復(fù)雜器件測試向量轉(zhuǎn)換技術(shù)課件

1、復(fù)雜器件測試向量轉(zhuǎn)換技術(shù)工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院2019年7月16日目錄基本轉(zhuǎn)換流程復(fù)雜器件向量的轉(zhuǎn)換需求轉(zhuǎn)換實現(xiàn)總結(jié)和建議基本轉(zhuǎn)換流程仿真向量到ATE向量EDA 工具ATPG TetraMAX +FastScan +Internal.vcdSTIL.wglATE測試系統(tǒng)仿真 Verilog 兼容.binATE向量專用格式向量轉(zhuǎn)換基本轉(zhuǎn)換流程仿真向量主要仿真向量格式VCD （Value Change Dump，IEEE Std. 1364）EVCD（Extended VCD）WGL （Waveform Generation Language）STIL （Standard Test I

2、nterface Language, IEEE std.1450）基本轉(zhuǎn)換流程仿真向量向量的類型基于周期的向量：WGL和STIL基于事件的向量：VCD和EVCDVCD file $timescale 100 ps $end $var wire 1 ! A $end #0 0! #1100 1! Signals A In； Timing WaveformTable TS1 Period 10ns ; Waveforms A 10 0ns U/D; Pattern _pattern_ W TS1; V A = 0; A = 0; A=1; STIL file基本轉(zhuǎn)換流程基于事件的仿真向量ATE向量

3、預(yù)處理：規(guī)整向量周期化：以固定周期切割向量波形采樣：對每個周期內(nèi)的波形采樣信息提?。荷蓵r間信息文件和波形信息文件最終生成ATE向量基本轉(zhuǎn)換流程向量轉(zhuǎn)換工具市售的向量轉(zhuǎn)換工具VtranWaveWizardTDS國產(chǎn)第三方工具公司內(nèi)部的向量轉(zhuǎn)換工具VCD293k復(fù)雜器件向量的轉(zhuǎn)換需求復(fù)雜器件功能復(fù)雜，具有多個時鐘域不同速度接口。種類：處理器，F(xiàn)PGA，SoC等等。特點：不同速度的接口異步或同步的通訊方式復(fù)雜器件向量的轉(zhuǎn)換需求復(fù)雜器件向量的轉(zhuǎn)換需求如何轉(zhuǎn)換不同速度的多時鐘域信號向量ATE測試系統(tǒng)支持多時鐘域信號較早期的測試系統(tǒng)不支持，或者有較多的限制條件較新的測試系統(tǒng)宣稱支持此功能將多時鐘域信號“

4、轉(zhuǎn)化”為單時鐘域信號處理有局限性，受測試系統(tǒng)硬件能力的限制會給后期的調(diào)試和測量帶來困難轉(zhuǎn)換實現(xiàn)最小周期法選取多時鐘域中全部周期的最小公約數(shù)周期對設(shè)備要求系統(tǒng)的最小周期時間要求高。對驅(qū)動沿或向量波型的數(shù)量要求低。生成向量深度大。周期切割較容易。每個周期內(nèi)信號至多只有一次狀態(tài)變化，調(diào)試相對容易，測量參數(shù)時較為方便。轉(zhuǎn)換實現(xiàn)最小公倍數(shù)周期法：選取多時鐘域中全部周期的最小公倍周期為切割周期。對設(shè)備要求對向量驅(qū)動沿或向量波型的數(shù)量要求高。系統(tǒng)的最小周期時間要求低。生成向量深度較小。周期切割也比較容易。生成的向量深度相對較小。單個周期內(nèi)信號有多次狀態(tài)改變，調(diào)試和測量參數(shù)都不方便。轉(zhuǎn)換實現(xiàn)平衡周期法：選取多

5、時鐘域中全部周期的最小公倍的約數(shù)為切割周期。對設(shè)備要求對向量驅(qū)動沿或向量波型的數(shù)量要求比較高。系統(tǒng)的最小周期時間要求一般。生成向量深度一般。切割不容易，可能存在周期漂移問題。單個周期內(nèi)信號有多次狀態(tài)改變，調(diào)試和測量參數(shù)都不方便。轉(zhuǎn)換實現(xiàn)實例處理SoC芯片：內(nèi)核周期7.5ns，PCI接口20ns，SDRAM接口8ns。最小周期：0.5nsATE設(shè)備無法達(dá)到最小公倍數(shù)周期 120ns ATE設(shè)備可以達(dá)到內(nèi)核部分單周期內(nèi)需16個驅(qū)動沿ATE設(shè)備無法達(dá)到SDRAM部分單周期內(nèi)需15個驅(qū)動沿ATE設(shè)備無法達(dá)到平衡周期 10nsATE設(shè)備可以達(dá)到內(nèi)核部分：每3個周期需4個驅(qū)動沿ATE設(shè)備可以達(dá)到SDRAM部分：每4個周期需要5個驅(qū)動沿ATE設(shè)備可以達(dá)到總結(jié)和建議總結(jié)復(fù)雜器件的向量轉(zhuǎn)換受限于硬件性能測試系統(tǒng)對多時鐘域的支持更快的速度、