簡易自動電阻測試儀

1、. . . . 目錄畢業(yè)論文（設(shè)計）任務(wù)書1開題報告2摘要11系統(tǒng)方案11.1單片機控制板模塊的論證與選擇11.2 電阻檢測模塊的論證與選擇11.3 控制系統(tǒng)的論證與選擇22系統(tǒng)理論分析與計算32.1 電阻檢測模塊的分析32.2 電阻檢測模塊的計算43電路與程序設(shè)計43.1.1系統(tǒng)總體框圖43.1.2 恒流源測試電路原理圖43.1.3 鍵盤接口電路原理圖53.1.4電源53.2程序的設(shè)計6程序流程圖64測試方案與測試結(jié)果84.1測試方案84.2 測試條件與儀器84.3 測試結(jié)果與分析94.3.1測試結(jié)果(數(shù)據(jù))94.3.2測試分析與結(jié)論9附錄1：電路原理圖10附錄2：源程序1226 / 34畢

2、業(yè)論文（設(shè)計）任務(wù)書學(xué)生柴專業(yè)班級機電一體化09.2指導(dǎo)教師福成論文題目簡易自動電阻測試儀研究的目標、容與方法設(shè)計并制作一臺簡易自動電阻測試儀。 （1）測量量程為100、1k、10k、100k、10M五檔。測量準確度為±（1%讀數(shù)2字）。 （2）3位數(shù)字顯示（最大顯示數(shù)必須為999），能自動顯示小數(shù)點和單位, 測量速率大于5次/秒。 （3）100、1k、10k三檔量程具有自動量程轉(zhuǎn)換功能。 （4）具有自動電阻篩選功能。即在進行電阻篩選測量時，用戶通過鍵盤輸入要求的電阻值和篩選的誤差值；測量時，儀器能在顯示被測電阻阻值的同時，給出該電阻是否符合篩選要求的指示。 （5）設(shè)計并制作一個能自

3、動測量和顯示電位器阻值隨旋轉(zhuǎn)角度變化曲線的輔助裝置，要求曲線各點的測量準確度為±（5%讀數(shù)2字）,全程測量時間不大于10秒,測量點不少于15點。分階段完成的工作1 9月1-15收集資料。29月16-30號硬件系統(tǒng)的選擇與制作310月1號-20號程序的調(diào)試4 10月20-10月30號畢業(yè)報告的書寫系（部）主任意見開題報告一、論文（設(shè)計）題目簡易自動電阻測試儀二、背景和意義科學(xué)技術(shù)的進步不斷對儀器儀表提出更高更新的要求。儀器儀表的發(fā)展趨勢是不斷發(fā)展利用新的工作原理和采用新材料和新的元器件，例如利用超聲波、微波、射線、紅外線、核磁共振、超導(dǎo)、激光等原理和采用各種新型半導(dǎo)體敏感元件、集成電路

4、、集成光路、光導(dǎo)纖維等元器件。其目的是實現(xiàn)儀器儀表的小型化，減輕重量、降低生產(chǎn)成本和更便于使用與維修等。 另一重要的局勢是通過微型計算機的使用來提高儀器儀表的性能，提高儀表本身自動化、智能化程度和數(shù)據(jù)處理能力。儀器儀表不僅供單項使用，而且可能過標準接口和數(shù)據(jù)通道與電子計算機結(jié)合起來，組成各種測試控制管理綜合系統(tǒng)，滿足更高的要求。三、系統(tǒng)設(shè)計思想本系統(tǒng)主要由單片機控制板模塊、電阻檢測模塊、顯示模塊、鍵盤、電機模塊、電源模塊組成，我們選取C8051F060/1/2/3/4/5/6/7高速混合信號ISP FLASH 微控制器。C8051F06x 系列器件是完全集成的混合信號片上系統(tǒng)型 MCU ，具有

