數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)-集成邏輯門等教學(xué)課件

數(shù)字電島實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試實(shí)驗(yàn)二編碼器、數(shù)據(jù)選擇器功能測(cè)試實(shí)驗(yàn)三集成觸發(fā)器功能測(cè)試實(shí)驗(yàn)四計(jì)數(shù)器功能測(cè)試實(shí)驗(yàn)五移位寄存器功能測(cè)試重慶通信學(xué)院電子技術(shù)教研室鄭勇實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試、集成電路相關(guān)知識(shí)簡(jiǎn)介(一)集成電路發(fā)展概況集成電路的發(fā)展經(jīng)歷了以下四個(gè)階段1、1906年電子管問(wèn)世和1947年晶體管的發(fā)明。2、1958年集成電路的誕生。3、1975年超大規(guī)模集成電路4、21世紀(jì)的以微電子技術(shù)為基礎(chǔ)、計(jì)算機(jī)和通信為媒體的新階段全球每年生產(chǎn)集成電路大約6000多億塊,集成電路在電子設(shè)備中的價(jià)值上世紀(jì)80年代7%,現(xiàn)在30%以上,在一些軍事裝備中達(dá)80%。集成電路已成為發(fā)展電子信息技術(shù)的核心和衡量一個(gè)國(guó)家綜合國(guó)力的重要標(biāo)志實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試(二)集成電路分類按用途分為:模擬集成電路和數(shù)字集成電路;按導(dǎo)電類型分為:雙極型集成電路和單極型(M0S)集成電路兩類按制造工藝和結(jié)構(gòu)分為:半導(dǎo)體集成電路、薄膜或厚膜集成電路、混合集成電路;按集成度分為:小規(guī)模、中規(guī)模、大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路和巨大規(guī)模集成電路。實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試目前世界上生產(chǎn)最多、應(yīng)用最廣的是半導(dǎo)體集成電路1、DDL(二極管一二極管邏輯)集成電路2、DL(二極管一三極管邏輯)集成電路體豇3、m高電壓〔二極管一三極管邏輯)集成電路集為4、TL(三極管一三極管邏輯)集成電路成電路5、ECL(射極耦合邏輯或電流開(kāi)關(guān)邏輯)集成電路6、CM0S(互補(bǔ)型金屬氧化物半導(dǎo)體邏輯)目前應(yīng)用最廣泛的數(shù)字集成電路是TTL和CMS電路實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試三)、數(shù)字集成電路的識(shí)別TTL數(shù)字集成電路:TT集成電路以雙極型晶體管為開(kāi)關(guān)元件,又稱為雙極型(電子和空穴)集成電路根據(jù)應(yīng)用領(lǐng)域不同分為54系列(軍)如:54LS00、54LS20等74系列(民)如:74LS00、74LS20等它沿著74→74S-74LS74AS-4ALS系列發(fā)展。S:代表肖特基工藝速度高于標(biāo)準(zhǔn)TL。LS:代表低功耗肖特基工藝。AS:代表先進(jìn)(高速)肖特基工藝ALS:代表先進(jìn)(高速)低功耗肖特基工藝。實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試CMoS數(shù)字集成電路:CMoS數(shù)字集成電路是M0S電路中的主導(dǎo)產(chǎn)品。MS電路是以絕緣柵場(chǎng)效應(yīng)晶體管為開(kāi)關(guān)元件,又稱為單極型集成電路,MS電路可分為PMOS、NMOS、和CMos電路。它沿著4000A→4000/4500B(統(tǒng)一稱為4000)74HC74HCT系列高速發(fā)展。目前M0s集成電路幾乎都是高速CMoS集成電路。由于生產(chǎn)廠家不同,產(chǎn)品的系列號(hào)不完全相同。AC:代表先進(jìn)的高速CM0S集成電路。ACT:代表與T相一致的輸入特性、相容的輸出特性的高速CMoS集成電路。HC:代表高速CM0S集成電路。HCT:代表與T電平相兼容的高速CMoS集成電路74Ls07實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試(四)基本特性TTL集成電路工作電壓:5.0V頻率特性標(biāo)準(zhǔn)TTL:35MHZLS-TTL:40MHZALS-TTL:70MHZS-TTL:125MHZAS-TTL:200MHZECL100-1000MHZ實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試CMOS集成電路:工作電壓4000系列:3.0V-18V4OH系列:2.0V-8.0VHC系列:2.0V-6.0VHCU系列:2.0V-6.0VHCT系列:4.5V-5.5V頻率特性4000系列:12MHZHC系列:40MHZ實(shí)驗(yàn)一集成邏輯門功能測(cè)試二、實(shí)驗(yàn)任務(wù)與步驟(一)、74LS00與非門的功能測(cè)試