《數(shù)字系統(tǒng)測試技術(shù)》ppt課件

1、第1頁第第1111章章 數(shù)字系統(tǒng)測試技術(shù)數(shù)字系統(tǒng)測試技術(shù)11.1 11.1 數(shù)字系統(tǒng)測試的根本原理數(shù)字系統(tǒng)測試的根本原理11.2 11.2 邏輯分析儀邏輯分析儀11.3 11.3 可測性設(shè)計可測性設(shè)計11.4 11.4 數(shù)據(jù)域測試的運用數(shù)據(jù)域測試的運用第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁1 1固定型缺點固定型缺點Stuck Faults Stuck Faults 固定1缺點(stuck-at-1)，s-a-1 固定0缺點(stuck-at-0)，s-a-02 2橋接缺點橋接缺點Bridge Faults Bridge Faults x1x2x3x3x2 x1 x1 x1x2x2 x3 x

2、3第9頁2 2橋接缺點橋接缺點Bridge Faults Bridge Faults F x1.xsxs+1.xnYp1ps x1xs.Y xnxs+1.3 3延遲缺點延遲缺點Delay Faults Delay Faults 第10頁4 4暫態(tài)缺點暫態(tài)缺點Temporary Faults Temporary Faults 第11頁第12頁1 1敏化通路法敏化通路法ABx1x2x3abcdefgyC a f y a f y 01 01 01 01 01 01 10 10 10 10 10 10電路的敏化過程電路的敏化過程第13頁x1x2x3abcdefgyx2:s-a-0 x1x2x3abcd

3、efgyx2:s-a-0 x1x2x3abcdefgyx2:s-a-0 有扇出電路的敏化過程第14頁x1x2x3 單通路敏化勝利，雙通路敏化失敗的例子單通路敏化勝利，雙通路敏化失敗的例子 111111不是不是x2x2：s-a-0s-a-0的測試矢量的測試矢量 110110和和011011是是x2x2：s-a-0s-a-0的測試矢量的測試矢量 第15頁 x1x2x3x4G55G66G77G88G99G1010G1111G1212ys s- -a a- -0 0同時沿同時沿G6G9G12 G6G9G12 和和G6G10G12 G6G10G12 敏化方可敏化方可勝利勝利G6G6s-a-0s-a-0的

4、測試的測試:(x1x2x3x4)=(0000) :(x1x2x3x4)=(0000) 第16頁 小結(jié)第17頁2 2D D算法算法D D ：正常電路邏輯值為：正常電路邏輯值為1 1，缺點電路為，缺點電路為0 0的信號的信號D D ：正常電路邏輯值為：正常電路邏輯值為0 0，缺點電路為，缺點電路為1 1的信號的信號 簡化表 又稱電路的原始立方-簡化的真值表 構(gòu)成：邏輯門用它的輸出頂點稱號表示 門輸出頂點的標號大于一切輸入頂點的標號 第18頁 根本門電路的簡化表根本門電路的簡化表12312311110001231231110000第19頁 根本門電路的簡化表根本門電路的簡化表123123101000

5、11231231100101第20頁 電路的簡化表舉例電路的簡化表舉例12345645612345611100001110000001111GGG第21頁 傳送D立方Roth交Roth交0 01 10 01 10 00 01 11 11 10 0D DD D第22頁 根本門電路的傳送根本門電路的傳送D D立方立方 傳送傳送D D立方立方12312300DDDD12312311DDDD第23頁 根本門電路的傳送根本門電路的傳送D D立方立方 傳送傳送D D立方立方12312300DDDD12312311DDDD第24頁 缺點的原始D立方-元件E的輸出處可產(chǎn)生缺點信號D或D的最小輸入條件 1231

6、231 2 31 1 D1 2 30 0 D區(qū)別：缺點原始區(qū)別：缺點原始D D立方實為激活缺點的條件立方實為激活缺點的條件 缺點傳送缺點傳送D D立方為傳播缺點信號的條件立方為傳播缺點信號的條件 第25頁 D D交運算規(guī)那么交運算規(guī)那么 D D交交0 01 10 01 10 00 01 11 11 10 0D DD DD DD DD DD DD DD D第26頁 D D交運算規(guī)那么交運算規(guī)那么 符號符號和和分別表示分別表示D D交為空和未定義交為空和未定義 假設(shè)不出現(xiàn)假設(shè)不出現(xiàn)和和，但出現(xiàn)，但出現(xiàn)和和，那么，那么D D交未定交未定義義 假設(shè)假設(shè)D D交中只出現(xiàn)交中只出現(xiàn)而不出現(xiàn)而不出現(xiàn)，那么在

7、第二個，那么在第二個因子中，一切的因子中，一切的D D變?yōu)樽優(yōu)镈 D，D D變?yōu)樽優(yōu)镈 D假設(shè)假設(shè)D D交中只出現(xiàn)交中只出現(xiàn)而不出現(xiàn)而不出現(xiàn)，那么，那么DD=DDD=D，DD=D DD=D 第27頁 D D交運算規(guī)那么交運算規(guī)那么 將將D D激活元件的傳送激活元件的傳送D D立方同測試立方作立方同測試立方作D D交運算，交運算，使元件輸出使元件輸出D D或或D D信號信號假設(shè)假設(shè)D D交存在，本次驅(qū)趕勝利，得到新的測試立方。交存在，本次驅(qū)趕勝利，得到新的測試立方。假設(shè)假設(shè)D D交結(jié)果為空，那么選擇另一個傳送交結(jié)果為空，那么選擇另一個傳送D D立方進立方進展展 假設(shè)該元件的傳送假設(shè)該元件的傳送D