5、 59個數(shù)字 I/O（C8051F060/2/4/6）或24 個數(shù)字I/O引腳（C8051F061/3/5/7），片集成了兩個 16 位、1引腳Msps的ADC，C8051F06x 系列MCU 對 CIP-51 核和外設(shè)有幾項關(guān)鍵性的改進，提高了整體性能，更易于在最終應(yīng)用中使用。擴展的中斷系統(tǒng)向 CIP-51 提供 22 個中斷源，允許大量的模擬和數(shù)字外設(shè)中斷微控制器。一個中斷驅(qū)動的系統(tǒng)需要較少的 MCU 干預(yù)，因而有更高的執(zhí)行效率。在設(shè)計一個多任務(wù)實時系統(tǒng)時，這些增加的中斷源是非常有用的。由于該控制板使用方便，能夠滿足更高的控制要求，因此該控制板被眾多單片機愛好者接受，并且使用。如下圖所示，

6、本系統(tǒng)主要由基準電阻矩陣模塊、自動量程切換模塊、恒流源模塊、單片機系統(tǒng)、ADC采樣模塊、數(shù)碼顯示模塊、直流穩(wěn)壓電源、控制面板組成。1、基準電阻矩陣：由精密電阻組成，提供六個量程100、1K、10K、100K、1M、10M的對應(yīng)的基準電阻，其阻值分別為340、5K、50K、500K、5M、50M。2、自動量程切換：根據(jù)被測電阻的大小，從六個基準電阻中選擇最合適的基準電阻。3、恒流源：由LM358、被測電阻、穩(wěn)壓電源通過深度負反饋線形成恒流源。4、ADC采樣：對LM358的輸出端電壓進行采樣。5、單片機系統(tǒng)：對采樣數(shù)據(jù)進行處理，控制采樣，控制量程自動切換。6、控制面板：10M量程選擇，電源開關(guān)，鍵

7、盤等組成。7、數(shù)碼顯示：3位數(shù)碼管和兩個K、M單位顯示LED燈組成。系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)圖本設(shè)計是基于單片機對由恒流源組成電路對電阻自動測量可以產(chǎn)生模擬信號，和A/D模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片的性能，我設(shè)計了以C8051F06x基本系統(tǒng)為核心的一套檢測系統(tǒng)，其中包括基準電阻矩陣模塊、自動量程切換模塊、恒流源模塊、單片機系統(tǒng)、ADC采樣模塊、數(shù)碼顯示模塊、直流穩(wěn)壓電源、控制面板等部分的設(shè)計。四、設(shè)計方案與措施方法一：采用恒流源模塊為了使輸出電壓跟隨待測電阻的變化而成正比的變化，我們可采用恒流源的思路來實現(xiàn)，如下圖所示：由圖可以看出，當RX變化時，輸出電壓UX與RX的變化成正比，因此可以得到較高的精度。方法二：采用

8、恒流源方式，如下圖所示該方案主要是將電壓源經(jīng)分壓產(chǎn)生的輸出電壓改由恒流源實現(xiàn)，在不同檔位時，選擇相應(yīng)的檔位開關(guān)。該方案的硬件復(fù)雜，但精度較高，能滿足測試要求。五、設(shè)計工作的主要階段、進度和指標階段起始日期終止日期進度技術(shù)指標第一階段2011.9.012011.09.10完成選題和資料收集豐富全面第二階段2011.9.102011.09.15對電路圖進行分析符合精度要求第三階段2011.09.152011.10.01硬件系統(tǒng)的選擇與制作設(shè)計合理結(jié)構(gòu)化、模塊化第四階段2011.10.012011.10.20程序的調(diào)試實現(xiàn)其功能控制第五階段2011.1112011.11.20編寫論文準備答辯詳細全面

