生產(chǎn)過程質(zhì)量控制技術(shù)之SPC課件

生產(chǎn)過程質(zhì)量控制之SPC生產(chǎn)過程質(zhì)量控制之SPC1為之于未有，治之于未亂根據(jù)典記，魏文王曾求教于名醫(yī)扁鵲：“你們兄弟三人，都精于醫(yī)術(shù)，誰的醫(yī)術(shù)最好呢？”扁鵲：“大哥最好，二哥差些，我是三人中最差的一個。”魏王不解。

扁鵲解釋說：“大哥治病，是在病情發(fā)作之前，那時候病人自己還不覺得有病，但大哥就下藥鏟除了病根，使他的醫(yī)術(shù)難以被人認可，所以沒有名氣，只是在我們家中被推崇備至。我的二哥治病，是在病初起之時，癥狀尚不十分明顯，病人也沒有覺得痛苦，二哥就能藥到病除，使鄉(xiāng)里人都認為二哥只是治小病很靈。我治病，都是在病情十分嚴重之時，病人痛苦萬分，病人家屬心急如焚。此時，他們看到我在經(jīng)脈上穿刺，用針放血，或在患處敷以毒藥以毒攻毒，或動大手術(shù)直指病灶，以為我的醫(yī)術(shù)高明，所以我名聞天下?！蔽和醮笪?。為之于未有，治之于未亂根據(jù)典記，魏文王曾求教于名醫(yī)扁鵲：“你21.1.1質(zhì)量檢驗階段

20世紀前，屬于“操作者的質(zhì)量管理”。20世紀初，質(zhì)量管理的職能由操作者轉(zhuǎn)移給工長，是“工長的質(zhì)量管理”。隨著企業(yè)生產(chǎn)規(guī)模的擴大和產(chǎn)品復(fù)雜程度的提高，大多數(shù)企業(yè)開始設(shè)置檢驗部門，這時是“檢驗員的質(zhì)量管理”。上述幾種做法都屬于事后檢驗的質(zhì)量管理方式。1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言1.1.1質(zhì)量檢驗階段1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言31.1.2統(tǒng)計質(zhì)量控制階段以數(shù)理統(tǒng)計理論為基礎(chǔ)的統(tǒng)計質(zhì)量控制的推廣應(yīng)用始自第二次世界大戰(zhàn)。由于事后檢驗無法控制武器彈藥的質(zhì)量，美國國防部決定把數(shù)理統(tǒng)計法用于質(zhì)量管理，并由標準協(xié)會制定有關(guān)數(shù)理統(tǒng)計方法應(yīng)用于質(zhì)量管理方面的規(guī)劃，成立了專門委員會，并于1941～1942年先后公布一批美國戰(zhàn)時的質(zhì)量管理標準。1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言1.1.2統(tǒng)計質(zhì)量控制階段1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言41.1.3全面質(zhì)量管理階段在生產(chǎn)技術(shù)和企業(yè)管理中要求運用系統(tǒng)的觀點來研究質(zhì)量問題。在管理理論上，突出重視人的因素，強調(diào)依靠企業(yè)全體人員的努力來保證質(zhì)量。全面質(zhì)量管理是“為了能夠在最經(jīng)濟的水平上、并考慮到充分滿足顧客要求的條件下進行生產(chǎn)和提供服務(wù)，并把企業(yè)各部門在研制質(zhì)量、維持質(zhì)量和提高質(zhì)量方面的活動構(gòu)成為一體的一種有效體系”。1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言1.1.3全面質(zhì)量管理階段1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言52.1SPC是什么?統(tǒng)計過程控制（StatisticalProcessControl簡稱SPC）是一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。用控制圖分析、監(jiān)控和改進過程的方法。一種用于檢測異常的工具可判斷過程的變差，及時告警它主要區(qū)分由特殊原因引起的異常波動還是由普通原因引起的正常波動,

但不能告知此異常是什么因素引起的2.SPC的基本概念2.1SPC是什么?統(tǒng)計過程控制（Statistica61、確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。2、提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。3、為制程分析提供依據(jù)。4、區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。2.2SPC可以做什么?2.SPC的基本概念1、確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。2.2SPC可以做什么?272.3術(shù)語解釋——六西格瑪術(shù)語名稱解釋短期工程能力指數(shù)CP

CP

指工程的平均值和規(guī)格中心值相重合時的短期工程能力指數(shù)（在Minitab）。

CP=（USL-LSL）/6st。

st表示短期標準偏差。CPKCPK工程的平均值和規(guī)格中心值不一致時的短期工程能力指數(shù)。CPK=Nin{Cpu=（USL-μ）/3st,Cpl=（μ-LSL）/3st}PP

PP

指工程的平均值和規(guī)格中心值相重合時的長期工程能力指數(shù)。

PP=（USL-LSL）/6lt

lt

表示長期標準偏差。PPKPPK工程的平均值和規(guī)格中心值不一致時的短期工程能力指數(shù)。PPK=Nin{Ppu=（USL-μ）/3lt

,Ppl=（μ-LSL）/3lt}2.3術(shù)語解釋——六西格瑪術(shù)語名稱解釋短期工程能力指數(shù)CP82.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋平均值

（X）一組測量值的均值極差（Range）一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差σ（Sigma）用于代表標準差的希臘字母標準差(StandardDeviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母σ或字母s（用于樣本標準差）表示。分布寬度（Spread）一個分布中從最小值到最大值之間的間距中位數(shù)?x將一組測量值從小到大排列后，中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。