8、 D立方都被選擇而立方都被選擇而D D交結(jié)果為空，交結(jié)果為空，那么從活潑矢量中另選一元件進展那么從活潑矢量中另選一元件進展D D驅(qū)趕驅(qū)趕 第28頁 D D交運算規(guī)那么交運算規(guī)那么 假設(shè)活潑矢量中一切元件都不能實現(xiàn)假設(shè)活潑矢量中一切元件都不能實現(xiàn)D D交，那么后交，那么后退到前一活潑矢量，甚至退到最初階段另選一個退到前一活潑矢量，甚至退到最初階段另選一個缺點原始缺點原始D D立方重新進展立方重新進展 反復上述過程，直至將反復上述過程，直至將D D或或D D驅(qū)趕到某主輸出為止驅(qū)趕到某主輸出為止 第29頁 線確認和一致性檢查 第30頁 D算法求解組合電路的測試矢量的步驟 第一步，初始化。包括：寫出被

9、測電路的簡化表；第一步，初始化。包括：寫出被測電路的簡化表； 由簡化表得到傳送由簡化表得到傳送D D立方立方第二步，第二步，D D驅(qū)趕。用驅(qū)趕。用Roth DRoth D交運算完成多路敏化交運算完成多路敏化第三步，進展一致性檢查第三步，進展一致性檢查第四步，構(gòu)成確定的測試矢量第四步，構(gòu)成確定的測試矢量第五步，對缺點集構(gòu)成完備測試集第五步，對缺點集構(gòu)成完備測試集 最后，建立缺點字典最后，建立缺點字典第31頁對布爾函數(shù)f(x)=f(x1,x2,xn)，定義 ), 0 ,()0(), 1 ,() 1 (),()(),()(112111212121niiiniiiniiniixxxxxffxxxxxf

10、fxxxxfxfxxxxfxf第32頁()(1)(0)iiiif Xx fx f( )( )1iiyf xf x成立成立 那么闡明系統(tǒng)內(nèi)部任何一個節(jié)點那么闡明系統(tǒng)內(nèi)部任何一個節(jié)點xixi或主輸入或主輸入上信號的邏輯值的變化能使輸出端上信號的邏輯值的變化能使輸出端y y的邏輯值作相應的邏輯值作相應的變化，從而可根據(jù)的變化，從而可根據(jù)y y的變化來測試出的變化來測試出xixi的變化，以的變化，以到達對到達對xixi缺點測試的目的缺點測試的目的 第33頁 為函數(shù)f相對于變量xi的一階布爾差分 ( )( )( )iiidf xf xf xdx( )idf xdx的含義：的含義：xixi從從xixi變成

11、變成xixi時，時，f(xi)f(xi)與與f fxixi之間的差別量之間的差別量 第34頁1)(1)(01iiiidxxdfxTdxxdfxT( )( )( )(1)(0)iiiiidf xf xf xdxff第35頁1),(1),(01dhXhdfhTdhXhdfhT第36頁舉例：求偵查以下圖中缺點舉例：求偵查以下圖中缺點x1:s-a-1x1:s-a-1，x1:s-a-0 x1:s-a-0，h:s-a-1h:s-a-1的測試矢量集的測試矢量集 x1x2x3x4hf解：寫出解：寫出f的邏輯表達式的邏輯表達式 )()(43221432214322143243221xxxhhxxxxxxxxxx

12、xxxxxxxxxxf第37頁求求f f相對變量相對變量x1x1的一階布爾差分的一階布爾差分 24324321432143243221)()()0() 1 (xxxxxxxdxdfxxxfxxxxxxxf所以偵查缺點偵查缺點x1:s-a-1x1:s-a-1和和x1:s-a-0 x1:s-a-0的測試矢量集分別為的測試矢量集分別為 1111211dfTxdxxx0111211dfTxdxxx第38頁T1=T1=01000100，01010101，01100110，01110111T0=T0=11001100，11011101，11101110，11111111 由于由于fh(1)=x1x2fh(

13、1)=x1x2，fh(0)=1fh(0)=1所以所以12121dfx xxxdh 檢測缺點檢測缺點h h：s-a-1s-a-1的測試矢量為的測試矢量為 11)(1432214321xxxxxxxxdhdfhTh:s-a-1h:s-a-1的測試集為的測試集為T1=T1=00000000，10001000 第39頁第40頁引言引言時序電路中存在反響，對電路的模擬、缺點的偵時序電路中存在反響，對電路的模擬、缺點的偵查和定位帶來困難查和定位帶來困難 時序電路中，時序電路中， t t時辰的輸出呼應，既取決于時辰的輸出呼應，既取決于t t時時辰的輸入，又取決于在此以前的輸入，甚至能夠辰的輸入，又取決于在此

14、以前的輸入，甚至能夠與從初始形狀不斷到時辰與從初始形狀不斷到時辰t t的一切輸入都有關(guān)系的一切輸入都有關(guān)系 時序電路的存貯作用往往使電路中一個單缺點時序電路的存貯作用往往使電路中一個單缺點相當于組合電路中的多缺點，測試時序電路中相當于組合電路中的多缺點，測試時序電路中一個缺點不再是單個簡單的測試矢量，而需求一個缺點不再是單個簡單的測試矢量，而需求一定長度的輸入矢量序列一定長度的輸入矢量序列 第41頁引言引言既要處置邏輯相關(guān)性又要處置時序相關(guān)性既要處置邏輯相關(guān)性又要處置時序相關(guān)性 需求特別處置諸如時鐘線、反響線、形狀需求特別處置諸如時鐘線、反響線、形狀變量線等連線變量線等連線 需求建立全電路正確