9、六、簡易自動電阻測試儀系統(tǒng)在國外狀況 儀器儀表重點發(fā)展長壽命電能表、電子式電度表、特種專用電測儀表和電網(wǎng)計量自動管理系統(tǒng)。2005年，中低檔電工儀器儀表國市場占有率要達到95%;到2010年，高中檔電工儀器儀表國市場占有率達到80%?？茖W(xué)測試儀器重點發(fā)展過程分析儀器、環(huán)保監(jiān)測儀器儀表、工業(yè)爐窯節(jié)能分析儀器以與圍繞基礎(chǔ)產(chǎn)業(yè)所需的汽車零部件動平衡、動力測試與整車性能檢測儀、測量儀器、電子速測儀、測量型全球定位系統(tǒng)以與其他試驗機、實驗室儀器等新產(chǎn)品。產(chǎn)品以技術(shù)含量較高的中檔產(chǎn)品為主，到2005年在總產(chǎn)值中占50%60%。 環(huán)保儀器儀表重點發(fā)展大氣環(huán)境、水環(huán)境的環(huán)保監(jiān)測儀器儀表、取樣系統(tǒng)和環(huán)境監(jiān)測自動

10、化控制系統(tǒng)產(chǎn)品，2005年技術(shù)水平達到20世紀90年代后期國際先進水平，國市場占有率達到50%60%,達到2010年國市場占有率達到70%以上。儀器儀表元器件“十五“與2010年前，盡快開發(fā)出一批適銷對路、市場效果好的產(chǎn)品，品種占有率達到70%80%，高檔產(chǎn)品占有率達60%以上；通過科技攻關(guān)、新品開發(fā)，使產(chǎn)品質(zhì)量水平達到國際20世紀90年代末水平，部分產(chǎn)品接近國外同類產(chǎn)品先進水平。信息技術(shù)電測儀器主要發(fā)展電測儀器軟件化、智能化技術(shù)，總線式自動測試技術(shù)，綜合自動化測試系統(tǒng)，信息元器件測量技術(shù)與測試儀器，在線測試技術(shù) ，信息產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品測試技術(shù)，多媒體測試技術(shù)以與相應(yīng)測試儀器，用電監(jiān)控管理技術(shù)等。中、

11、低檔電工儀器儀表產(chǎn)品國市場占有率達到95%，高檔產(chǎn)品的國市場占有率和中低檔產(chǎn)品的國外市場占有率在現(xiàn)有基礎(chǔ)上有大幅度的提高 。我國儀器儀表產(chǎn)品在2010年的市場發(fā)展將有所望提高。產(chǎn)品結(jié)構(gòu)調(diào)整目標，其中工業(yè)自動化儀器儀表，重點發(fā)展基于現(xiàn)場總線技術(shù)的主控系統(tǒng)裝置與智能化儀器儀表，特種和專業(yè)的儀器儀表。產(chǎn)品技術(shù)水平達到20 世紀90年代后期國外先進水平，2005年銷售額占國產(chǎn)儀器儀表銷售額的30%。面向市場，全國擴大服務(wù)領(lǐng)域，推進儀器儀表系統(tǒng)的數(shù)字化、智能化、網(wǎng)絡(luò)化，完成自動化儀器儀表從模擬化香數(shù)字化技術(shù)的轉(zhuǎn)變，“15”末數(shù)字儀表的品種數(shù)達到60%以上。七、現(xiàn)有條件與必須采取的措施單片機實驗室和數(shù)字電

12、路實驗室，主要儀器有計算機，80C51F060控制面板。必須措施：在現(xiàn)有條件下研究制作該電路。八、協(xié)作單位與要解決的主要問題協(xié)作單位：學(xué)院電子實驗室。所要解決本課題的主要問題是：檢測電路的設(shè)計，以與主電路圖的合理性、制作和調(diào)試。如條件允許，需解決：購買專用于的電路器件，購買專用于電路芯片。九、指導(dǎo)教師意見指導(dǎo)教師簽名：年 月 日十、系（部）意見組長簽名： 年 月 日 摘 要本次電子設(shè)計主要介紹了簡易自動電阻測試儀的構(gòu)成、原理與實現(xiàn)過程。簡易自動電阻測試儀具備測試模式，自動轉(zhuǎn)換量程在測試電阻時，能夠依據(jù)電阻的阻值自動在100、1K、10k三個檔位中轉(zhuǎn)換。在本設(shè)計中制作了基于C8051F060/1