單值（Individual）一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的一次測量，通常用符號X表示。2.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋平均值（92.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋中心線（CentralLine）控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值。過程均值（ProcessAverage）一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用X來表示。鏈（Run）控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的點。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。變差（Variation）過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。特殊原因（SpecialCause）一種間斷性的，不可預(yù)計的，不穩(wěn)定的變差根源。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。2.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋中心線控制圖上的一102.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋普通原因（CommonCause）造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。過程能力(ProcessCapability)是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。移動極差（MovingRange)兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。2.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋普通原因（Comm112.4SPC的發(fā)展及應(yīng)用SPC源于20年代，以美國休哈特（Shewhart）博士發(fā)明控制圖為標志。二戰(zhàn)中美國將其制定為戰(zhàn)時質(zhì)量管理標準，對軍工產(chǎn)品的質(zhì)量保證和及時交付起到了積極的作用。50年代在日本工業(yè)界大量推廣應(yīng)用，對日本產(chǎn)品質(zhì)量的崛起起到了至關(guān)重要的作用。80年代許多大公司紛紛積極推廣應(yīng)用SPC2.SPC的基本概念2.4SPC的發(fā)展及應(yīng)用SPC源于20年代，以美122.5為什么要學(xué)習(xí)SPC?假如對制造過程的主要工序都建立簡便易行的控制系統(tǒng)，當質(zhì)量問題一旦出現(xiàn)，就能被及時發(fā)現(xiàn)，及時糾正，阻止不合格品流入下道工序。即達到預(yù)防的目的。在制造過程中，應(yīng)盡量避免或減少出現(xiàn)質(zhì)量問題再糾正或反饋的損失。(有效的策略就是預(yù)防)有效的預(yù)防策略:簡便易行的控制系統(tǒng)2.SPC的基本概念2.5為什么要學(xué)習(xí)SPC?假如對制造過程的主要工序都建132.6實施SPC的過程包含三大內(nèi)容：第一步、用SPC工具對過程進行分析，如繪制分析用控制圖等；第二步、根據(jù)分析結(jié)果采取必要措施：可能需要消除過程中的系統(tǒng)性因素，也可能需要管理層的介入來減小過程的隨機波動以滿足過程能力的需求。第三步、則是用控制圖對過程進行監(jiān)控。2.SPC的基本概念2.6實施SPC的過程包含三大內(nèi)容：2.SPC的基本概念14質(zhì)量控制的模型15原材料生產(chǎn)過程產(chǎn)品檢查合格出貨不合格返工報廢出貨利用報廢處理觀查:數(shù)據(jù)的收集評估:數(shù)據(jù)的分析診斷:調(diào)查原因決定:規(guī)劃行動實施:采取行動原材料生產(chǎn)過程產(chǎn)品偶然因素特殊因素SPC控制圖目的：區(qū)分這2種因素，消除特殊因素產(chǎn)生的變異過程控制模型質(zhì)量控制的模型VS過程控制模型3.SPC基本原理質(zhì)量控制的模型15原材料生產(chǎn)過程產(chǎn)品檢查合格出貨不合格返工報輸入各種要素人設(shè)備材料方法環(huán)境測量5M1E資源的組合輸出中間產(chǎn)品作為一個概念，有其明確的定義：利用資源將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的一組活動。3.1什么是過程？活動3.SPC基本原理輸入各種要素人資源的組合輸出中間產(chǎn)品作為一個概念，有其明確的163.2SPC能給制造過程提供什么幫助？為過程提供了一個早期報警系統(tǒng)，及時監(jiān)控過程情況，以防止廢品的發(fā)生。確定過程的統(tǒng)計控制界限，判斷過程是否失控和過程是否有能力。根據(jù)反饋信息及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，采取措施消除其影響。使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態(tài)，達到預(yù)防不合格品產(chǎn)品的目的。減少對常規(guī)檢驗的依賴性，定時的觀察和測量方法替代了大量的檢測和驗證工作?！觥觥觥觥?.SPC基本原理3.2SPC能給制造過程提供什么幫助？為過程提供了一個早期173.3“波動”的概念及統(tǒng)計規(guī)律性生產(chǎn)線上加工出來的產(chǎn)品沒有絕對相同的。產(chǎn)品間的差別是用其資料特性值（數(shù)據(jù)）的差異表現(xiàn)出來。連續(xù)材料一批產(chǎn)品中每個質(zhì)量特性，一邊測量一邊畫直方圖，就可以發(fā)現(xiàn)其統(tǒng)計規(guī)律這條曲線就是質(zhì)量特性x的分布■3.SPC基本原理3.3“波動”的概念及統(tǒng)計規(guī)律性生產(chǎn)線上加工出來的產(chǎn)品沒有18

每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同

范圍范圍范圍范圍但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個分布

范圍范圍范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分位置分布寬度形狀或這些因素的組合每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同193.4正態(tài)分布的特征68.28％μ+σμ－σ若某過程輸出特性x服從N(μ，σ2)在統(tǒng)計過程控制中最常見的分布是正態(tài)分布正態(tài)分布被參數(shù)μ與σ完全確定，記為N（μ，σ2）；μ表示分布的中心位置；σ表示分布的標準差或者表示數(shù)據(jù)的分散程度，或用極差表示；在界限μ±1σ內(nèi)，即有31.74％那么該過程輸出產(chǎn)品中有68.26％■■■■■產(chǎn)品在界限μ±1σ之外。3.SPC基本原理3.4正態(tài)分布的特征68.28％μ+σμ－σ若某過程輸出特20正態(tài)分布下界限內(nèi)外的比率界限界限內(nèi)的比率界限外的比率μ±1σ68.26%31.74%μ±2σ95.46%4.54%μ±3σ99.73%0.27%μ±4σ99.9937%0.0063%μ±5σ99.999943%0.000057%μ±6σ99.9999998%0.0000002%1924年，休哈特博士建議用界限μ±3σ作為控制界限來管理過程。即我們常說的3σ管理?！?.SPC基本原理正態(tài)分布下界限內(nèi)外的比率界限21μ+3σμ－3σμσ將正態(tài)分布圖及其界限μ±3σ轉(zhuǎn)90°，在翻轉(zhuǎn)180°縱座標為輸出特性X，橫坐標為時間或編號3.5控制圖的形式μ+3σμ－3σUCL上控制界限LCL下控制界限CL中心線3.SPC基本原理μ+3σμ－3σμσ將正態(tài)分布圖及其界3.5控制圖的形式μ223.6過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性當過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)定的且可重復(fù)的隨機分布；而失控時，過程分布將改變。時間受控失控當過程僅受隨機因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱受控狀態(tài)）當過程中存在系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）■■■3.SPC基本原理3.6過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性當過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)23如果僅存在變差的普通原因，目標值線隨著時間的推移，過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。預(yù)測時間范圍目標值線如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推預(yù)測移，過程的輸出不穩(wěn)定。時間范圍如果僅存在變差的普通原因，24過程控制

