加倍。4) 單獨的柵格掃描線要等于部件的厚度,最大為 200mm。表4:剪波探頭掃描覆蓋寬度類型柵格掃描1)100%全部掃描1) 2)33a沿著柵格線的

16、兩個方向進 行掃描,掃描線量等于半徑 大小,最大不超過 200mm。在圓周的兩個方向進行100%全部掃描。3b4掃描覆蓋范圍必須在詢價及定單中指定。注意:1)如在詢價或定單中有指定則要進行額外的掃描。2) 100%掃描檢查意味著在兩個連續(xù)的掃描件至少有探頭深度100%的交迭。13分級13.1表示分級根據(jù)回波圖進行分級 圖1隨著探頭的移動,A圖形顯示的單個明顯的波峰,均勻的上升到最高點后又均勻的回落到0點。(參見表1)O這樣的圖形對應的是小于等于波形-6db的不連續(xù)性缺陷,例如回波圖保持的是從氣孔的一側到另一側的波形。A掃描波形圖(探頭在典型位置)圖2隨著探頭的移動,A圖形顯示的單個明顯的波峰,

17、均勻的上升到最高點,然后保持不變或者 沒有幅度變化,再均勻的回落到0點。(參見表2)o13.2不連續(xù)性分類對缺陷的分類要根據(jù)其回波圖形進行:點狀不連續(xù)回波圖1和/或尺寸小于等于波寬-6db (見表3)A延時缺陷回波圖2和/或尺寸大于波寬-6db (見表4)B獨立缺陷兩點間距離d對應的是相鄰不連續(xù)波峰間的最大距離,大于40mm (見圖5)C群組缺陷兩點間距離d對應的是相鄰不連續(xù)波峰間的最大距離,小于等于40mm (見圖6)FXtart 5 !»C*Wt tfjpoltlHMMfL10pJ>*Onra)<LSD)使用符號:l:-6db缺陷的常規(guī)輪廓Dp :不連續(xù)性深度的波寬D

18、:兩個缺陷間的距離L : -6db缺陷的常規(guī)長度 14記錄水平及接受標準質(zhì)量標準必須要被買方及賣方認同接受(見第4條)。表5、6及7的具體記錄水平及接受標準必須要應用于4級質(zhì)量條款。注意:可能會有很多質(zhì)量級別要應用于鍛件或鍛件的某個部件。4級質(zhì)量是最低要求,描述了最低的記錄水平及接受標準。如有協(xié)議,可以使用與表5、6、7相異的記錄/評估水平及接受標準。表5:標準探頭的適用質(zhì)量級別,記錄水平及接受標準參數(shù)質(zhì)量級別1234記錄水平等同平底孔(EFBH)mm 1) 底板回波衰減比率 r2) 3)> 8< 0.1> 5< 0.3> 3< 0.5> 2<

19、0.6接受標準1)EFBH (獨立缺陷)(mm)1)EFBH (延時或群組缺陷)(mm)< 12< 8< 8< 5< 5< 3< 3< 21) deq =等同平底孔直徑2) R = Fn / F on此處:n=1 (t > 60mm), n=2 (t v 60mmFn =底板回波衰減振幅F on =3) 如果底板回波衰減超過記錄水平,那么就需要進一步研究這個問題。 衰減比率R僅適用于底板回波快速衰減表6:平底孔DGS技術剪波探頭質(zhì)量級別,記錄水平及接受標準質(zhì)量級別1 1)234記錄水平depmm2-> 5> 3> 2獨立缺

20、陷的接受標準 depmm2-< 8< 5< 3延遲或群組缺陷的接受標準depmm1-< 5< 3< 2注意:1) 質(zhì)量級別1不適用剪波2) deq =等同平底孔直徑表7: DAC技術剪波探頭質(zhì)量級別,記錄水平及接受標準質(zhì)量級別標準檢測頻率2)MHZ記錄水平%(DAC )接受標準獨立缺陷1)4)%(DAC )延遲或群組缺陷1)4)%(DAC )12)2150100502100200100325010050410020010042306030450100501) 基于3個最小直徑的側面鉆孔2) 剪波掃描不適用于質(zhì)量級別13) 基于3個最小直徑的側面鉆孔的 A DAC必須符合每個頻率及回波探頭的要求。4) 以db為單位的有關DAC的振幅顯示已經(jīng)在附錄 B中給定。15尺寸這些技術的應用必須延時缺陷要求按照買賣雙方的協(xié)議應用以下一項或幾項技術進行評估,根據(jù)prEN583-5中的要求進行:.0 6db-衰減方法 .1 20db-衰減方法.2最大振幅方法16報

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