可靠性測試規(guī)范

1、正氣 進(jìn)取 專業(yè) 文件名稱 可靠性測試標(biāo)準(zhǔn) 文件編號QZ/LCT-ZC09-2007版本V6.3擬制：綜合測試部審核：質(zhì)量管理部審核：質(zhì)量策劃部審核：第一產(chǎn)品事業(yè)部審核：第二產(chǎn)品事業(yè)部審核：三旗通信審核：國際業(yè)務(wù)事業(yè)部批準(zhǔn)：產(chǎn)品質(zhì)量總監(jiān)文件說明發(fā)布日期2011-05-05意見同意同意同意同意同意同意同意同意主控部門綜合測試部簽名/日期李強(qiáng)斌 2011.05.03姚鳳賢 2011.05.03沈 平 2011.05.03黃承梁 2011.05.03常玉柱 2011.05.03李志虎 2011.05.03朱明里 2011.05.03王一昌 2011.05.03質(zhì)量中心-綜合測試部可靠性實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)實(shí)施

2、。版本號修改時間修改人修改原因修改主要內(nèi)容V1.0V2.0V3.02005.09.05 劉利2006.01.17 劉利2006.04.04 劉利新建更新更新軟壓由 50kg 改為 40kg； 滑蓋測試后拆機(jī)測試 FPC 電阻增加高頻振動、沙塵、滾筒跌落、酒精摩擦、鉛筆硬度、膠塞拉力、和存儲卡拆裝等測試觸摸屏劃線次數(shù)由 100000 次（反復(fù)一個來回記為一次）改為V4.0V4.1V4.22006.05.30 吳小弟更新2006.06.26 吳小弟更新2006.08.30 吳小弟更新100000 次（反復(fù)一個來回記為 2 次）1.需測 RF 參數(shù)的測試項(xiàng)取消，綜測儀設(shè)備不要2.中試階段測試，由工程

3、部提出申請改為由中試部提出申請3.增加包裝振動測試和包裝跌落測試項(xiàng)目增加觸感鍵壽命測試項(xiàng)目第 1頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件V5.0V6.02006.09.10 吳小弟更新2007.03.29 吳小弟更新1. 增加高低溫運(yùn)行中、恒溫恒濕，跌落、高頻振動、溫度沖擊、軟壓、滾筒跌落、重復(fù)跌落、扭曲測試前后進(jìn)行 RF 參數(shù)測試；2. 增加扭曲和沖擊測試項(xiàng)目，增加 5.2.4 微動開關(guān)的壽命測試； 3. 5.3.2.6 中增加橡膠漆塑膠件和鋼片材料的摩擦條件；4. 環(huán)境測試（與溫度及濕度相關(guān)的測試）后，手機(jī)在常溫下統(tǒng)一放置 12 小時后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能的檢驗(yàn)；5.增加 7 不良等級分

4、類細(xì)則；1 低溫儲存：5.1.1.2 測試條件中的持續(xù)時間由 48hrs 改為24hrs；溫度由-30改為-40；2. 高溫儲存：5.1.5.2 測試條件中的持續(xù)時間由 48hrs 改為 24hrs；3. 沖擊：5.1.3.2 測試條件：脈沖持續(xù)時間 6ms 改為 18ms ；5. 砂塵試驗(yàn)：5.1.14.2測試條件中的持續(xù)時間 3hrs 改為 8hrs；6. 充電器插拔：5.2.7.2 測試條件：充電器、耳機(jī)和數(shù)據(jù)線插拔各為 2000 次；7. 耳機(jī)插拔：5.2.5.2 測試條件：5000 次改為 2000 次；8.SIM卡插拔： 5.2.9.2 測試條件：2500 次改為 1000 次；9

5、.儲存卡拆裝：5.2.10.2 測試條件：3000 次改為 2000 次； 第 2頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 高低溫儲存：時間由 24h，改為 16h質(zhì)量體系文件V6.12008.11.18 陳貫中更新沖擊：條件改為加速度 25g，脈沖 6ms，每個軸的沖擊次數(shù)改為 1000 次沖擊/恒溫恒濕/溫度沖擊/自由跌落的測試 樣機(jī)數(shù)目：改為8pcs自由跌落：高度統(tǒng)一為 1.2m，跌落面為混凝土板面鹽霧的試驗(yàn)條件變更為：共三個噴霧周期，每次噴霧 2h，每次噴霧后有一個為期 22h 的濕熱儲存周期。儲存條件為(40±2),相對濕度為 9095翻蓋標(biāo)準(zhǔn)：由 5W 次更新為 8W 次 滑蓋標(biāo)準(zhǔn)：