受控

（消除了特殊原因）

時間范圍不受控（存在特殊原因）過程控制25

過程能力受控且有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差已減少）

規(guī)范下限

規(guī)范上限

時間范圍受控但沒有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差太大）過程能力261、計量型數(shù)據(jù)－－它是某種量具、儀器測定地數(shù)據(jù)，這類數(shù)據(jù)可取某一區(qū)間內(nèi)地任一實數(shù)。如軸的直徑、電阻的阻值、材料的強度等，這類特性數(shù)據(jù)常服從正態(tài)分布，通常用兩張圖。3.7質(zhì)量特性數(shù)據(jù)分為兩類：3.SPC基本原理2、計數(shù)型數(shù)據(jù)－－它是通過數(shù)數(shù)的方法獲得的。常取0，1，2等非負整數(shù)。如一批產(chǎn)品中的不合格品數(shù)，鑄件上的氣孔數(shù)，一匹布上的疵點數(shù)，對這類特性數(shù)據(jù)只需要用一張控制圖就可以了，也有四種控制圖：1、計量型數(shù)據(jù)－－它是某種量具、儀器測定地數(shù)據(jù)，這類數(shù)據(jù)可取27管制圖類型計量型數(shù)據(jù)X-R均值和極差圖計數(shù)型數(shù)據(jù)Pchart不良率管制圖X-δ均值和標準差圖nPchart不良數(shù)管制圖X-R中位值極差圖Cchart缺點數(shù)管制圖X-MR單值移動極差圖Uchart單位缺點數(shù)管制圖3.SPC基本原理管制圖類型X-R均值和極差圖Pchart不良率管制圖283.8控制圖的選擇方法確定要制定控制圖的特性是計量型數(shù)據(jù)嗎？否關(guān)心的是不合格品率？否關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？是樣本容量是否恒定？是使用np或p圖否使用p圖樣本容量是否桓定？否使用u圖是是使用c或u圖是性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣—例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？否子組均值是否能很方便地計算？否使用中位數(shù)圖是使用單值圖X-MR是3.8控制圖的選擇方法確定要制定控制圖的特性是計量型數(shù)據(jù)嗎29接上頁使用X—s圖子組容量是否大于或等于9？是否是否能方便地計算每個子組的S值？使用X—R圖是否使用X—R圖注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。接上頁使用子組容量是否大于或等于9？是否是否能方便地計算每個30應(yīng)用SPC控制圖的5個步驟SPC-StatisticalProcessControl記錄數(shù)據(jù)計算相應(yīng)的統(tǒng)計量，均值，標準差，極差，比例等計算出試運行階段的控制圖的中心線和控制界限在控制圖上畫出中心線和控制界限畫出收集到的數(shù)據(jù)在控制圖上調(diào)查控制圖上超出控制界限的點的出界原因，查找出異常因素并加以消除如果沒有找到異常因素，可以剔除超出控制界限的點如果有必要，重新計算控制界限計算出工藝能力連續(xù)的收集數(shù)據(jù)并繪制控制圖找出不受控的情況并采取糾正行動如果發(fā)生了永久的過程偏移，要重新計算中心線和控制界限選擇要監(jiān)控的品質(zhì)特性：最終產(chǎn)品，制造過程中的產(chǎn)品，過程中的輸入變量決定每次抽樣數(shù)目，和抽樣頻率等1-樣本準備階段2-數(shù)據(jù)收集3-建立控制圖4-分析和解釋控制圖5-分析和解釋控制圖4.SPC控制圖的制作應(yīng)用SPC控制圖的5個步驟SPC-StatisticalP314.1計量型控制圖：Xbar-R圖計算每個子組的均值（X）和極差R

對每個子組計算：

X=（X1+X2+…+Xn）/n

R=Xmax-Xmin

式中：X1，X2????為子組內(nèi)的每個測量值。n表示子組的樣本容量選擇控制圖的刻度

兩個控制圖的縱坐標分別用于X和R的測量值。4.SPC控制圖的制作4.1計量型控制圖：Xbar-R圖計算每個子組的均值（X）324.1計量型控制圖：Xbar-R圖計算控制限

首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限。

計算平均極差（R）及過程均值（X）

R=（R1+R2+…+Rk）/k（K表示子組數(shù)量）

X=（X1+X2+…+Xk）/k

計算控制限

計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均值和極差的變化和范圍。控制限是由子組的樣本容量以及反映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。

計算公式：

UCLx=X+A2RUCLR=D4RLCLx=X-A2RLCLR=D3R

4.SPC控制圖的制作4.1計量型控制圖：Xbar-R圖計算控制限4.SPC控334.1計量型控制圖：Xbar-R圖344.SPC控制圖的制作4.1計量型控制圖：Xbar-R圖344.SPC控制圖

注：式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值

見下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3000000.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.340.340.31

注：對于樣本容量小于7的情況，LCLR可能技術(shù)上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為6的子組，6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。