15、的時序關(guān)系需求建立全電路正確的時序關(guān)系 第42頁 時序電路的普通模型 組組合合邏邏輯輯C C( (t t) )X X( (t t) )Z Z( (t t) )Y Y( (t t) )y y( (t t) )存存儲儲器器件件S S時時鐘鐘C CP P第43頁 陣列單元模型 構(gòu)成：把反響線斷開，把某時辰的電路展開成一個陣列構(gòu)成：把反響線斷開，把某時辰的電路展開成一個陣列單元。陣列單元的輸入是主輸入單元。陣列單元的輸入是主輸入X(j)X(j)和現(xiàn)態(tài)和現(xiàn)態(tài)y(j)y(j)，輸，輸出是主輸出出是主輸出Z Zj j和次態(tài)和次態(tài)y yj+1j+1，把，把1 1，2 2，k k各各時辰的陣列單元串接起來，就組

16、成一個迭接陣列模型。時辰的陣列單元串接起來，就組成一個迭接陣列模型。C(j)C(j)S SX(j)X(j)Z(j)Z(j)Y(j)Y(j)y(j+1)y(j+1)y(j)y(j)缺陷：對大型時序電路，計算量太大缺陷：對大型時序電路，計算量太大 第44頁第45頁第46頁1 1同步序列同步序列第47頁0 01 1A AB BB/0B/0A/1A/1C/1C/1D/0D/0B/1B/1A/0A/0輸入輸入輸出輸出C CC/0C/0A/1A/1D D( (A A B B C C D D) )( (A A B B C C) )( (A AC CD D) ). .( (A AB B) )( (B B) )

17、( (A AC C) )0 01 10 01 11 10 0( (A A C C D D) )( (A AB BC C) ). .( (A AD D) )( (B BC C) ) ( (A A) )1 11 10 00 0第48頁2 2引導序列引導序列-將時序電路從一個未知形狀將時序電路從一個未知形狀“引導到某些知末態(tài)引導到某些知末態(tài)可根據(jù)不同的呼應序列來斷定末態(tài)的輸入序列可根據(jù)不同的呼應序列來斷定末態(tài)的輸入序列 從形狀轉(zhuǎn)換圖表出發(fā)，將一切形狀作為樹根，次從形狀轉(zhuǎn)換圖表出發(fā)，將一切形狀作為樹根，次態(tài)集和呼應輸出記錄在相應的樹枝下態(tài)集和呼應輸出記錄在相應的樹枝下 按呼應，將次態(tài)集分割成次態(tài)子集，

18、輸出一樣的按呼應，將次態(tài)集分割成次態(tài)子集，輸出一樣的 次態(tài)在同一個子集中，標出各子集的輸出值次態(tài)在同一個子集中，標出各子集的輸出值 假設(shè)每個次態(tài)子集中的元素均一樣，那么停頓向下假設(shè)每個次態(tài)子集中的元素均一樣，那么停頓向下分支，標志為分支，標志為“* *，假設(shè)每個次態(tài)子集中僅包含一個，假設(shè)每個次態(tài)子集中僅包含一個元素，那么停頓向下分支，并標志為元素，那么停頓向下分支，并標志為“。 其它情況，即至少有一個子集中含有不同的元素，其它情況，即至少有一個子集中含有不同的元素，且該子集的集合以前沒有出現(xiàn)過，那么繼續(xù)向下分支且該子集的集合以前沒有出現(xiàn)過，那么繼續(xù)向下分支 第49頁A AB BC CD D0/

19、00/01/01/00/10/10/00/01/11/11/11/11/01/00/00/0第50頁引導樹引導樹（A A B B C C D D）（A AA AC C），（D D）（0 00 00 0），（1 1）（B BB B），（D D），（B B）（0 00 0），（1 1），（1 1）* *1 1（AAC），（D）（000），（1）0 0（B BC C），（D DB B）（0 00 0），（1 11 1）( (A AC C) ), ,( (D D) ), ,( (A A) )( (0 00 0) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (C C) ), ,( (D D)

20、), ,B B) ), ,( (C C) )( (0 0) ), ,( (1 1) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (A AC C) ), ,( (D D) ), ,( (A A) )( (0 00 0) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (B B) ), ,( (D D) ), ,B B) ), ,( (B B) ) ( (0 0) ), ,( (1 1) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )0 01 11 10 00 01 1. . .引導序列：引導序列：0101，1111，101101第51頁3 3區(qū)分序列區(qū)分序列-可以根據(jù)不同的呼

21、應序列來區(qū)分被測電路的初態(tài)和可以根據(jù)不同的呼應序列來區(qū)分被測電路的初態(tài)和末態(tài)的輸入序列末態(tài)的輸入序列 第52頁區(qū)分序列的求法區(qū)分序列的求法（A A B B C C D D）（A AA AC C），（D D）（0 00 00 0），（1 1）（B BB B），（D D），（B B）（0 00 0），（1 1），（1 1）* *1 1（AAC），（D）（000），（1）0 0（B BC C），（D DB B）（0 00 0），（1 11 1）( (A AC C) ), ,( (D D) ), ,( (A A) )( (0 00 0) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (C C)

22、 ), ,( (D D) ), ,B B) ), ,( (C C) )( (0 0) ), ,( (1 1) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (A AC C) ), ,( (D D) ), ,( (A A) )( (0 00 0) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )( (B B) ), ,( (D D) ), ,B B) ), ,( (B B) ) ( (0 0) ), ,( (1 1) ), ,( (1 1) ), ,( (0 0) )0 01 11 10 00 01 1. . .區(qū)分序列：區(qū)分序列：1111，101101第53頁第54頁1原理概述 第5