13、/2/3/4/5/6/7 高速混合信號ISP FLASH 微控制器的簡易自動電阻測試儀。在簡易自動電阻測試儀中，我們采用了模式選擇的方法，通過不同的模式選擇，能夠?qū)崿F(xiàn)電阻的基本測量，電阻的自動篩選以與曲線測試的功能 。 最后，我們通過本次自己動手實踐，使得自己所學(xué)理論和實際有了一個很好的聯(lián)系，不僅把我們所學(xué)的知識用到了實際中，而且更加增強了我們對自身專業(yè)的理解，提高了我們今后學(xué)習(xí)的興趣。關(guān)鍵詞 電阻 測量儀 電子儀器 自動量程轉(zhuǎn)換簡易自動電阻測試儀（G題）高職高專組1系統(tǒng)方案本系統(tǒng)主要由單片機控制板模塊、電阻檢測模塊、顯示模塊、鍵盤、電機模塊、電源模塊組成，下面分別論證這幾個模塊的選擇。1.1

14、單片機控制板模塊的論證與選擇方案一：采用自制單片機控制系統(tǒng)板。自制控制系統(tǒng)板由于資源不易擴展，工作穩(wěn)定度低，一般只適用于控制要求簡單的場合，而對于較為復(fù)雜的控制系統(tǒng)，往往不能更好地滿足控制要求。方案二：選擇SCB-CS1系統(tǒng)控制板。SCB-CS1是早期單片機控制產(chǎn)品，不能進行在線調(diào)試，控制板上可用資源少，只擴展了一個常用并行口8155，8位模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809，8位的數(shù)模轉(zhuǎn)換器DAC0832，這些模數(shù)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器件都是早期產(chǎn)品，性能低，不能滿足更高的控制要求，系統(tǒng)板上顯示與鍵盤均由8279控制，8279雖然能處理鍵盤的抖動，為編程帶來方便，但是顯示部分為8位數(shù)碼管，顯示信息少，體積大。因此

15、該控制板已較少使用。方案三：選取C8051F060/1/2/3/4/5/6/7高速混合信號ISP FLASH 微控制器。C8051F06x 系列器件是完全集成的混合信號片上系統(tǒng)型 MCU ，具有 59個數(shù)字 I/O（C8051F060/2/4/6）或24 個數(shù)字I/O引腳（C8051F061/3/5/7），片集成了兩個 16 位、1引腳Msps的ADC，C8051F06x 系列MCU 對 CIP-51 核和外設(shè)有幾項關(guān)鍵性的改進，提高了整體性能，更易于在最終應(yīng)用中使用。擴展的中斷系統(tǒng)向 CIP-51 提供 22 個中斷源，允許大量的模擬和數(shù)字外設(shè)中斷微控制器。一個中斷驅(qū)動的系統(tǒng)需要較少的 MC

16、U 干預(yù)，因而有更高的執(zhí)行效率。在設(shè)計一個多任務(wù)實時系統(tǒng)時，這些增加的中斷源是非常有用的。由于該控制板使用方便，能夠滿足更高的控制要求，因此該控制板被眾多單片機愛好者接受，并且使用。綜合以上三種方案，選擇方案三。1.2 電阻檢測模塊的論證與選擇方案一：采用電阻分壓模塊?；镜脑砣缦聢D所可見：當Rx變化時，輸出電壓Ux隨電阻值而改變，我們可根據(jù)測得的Ux可得電阻的值。但這種方法在測試時精度不高，主要原因是輸出電壓Ux與電阻的變化不成正比。其輸出公式為Ux=Rx*U/（Rx+Ro），因此該方式在實際測試時較少采用。方案二：采用恒流源模塊。為了使輸出電壓跟隨待測電阻的變化而成正比的變化，我們可采用