6、由 5W 次更新為 8W 次 按鍵壽命：由 10W 次改為 20W 次 微動開關(guān)（hold 鍵）壽命：由 1W 次改為 2W 次 充電器插拔測試條件改為：3 合一的充電器，充電器插拔 2000次，數(shù)據(jù)線和耳機(jī)各 1500 次，共 5000 次電池蓋拆裝：由 1000 次改為 500 次 存儲卡拆裝：由 2000 次改為 500 次 SIM 卡拆裝：由 1000 次改為 500 次 觸摸屏點(diǎn)擊測試：測試速率由 2 次/S，改為 1 次/S五向鍵壽命：由 3W 次改為 5W 次 重復(fù)跌落：跌落高度統(tǒng)一為 8cm，跌落次數(shù)由 20000 次改為10000 次 摩擦測試：棱摩擦標(biāo)準(zhǔn)由 150 圈改為

7、100 圈；橡膠漆測試標(biāo)準(zhǔn)由 140 圈改為 70 圈百格：膠帶的粘貼次數(shù)由 2 次改為 3 次 鉛筆硬度：載荷由 1Kg 改為 0.5Kg滾筒：測試次數(shù)由 1000 次改為 500 次 軟壓：測試標(biāo)準(zhǔn)由 3000 次改為 2000 次扭曲：測試標(biāo)準(zhǔn)由 1000 次改為 500 次 增加人工汗液測試項(xiàng)第 3頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件V6.22010.06.07 程雷更新1. 增加包裝重量和跌落高度的對應(yīng)關(guān)系表2. 增加包裝跌落測試手法,包括跌落棱/角/面的規(guī)定鹽霧實(shí)驗(yàn)的樣機(jī)測試后干燥條件改為:用吹風(fēng)機(jī)吹干表面殘留液體后放置與通風(fēng)干燥處干燥 48H修正筆誤：4.1 溫度沖擊測試（

8、P10）: 一處寫 12cycles，一處寫循環(huán) 4次，前后不一致4.2 滑蓋壽命測試（P15）： 以 4045 次/分的速率滑蓋 5 萬次 > 應(yīng)該是 8 萬次4.3 五向鍵壽命測試（P23）: 40000 萬次、50000 萬次 兩處筆誤4.4 沖擊測試（P7）：脈沖持續(xù)時間 18ms> 應(yīng)該是 6ms X,Y,Z 六個軸向> 應(yīng)該是 X,Y,Z 三個軸向 4.5 人工汗測試（P14）：PH 值=8.5> 應(yīng)該是 PH 值=10.8電池/電池蓋拆裝：由 500 次改為 2000 次增加低頻振動測試：位移參數(shù)量：5mm取消 5.4 其它測試（電池充放電測試和電池內(nèi)阻測

9、試）8.殼體可靠性項(xiàng)目(5.3.2 5.3.3 和 5.3.7)取消測試條件及方法，增添指向殼體可靠性測試規(guī)范（QZ/LCT-ZC16-2009）第 4頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件V6.32011.04.14 陳貫中更新1.自由跌落測試增加四個角的定向跌落2.掛繩孔拉力測試中增加對拉斷掛繩孔的要求3.增加 USB 推力測試4.增加 USB 外部逆插要求5.增加按鍵拉拔力測試6.增加高低溫充電測試7.SIM 卡壽命測試由 500 增加到 2000 8.存儲卡壽命測試由 500 增加到 20009.重復(fù)跌落測試中增加側(cè)面和頂部、底部的測試10.人工汗液測試中增加酸性汗液的配方和測試（