4.1計量型控制圖：Xbar-R圖注：式中A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組35

4.2控制圖八大判異準則口決：1界外（1點落在A區(qū)以外）2/3A（連續(xù)3點中有2點在中心線同一側(cè)的B區(qū)外<即A區(qū)內(nèi)>）4/5C（連續(xù)5點中有4點在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外）

6連串（連續(xù)6點遞增或遞減，即連成一串）

8缺C（連續(xù)8點在中心線兩側(cè)，但沒有一點在C區(qū)中）

9單側(cè)（連續(xù)9點落在中心線同一側(cè)）

14交替（連續(xù)14點相鄰點上下交替）15全C（連續(xù)15點在C區(qū)中心線上下，即全部在C區(qū)內(nèi)）4.SPC控制圖的制作

4.2控制圖八大判異準則口決：4.SPC控制圖的制作36模式檢驗----判別準則1UCLLCLXABCCBA1界外（1點落在ABC區(qū)以外）4.2控制圖八大判異準則模式檢驗----判別準則2UCLLCLXABCCBA2/3A（連續(xù)3點中有2點在中心線同一側(cè)的B區(qū)外<即A區(qū)內(nèi)>）模式檢驗----判別準則1UCLLCLXABCCBA1界外437模式檢驗----判別準則3UCLLCLXABCCBA4/5C（連續(xù)5點中有4點在中心線同一側(cè)的C區(qū)以外）4.2控制圖八大判異準則模式檢驗----判別準則4UCLLCLXABCCBA6連串（連續(xù)6點遞增或遞減，即連成一串）模式檢驗----判別準則3UCLLCLXABCCBA4/5C38模式檢驗----判別準則5UCLLCLXABCCBA8缺C（連續(xù)8點在中心線兩側(cè)，但沒有一點在C區(qū)中）4.2控制圖八大判異準則模式檢驗----判別準則6UCLLCLXABCCBA9單側(cè)（連續(xù)9點落在中心線同一側(cè)）模式檢驗----判別準則5UCLLCLXABCCBA8缺C（39模式檢驗----判別準則7UCLLCLXABCCBA14交替（連續(xù)14點相鄰點上下交替）4.2控制圖八大判異準則模式檢驗----判別準則8UCLLCLXABCCBA15全C（連續(xù)15點在C區(qū)中心線上下，即全部在C區(qū)內(nèi)）模式檢驗----判別準則7UCLLCLXABCCBA14交替40一般原因：是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程的變差的原因。一般原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)系統(tǒng)的偶然原因。只有過程變差的普通原因存在且不改變時，過程的輸出才可以預(yù)測。一般原因和特殊原因特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當它們出現(xiàn)時將造成（整個）過程的分布改變。只用特殊原因被查出且采取措施,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。例如精磨時，剛換上的砂輪沒有修整，導(dǎo)致尺寸超差。4.3如何判斷過程是否穩(wěn)定一般原因：是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且41使用控制圖標判斷過程是否穩(wěn)定控制圖表按照用途分類分析用控制圖控制用控制圖4.3如何判斷過程是否穩(wěn)定使用控制圖標判斷過程是否穩(wěn)定控制圖表按照用途分類分析用控制圖42分析用控制圖。用全數(shù)連續(xù)取樣的方法獲得數(shù)據(jù)，進而分析、判斷工序是否處于穩(wěn)定。利用控制圖發(fā)現(xiàn)異常，通過分層等方法，找出不穩(wěn)定原因，采取措施加解決；控制用控制圖。按程序規(guī)定的取樣方法獲得數(shù)據(jù)，通過打點觀察，控制異常原因的出現(xiàn)。當點子分布出現(xiàn)異常，說明工序品質(zhì)不穩(wěn)定時，找出原因，及時消除異常影響因素，使工序恢復(fù)到正常的控制狀態(tài)。管理控制圖用來監(jiān)控批量生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性?！龀醮沃谱骺刂茍D和進行工序能力調(diào)查分析時，必須繪制分析控制圖。■4.3如何判斷過程是否穩(wěn)定分析用控制圖。用全數(shù)連續(xù)取樣的方法獲得數(shù)據(jù)，進而分析、判斷工434.4使用控制圖常犯的錯誤技術(shù)性錯誤使用不合理的控制圖數(shù)據(jù)不按時間序列公差畫在控制圖上4.4使用控制圖常犯的錯誤技術(shù)性錯誤44管理性錯誤使用陳舊的數(shù)據(jù)過程變更沒有在圖上注明控制限和平均值永遠不會更新超出控制限的點沒有跟進措施忽略規(guī)律性變化的信號4.4使用控制圖常犯的錯誤管理性錯誤4.4使用控制圖常犯的錯誤455過程能力分析