17、恒流源的思路來實現(xiàn)，如下圖所示：由圖可以看出，當RX變化時，輸出電壓UX與RX的變化成正比，因此可以得到較高的精度。故我們采取方案二來設(shè)計。1.3 控制系統(tǒng)的論證與選擇方案一：采用分壓的方式進行，如下圖所示。該方案在采樣計算時，要達到1%的精度，要將電壓輸出曲線分成若干段才有可能達到精度，且區(qū)間越小，精度越高，這會為編程帶來很大的不便，采用單片機系統(tǒng)很難實現(xiàn)，但硬件簡單。方案二：采用恒流源方式，如下圖所示：該方案主要是將電壓源經(jīng)分壓產(chǎn)生的輸出電壓改由恒流源實現(xiàn)，在不同檔位時，選擇相應(yīng)的檔位開關(guān)。該方案的硬件復(fù)雜，但精度較高，能滿足測試要求。綜合考慮上述方案，方案二更能夠達到測試的要求。2系統(tǒng)理

18、論分析與計算2.1 電阻檢測模塊的分析電阻模塊的電路圖如下圖所示，分為兩大部分，第一部分恒流源電路，實現(xiàn)將電阻的變化用電壓變化成線性地表示。其本質(zhì)上來說是一個同相比例運放電路，5V或0.5V的基準電壓加在同相端，為接在反相端的基準電阻提供電壓，由于電壓是恒定的，且同相端的電壓與反相端電壓相等，因此，流過基準電阻的電流是恒定的，不隨待測電阻而變化，這樣就將待測電阻的阻值變化用電壓的變化線性的表示出來，基中0.5V的基準電壓是用在測試大于1M的電阻條件下。集成運放輸出端的三極管是為了提高集成運放的輸出電流。圖中的開關(guān)部分為檔位選擇開關(guān)，要根據(jù)測試電阻的大小，合理地選擇開關(guān)的通斷。開關(guān)部分可由導(dǎo)通電

19、阻小，允許通過電流較大的模擬開關(guān)來實現(xiàn)，也可由小繼電器實現(xiàn)。在本電路中，我們采用了小型繼電器來實現(xiàn)。模擬開關(guān)第二部分為信號放大部分，其功能是通過測量放大器將Rx兩端的電壓變成單端電壓，經(jīng)放大器后，輸出A/D轉(zhuǎn)換器所需的0-2.4V的電壓。2.2 電阻檢測模塊的計算根據(jù)設(shè)計要求，測試電阻的檔位分為100、1K、10K、100K、1M等不同檔位，且要求精度達到1%，為此，我們將其檔位分為若干檔，以便在對待測電阻進行測試時選擇合適的檔位。具體的計算方法： 根據(jù)5V的電源電壓，以與基準電阻的關(guān)系，如基準電阻為1K，待測電阻為130，通過電壓與電阻的關(guān)系有以下公式：通過以上公式計算出基準電壓。再通過下式

20、可計算出相應(yīng)的數(shù)字量：將計算的數(shù)值送到A/D轉(zhuǎn)換器中，從而實現(xiàn)了數(shù)字量與模擬的轉(zhuǎn)換，得到相應(yīng)的數(shù)值。3電路與程序設(shè)計3.1.1系統(tǒng)總體框圖系統(tǒng)總體框圖如下圖所示：3.1.2恒流源測試電路原理圖3.1.3鍵盤接口電路原理圖3.1.4電源電源由變壓部分、濾波部分、穩(wěn)壓部分組成。為整個系統(tǒng)提供5V或者12V電壓，確保電路的正常穩(wěn)定工作。這部分電路比較簡單，都采用三端穩(wěn)壓管實現(xiàn)，故不作詳述。3.2程序的設(shè)計程序流程圖1、主程序流程圖2、測試子程序流程圖3、顯示子程序流程圖4測試方案與測試結(jié)果4.1測試方案對電阻測量時，采用與實測電阻對應(yīng)的方式來進行，當電阻小于1M時，接入測試孔后，采用不同的電阻幾十歐

