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文檔簡介

射線數(shù)字成像(DR)技術(shù)Tel:Email:liang-li-

射線檢測分類射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)射線數(shù)字成像像質(zhì)評價

JB/T4730.11標(biāo)準(zhǔn)Tel:Email:liang-li-1、射線檢測分類Tel:Email:liang-li-現(xiàn)有檢測系統(tǒng)1、膠片照相檢測系統(tǒng)2、圖像增強器檢測系統(tǒng)3、CR檢測系統(tǒng)4、DR檢測系統(tǒng)5、CT檢測系統(tǒng)6、康普頓背散射檢測系統(tǒng)Tel:Email:liang-li-1.1按射線成像結(jié)果分類

模擬成像系統(tǒng)數(shù)字成像系統(tǒng)Tel:Email:liang-li-1)模擬成像系統(tǒng)成像結(jié)果并非數(shù)字信號,無法直接使用計算機進行后續(xù)處理。(1)膠片照相(Film-screen)使用“膠片”作為成像器件的射線成像系統(tǒng)

(2)工業(yè)電視(ImageIdentifyTV-IITV)采用圖像增強器+CCD視屏相作為成像器件的射線成像系統(tǒng)。俗稱:“工業(yè)電視”。Tel:Email:liang-li-2)數(shù)字成像系統(tǒng)成像結(jié)果為數(shù)字圖像,可使用計算機進行后續(xù)圖像處理。(1)直接數(shù)字成像系統(tǒng)(DR)使用“數(shù)字探測器”作為成像器件的射線成像系統(tǒng)數(shù)字探測器射線光子到數(shù)字圖像的轉(zhuǎn)換過程是由獨立單元完成的。(2)間接數(shù)字成像系統(tǒng)(圖像增強器、CR)射線光子到數(shù)字圖像的轉(zhuǎn)換過程是由分立單元分步完成的。Tel:Email:liang-li-1.2按檢測系統(tǒng)與被檢工件的運動狀態(tài)分類(1)靜態(tài)(止)成像靜態(tài)成像是指對試件的同一部位進行曝光、成像。在一定的時間內(nèi),輸出單幅、靜止的圖像。系統(tǒng)包括:膠片照相、DR、CR注:數(shù)字成像的時間要遠遠低于膠片照相的時間。Tel:Email:liang-li-(2)動態(tài)(實時)成像

動態(tài)(實時)成像是指以一定幀頻的采集速率實現(xiàn)連續(xù)成像。被檢工件通過機械掃描裝置與檢測系統(tǒng)裝置做相對連續(xù)運動(旋轉(zhuǎn)或平移),射線源連續(xù)發(fā)射線,射線成像器件對不同位置的試件進行連續(xù)曝光,連續(xù)的采集并顯示不同檢測位置的圖像。Tel:Email:liang-li-注:實時成像人眼在觀察時不會感到圖像的跳動,圖像是隨著被檢工件的運動而連續(xù)變化的。系統(tǒng)包括:DR、圖像增強器技術(shù)注:步進檢測Tel:Email:liang-li-1.3射線數(shù)字成像分類(DR)按照數(shù)字探測器的成像技術(shù)分為:直接轉(zhuǎn)換技術(shù)間接轉(zhuǎn)換技術(shù)Tel:Email:liang-li-1)直接轉(zhuǎn)換射線光子數(shù)字信號數(shù)字圖像射線光子透照物體后,在數(shù)字探測器中直接把射線衰減信息轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字信號,經(jīng)計算機處理后以數(shù)字圖像的形式顯示。Tel:Email:liang-li-2)間接轉(zhuǎn)換射線光子可見光數(shù)字信號數(shù)字圖像射線光子透照物體后,在數(shù)字探測器中,首先經(jīng)過閃爍體屏(熒光屏)把射線光子轉(zhuǎn)換為可見光,然后再由后續(xù)電路把可見光信息轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字信號,經(jīng)計算機處理后以數(shù)字圖像的形式顯示。Tel:Email:liang-li-2、射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)概述2.1系統(tǒng)組成射線源被檢工件數(shù)字探測器機械傳動控制與處理與膠片照相不同之處:

增加了硬件(機械支撐與傳動)與軟件(數(shù)據(jù)采集、控制、圖像處理);減少了膠片暗室處理環(huán)節(jié)。Tel:Email:liang-li-2.2特點

圖像質(zhì)量可以和X射線照相底片質(zhì)量相媲美降低了射線劑量、提高了檢測效率具有很大的寬容度一次投入成本高Tel:Email:liang-li-2.3射線數(shù)字成像檢測原理

射線透照被檢工件,衰減后的射線光子被數(shù)字探測器接收,經(jīng)過一系列的轉(zhuǎn)換變成數(shù)字信號,數(shù)字信號經(jīng)放大和A/D轉(zhuǎn)換,通過計算機處理,以數(shù)字圖像的形式輸出在顯示器上。

2.4主要概念(1)像素(像元)Pixel數(shù)字圖像都是由無數(shù)個點組成的,組成圖像的每一個點就稱為像素。

它是構(gòu)成圖像的最小單位。注:壞像素

Tel:Email:liang-li-(2)填充因子(系數(shù))指數(shù)字成像器件一個像素中敏感區(qū)域占總像素面積的百分比。Tel:Email:liang-li-(3)灰度(Gray)定義:圖像中像素顯示的亮度。相當(dāng)于膠片底片的黑度?;叶鹊燃墸夯叶鹊淖兓秶?。單位:Bit決定因素:模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換的位數(shù)。如:8位A/D轉(zhuǎn)換,即8Bit?;叶鹊燃墳?8=256。Tel:Email:liang-li-(4)動態(tài)范圍(DynamicRange)