如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是否有能力滿足顧客需求的問題時；一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定，說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能力通過標準偏差來評價。5過程能力分析如果已經(jīng)確定一個過程46過程總偏差σs：由于普通和特殊兩種原因所造成的變差。可用樣本標準差S來估計。性能指數(shù)：CP=USL-LSL/6σ－－性能指數(shù)、能力指數(shù)5.1過程量度的意義（不考慮到過程有無偏移）Σ(X-X)2n－1S=6σμTLSLUSL5過程能力分析過程總偏差σs：由于普通和特殊兩種原因所造成的變差?？捎脴颖?7（不考慮到過程有無偏移）能力指數(shù)：Cp=USL-LSL/6R/d2過程固有變差：σ＝R/d2:僅由于普通原因產(chǎn)生的那部分過程變差?？蓮目刂茍D上通過R/d2來估計。5.1過程量度的意義－－性能指數(shù)、能力指數(shù)（不考慮到過程有無偏移）能力指數(shù)：Cp=USL-LSL/648CpL、CpU以及CpkCpL=(x-LSL)/3σ,對單邊下規(guī)格限CpU=(USL-X)/3σ,對單邊上規(guī)格限產(chǎn)品的規(guī)格：下規(guī)格線LSL，上規(guī)格線USL規(guī)格中心（目標值）：M=（LSL+USL）/2過程能力指數(shù)lllCPK＝T-2ε／6σε＝（Tu＋Tl）／2-X雙側(cè)偏差TUXMTLε－－性能指數(shù)、能力指數(shù)5.1過程量度的意義CpL、CpU以及CpkCpL=(x-LSL)/3σ49過程能力評定過程能力評定50Cpk：processcapability（K是偏移量），是過程能力指數(shù)，表示過程能力滿足技術(shù)標準的程度；Ppk：processperformance（K同樣是偏移量），指的是長期過程性能指數(shù)。cpk=（1-k）T/6σST,其中T就是技術(shù)規(guī)格的公差幅度，即上下規(guī)格限之差；Ppk=（1-k）T/6σLTPpk表明過程可能不穩(wěn)定的情況。Cpk要求過程穩(wěn)定且數(shù)據(jù)正態(tài)。5.2認識理解Ppk、CpkCpk：processcapability（K是偏移量）51規(guī)范中心與分布中心不一致時，過程不合格率和不發(fā)生偏移時的過程不合格率不相等。過程能力重要概念要注意的是所有的能力評審都是針對單個過程特性的，千萬不要把幾個過程的能力結(jié)果合成平均為一個指數(shù)。ll5.2認識理解Ppk、Cpk規(guī)范中心與分布中心不一致時，過程不合格率和不發(fā)生偏移時的過程52計算過程的標準偏差

σ?

σ?=R/d2R是子組極差的平均值，d2是隨樣本容量變化的常數(shù)注：只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計的過程標準偏差來評價過程能力。n2345678910d21.131.6920.62.332.532.702.852.973.085.3過程能力計算計算過程的標準偏差σ?53過程能力計算

過程能力是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。

對于單邊容差，計算：

Z=(USL-X)/σ?

或Z=(X-LSL)/σ?

（選擇合適的確一個）

注：式中的SL=規(guī)范界限，X=測量的過程均值，σ?=估計的過程標準偏差。5.3過程能力計算過程能力計算過程能力是指按標準偏差為單位來描54對于雙向容差，計算：

Zusl=(USL-X)/σ

Zlsl=(X-LSL)/σ

Z=Min{Zusl;Zlsl}

Zmin也可以轉(zhuǎn)化為能力指數(shù)Cpk:

Cpk=Zmin/3=CPU(即)

或CPL(即)的最小值。

式中:UCL和LCL為工程規(guī)范上、下，

σ?

為過程標準偏差注：Z值為負值時說明過程均值超過規(guī)范。UCL–X3σ

X–LCL3σ

?

?

?

?5.3過程能力計算對于雙向容差，計算：UCL–X3σX–LCL3σ55估計超出規(guī)范的百分比：（PZ

）

a對于單邊容差，直接使用Z值查標準正態(tài)分布表，換算成百分比。

b對于雙邊容差，根據(jù)Zusl和Zlsl的值查標準正態(tài)分布表，分別算出Pzusl

和Pzlsl

的百分比，再將其相加。

5.3過程能力計算估計超出規(guī)范的百分比：（PZ）5.3過程能力計算565.4評價過程能力

當Cpk<1說明制程能力差，不可接受。1≤Cpk≤1.33,說明制程能力可以，但需改善。1.33≤Cpk≤1.67,說明制程能力正常。5.4評價過程能力575.5過程能力分析之用途1.提供資料給設(shè)計部門，使其能盡量利用目前之過程能力，以設(shè)計新產(chǎn)品。2.決定一項新設(shè)備或翻修之設(shè)備能否滿足要求。3.利用機械之能力安排適當工作，使其得到最佳之應(yīng)用。4.選擇適當之作業(yè)員、材料與工作方法。5.過程能力較公差為窄時，用于建立經(jīng)濟控制界限。6.過程能力較公差為寬時，可設(shè)定一適當?shù)闹行闹?，以獲得最經(jīng)濟之生產(chǎn)。7.用于建立機器之調(diào)整界限。8.是一項最具價值之技術(shù)情報資料。625過程能力分析5.5過程能力分析之用途1.提供資料給設(shè)計部門，使其能盡量58單值和移動極差圖（X—MR）6.1用途測量費用很大時，（例如破壞性實驗）或是當任何時刻點的輸出性質(zhì)比較一致時（例如：化學(xué)溶液的PH值）。6.1.1移動圖的三中用法：

a單值

b移動組

c固定子組6.2數(shù)據(jù)收集（基本同X-R）6.2.1

在數(shù)據(jù)圖上，從左到右記錄單值的讀數(shù)。6.2.2計算單值間的移動極差（MR），通常是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間的差值。6.2.3單值圖（X）圖的刻度按下列最大者選?。?/p>

a產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)。

b單值的最大值與最小值之差的1.5到2倍。6.2.4移動極差圖（MR）的刻度間隔與X圖一致。

6單值和移動極差圖（X—MR）單值和移動極差圖（X—MR）6.1用途6單值和移動極差圖59

注：式中R為移動極差，X是過程均值，D4、D3、E2是隨樣本容量變化的常數(shù)。見下表：6.3過程控制解釋（同其他計量型管制圖）6.4過程能力解釋

δ=R/d2=δR/

d2

n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22E22.661.771.461.291.181.111.051.010.98樣本容量小于7時，沒有極差的控制下限。6單值和移動極差圖（X—MR）注：式中R為移動極差，X是過程均值，D4、D360

式中：R為移動極差的均值，d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。見下表：注：只有過程受控，才可直接用δ的估計值來評價過程能力。n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.086單值和移動極差圖（X—MR）式中：R為移動極差的均值，d2是隨樣本容量變617計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖7.1P管制圖

P圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品（缺陷）項目的百分數(shù)。

7.1.1收集數(shù)據(jù)7.1.1.1選擇子組的容量、頻率和數(shù)量子組容量：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不合格品。分組頻率：根據(jù)實際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。