21、姆、幾百歐、幾，等一系列電阻按自動換檔的方式，測出電阻并顯示阻值。對于大于1M小于10M的電阻可拔到大電阻檔上進行測試。當電阻超過10M或小于1歐姆的電阻，本電路不能準確測量。4.2 測試條件與儀器測試條件：檢查多次，仿真電路和硬件電路必須與系統(tǒng)原理圖完全一樣，并且檢查無誤，硬件電路保證無虛焊。測試儀器：高精度的數(shù)字毫伏表，模擬示波器，數(shù)字示波器，數(shù)字萬用表，指針式萬用表。4.3 測試結(jié)果與分析4.3.1測試結(jié)果(數(shù)據(jù))20V檔信號測試結(jié)果如下表所示： 電阻測試模塊條件結(jié)果Rx實Uo標準檔位測試電阻01002424.20.69V7574.31.99V1001K130129.80.37V6806

22、771.92V1K10K2.4K2.35K0.68V7.5K7.49K2.06V10K100K20K19.3K0.57V91K91.2K2.39V100K1M160K159.7K0.45V910K890K2.14V 電阻檢測模塊數(shù)據(jù)測試結(jié)果如下表所示： （單位/V）輸入電壓0.51.01.52.02.53.03.54.04.55輸出電壓0.290.590.880.181.471.741.972.152.302.454.3.2測試分析與結(jié)論根據(jù)上述測試數(shù)據(jù)，對電路的檢測與調(diào)試過程，可以得出以下結(jié)論：1、通過親自焊接電路，首先認識了基本元器件和一些常用的芯片，在焊接過程中遇到了各種問題，通過思考解

23、決了問題，鍛煉了自己獨立思考問題，解決問題的能力。2、在電路檢查與測試過程中要一定要仔細，認真。在通電前，斷開一條電源線，用萬用表檢查電源端對地是否存在短路情況。3、通過測試數(shù)據(jù)，深刻認識到了我們在本次設(shè)計中的一些問提，但我們有信心，通過多次的試驗與思考，最終我們得到了理想數(shù)據(jù)。綜上所述，本設(shè)計達到設(shè)計要求。附錄1：電路原理圖附錄2：源程序#include <c8051f060.h>#include <stdlib.h>#include<math.h>#define uchar unsigned char#define uint unsigned int#d

24、efine lcd_data P5uchar mod1=0;/uchar disps16;uchar key_result;sbit lcd_rs=P62;/寄存器選擇輸入sbit lcd_rw=P63;/液晶讀/寫控制sbit lcd_en=P61;/液晶使能控制sbit psb=P60;/串/并方式控制sbit start_adc2=ADC2CN4;uchar pdata dis316=" "uchar pdata dis216=" "/ shuruzuzhi;；/float pdata rx; uchar pdata modflag,dingwei

25、flag,weictrl,cifang;unsigned long int pdata shuruzuzhi;float pdata rx; uint pdata wucha;/延時函數(shù) 100us /void delay1ms(uint k) uint i,j; for(j=k;j>0;j-) for(i=0;i<68;i+);/LCD寫指令函數(shù)/void wr_cmd(uchar cmd) SFRPAGE=0XF;/SFR頁選擇F頁lcd_en=0; lcd_rs=0;lcd_rw=0;P5=cmd;delay1ms(10);lcd_en=1;delay1ms(10);lcd_

26、en=0;/LCD 顯示數(shù)據(jù)函數(shù)/ void wr_dat(uchar dat)SFRPAGE=0XF;/SFR頁選擇F頁lcd_rs=1;lcd_rw=0;lcd_en=0;P5=dat;delay1ms(10);lcd_en=1;delay1ms(10);lcd_en=0; /void lcd_int() /初始化函數(shù)/psb=1;wr_cmd(0x30);/基本工作方式wr_cmd(0x0c);/開顯示wr_cmd(0x01);/清屏delay1ms(100);/void lcd_pos(uchar x,uchar y)/ 定位函數(shù)uchar pos ;if(x=0)x=0x80;els

