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1、蘇州華科電子有限公司標題：制程首件檢驗和巡回檢驗標準規(guī)章編號： SUE3-051002版次： A版 制定 修訂 廢止修正前：修正后：1. 檢驗規(guī)則中增加電性N=10PCS。2. 巡檢2HR*臺改為4HR*臺。制/修訂者制/修訂者主管發(fā)文單位核準：董事長 總經(jīng)理 廠長品保部業(yè)務部管理部物控部制造部蘇州華科電子有限公司標題：制程首件檢驗和巡回檢驗標準頁次： 1/4規(guī)章編號： SUE3-051002版次：A版版次生效日期更改日期分發(fā)原因制/修訂者原版A版2000/11/282001/7/32001/7/2制定修訂郭宗輝孫綺蘇州華科電子有限公司標題：制程首件檢驗和巡回檢驗標準頁次： 2/4規(guī)章編號：

2、SUE3-051002 版次：A版1. 適用范圍：適用于本公司制程首件和巡回檢驗2. 參考資料：2.1 制程檢驗管理辦法2.2 SMD出貨傳票管理辦法3. 檢驗規(guī)則：4. 檢驗結果處理：參考成品檢驗管理辦法。5. 附則： 5.1 本標準經(jīng)廠長核準后實施，修訂時亦同。 5.2 附件名稱：附件一：MLCC不良樣板附件二：CHIP-R不良樣板蘇州華科電子有限公司標題：制程首件檢驗和巡回檢驗標準頁次： 3/4規(guī)章編號： SUE3-051002 版次：A版附件一：MLCC不良樣板1.缺角： 2.MB黑： 3.撞傷： 4.陶體缺陷： 5.MB異物： 6.MB不良： 7.刮傷： 8.多鍍： 9。裂痕： 蘇州華科電子有限公司標題：制程首件檢驗和巡回檢驗標準頁次： 4/4規(guī)章編號： SUE3-051002 版次：A版字跡模糊無法判讀

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