23、5頁1原理概述 第56頁2偽隨機序列發(fā)生器線性反響移位存放器線性反響移位存放器LFSRLFSRD1h1h2+ + +.hn-2+ +D2Dn-1Dnhn-1+ + x0 x1 x2 xn-2 xn-1 xn輸出位流輸出位流hi=1hi=1，表示接通反響線；，表示接通反響線；hi=0hi=0，表示斷開反響線，表示斷開反響線第57頁線性反響移位存放器線性反響移位存放器LFSRLFSR反響系數(shù)反響系數(shù)hihi在二元域上定義的多項式在二元域上定義的多項式 h(x)= xn+h1xn1+hn-1x+1 稱為該線性反響移位存放器的特征多項式稱為該線性反響移位存放器的特征多項式 211nx而不能整除任何冪次

24、低于而不能整除任何冪次低于2n2n1 1的任何的任何 多項式多項式 第58頁細胞自動機細胞自動機Celluar Automata,簡稱簡稱CAFunction fMemoryxi(t)xi(t)xi(t+1) xi+1(t)xi-1(t)CACA細胞構(gòu)造細胞構(gòu)造第59頁細胞自動機細胞自動機C Ce el ll l0 0C Ce el ll l1 1C Ce el ll ln n. . . .0 00 0零邊境條件一維零邊境條件一維CACA第60頁細胞自動機細胞自動機11(1)( ),( ),( )iiiif tf xtx txt第61頁細胞自動機細胞自動機76規(guī)則9 90 01111 11 1

25、0 00 010141101000110 01 11 11612864321 1853規(guī)則1 15 50 00 00 00 001010010001 10 0241 11201 10 01111(1)( )( )(1)( )( )( )iiiiiiix txtxtx txtx txt規(guī)那么規(guī)那么9090規(guī)那么規(guī)那么150150第62頁細胞自動機細胞自動機D DQ QD DQ QD DQ QD DQ QD DQ Q0 00 0第63頁第64頁窮舉測試技術(shù)窮舉測試技術(shù)第65頁偽窮舉測試技術(shù)偽窮舉測試技術(shù)第66頁x1x2x3x4a ab bG1G2G3y yx3x4G2bx1x2abG1G3y偽輸入

26、第67頁第68頁數(shù)數(shù)字字信信號號源源被被測測數(shù)數(shù)字字系系統(tǒng)統(tǒng)邏邏輯輯分分析析特特征征分分析析時時序序參參數(shù)數(shù)測測試試第69頁1數(shù)字信號源第70頁2特征分析第71頁2特征分析D1h1h2+ + +.hn-1+ +D2Dn-1DnQ Qhn+ +M M+ + x0 x1 x2 xn-2 xn-1 xn輸入輸入輸出輸出假設(shè)假設(shè)hi=0 hi=0 表示連線斷開，假設(shè)表示連線斷開，假設(shè)hi=1hi=1，表示連線，表示連線接通接通第72頁2特征分析m211，m m為用作特征分析的為用作特征分析的LFSRLFSR的長度。當?shù)拈L度。當m=16 m=16 時，缺點偵出率高達時，缺點偵出率高達99.998% 99

27、.998% D DQ Qh1h2hn-1.D DQ QhnD DQ Q被測電路主輸出被測電路主輸出第73頁2特征分析測試激勵測試激勵被測電路被測電路輸入輸入特征特征特征-故障字典特征-故障字典響應響應比比較較 被測電路的無缺點特征或某種缺點下的特征可經(jīng)過被測電路的無缺點特征或某種缺點下的特征可經(jīng)過電路的邏輯模擬或缺點模擬獲得。經(jīng)過事前的模擬建電路的邏輯模擬或缺點模擬獲得。經(jīng)過事前的模擬建立好特征立好特征- -缺點字典，便可用于缺點診斷。缺點字典，便可用于缺點診斷。第74頁3邏輯分析第75頁第76頁1數(shù)字信號源的構(gòu)造存儲器存儲器多路多路器器格式格式化器化器多路多路器器格式格式化器化器輸出輸出放大

28、器放大器通道0通道0通道K通道K存儲器存儲器n nn n1 11 1m mm m分離電路分離電路分配器分配器序列序列寄存寄存器器分頻器分頻器外部時鐘外部時鐘起/停起/停內(nèi)部時鐘和內(nèi)部時鐘和起/停產(chǎn)生起/停產(chǎn)生地地址址計計數(shù)數(shù)器器. . . . . . . . . .輸出輸出放大器放大器. . . . . . .第77頁2數(shù)據(jù)的產(chǎn)生第78頁第79頁 輸入通道多輸入通道多 數(shù)據(jù)捕獲才干強數(shù)據(jù)捕獲才干強, ,具有多種靈敏的觸發(fā)方式具有多種靈敏的觸發(fā)方式 具有較大的存儲深度具有較大的存儲深度, ,可以察看單次或非周期信號可以察看單次或非周期信號 顯示方式豐富顯示方式豐富 可以檢測毛刺可以檢測毛刺第80

29、頁第81頁TLA 612第82頁第83頁第84頁Agilent E9340A第85頁信號信號輸入輸入信號信號外時鐘外時鐘采樣采樣數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)存儲存儲時鐘時鐘選擇選擇內(nèi)時鐘內(nèi)時鐘觸發(fā)觸發(fā)產(chǎn)生產(chǎn)生顯示顯示控制控制CRT數(shù)據(jù)捕獲數(shù)據(jù)捕獲數(shù)據(jù)顯示數(shù)據(jù)顯示邏輯分析儀原理構(gòu)造邏輯分析儀原理構(gòu)造門限電平設(shè)定門限電平設(shè)定第86頁通道通道1通道通道8100.1100.1000.1000.0采樣時鐘采樣時鐘000.0000.0100.0100.1100.0100.0采樣數(shù)據(jù)采樣數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流第87頁觸發(fā)字觸發(fā)字 數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)窗口數(shù)據(jù)窗口跟蹤開場跟蹤開場察看窗口寬度：察看窗口寬度：邏輯分析儀存儲深度邏輯分析儀存儲