10、PH=4.7） 11.手寫筆插拔測試增加對伸縮性手寫筆的要求12.增加 Mic 和 Receiver 的壽命測試13.增加天線插拔測試14.增加天線彎折測試15.增加手寫筆（天線）的拉力測試16.增加加嚴(yán)測試項(xiàng)序列（可選測試項(xiàng)）17.增加整機(jī)智能機(jī)測試項(xiàng)序列18.增加完整可靠性測試項(xiàng)目歸類第 5頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 目 錄質(zhì)量體系文件1、目的 . 92、適用范圍 . 93、定義 . 94、職責(zé) . 95、 可靠性試驗(yàn)測試方法和判定標(biāo)準(zhǔn) . 95.1 環(huán)境試驗(yàn) . 95.1.1 低溫儲存測試 . 95.1.2 低溫運(yùn)行測試 . 105.1.3 沖擊測試 . 115.1.4 低頻振動測試

11、. 115.1.5 高溫儲存測試 . 125.1.6 高溫運(yùn)行測試 . 125.1.7 恒溫恒濕測試 . 135.1.8 溫度沖擊測試 . 145.1.9 跌落測試 . 145.1.10 ESD 測試 . 155.1.11 鹽霧測試 . 165.1.12 metal dome 手感測試 . 175.1.13 高頻振動測試 . 175.1.14 砂塵試驗(yàn) . 185.1.15 人工汗液測試 . 185.2 壽命試驗(yàn) . 195.2.1 翻蓋壽命測試 . 195.2.2 滑蓋壽命測試 . 195.2.3 按鍵/側(cè)鍵測試 . 205.2.4 微動開關(guān)（hold 鍵等）壽命測試 . 215.2.5 耳

12、機(jī)（單功能）插拔測試 . 215.2.6 筆插拔測試 . 225.2.7 充電器插拔測試 . 225.2.8 電池/電池蓋拆裝測試 . 235.2.9 SIM Card 拆裝測試 . 235.2.10 存儲卡拆裝測試 . 245.2.11 speaker 壽命測試 . 245.2.12 振動器壽命測試 . 245.2.13 攝像頭翻轉(zhuǎn)測試 . 25第 6頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件5.2.14 待機(jī)時間測試 . 255.2.15 開關(guān)機(jī)鍵壽命測試 . 255.2.16 觸摸屏點(diǎn)擊測試 . 265.2.17 觸摸屏劃線測試 . 265.2.18 EL 背光壽命測試 . 275.2.

13、19 LED 指示燈壽命測試 . 275.2.20 五向鍵壽命測試 . 275.3 機(jī)械測試 . 285.3.1 重復(fù)跌落測試 . 285.3.2 紙帶磨擦（RCA） . 295.3.3 附著力（百格）測試 . 295.3.4 膠塞拉力測試 . 295.3.5 堵頭按壓測試 . 295.3.6 酒精摩擦 . 295.3.7 鉛筆硬度測試 . 305.3.8 手機(jī)抗壓測試 . 305.3.9 掛繩孔拉力測試 . 305.3.10 螺釘測試（ScrewTest） . 315.3.11 滾筒跌落測試 . 315.3.12 軟壓測試 . 325.3.13 扭曲測試 . 335.3.14 鋼球跌落測試

14、. 335.3.15 包裝振動測試 . 345.3.16 包裝跌落測試 . 345.3.17 觸感鍵壽命測試 . 355.3.18 USB 推力測試 . 365.3.19 USB 外部逆插 . 365.3.20 按鍵拉拔 . 365.3.21 高低溫充電 . 375.3.22 Mic 和 Receiver 的壽命測試 . 375.3.23 天線插拔測試 . 375.3.24 天線彎折測試 . 385.3.25 手寫筆（天線）拉力測試 . 386、 特殊加嚴(yán)測試序列（可選測試項(xiàng)，建議亞熱帶區(qū)域產(chǎn)品必做） . 396.1 長周期濕熱存儲 . 396.2 翻/滑蓋（濕熱環(huán)境） . 40第 7頁共 5

15、8頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件6.3 軟壓（濕熱環(huán)境） . 406.4 Speaker 壽命（高溫環(huán)境） . 417.整機(jī)智能機(jī)測試序列 . 417.1 振動摩擦 . 417.2 硬壓 . 417.3 LCM 擠壓 . 427.4 結(jié)露測試 . 427.5 觸摸屏點(diǎn)擊（電容屏） . 437.6 觸摸屏劃線（電容屏） . 437.7 鹽霧測試（電容屏） . 447.8 高溫高濕（電容屏） . 447.9 鉛筆硬度（電容屏） . 447.10 Lens 耐摩（電容屏） . 457.11 水霧干擾測試(電容屏) . 457.12 低溫運(yùn)行（電容屏） . 458、可靠性測試實(shí)施計(jì)劃 . 469、不

