地球物理測(cè)井課件第1章6節(jié)

1、1.6 感應(yīng)測(cè)井感應(yīng)測(cè)井(Induction Log)中國(guó)地質(zhì)大學(xué)（北京）中國(guó)地質(zhì)大學(xué)（北京）1.6 感應(yīng)測(cè)井感應(yīng)測(cè)井(Induction Log)感應(yīng)測(cè)井是根據(jù)感應(yīng)測(cè)井是根據(jù)的的一種測(cè)井方法。一種測(cè)井方法。感應(yīng)測(cè)井由交流電流測(cè)量；普通電阻率測(cè)井、側(cè)感應(yīng)測(cè)井由交流電流測(cè)量；普通電阻率測(cè)井、側(cè)向測(cè)井由直流電流測(cè)量。向測(cè)井由直流電流測(cè)量。感應(yīng)測(cè)井適合于井內(nèi)介質(zhì)不導(dǎo)電的情況下測(cè)量：感應(yīng)測(cè)井適合于井內(nèi)介質(zhì)不導(dǎo)電的情況下測(cè)量：空氣鉆井、淡水泥漿空氣鉆井、淡水泥漿( (或油基泥漿或油基泥漿) )。概述概述 振蕩器放大器渦流發(fā)射線圈地層單元環(huán)接收線圈儀器外殼地層井眼12雙線圈系感應(yīng)測(cè)井原理圖振蕩器放大器渦流

2、發(fā)射線圈地層單元環(huán)接收線圈儀器外殼地層井眼122.2.單元環(huán)在單元環(huán)在R R中的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)中的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)LTORrdsTl單元環(huán)2132TTTdin S rdeIdtl Rl2drdzGr3=4TTTin S rdIde GI drdzl 233 32.24.TRTRRTRLrln n S S ILdedrdzdzlgKrd 儀333.2TRLrgl l224TRTRn n S S IKL 儀LTORrdsTl單元環(huán)Rl0REKg drdz 儀01gdsgdrdz 333.2TRLrgl lLTORrdsTl單元環(huán)Rl介質(zhì)均勻 : REEKK有用儀儀aEK有用儀非介質(zhì)均勻 : amitsmit

3、smmiittssgdrdzgdrdzgdrdzgdrdzGGGG1.1.雙線圈系的橫向探測(cè)特性雙線圈系的橫向探測(cè)特性 橫向特征橫向特征就是研究垂直就是研究垂直于井軸方向的幾何因子，于井軸方向的幾何因子，也即是討論井眼、侵入帶也即是討論井眼、侵入帶和未受侵入部分巖石對(duì)測(cè)和未受侵入部分巖石對(duì)測(cè)量結(jié)果所做的貢獻(xiàn)。量結(jié)果所做的貢獻(xiàn)。 微分幾何因子微分幾何因子是研究以是研究以井軸為中心的單位厚度無(wú)井軸為中心的單位厚度無(wú)限延伸圓筒狀介質(zhì)的幾何限延伸圓筒狀介質(zhì)的幾何因子；積分幾何因子討論因子；積分幾何因子討論以井軸為中心的整個(gè)圓柱以井軸為中心的整個(gè)圓柱狀介質(zhì)的幾何因子。狀介質(zhì)的幾何因子。rrG1RrOT0

4、1L2L3L4L(a)(a)(b)(b)徑向微分幾何分子相應(yīng)的介質(zhì)及特性曲線徑向微分幾何分子相應(yīng)的介質(zhì)及特性曲線( , )rGg r z dzrrG1RrOT01L2L3L4L(a)(a)(b)(b)徑向微分幾何分子相應(yīng)的介質(zhì)及特性曲線徑向微分幾何分子相應(yīng)的介質(zhì)及特性曲線f/20( )r drGG r dr橫積2.2.雙線圈系的縱向探測(cè)特性雙線圈系的縱向探測(cè)特性 (1) (1)縱向微分幾何因子縱向微分幾何因子單位厚度水平地層幾何因子在縱單位厚度水平地層幾何因子在縱向變化規(guī)律，討論時(shí)把介質(zhì)切成向變化規(guī)律，討論時(shí)把介質(zhì)切成垂直于線圈軸無(wú)數(shù)單位厚度的薄垂直于線圈軸無(wú)數(shù)單位厚度的薄層。層。雙線圈系的主

5、要信號(hào)來(lái)自于線圈雙線圈系的主要信號(hào)來(lái)自于線圈系范圍內(nèi)的介質(zhì)，系范圍內(nèi)的介質(zhì)，L L越小，對(duì)讀數(shù)越小，對(duì)讀數(shù)影響大的縱向范圍愈窄，圍巖影影響大的縱向范圍愈窄，圍巖影響小。因此，響小。因此，L L大小決定雙線圈系大小決定雙線圈系分層能力，分層能力，L L越小、分層能力越強(qiáng)。越小、分層能力越強(qiáng)。0212282zLzLGgdrLLzz2LLZL2LzG(a)(b) 研究縱向探測(cè)特征的目的是研究巖層厚度變化和圍巖對(duì)視研究縱向探測(cè)特征的目的是研究巖層厚度變化和圍巖對(duì)視電阻率的影響。電阻率的影響。(2)(2)縱向積分幾何因子縱向積分幾何因子 縱向積分幾何因子是雙線圈系處于厚度為縱向積分幾何因子是雙線圈系處于厚度為h h的地層中心的地層中心時(shí)，地層