30、深度第88頁第89頁觸發(fā)字觸發(fā)字 數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)窗口數(shù)據(jù)窗口跟蹤開場跟蹤開場 觸發(fā)起始跟蹤觸發(fā)起始跟蹤觸發(fā)字觸發(fā)字 數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)窗口數(shù)據(jù)窗口跟蹤終了跟蹤終了 觸發(fā)終止跟蹤觸發(fā)終止跟蹤第90頁觸發(fā)字觸發(fā)字 數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)窗口數(shù)據(jù)窗口跟蹤開場跟蹤開場延遲數(shù)延遲數(shù)跟蹤終了跟蹤終了 數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)窗口數(shù)據(jù)窗口觸發(fā)字觸發(fā)字延遲數(shù)延遲數(shù)(a) (a) 觸發(fā)開場跟蹤加延遲觸發(fā)開場跟蹤加延遲(b) (b) 觸發(fā)終止跟蹤加延遲觸發(fā)終止跟蹤加延遲第91頁導引條件導引條件使能使能第二級觸發(fā)第二級觸發(fā)第二級觸發(fā)第二級觸發(fā)字無效字無效第二級觸發(fā)第二級觸發(fā)字有效字有效第一級觸發(fā)第一級觸發(fā)B(B(導引條件導引條件

31、) )子程序子程序C(C(觸發(fā)條件觸發(fā)條件) )主程序主程序兩級序列觸發(fā)任務原理兩級序列觸發(fā)任務原理第92頁與門與門限定條件限定條件觸發(fā)觸發(fā)識別識別數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)流觸發(fā)信號觸發(fā)信號限定條件觸發(fā)產(chǎn)生原理限定條件觸發(fā)產(chǎn)生原理第93頁第94頁第95頁地址HEX 數(shù)據(jù)HEX操作碼操作數(shù)2000200320052006.21422006049723.LDLDSUBINC.HL，2042B，04AHL.第96頁A BCD數(shù)據(jù)序列的圖解顯示0510B 程序執(zhí)行的圖解顯示2000H20FFH主程序子程序循環(huán)程序圖解顯示第97頁定時分析最大速率。定時分析最大速率。形狀分析最大速率。形狀分析最大速率。通道數(shù)。通道數(shù)。

32、存儲深度。存儲深度。觸發(fā)方式。觸發(fā)方式。輸入信號最小幅度。輸入信號最小幅度。輸入門限變化范圍。輸入門限變化范圍。毛刺捕捉才干。毛刺捕捉才干。第98頁第99頁鼓勵信號鼓勵信號被測電路被測電路邏輯分析儀邏輯分析儀例：例：ROMROM的目的測試的目的測試 數(shù)據(jù)發(fā)生器數(shù)據(jù)發(fā)生器ROM邏輯分析儀邏輯分析儀頻率計頻率計地址地址數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)外時鐘外時鐘ROM 目的參數(shù)測試目的參數(shù)測試第100頁分頻分頻電路電路74LS74LSA AB BC CG G /G2A/G2A/G2B/G2B邏輯邏輯分析儀分析儀a a 譯碼電路的測試譯碼電路的測試b b 譯碼電路輸出定時圖譯碼電路輸出定時圖邏輯定時分析儀測試譯碼電路及其毛

33、刺邏輯定時分析儀測試譯碼電路及其毛刺/Y0/Y1/Y2/Y3/Y4/Y5/Y6/Y7第101頁例：分支程序的跟蹤例：分支程序的跟蹤03CF03CF042D042D03F203F2通路通路A A通路通路B B分支程序的跟蹤測試分支程序的跟蹤測試通路通路B B觸發(fā)條件觸發(fā)條件03F203F2通路通路A A導引條件導引條件042D042D第102頁第103頁11.3.1 11.3.1 概述概述第104頁11.3.1 11.3.1 概述概述第105頁第106頁Y Y1 1Y Y2 2Y Yn-1n-1Y Yn n狀態(tài)存儲器件狀態(tài)存儲器件系統(tǒng)時鐘系統(tǒng)時鐘POPON NPIPIy y.第107頁Y1Y2Y

34、n-1Yn掃描掃描輸出輸出.N NPIPIPOPOy y掃描選擇掃描選擇掃描輸入掃描輸入系統(tǒng)時鐘系統(tǒng)時鐘第108頁第109頁第110頁D DCLKCLKSDSD A A B B鎖存器鎖存器L1鎖存器鎖存器L2系統(tǒng)輸出系統(tǒng)輸出掃描輸出掃描輸出L2L1系統(tǒng)數(shù)據(jù)系統(tǒng)數(shù)據(jù)系統(tǒng)時鐘系統(tǒng)時鐘掃描數(shù)據(jù)掃描數(shù)據(jù)掃描時鐘掃描時鐘掃描時鐘掃描時鐘L1L1：功能操作的形狀存儲器件：功能操作的形狀存儲器件第111頁D DC CL LK K= =1 1S SD DA A= =0 0B B= =0 0鎖鎖存存器器L1鎖鎖存存器器L2系系統(tǒng)統(tǒng)輸輸出出掃掃描描輸輸出出L2L1系系統(tǒng)統(tǒng)數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)系系統(tǒng)統(tǒng)時時鐘鐘掃掃描描數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)掃