16、良等級分類細(xì)則： . 5410、相關(guān)/支持性文件 . 5811、質(zhì)量記錄 . 58第 8頁共 58頁1、目的 正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件為保證龍旗控股份設(shè)計(jì)、委托制造的手機(jī)及相關(guān)產(chǎn)品品質(zhì)符合國家、行業(yè)、企業(yè)可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求，特制定此文件；2、適用范圍 本文件適用于龍旗控股設(shè)計(jì)、委托制造、采購的手機(jī)及相關(guān)產(chǎn)品（零部件）在研發(fā)、中試、量產(chǎn)階段的可靠性試驗(yàn)，由綜合測試部負(fù)責(zé)實(shí)施；3、定義無4、職責(zé)4.1 可靠性測試工程師4.1.1 研發(fā)階段可靠性測試；4.1.2 中試階段可靠性測試；4.1.3 參加可靠性分析會；4.1.4 可靠性測試報告；4.1.5 維護(hù)可靠性試驗(yàn)室；4.2 可靠性測試技術(shù)員4.

17、2.1 擬定可靠性測試計(jì)劃； 4.2.2 研發(fā)可靠性測試；4.2.3 中試可靠性測試；5、 可靠性試驗(yàn)測試方法和判定標(biāo)準(zhǔn)5.1 環(huán)境試驗(yàn)在做溫度沖擊、跌落、恒溫恒濕、低溫運(yùn)行、高溫運(yùn)行、高頻振動、軟壓、滾筒跌落、重復(fù)跌落、沖擊和扭曲測試前的手機(jī)先進(jìn)行常溫下的 RF 參數(shù)測試；5.1.1 低溫儲存測試5.1.1.1 測試目的：手機(jī)低溫環(huán)境下的適應(yīng)性；5.1.1.2 測試條件：溫度：-40±2、持續(xù)時間：16hrs； 5.1.1.3 測試數(shù)量：4pcs；5.1.1.4 測試設(shè)備：高低溫箱；5.1.1.5 測試前檢查項(xiàng)目：對手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測；5.1.1.6 測試方法：a.

18、存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；b. 一半手機(jī)帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài)；一半手機(jī)不放電池，放入高低溫箱內(nèi)，手機(jī)間的間距大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到-40； c. 持續(xù) 16 個小時之后，在常溫下放置 12 小時，然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；d. 測試時間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時開始計(jì)算；e. 對于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將第 9頁共 58頁一半樣品滑開到上限位置；正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件5.1.1.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；a. 功能檢查

19、：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體表面無裂紋以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；5.1.2 低溫運(yùn)行測試5.1.2.1 測試目的：驗(yàn)證樣機(jī)低溫環(huán)境下的工作性能及傳導(dǎo)的射頻性能；5.1.2.2 測試條件：溫度：-20±2；持續(xù)時間：4hrs； 5.1.2.3 測試數(shù)量：4pcs （試驗(yàn)中 RF 測試 2pcs）；5.

20、1.2.4 測試設(shè)備：高低溫箱，CMU200/CMD55，延長射頻線，穩(wěn)壓電源等；5.1.2.5 測試前檢查項(xiàng)目：對手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能、RF 參數(shù)檢測；a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；b. 結(jié)構(gòu)測試：殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，天線，Lens，顯示屏，裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)；c. 外觀檢測：噴漆，印刷，電鍍等以及未描述到的外觀；5.1.2.6 測試方法a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPE

21、G4；b. 手機(jī)帶滿電電池并插卡（測試 RF 參數(shù)時取下 SIM Card），設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)后，放入高低溫箱內(nèi)，手機(jī)間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到-20，并將所測樣機(jī)同 CMU200/CMD55 和電源連接好；c. 持續(xù) 1 小時后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機(jī)供電，用延長射頻線與 CMU200/CMD55 連接并進(jìn)行通話，在電壓設(shè)置為 3.6V 和 4.2V 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測試；并保存測試數(shù)據(jù)（測試方法：參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；d. 持續(xù) 4 個小時之后，在常溫下放置 12 小時，然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；e. 測試時間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時開始計(jì)算；