27、e if(x=1)x=0x90;else if(x=2)x=0x88;else if(x=3)x=0x98;pos=x+y;wr_cmd(pos); /uchar key_y()uchar temp,flag1;SFRPAGE=0X0F;/SFR頁選擇F頁P7=0xf0;temp=P7;if(temp!=0xf0) delay1ms(10); /15ms if(temp!=0xf0) flag1=1; elseflag1=0;return flag1;/ uchar key_scan() uchar key_result,tem;SFRPAGE=0X0F;/SFR頁選擇F頁P7=0xFE;te

28、m=P7;if(tem=0XEE) key_result=1;else if(tem=0xde)key_result=2; else if(tem=0xbe)key_result=3;else if(tem=0X7E)key_result=0xa;else P7=0xfd;if(P7=0xed)key_result=4;else if(P7=0xdd)key_result=5;else if(P7=0xbd)key_result=6;else if(P7=0x7d)key_result=11;elseP7=0xfb; if(P7=0xeb)key_result=7;else if(P7=0xd

29、b)key_result=8;else if(P7=0xbb)key_result=9;else if(P7=0x7b)key_result=12;elseP7=0xf7;if(P7=0xe7)key_result=0xe;else if(P7=0xd7)key_result=0;else if(P7=0xb7)key_result=0xf;elsekey_result=0xd; P7=0xf0;while(P7!=0xf0);delay1ms(10);/while(P1!=0xf0);return key_result; /在第三行顯示電阻值/是否按下開始鍵 /uchar starttest

30、() uchar kk=0,key; if (key_y() key=key_scan(); if(key=10) /開始鍵為A kk=1; return kk; /是否按下結(jié)束鍵 /uchar endkey() uchar endflag=0,key1;if (key_y() key1=key_scan(); if(key1=12) /結(jié)束鍵為C endflag=1; return endflag; /uchar modelkey() uchar m;/modflag=0; /modflag=0; if (key_y() m=key_scan(); if(m=11)/B鍵為改變工作模式鍵 m

31、od1+; modflag=1; return modflag;/ /void putlcdstr( unsigned char x, unsigned char y, unsigned char *pData ) lcd_pos(x,y); while( *pData != '0' ) wr_dat( *pData+ ) ; / /xianshi() unsigned char kk; unsigned long int res; res=rx; for (kk=0;kk<16;kk+) dis3kk=' ' putlcdstr(2,0," &

32、quot;) ; if(res>=10000000) putlcdstr(2,0," 電阻過大"); else if(res>=1000000) /1M-10M unsigned char i;unsigned long int yu;dis311=res/1000000+0x30;yu=res%1000000;dis312='.'dis313=yu/100000+0x30; yu=yu%100000; dis314=yu/10000+0x30; dis315='M' lcd_pos(2,0); for(i=0;i<16;i

33、+) wr_dat(dis3i); else if(res>=100000) /100k-1M uchar i; unsigned long int yu; dis312=res/100000+0x30; yu=res%100000; dis313=yu/10000+0x30; yu=res%10000; dis314=yu/1000+0x30; dis315='k' lcd_pos(2,0); for(i=0;i<16;i+) wr_dat(dis3i); else if(res>=10000) /10k-100k uchar i; unsigned lon

34、g int yu; putlcdstr(2,0," "); dis311=res/10000+0x30; yu=yu%10000; dis312=yu/1000+0x30; yu=yu%1000; dis313='.' dis314=yu/100+0x30; dis315='k' lcd_pos(2,0); for(i=0;i<16;i+) wr_dat(dis3i); else if(res>=1000)/1k-10k uchar i; unsigned int yu; putlcdstr(2,0," ");

35、 dis311=res/1000+0x30; yu=res%1000; dis312='.' dis313=yu/100+0x30; yu=yu%100; dis314=yu/10+0x30; dis315='k' lcd_pos(2,0); for(i=0;i<16;i+) wr_dat(dis3i); else if(res>=100)/100-1k uchar i; unsigned char yu; putlcdstr(2,0," "); dis312=res/100+0x30; yu=res%100; dis313=yu