35、掃描描時時鐘鐘掃掃描描時時鐘鐘系統(tǒng)功能操作時，掃描時鐘系統(tǒng)功能操作時，掃描時鐘A A和和B B置于低電平。系統(tǒng)時置于低電平。系統(tǒng)時鐘鐘CLK=1CLK=1時，數(shù)據(jù)時，數(shù)據(jù)D D進入鎖存器進入鎖存器L1L1。當。當CLK=0CLK=0時，時，L1L1鎖鎖存該數(shù)據(jù)存該數(shù)據(jù) 第112頁D DC CL LK K= =0 0S SD DA A= =1 1 B B鎖鎖存存器器L1鎖鎖存存器器L2系系統(tǒng)統(tǒng)輸輸出出掃掃描描輸輸出出L2L1系系統(tǒng)統(tǒng)數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)系系統(tǒng)統(tǒng)時時鐘鐘掃掃描描數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)掃掃描描時時鐘鐘掃掃描描時時鐘鐘掃描方式：置掃描時鐘掃描方式：置掃描時鐘A=1A=1，CLK=0CLK=0，掃描數(shù)據(jù)，掃描數(shù)據(jù)

36、SDSD進進入入L1L1，當，當A A前往前往“0 0時，時，SDSD數(shù)據(jù)鎖存于數(shù)據(jù)鎖存于L1L1。然后置掃描。然后置掃描時鐘時鐘B=1B=1，使，使L1L1鎖存的數(shù)據(jù)進入鎖存的數(shù)據(jù)進入L2L2，當，當B B前往前往“0 0時，該時，該數(shù)據(jù)鎖存于數(shù)據(jù)鎖存于L2L2。不允許。不允許A A和和B B同時為同時為1 1 第113頁第114頁第115頁第116頁測測試試激激勵勵生生成成器器掃掃描描通通路路（鏈鏈）被被測測電電路路特特征征分分析析寄寄存存器器位位計計數(shù)數(shù)器器樣樣式式計計數(shù)數(shù)器器B BI IS ST T控控制制單單元元第117頁.SI1SI2SInSO1SO2SOn多輸入特征寄存器多輸入特

37、征寄存器（MISR）（MISR）并行偽隨機序列發(fā)生器（LFSR，CA）并行偽隨機序列發(fā)生器（LFSR，CA）第118頁第119頁測試激勵生成器測試激勵生成器被測電路被測電路多輸入特征寄存器多輸入特征寄存器. . . . .第120頁第121頁C CL LK KM MU UX XS SD DI IC1C2Z1Z2Z3Z4Q1Q2Q3Q4S SO O第122頁1復位方式C1=0，C2=1 CLKCLK00Q1Q2Q3Q4000000 D D觸發(fā)器的輸入都為觸發(fā)器的輸入都為“0 0，與，與ZiZi和和QiQi的形狀無關(guān)，的形狀無關(guān)，復位方式將使該模塊的一切觸發(fā)器復位復位方式將使該模塊的一切觸發(fā)器復位

38、 第123頁2正常任務方式C1=C2=1 Di=Zi Di=Zi，該模塊的各觸發(fā)器形狀取決于外界輸入，該模塊的各觸發(fā)器形狀取決于外界輸入信號，它們均可作獨立的鎖存器運用，可分別寫入或信號，它們均可作獨立的鎖存器運用，可分別寫入或讀出信息讀出信息 CLKCLKQ1Q2Q3Q4Z1Z2Z3Z4第124頁3掃描測試方式C1=C2=0 多路器接通多路器接通SDISDI。該模塊以移位存放器方式任務，。該模塊以移位存放器方式任務，SDISDI為外界輸入的串行數(shù)據(jù)，為外界輸入的串行數(shù)據(jù)，SDOSDO為串行移位數(shù)據(jù)輸出為串行移位數(shù)據(jù)輸出 CLKCLKSDISDISD0SD0第125頁4LFSR任務方式C1=1

39、，C2=0 BILBO BILBO銜接成反響移位存放器，可產(chǎn)生偽隨機序銜接成反響移位存放器，可產(chǎn)生偽隨機序列列Q1Q1、Q2Q2、Q3Q3、Q4Q4的初始形狀不全為的初始形狀不全為“0 0或進展或進展特征分析。特征分析。BILBOBILBO既可并行輸入數(shù)據(jù)可從一切或都既可并行輸入數(shù)據(jù)可從一切或都分分Z Z端輸入，又可串行輸入采樣數(shù)據(jù)從端輸入，又可串行輸入采樣數(shù)據(jù)從Z1Z1輸入，輸入，而而Z2Z2、Z3Z3和和Z4Z4端堅持端堅持“0 0C CL LK KZ1Z2Z3Z4第126頁BILBO-1BILBO-1電路1電路1BILBO-2BILBO-2電路2電路2SoutSoutSinSin 當測試

40、被測電路1時，BILBO-1作為偽隨機數(shù)發(fā)生器，為電路1提供測試鼓勵，呼應輸出送到作為特征分析器的BILBO-2。測試終了后，將BILBO-2置為串行掃描方式，將其中存放的特征串行地從掃描輸出端送出，并與正確特征比較第127頁BILBO-1BILBO-1電路1電路1BILBO-2BILBO-2電路2電路2SoutSoutSinSin 用BILBO-2作偽隨機數(shù)發(fā)生器，BILBO-1作特征分析器，可測試電路2。系統(tǒng)正常任務時，BILBO用作觸發(fā)器或移位存放器，與電路1和電路2共同完成系統(tǒng)的功能操作 第128頁第129頁第130頁核核心心邏邏輯輯核核心心邏邏輯輯核核心心邏邏輯輯邊邊界界掃掃描描單單