子組數(shù)量：收集的時間足夠長，使得可以找到所有可能影響過程的變差源。一般為25組。7.1.1.2計算每個子組內(nèi)的不合格品率（P）

P=np/n7計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖7.1P管制圖627計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖

n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量；np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。選擇控制圖的坐標刻度7.1.1.3選擇控制圖的坐標刻度

一般不良品率為縱坐標，子組別（小時/天）作為橫坐標,縱坐標的刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。7.1.1.4將不合格品率描繪在控制圖上

a描點，連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。

b在控制圖的“備注”部分記錄過程的變化和可能影響過程的異常情況。7.1.2計算控制限7.1.2.1計算過程平均不合格品率（P）

P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/(n1+n2+…+nk)7計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量；n637計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖

式中：n1p1；nkpk

分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目

n1；nk為每個子組的檢驗總數(shù)7.1.2.2計算上下控制限（USL；LSL）

USLp=P+3P(1–P)/n

LSLp=P–3P(1–P)/nP為平均不良率；n為恒定的樣本容量注：1、從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之變化。

2、在實際運用中，當各組容量不超過其平均容量25%時，7計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖式中：n1p647計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖

可用平均樣本容量n代替n來計算控制限USL；LSL。方法如下：

A、確定可能超出其平均值±25%的樣本容量范圍。

B、分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍的子組。

C、按上式分別計算樣本容量為

n

和n

時的點的控制限.

UCL,LCL=P±3P(1–P)/n=P±3p(1–p)/n7計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖658.1采用時機8-2-1-1不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。8-2-1-2各階段子組的樣本容量相同。

8.2數(shù)據(jù)的收集（基本和p圖相同）8.2.1受檢驗的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個子組內(nèi)都有幾個不良品并在。

8.2.2記錄表上記錄樣本的容量。8.3計算控制限

8.3.1計算過程不合格數(shù)的均值（np）

np=(np1+np2+…+npk)/k8不合格品數(shù)的np圖

8.1采用時機8不合格品數(shù)的np圖66

式中的np1,np2,…為K個子組中每個子組的不合格數(shù)。8-2-3-1計算上下控制限

USLnp=np+3np(1-p)LSLnp=np-3np(1-p)p為過程不良品率,n為子組的樣本容量。8-2-4過程控制解釋和過程能力解釋同p管制圖8不合格品數(shù)的np圖

式中的np1,np2,…為K個子組中每個679.1采用時機

C圖用來測量一個檢驗批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量，C圖要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩類檢驗：9.1.1不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的平均比率表示的地方（如100平方米上的缺陷）9.1.2在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。9.2數(shù)據(jù)的收據(jù)9.2.1檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等）要求相同，這樣描繪的C值將反映質(zhì)量性能的變化而不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。9不合格（缺陷）數(shù)的c圖9.1采用時機9不合格（缺陷）數(shù)的c圖689.2.2記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)（C）。9.3計算控制限9.3.1計算過程不合格數(shù)均值（C）：

C=(C1+C2+…+Ck)/K

式中：C1,C2,…Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù)9.4計算控制限

U/LSLc=

C±3C9.5過程控制解釋（同P管制圖）9.6過程能力解釋

固定樣本容量為n的過程能力為其不合格數(shù)的平均值c.9不合格（缺陷）數(shù)的c圖9.2.2記錄并描繪每個子組內(nèi)的不合格數(shù)（C）。96910.1使用的時機

u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用不良率表示）.

10.2數(shù)據(jù)的收集10.2.1各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平均值的正負擔過重25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算.10.2.2記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（u）

u=c/n

式中:C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量，n為子組中樣本的容量。C和n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。10.3計算控制限10.單位不合格（缺陷）數(shù)的u圖10.1使用的時機10.單位不合格（缺陷）數(shù)的u圖7010.3.1計算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值

u=(C1+C2+…+Ck)/(n1+n2+…+nk)

式中:C1，C2及n1,n2等為K個子組內(nèi)每個子組的不合格數(shù)及樣本容量.10.3.2計算控制限

U/LSLu=u±3u/n

式中：n為平均樣本容量。

注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負25%，按下式重新計算其準確的控制限：10.單位不合格（缺陷）數(shù)的u圖10.3.1計算每單位產(chǎn)品過程不合格數(shù)的平均值10.單位71

U/LSLu=u±3u/n10.4過程控制解釋（同P管制圖）10.5過程能力解釋

過程能力為u10.單位不合格（缺陷）數(shù)的u圖10.單位不合格（72謝謝TheEnd謝謝TheEnd73生產(chǎn)過程質(zhì)量控制之SPC生產(chǎn)過程質(zhì)量控制之SPC74為之于未有，治之于未亂根據(jù)典記，魏文王曾求教于名醫(yī)扁鵲：“你們兄弟三人，都精于醫(yī)術(shù)，誰的醫(yī)術(shù)最好呢？”扁鵲：“大哥最好，二哥差些，我是三人中最差的一個?！蔽和醪唤?。

扁鵲解釋說：“大哥治病，是在病情發(fā)作之前，那時候病人自己還不覺得有病，但大哥就下藥鏟除了病根，使他的醫(yī)術(shù)難以被人認可，所以沒有名氣，只是在我們家中被推崇備至。我的二哥治病，是在病初起之時，癥狀尚不十分明顯，病人也沒有覺得痛苦，二哥就能藥到病除，使鄉(xiāng)里人都認為二哥只是治小病很靈。我治病，都是在病情十分嚴重之時，病人痛苦萬分，病人家屬心急如焚。此時，他們看到我在經(jīng)脈上穿刺，用針放血，或在患處敷以毒藥以毒攻毒，或動大手術(shù)直指病灶，以為我的醫(yī)術(shù)高明，所以我名聞天下?！蔽和醮笪颉橹谖从?，治之于未亂根據(jù)典記，魏文王曾求教于名醫(yī)扁鵲：“你751.1.1質(zhì)量檢驗階段