36、/10+0x30; dis314=yu%10+0x30; dis315='R' lcd_pos(2,0); for(i=0;i<16;i+) wr_dat(dis3i); else uchar i; unsigned int yu; putlcdstr(2,0," ");/ yu=rx*10;/ if(yu>100) dis311=yu/100+0x30;/ yu=yu%100; dis312=yu/10+0x30; dis313='.' dis314=yu%10+0x30; dis315='R' else dis

37、312=yu/10+0x30; dis313='.' dis314=yu%10+0x30; dis315='R' lcd_pos(2,0); for(i=0;i<16;i+) wr_dat(dis3i); / /ceshi() uchar i,j; uint sum=0 ;/電阻表達式rx=(D*r0)/1023;比較電壓值0.5V=213 unsigned long int r0=10; SFRPAGE=2; for(i=0;i<10;i+) start_adc2=1;for(j=0;j<255;j+);while(start_adc2);s

38、um=sum+ADC2H*256+ADC2L; sum=sum/10; for(i=cifang;i>1;i-) r0=r0*10; rx=sum*(r0/1023.0);/drawquxian()/繪圖/dazuceshi()/1M以上電阻測試 /unsigned int pdata dadianzu; uchar u,v; uint pdata sum=0; shuruzuzhi=0; P3=0X10; delay1ms(1000); SFRPAGE=2; for (u=0;u<10;u+) start_adc2=1; for(v=0;v<255;v+); while(s

39、tart_adc2); sum=sum+ADC2H*256+ADC2L; sum=sum/10; if(sum>0x3f6) putlcdstr(3,0," 電阻超過10M"); while(!endkey(); else if(sum<100) putlcdstr(3,0," 電阻小于1M"); while(!endkey(); else do sum=0; for (u=0;u<10;u+) SFRPAGE=0X2; start_adc2=1; for(v=0;v<255;v+); while(start_adc2); sum

40、=sum+ADC2H*256+ADC2L; /sum=sum rx=(sum*100.0)/1023.0; sum=rx; for(u=0;u<16;u+) dis3u=' ' dis311=sum/100+0x30; sum=sum%100; dis312='.' dis313=sum/10+0x30; dis314=sum%10+0x30; dis315='M' lcd_pos(2,0); for(u=0;u<16;u+) wr_dat(dis3u); delay1ms(1000); while(!endkey(); /dianz

41、ushuru() /輸入電阻 uchar tm,tn; shuruzuzhi=0; for(tm=0;tm<16;tm+) dis2tm=' ' do while(!key_y();tm=key_scan();if(tm=0x0c) for(tn=0;tn<15;tn+) dis2tn=dis2tn+1;dis215=' 'for(tn=0;tn<16;tn+) wr_dat(dis2tn);return; else if(tm<=9) shuruzuzhi=shuruzuzhi*10+tm; for(tn=0;tn<16;tn+)

42、 dis2tn=dis2tn+1; dis215=tm+0x30; lcd_pos(1,0); for(tn=0;tn<16;tn+) wr_dat(dis2tn); while(1);/wuchashuru() uchar k,h; wucha=0; do while(!key_y();k=key_scan();if(k=0x0c) return; else if(k<=9) wucha=wucha*10+k; for(h=0;h<16;h+) dis2h=dis2h+1; dis215=k+0x30; lcd_pos(1,0); for(h=0;h<16;h+) wr_dat(dis2h); while(1);dingwei() uchar i; uint sum; weictrl=0x10; cifang=6; dingweiflag=0; P3=weictrl; delay1ms(1000); SFRPAGE=2; start_adc2=1; for (i=0;i<250;i+); while(start_adc2); sum=ADC2H*256+ADC2L; if(sum>0x3ee) dingweiflag=1; return; else do if(su