簡易介電常數(shù)測試儀的設(shè)計(jì)與制作_第1頁
簡易介電常數(shù)測試儀的設(shè)計(jì)與制作_第2頁
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εrεr,它們滿足如下關(guān)系: S S ε為絕對介電常數(shù),ε0

8.851012Fm,Sd為樣品的厚度,C1kHzC。當(dāng)無測量電容的儀器但有標(biāo)準(zhǔn)可變電容箱或標(biāo)準(zhǔn)可變電容器時可采用替代法設(shè)故測量精度只取決于標(biāo)準(zhǔn)可變電容箱或標(biāo)準(zhǔn)可變電容器讀數(shù)的精度。若待測電容與標(biāo)準(zhǔn)可變電容的損耗相差不大,則該方法具有較高的測量精度。K2BCsRsCxCsRsIsIxK2的位置(A,B位)CsRsISIXCxRxRs相接近(

RSCX

CS 圖2.2.6- 圖2.2.6-另一種參考電路如圖2.2.6-1(b)CsK2扳到AA’,CxVxK2BB’CsCsVSVxK2AA’BB’CsRs

VX

S,XS,

CS調(diào)節(jié),故無法真正調(diào)到VSVX

RSCxCsCXCSVS/VX(Vs1HCxRLCCX

42f

f為頻率,L為已知電感,CxCx較小時,線圈和引線的分布電大的影響,若不采取其他措施,將導(dǎo)致式(2)Cx越小,2.2.6-4Cxf使電路達(dá)到諧振,電容上的電壓再次達(dá)到極大值,此時CXCSLfCs的精度,在保證 2.2.6-5所示。有損耗的電容器的介質(zhì)損耗在串聯(lián)等效電路中為tanCR聯(lián)等效電路中為tan

εrtanδN2E2Zs上的壓降平衡,故有 E1N1 ZXZS N2ZxRxCx N1(R

xN2S xN2SSSCX

N1C

RX

N1RN2

SS

εr。6次,并做誤差分析(計(jì)算結(jié)果的合成不確定度。寫出測量介電常數(shù)方

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