20世紀前，屬于“操作者的質(zhì)量管理”。20世紀初，質(zhì)量管理的職能由操作者轉(zhuǎn)移給工長，是“工長的質(zhì)量管理”。隨著企業(yè)生產(chǎn)規(guī)模的擴大和產(chǎn)品復(fù)雜程度的提高，大多數(shù)企業(yè)開始設(shè)置檢驗部門，這時是“檢驗員的質(zhì)量管理”。上述幾種做法都屬于事后檢驗的質(zhì)量管理方式。1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言1.1.1質(zhì)量檢驗階段1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言761.1.2統(tǒng)計質(zhì)量控制階段以數(shù)理統(tǒng)計理論為基礎(chǔ)的統(tǒng)計質(zhì)量控制的推廣應(yīng)用始自第二次世界大戰(zhàn)。由于事后檢驗無法控制武器彈藥的質(zhì)量，美國國防部決定把數(shù)理統(tǒng)計法用于質(zhì)量管理，并由標準協(xié)會制定有關(guān)數(shù)理統(tǒng)計方法應(yīng)用于質(zhì)量管理方面的規(guī)劃，成立了專門委員會，并于1941～1942年先后公布一批美國戰(zhàn)時的質(zhì)量管理標準。1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言1.1.2統(tǒng)計質(zhì)量控制階段1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言771.1.3全面質(zhì)量管理階段在生產(chǎn)技術(shù)和企業(yè)管理中要求運用系統(tǒng)的觀點來研究質(zhì)量問題。在管理理論上，突出重視人的因素，強調(diào)依靠企業(yè)全體人員的努力來保證質(zhì)量。全面質(zhì)量管理是“為了能夠在最經(jīng)濟的水平上、并考慮到充分滿足顧客要求的條件下進行生產(chǎn)和提供服務(wù)，并把企業(yè)各部門在研制質(zhì)量、維持質(zhì)量和提高質(zhì)量方面的活動構(gòu)成為一體的一種有效體系”。1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言1.1.3全面質(zhì)量管理階段1.1質(zhì)量管理的三個階段1.前言782.1SPC是什么?統(tǒng)計過程控制（StatisticalProcessControl簡稱SPC）是一種借助數(shù)理統(tǒng)計方法的過程控制工具。用控制圖分析、監(jiān)控和改進過程的方法。一種用于檢測異常的工具可判斷過程的變差，及時告警它主要區(qū)分由特殊原因引起的異常波動還是由普通原因引起的正常波動,

但不能告知此異常是什么因素引起的2.SPC的基本概念2.1SPC是什么?統(tǒng)計過程控制（Statistica791、確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。2、提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。3、為制程分析提供依據(jù)。4、區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。2.2SPC可以做什么?2.SPC的基本概念1、確保制程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。2.2SPC可以做什么?2802.3術(shù)語解釋——六西格瑪術(shù)語名稱解釋短期工程能力指數(shù)CP

CP

指工程的平均值和規(guī)格中心值相重合時的短期工程能力指數(shù)（在Minitab）。

CP=（USL-LSL）/6st。

st表示短期標準偏差。CPKCPK工程的平均值和規(guī)格中心值不一致時的短期工程能力指數(shù)。CPK=Nin{Cpu=（USL-μ）/3st,Cpl=（μ-LSL）/3st}PP

PP

指工程的平均值和規(guī)格中心值相重合時的長期工程能力指數(shù)。

PP=（USL-LSL）/6lt

lt

表示長期標準偏差。PPKPPK工程的平均值和規(guī)格中心值不一致時的短期工程能力指數(shù)。PPK=Nin{Ppu=（USL-μ）/3lt

,Ppl=（μ-LSL）/3lt}2.3術(shù)語解釋——六西格瑪術(shù)語名稱解釋短期工程能力指數(shù)CP812.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋平均值

（X）一組測量值的均值極差（Range）一個子組、樣本或總體中最大與最小值之差σ（Sigma）用于代表標準差的希臘字母標準差(StandardDeviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計抽樣值（例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母σ或字母s（用于樣本標準差）表示。分布寬度（Spread）一個分布中從最小值到最大值之間的間距中位數(shù)?x將一組測量值從小到大排列后，中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。

