![一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法研究的開題報告_第1頁](http://file4.renrendoc.com/view/b3e0092501ff6b15ec14ecfcdd39fe0d/b3e0092501ff6b15ec14ecfcdd39fe0d1.gif)
![一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法研究的開題報告_第2頁](http://file4.renrendoc.com/view/b3e0092501ff6b15ec14ecfcdd39fe0d/b3e0092501ff6b15ec14ecfcdd39fe0d2.gif)
![一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法研究的開題報告_第3頁](http://file4.renrendoc.com/view/b3e0092501ff6b15ec14ecfcdd39fe0d/b3e0092501ff6b15ec14ecfcdd39fe0d3.gif)
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一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法研究的開題報告題目:一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法研究摘要:針對傳統(tǒng)的BIST方法需要從外部引入測試矢量的不足,本文提出了一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法。該方法通過在被測電路中集成測試生成器,并利用其生成自適應測試矢量進行測試,從而實現(xiàn)了測試矢量的自我生成和施加。同時,該方法可以有效地減少測試開銷和測試時間,并提高測試覆蓋率和故障檢測率。本研究將分析該方法的實現(xiàn)原理和關鍵技術,設計相應的BIST系統(tǒng),并進行實驗驗證。關鍵詞:BIST;被測電路;測試矢量;自適應測試;故障檢測率。一、研究背景與意義隨著集成電路設計的日趨復雜,測試成為保障芯片質量的重要手段。傳統(tǒng)測試方法包括外部測試和內(nèi)部測試,其中外部測試需要引入外部測試設備,而內(nèi)部測試需要集成測試電路。外部測試的缺點是成本高,測試時間長,測試矢量設計困難;內(nèi)部測試的缺點是設計難度大,測試開銷大。這些問題嚴重影響了芯片測試的效率和成本。因此,提出一種低成本、高效率的測試方法對于保障芯片質量和提高芯片設計和生產(chǎn)效率具有重要的意義。二、研究內(nèi)容本項目將研究一種由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法。該方法通過在被測電路中集成測試生成器,并利用其生成自適應測試矢量進行測試,從而實現(xiàn)了測試矢量的自我生成和施加。同時,該方法可以有效地減少測試開銷和測試時間,并提高測試覆蓋率和故障檢測率。主要研究內(nèi)容如下:1.分析該方法的實現(xiàn)原理,設計相應的BIST系統(tǒng);2.實現(xiàn)BIST系統(tǒng)的自適應測試矢量生成、測試矢量施加和故障檢測等關鍵技術;3.構建實驗平臺,驗證該方法的有效性和可行性。三、研究方案和方法1.研究方案本研究將通過分析被測電路的特性和故障特征,設計一種自適應測試矢量生成算法,并將該算法集成進BIST系統(tǒng)中。該算法將基于遺傳算法,利用輸入的測試電路的結構信息和故障模型信息,生成具有高測試覆蓋率和故障檢測率的測試矢量,通過BIST構建的測試電路產(chǎn)生自適應測試矢量。2.研究方法本研究將采用如下研究方法:(1)分析被測電路的故障特征和測試需求;(2)設計自適應測試矢量生成算法,并開發(fā)測試生成器;(3)設計和實現(xiàn)BIST系統(tǒng),包括測試矢量注入模塊和故障檢測模塊;(4)對BIST系統(tǒng)進行仿真和實驗驗證,評估該方法的有效性和可行性。四、預期成果本研究計劃實現(xiàn)一套由被測電路自己施加測試矢量的BIST方法,并通過仿真和實驗驗證證明該方法的有效性和可行性。具體預期成果如下:1.設計和實現(xiàn)自適應測試矢量生成算法,并開發(fā)測試生成器;2.設計和實現(xiàn)BIST系統(tǒng),包括測試矢量注入模塊和故障檢測模塊;3.構建實驗平臺,應用該BIST方法進行實驗驗證;4.評估該BIST方法的測試效率和測試質量。五、工作計劃本研究擬按照以下工作計劃進行:1.研究和總結相關文獻資料,熟悉被測電路的結構和故障特征(2周);2.設計自適應測試矢量生成算法,并開發(fā)測試生成器(4周);3.實現(xiàn)BIST系統(tǒng)的測試矢量注入模塊和故障檢測模塊(4周);4.構建實驗平臺,進行實驗驗證(4周);5.評估該BIST方法的測試效率和測試質量(2周);6.編寫畢業(yè)論文,并完成答辯(6周)。六、研究基地和預算1.研究基地:本項目將在學校計算機實驗室進行實驗。2.預算:本研究所需的設備和材料主要包括計算機、測試設備和實驗材料等,預計總經(jīng)費約10萬元。其中,設備費用約為6萬元,材料費用約為4萬元。七、參考文獻1.Xuan-DienDoan,HideoFujiwara.Built-InSelf-TestwithEmbeddedDeterministicTestPatternGenerator.Proceedingsofthe2008InternationalSymposiumonCircuitsandSystems,Seattle,USA,2008.2.PengYan,WeiWu,QiangXu,FangmingYe.ANovelFaultDetectionandDiagnosisMethodforEmbeddedAnalogCircuit.Proceedingsofthe27thInternationalConferenceonVLSIDesignand13thInternationalConferenceonEmbeddedSystems,Bangalore,India,2014.3.Roychowdhury,J.,Hershenson,M.,&Boyd,S.(2005).Efficientsystematictestingofmixed-signa
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