GB/T 22094-2008電子數(shù)顯測(cè)高儀

犐犆犛１７．０４０．３０

犑４２

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２２０９４—２００８

電子數(shù)顯測(cè)高儀

犎犲犻犵犺狋犿犲犪狊狌狉犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔

２００８０６２５發(fā)布２００９０１０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜２２０９４—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)量具量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ１３２）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：成都工具研究所、馬爾精密量?jī)x（蘇州）有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：李維國(guó)、姜志剛、唐以杰、何東星、王春。

Ⅰ

書(shū)

犌犅／犜２２０９４—２００８

電子數(shù)顯測(cè)高儀

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子數(shù)顯測(cè)高儀的術(shù)語(yǔ)和定義、型式與基本參數(shù)、工作條件、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)方

法、標(biāo)志與包裝等。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于分辨力為０．１μｍ、０．２μｍ、０．５μｍ和１μｍ，量程不超過(guò)１０００ｍｍ的電子數(shù)顯測(cè)高

儀（以下簡(jiǎn)稱“測(cè)高儀”）。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｃａｂ：恒定濕熱試驗(yàn)

（ＩＥＣ６００６８２７８：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２２—２００２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｎ：溫度變化

（ＩＥＣ６００６８２１４：１９８４，ＩＤＴ）

ＧＢ４２０８—２００８外殼防護(hù)等級(jí)（ＩＰ代碼）（ｅｑｖＩＥＣ５２９：１９８９）

ＧＢ／Ｔ１７１６３幾何量測(cè)量器具術(shù)語(yǔ)基本術(shù)語(yǔ)

ＧＢ／Ｔ１７６２６．２—２００６電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)（ＩＥＣ６１０００４２：２００１，

ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１７６２６．３—２００６電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)（ＩＥＣ６１０００４

３：２００２，ＩＤＴ）

３術(shù)語(yǔ)和定義

ＧＢ／Ｔ１７１６３中確立的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

３．１

電子數(shù)顯測(cè)高儀犺犲犻犵犺狋犿犲犪狊狌狉犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔

利用傳感技術(shù)和電子技術(shù)進(jìn)行測(cè)量的立式數(shù)字化幾何量測(cè)量?jī)x器。用來(lái)測(cè)量平行平面之間距離、

孔和軸直徑、中心距以及相關(guān)的形位誤差等。

３．