22、f. 對于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；5.1.2.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；RF 參數(shù)指標(biāo)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常（殼體無變形、配合縫隙無變大；轉(zhuǎn)軸無松動或變緊，無異常手感等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣品外觀無異常（表面噴漆、電鍍無裂紋等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，

23、復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式）；第 10頁共 58頁5.1.3 沖擊測試正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件5.1.3.1 測試目的：用于驗(yàn)證手機(jī)的抗沖擊性能及射頻參數(shù)指標(biāo)；5.1.3.2 測試條件：加速度 25g，脈沖持續(xù)時間 6 ms ；波形: ½ 正弦波；X、Y、Z 三個軸向各沖擊1000 次；5.1.3.3 測試數(shù)量：8pcs（試驗(yàn)后 RF 測試 2pcs）；5.1.3.4 測試設(shè)備：電動振動系統(tǒng)；5.1.3.5 測試前檢查項(xiàng)目：對手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能和及不同功率等級、不同信道的射頻參數(shù)；5.1.3.6 測試方

24、法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；b. 將手機(jī)裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊；參數(shù)設(shè)置：加速度 25 g，脈沖持續(xù)時間 6 ms ；波形: ½ 正弦波；啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z 六個軸向各沖擊 1000 次，每個軸向沖擊后都要對手機(jī)進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；c. 所有檢查完成后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機(jī)供電，用射頻線與 CMU/CMD 連接并進(jìn)行通話，在電壓設(shè)置為 3.8V 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；5.1.3.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：外觀、功

25、能、結(jié)構(gòu)正常；RF 參數(shù)指標(biāo)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 內(nèi)存檢查：樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合規(guī)格要求（參考整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式）；5.1.4 低頻振動測試5.1.4.1 測試目的：用于驗(yàn)證手機(jī)的抗振性能；5.1.4.2 測試條件：520Hz，位移：5mm，X、Y、Z 三個軸各 1h；

26、5.1.4.3 測試數(shù)量：8pcs；5.1.4.4 測試設(shè)備：電動振動系統(tǒng)；5.1.4.5 測試前檢查項(xiàng)目：對手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測；5.1.4.6 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；b. 將手機(jī)裝上帶滿電電池，插上測試卡，設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)后，固定在振動臺上夾緊。將振動參數(shù)設(shè)置為 520Hz；c. 啟動振動系統(tǒng)，X、Y、Z 三個軸向分別進(jìn)行 1 小時測試，每個軸向振動后都要對手機(jī)進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查；5.1.4.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)： 外觀、結(jié)構(gòu)、功能無異常；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，

27、受話器，回音，指示燈，拍照，充電，第 11頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；質(zhì)量體系文件b. 結(jié)構(gòu)檢查：無零件松動、脫落，晃動無異常以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：外觀無異常；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；5.1.5 高溫儲存測試5.1.5.1 測試目的：手機(jī)高溫環(huán)境下的適應(yīng)性；5.1.5.2 測試條件：溫度：+70±2；持續(xù)時間：16hrs； 5.1.5.3 測試數(shù)量：4pcs；5.1.5.4 測試設(shè)備：高低溫箱；5.1.5.5 測試前檢查項(xiàng)目：對手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)和功

28、能檢測；5.1.5.6 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；b. 一半手機(jī)帶滿電電池，不插卡，設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài)；一半手機(jī)不放電池，放入高低溫箱內(nèi)，手機(jī)間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+70； c. 持續(xù) 16 個小時之后，在常溫下放置 12 小時，然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查；d. 測試時間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時開始計(jì)算；e. 對于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；5.1.5.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；a. 功能檢查：撥打電

29、話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體表面無裂紋以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；5.1.6 高溫運(yùn)行測試5.1.6.1 測試目的：驗(yàn)證樣機(jī)高溫環(huán)境下的工作性能及傳導(dǎo)的射頻性能；5.1.6.2 測試條件：溫度：+55±2；持續(xù)時間：4hrs； 5.1.6.3 測試數(shù)量：4pcs（試驗(yàn)中 RF 測試 2pcs）；5.1.6.4