41、元元I IC C1 1I IC C2 2I IC C3 3測測試試數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)輸輸出出T TD DO O測測試試數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)輸輸入入T TD DI I第131頁第132頁硬件硬件第133頁指令指令內(nèi)測試內(nèi)測試INTESTINTEST 運轉(zhuǎn)運轉(zhuǎn)BISTBIST指令指令 取器件標志指令取器件標志指令 用戶代碼指令用戶代碼指令 組件指令組件指令 輸出高阻指令輸出高阻指令 第134頁T TA AP PT TA AP P控控制制器器特別設(shè)計的特別設(shè)計的測試數(shù)據(jù)寄存測試數(shù)據(jù)寄存器器器件標志寄存器器件標志寄存器邊緣掃描寄存器邊緣掃描寄存器旁路寄存器旁路寄存器多路器多路器G1測試數(shù)據(jù)寄存器測試數(shù)據(jù)寄存器指令譯碼指令譯

42、碼指令寄存器IR指令寄存器IRG2多路器多路器0 01 11D1DC1C1ENEN特定的設(shè)計數(shù)據(jù)特定的設(shè)計數(shù)據(jù)使能使能TCK*時鐘數(shù)據(jù)寄存時鐘數(shù)據(jù)寄存移位數(shù)據(jù)寄存移位數(shù)據(jù)寄存更新數(shù)據(jù)寄存更新數(shù)據(jù)寄存時鐘數(shù)據(jù)寄存時鐘數(shù)據(jù)寄存移位數(shù)據(jù)寄存移位數(shù)據(jù)寄存更新數(shù)據(jù)寄存更新數(shù)據(jù)寄存復位復位選擇選擇TDOTDOTDITDI測試數(shù)據(jù)輸出測試數(shù)據(jù)輸出測試數(shù)據(jù)輸入測試數(shù)據(jù)輸入測試方式選擇（TMS）測試方式選擇（TMS）測試時鐘（TCK）測試時鐘（TCK） 測試復位（測試復位（TRST*）第135頁 測試時鐘輸入TCK-為測試邏輯提供時鐘信號 測試方式選擇輸入測試方式選擇輸入TMS-TMS-經(jīng)經(jīng)TAPTAP控制器譯

43、碼用來控控制器譯碼用來控制測試操作制測試操作 測試數(shù)據(jù)輸入測試數(shù)據(jù)輸入TDI-TDI-用于向測試邏輯提供串行測用于向測試邏輯提供串行測試指令和測試數(shù)據(jù)，試指令和測試數(shù)據(jù)， TDI TDI端的數(shù)據(jù)是進入指令存放端的數(shù)據(jù)是進入指令存放器還是進入測試數(shù)據(jù)存放器，取決于器還是進入測試數(shù)據(jù)存放器，取決于TAPTAP控制器的形控制器的形狀。狀。TDITDI的信號在的信號在TCKTCK的上升沿被取樣和輸入的上升沿被取樣和輸入 第136頁測試數(shù)據(jù)輸出測試數(shù)據(jù)輸出TDO-TDO-是測試指令和測試數(shù)據(jù)的串是測試指令和測試數(shù)據(jù)的串行輸出端。行輸出端。TAPTAP控制器的形狀決議了是將指令存放器控制器的形狀決議了是將

44、指令存放器還是數(shù)據(jù)存放器里的數(shù)據(jù)串行地移出到還是數(shù)據(jù)存放器里的數(shù)據(jù)串行地移出到TDOTDO端。端。TDOTDO數(shù)據(jù)形狀的改動必需且只能發(fā)生在數(shù)據(jù)形狀的改動必需且只能發(fā)生在TCKTCK信號的下降沿信號的下降沿 規(guī)范還提供了一個可選用的規(guī)范還提供了一個可選用的“測試復位輸入測試復位輸入TRSTTRST* *，它為，它為TAPTAP控制器提供了異步初始化功能，控制器提供了異步初始化功能，使測試系統(tǒng)強迫復位使測試系統(tǒng)強迫復位 第137頁選擇數(shù)據(jù)寄存掃描選擇數(shù)據(jù)寄存掃描捕獲數(shù)據(jù)寄存捕獲數(shù)據(jù)寄存移位數(shù)據(jù)寄存移位數(shù)據(jù)寄存退出1（數(shù)據(jù)寄存）退出1（數(shù)據(jù)寄存）暫停數(shù)據(jù)寄存暫停數(shù)據(jù)寄存更新數(shù)據(jù)寄存更新數(shù)據(jù)寄存退出

45、2（數(shù)據(jù)寄存）退出2（數(shù)據(jù)寄存）選擇數(shù)據(jù)寄存掃描選擇數(shù)據(jù)寄存掃描捕獲指令寄存捕獲指令寄存移位指令寄存移位指令寄存退出1（指令寄存）退出1（指令寄存）暫停指令寄存暫停指令寄存更新指令寄存更新指令寄存退出2（指令寄存）退出2（指令寄存）0 00 00 00 00 00 00 00 00 00 0運行測試空閑運行測試空閑測試邏輯復位測試邏輯復位0 01 11 11 11 11 11 11 11 11 11 11 11 10 00 00 00 01 10 01 11 1T TA AP P控控制制器器狀狀態(tài)態(tài)轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換換圖圖第138頁測試邏輯復位測試邏輯復位Test Logic ResetTest Logi

46、c Reset G1多路器1多路器10 01 1G1多路器2多路器20 01 11D1D1D1DC1C1C1C1TDITDI（TCK）（TCK） 更新（Update）更新（Update）移位/裝載移位/裝載TDOTDO測試/常規(guī)測試/常規(guī)系統(tǒng)系統(tǒng)數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)ModeModeModeMode系統(tǒng)數(shù)據(jù)系統(tǒng)數(shù)據(jù)第139頁運轉(zhuǎn)測試運轉(zhuǎn)測試/ /空閑空閑(Run Test/Idle) (Run Test/Idle) 捕獲數(shù)據(jù)存放捕獲數(shù)據(jù)存放(Capture-DR) (Capture-DR) G1多多路路器器1 10 01 1G1多多路路器器2 20 01 11 1D D1 1D DC C1 1C C1 1T