單值（Individual）一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的一次測量，通常用符號X表示。2.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋平均值（822.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋中心線（CentralLine）控制圖上的一條線，代表所給數(shù)據(jù)平均值。過程均值（ProcessAverage）一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值，通常用X來表示。鏈（Run）控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的點。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。變差（Variation）過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。特殊原因（SpecialCause）一種間斷性的，不可預(yù)計的，不穩(wěn)定的變差根源。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。2.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋中心線控制圖上的一832.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋普通原因（CommonCause）造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。過程能力(ProcessCapability)是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用Z來表示。移動極差（MovingRange)兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。2.3術(shù)語解釋——SPC常用術(shù)語名稱解釋普通原因（Comm842.4SPC的發(fā)展及應(yīng)用SPC源于20年代，以美國休哈特（Shewhart）博士發(fā)明控制圖為標志。二戰(zhàn)中美國將其制定為戰(zhàn)時質(zhì)量管理標準，對軍工產(chǎn)品的質(zhì)量保證和及時交付起到了積極的作用。50年代在日本工業(yè)界大量推廣應(yīng)用，對日本產(chǎn)品質(zhì)量的崛起起到了至關(guān)重要的作用。80年代許多大公司紛紛積極推廣應(yīng)用SPC2.SPC的基本概念2.4SPC的發(fā)展及應(yīng)用SPC源于20年代，以美852.5為什么要學(xué)習(xí)SPC?假如對制造過程的主要工序都建立簡便易行的控制系統(tǒng)，當質(zhì)量問題一旦出現(xiàn)，就能被及時發(fā)現(xiàn)，及時糾正，阻止不合格品流入下道工序。即達到預(yù)防的目的。在制造過程中，應(yīng)盡量避免或減少出現(xiàn)質(zhì)量問題再糾正或反饋的損失。(有效的策略就是預(yù)防)有效的預(yù)防策略:簡便易行的控制系統(tǒng)2.SPC的基本概念2.5為什么要學(xué)習(xí)SPC?假如對制造過程的主要工序都建862.6實施SPC的過程包含三大內(nèi)容：第一步、用SPC工具對過程進行分析，如繪制分析用控制圖等；第二步、根據(jù)分析結(jié)果采取必要措施：可能需要消除過程中的系統(tǒng)性因素，也可能需要管理層的介入來減小過程的隨機波動以滿足過程能力的需求。第三步、則是用控制圖對過程進行監(jiān)控。2.SPC的基本概念2.6實施SPC的過程包含三大內(nèi)容：2.SPC的基本概念87質(zhì)量控制的模型88原材料生產(chǎn)過程產(chǎn)品檢查合格出貨不合格返工報廢出貨利用報廢處理觀查:數(shù)據(jù)的收集評估:數(shù)據(jù)的分析診斷:調(diào)查原因決定:規(guī)劃行動實施:采取行動原材料生產(chǎn)過程產(chǎn)品偶然因素特殊因素SPC控制圖目的：區(qū)分這2種因素，消除特殊因素產(chǎn)生的變異過程控制模型質(zhì)量控制的模型VS過程控制模型3.SPC基本原理質(zhì)量控制的模型15原材料生產(chǎn)過程產(chǎn)品檢查合格出貨不合格返工報輸入各種要素人設(shè)備材料方法環(huán)境測量5M1E資源的組合輸出中間產(chǎn)品作為一個概念，有其明確的定義：利用資源將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的一組活動。3.1什么是過程？活動3.SPC基本原理輸入各種要素人資源的組合輸出中間產(chǎn)品作為一個概念，有其明確的893.2SPC能給制造過程提供什么幫助？為過程提供了一個早期報警系統(tǒng)，及時監(jiān)控過程情況，以防止廢品的發(fā)生。確定過程的統(tǒng)計控制界限，判斷過程是否失控和過程是否有能力。根據(jù)反饋信息及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，采取措施消除其影響。使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態(tài)，達到預(yù)防不合格品產(chǎn)品的目的。減少對常規(guī)檢驗的依賴性，定時的觀察和測量方法替代了大量的檢測和驗證工作。■■■■■3.SPC基本原理3.2SPC能給制造過程提供什么幫助？為過程提供了一個早期903.3“波動”的概念及統(tǒng)計規(guī)律性生產(chǎn)線上加工出來的產(chǎn)品沒有絕對相同的。產(chǎn)品間的差別是用其資料特性值（數(shù)據(jù)）的差異表現(xiàn)出來。連續(xù)材料一批產(chǎn)品中每個質(zhì)量特性，一邊測量一邊畫直方圖，就可以發(fā)現(xiàn)其統(tǒng)計規(guī)律這條曲線就是質(zhì)量特性x的分布■3.SPC基本原理3.3“波動”的概念及統(tǒng)計規(guī)律性生產(chǎn)線上加工出來的產(chǎn)品沒有91

每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同

范圍范圍范圍范圍但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個分布

范圍范圍范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分位置分布寬度形狀或這些因素的組合每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同923.4正態(tài)分布的特征68.28％μ+σμ－σ若某過程輸出特性x服從N(μ，σ2)在統(tǒng)計過程控制中最常見的分布是正態(tài)分布正態(tài)分布被參數(shù)μ與σ完全確定，記為N（μ，σ2）；μ表示分布的中心位置；σ表示分布的標準差或者表示數(shù)據(jù)的分散程度，或用極差表示；在界限μ±1σ內(nèi)，即有31.74％那么該過程輸出產(chǎn)品中有68.26％■■■■■產(chǎn)品在界限μ±1σ之外。3.SPC基本原理3.4正態(tài)分布的特征68.28％μ+σμ－σ若某過程輸出特93正態(tài)分布下界限內(nèi)外的比率界限界限內(nèi)的比率界限外的比率μ±1σ68.26%31.74%μ±2σ95.46%4.54%μ±3σ99.73%0.27%μ±4σ99.9937%0.0063%μ±5σ99.999943%0.000057%μ±6σ99.9999998%0.0000002%1924年，休哈特博士建議用界限μ±3σ作為控制界限來管理過程。即我們常說的3σ管理?！?.SPC基本原理正態(tài)分布下界限內(nèi)外的比率界限94μ+3σμ－3σμσ將正態(tài)分布圖及其界限μ±3σ轉(zhuǎn)90°，在翻轉(zhuǎn)180°縱座標為輸出特性X，橫坐標為時間或編號3.5控制圖的形式μ+3σμ－3σUCL上控制界限LCL下控制界限CL中心線3.SPC基本原理μ+3σμ－3σμσ將正態(tài)分布圖及其界3.5控制圖的形式μ953.6過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性當過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)定的且可重復(fù)的隨機分布；而失控時，過程分布將改變。時間受控失控當過程僅受隨機因素影響時，過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（簡稱受控狀態(tài)）當過程中存在系統(tǒng)因素的影響時，過程處于統(tǒng)計失控狀態(tài)（簡稱失控狀態(tài)）■■■3.SPC基本原理3.6過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性當過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)96如果僅存在變差的普通原因，目標值線隨著時間的推移，過程的輸出形成一個穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。預(yù)測時間范圍目標值線如果存在變差的特殊原因，隨著時間的推預(yù)測移，過程的輸出不穩(wěn)定。時