30、 測試設(shè)備：高低溫箱，CMU200/CMD55,延長射頻線，穩(wěn)壓電源等；5.1.6.5 測試前檢查項(xiàng)目：a. 功能測試：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；b. 結(jié)構(gòu)測試：殼體配合，結(jié)構(gòu)件配合，天線，Lens，顯示屏，裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)；c. 外觀檢測：噴漆，印刷，電鍍等以及未描述到的外觀；5.1.6.6 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；第 12頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件

31、b. 手機(jī)帶滿電電池并插卡，設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)后，放入高低溫箱內(nèi)，手機(jī)間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+55，持續(xù) 1 小時后，使用穩(wěn)壓電源給待測手機(jī)供電，用延長射頻線與 CMU 連接并進(jìn)行通話，在電壓設(shè)置為 3.6V 和 4.2V 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；c. 持續(xù) 4 個小時之后，在常溫下放置 12 小時，然后進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)、外觀檢查；d. 測試時間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時開始計(jì)算；e. 對于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；5.1.6.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外

32、觀，結(jié)構(gòu)，功能無異常；RF 參數(shù)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；b. 結(jié)構(gòu)檢查：結(jié)構(gòu)無異常（殼體無變形、配合縫隙無變大；轉(zhuǎn)軸無松動或變緊，無異常手感等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：樣品外觀無異常（表面噴漆、電鍍無裂紋等）以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存無丟失；時鐘無混亂，復(fù)位，超前，滯后等）；e. RF 參數(shù)符合要求（參考整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范（TDMA 制式）；5.1.7 恒溫恒濕測試5.1.7.1 測試目的：驗(yàn)證手機(jī)

33、高溫高濕環(huán)境下的適應(yīng)性及傳導(dǎo)的射頻性能；5.1.7.2 測試條件：+40±2，95%RH（+2%-3%RH）；持續(xù)時間：48hrs； 5.1.7.3 測試數(shù)量：8pcs（試驗(yàn)后 RF 測試 2pcs）；5.1.7.4 測試設(shè)備：恒溫恒濕箱，CMU200/CMD55、延長射頻線，穩(wěn)壓電源等；5.1.7.5 測試前檢查項(xiàng)目：手機(jī)進(jìn)行全面外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢測及不同信道、不同功率等級下的射頻參數(shù)；5.1.7.6 測試方法：a. 存入 5 個電話，5 條短信息，設(shè)置手機(jī)時鐘為當(dāng)前日期時間；手機(jī)里存放 MP3，MPEG4；b. 一半手機(jī)裝上帶滿電電池，不插測試卡，設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài)；一半手機(jī)不放電池

34、，放入恒溫恒濕箱內(nèi)，手機(jī)間的距離大于等于 10cm，調(diào)節(jié)溫度控制器到+40，濕度控制為 95%RH；c. 持續(xù) 48 個小時之后，取出手機(jī)，在常溫下放置 12 小時，然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)、功能檢查，并使用穩(wěn)壓電源給待測手機(jī)供電，用延長射頻線與 CMU/CMD 連接并進(jìn)行通話，在電壓設(shè)置為 3.8V 的情況下進(jìn)行 RF 參數(shù)測試（測試方法：參照第一事業(yè)部整機(jī)射頻指標(biāo)測試規(guī)范）；d. 測試時間以試驗(yàn)箱達(dá)到所需溫度條件時開始計(jì)算；e. 對于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品閉合為初始狀態(tài)，一半樣品打開到使用狀態(tài)；對于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置；5.1.7.7 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能無異常；RF 參數(shù)符合要求；a. 功能檢查：撥打電話，顯示，鈴聲，振動，按鍵，揚(yáng)聲器，受話器，回音，指示燈，拍照，充電，藍(lán)牙，MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常；第 13頁共 58頁正氣、進(jìn)取、專業(yè) 質(zhì)量體系文件b. 結(jié)構(gòu)檢查：裝飾件，logo，LENS 等無開膠以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；c. 外觀檢查：殼體、lens 表面無明顯掉漆，無裂紋，破損，沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象；d. 樣品內(nèi)存，時鐘無異常（內(nèi)存