47、 TD DI I（T TC CK K） 更更新新（U Up pd da at te e）移移位位/ /裝裝載載T TD DO O測測試試/ /常常規(guī)規(guī)系系統(tǒng)統(tǒng)數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)M Mo od de eM Mo od de e系統(tǒng)數(shù)據(jù)第140頁移位數(shù)據(jù)存放移位數(shù)據(jù)存放(Shift-DR) (Shift-DR) G1多路器1多路器10 01 1G1多路器2多路器20 01 11D1D1D1DC1C1C1C1TDITDI（TCK）（TCK） 更新（Update）更新（Update）移位/裝載移位/裝載TDOTDO測試/常規(guī)測試/常規(guī)系統(tǒng)系統(tǒng)數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)ModeModeModeMode系統(tǒng)數(shù)據(jù)系統(tǒng)數(shù)據(jù)第141頁更新

48、數(shù)據(jù)存放更新數(shù)據(jù)存放(Update-DR) (Update-DR) G1多路器1多路器10 01 1G1多路器2多路器20 01 11D1D1D1DC1C1C1C1TDITDI（TCK）（TCK） 更新（Update）更新（Update）移位/裝載移位/裝載TDOTDO測試/常規(guī)測試/常規(guī)系統(tǒng)系統(tǒng)數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)ModeModeModeMode系統(tǒng)數(shù)據(jù)系統(tǒng)數(shù)據(jù)第142頁捕獲指令存放捕獲指令存放(Capture-IR) (Capture-IR) G1多路器1多路器10 01 11D1DC1C1& &C1C11D1DR R移位指令寄存移位指令寄存數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)來自上一單元來自上一單元時鐘指令寄存

49、時鐘指令寄存更新指令寄存更新指令寄存測試復位（測試復位（TRST*） 復位（復位（Reset*）去下一單元去下一單元指令位指令位（bit）（bit）第143頁移位指令存放移位指令存放Shift-IRShift-IR G1多路器1多路器10 01 11D1DC1C1& &C1C11D1DR R移位指令寄存移位指令寄存數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)來自上一單元來自上一單元時鐘指令寄存時鐘指令寄存更新指令寄存更新指令寄存測試復位（測試復位（TRST*） 復位（復位（Reset*）去下一單元去下一單元指令位指令位（bi（bit）t）第144頁更新指令存放更新指令存放(Update-IR) (Update-I

50、R) G1多路器1多路器10 01 11D1DC1C1& &C1C11D1DR R移位指令寄存移位指令寄存數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)來自上一單元來自上一單元時鐘指令寄存時鐘指令寄存更新指令寄存更新指令寄存測試復位（測試復位（TRST*） 復位（復位（Reset*）去下一單元去下一單元指令位指令位（bit）（bit）第145頁輸出鎖存器輸出鎖存器移位寄存存器移位寄存存器更新指令寄存更新指令寄存測試復位測試復位指令指令0 0 1 1TDOTDOLSBLSB專門設(shè)計的數(shù)據(jù)專門設(shè)計的數(shù)據(jù)捕獲指令寄存捕獲指令寄存移位指令寄存移位指令寄存時鐘時鐘TDITDI第146頁測試數(shù)組存放器組測試數(shù)組存放器組 旁路存

51、放器旁路存放器Bypass RegisterBypass Register必備必備邊境掃描存放器邊境掃描存放器Boundary Scan RegisterBoundary Scan Register必備必備 器件標志存放器器件標志存放器(Device ID)(Device ID)非必備非必備 專門設(shè)計的測試數(shù)據(jù)存放器非必備專門設(shè)計的測試數(shù)據(jù)存放器非必備 第147頁旁路存放器旁路存放器 -將當前沒有測試的將當前沒有測試的ICIC的掃描鏈段短路起來，為在的掃描鏈段短路起來，為在TDITDI和和TDOTDO間的測試數(shù)據(jù)的挪動提供了最短長度的串行間的測試數(shù)據(jù)的挪動提供了最短長度的串行通路通路 &

52、; &1D1DC1C1至TDO至TDO來自TDI來自TDIShift DRShift DRClock DRClock DR第148頁邊境掃描存放器邊境掃描存放器 完成測試數(shù)據(jù)的輸入、輸出鎖存和移位等測試必需的操完成測試數(shù)據(jù)的輸入、輸出鎖存和移位等測試必需的操作。由一系列邊境掃描單元組成作。由一系列邊境掃描單元組成 G1多多路路器器1 10 01 1G1多多路路器器2 20 01 11 1D D1 1D DC C1 1C C1 1T TD DI I（T TC CK K） （U Up pd da at te e）移移位位/ /裝裝載載T TD DO O測測試試/ /常常規(guī)規(guī)系系統(tǒng)統(tǒng)數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)M Mo od de eM Mo od de e系系統(tǒng)統(tǒng)數(shù)數(shù)據(jù)據(jù)移移位位寄寄存存器器輸輸出出鎖鎖存存器器第149頁器件標志存放器器件標志存放器 31312828器件型號器件型號27271212制造廠商制造廠商11111 10 01 1版本號版本號專門設(shè)計的數(shù)據(jù)存放器專門設(shè)計的數(shù)據(jù)存放器 第150頁旁路指令旁路指令-用于在用于在TDITDI至至TDOTDO