定義:最大輸出灰度值和暗場噪聲(標(biāo)準(zhǔn)差)的比值。

Tel:Email:liang-li-(5)信噪比(SignalNoiseRatio)

定義:檢測特征信號與噪聲(標(biāo)準(zhǔn)差)的比值。

Tel:Email:liang-li-(6)響應(yīng)不一致性

探測器固有的特性,在均勻輻照均質(zhì)工件(或空屏)的條件下,由于數(shù)字探測器對射線響應(yīng)的不一致,致使輸出圖像亮度呈非均勻性的條紋。

Tel:Email:liang-li-2.5數(shù)字探測器特性:(1)組成探測器的各個像素尺寸決定了成像系統(tǒng)的空間分辨率,以及射線劑量;(2)數(shù)字探測器都會有壞像素(包括壞點或壞行)對此必須其進行校正。(3)探測器的不一致性的校正是獲得高像質(zhì)圖像的一個重要的技術(shù)環(huán)節(jié)。(4)受環(huán)境的限制。2.6數(shù)字探測器分類按照一次成像形式分為:

面陣探測器(平板探測器)

線陣探測器Tel:Email:liang-li-2.6.1平板探測器目前市場上有三類:非晶硒

非晶硅

CMOSTel:Email:liang-li-1)非晶硒平板探測器(1)結(jié)構(gòu)

Tel:Email:liang-li-(2)工作原理

探測器有一厚的光電導(dǎo)層(典型的是用200~500μm的非晶硒),光電導(dǎo)層兩面的電極板間加有高電壓,光電導(dǎo)層吸收X-射線光子,激發(fā)出電子/空穴對,并在所加電場下運動至相應(yīng)電極。到達像元電極的電荷給存儲電容充電,產(chǎn)生相應(yīng)電荷的變化。電容中的累積電荷由TFT(ThinFilmTransistor即薄膜場效應(yīng)晶體管)進行控制,讀出,經(jīng)放大、A/D轉(zhuǎn)換等處理形成數(shù)字化圖像輸出。(3)特點

優(yōu)點:成像分辨率比較高轉(zhuǎn)換效率比較高缺點:在圖像邊緣分辨率低;要求5~10kV的高電壓;對環(huán)境溫度敏感;抗震性能差;兩次曝光的時間間隔較長。2)CMOS平板探測器(1)結(jié)構(gòu)定義:CMOS—ComplementaryMetalOxideSilicon,互補金屬氧化硅半導(dǎo)體。組成:閃爍體屏+CMOS記憶芯片Tel:Email:liang-li-(2)工作原理

當(dāng)射線穿過被照體后,入射到探測器熒光層,產(chǎn)生與入射射線相對應(yīng)的熒光(可見光)。光纖將這些可見光耦合到CMOS芯片上。再由CMOS芯片將光信號轉(zhuǎn)換成電信號,并將這些電信號儲存起來,從而捕獲到所需要的圖像信息。圖像信息經(jīng)放大、讀出,送到圖像處理系統(tǒng)進行處理。(3)特點

?壽命較長?適應(yīng)溫度范圍大?像素尺寸可達80um?分辨率高

3)非晶硅平板探測器(1)結(jié)構(gòu)Tel:Email:liang-li-(2)工作原理

射線透照探測器,射線光子由閃爍體屏轉(zhuǎn)換為可見光,再由非晶硅光敏陣列轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)放大、A/D轉(zhuǎn)換形成數(shù)字信號輸出。

Tel:Email:liang-li-(3)特點高對比度靈敏度高的空間分辨率輸出灰度范圍:12~14Bit

較大的成像面積圖像采集幀頻可調(diào)

Tel:Email:liang-li-2.6.2線陣探測器上世紀(jì)八十年代,出現(xiàn)線陣探測器,形成了真正意義上的數(shù)字射線檢測技術(shù)。

Tel:Email:liang-li-1)線陣探測器分類

基于CMOS技術(shù)和基于非晶硅技術(shù)兩種各自的組成、工作原理特例:一次成像輸出一行。

Tel:Email:liang-li-2)線掃描DR

通過被檢工件與線陣列探測器之間作相對運動,將連續(xù)掃描獲得的線信息重新組合成圖像的面信息,從而完成整個的檢測過程。

特點:被檢工件必須在X射線源與線陣列探測器之間作相對勻速運動才能成像。Tel:Email:liang-li-3)特點

優(yōu)點:像元間距可小到0.08mm,對于亞毫米級的閃爍體膜層,具有約6lp/mm的高空間分辨率(理論);散射小。靜態(tài)成像對比度可達到膠片照相B級。缺點:線陣探測器的對機械傳動要求高,成像速度慢,影響了檢測效率;射線劑量要求高。Tel:Email:liang-li-4)應(yīng)用線陣探測器主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)層析成像(CT,ComputedTomography)、工業(yè)2D-CT成像、海關(guān)集裝箱檢測以及包裹檢測等方面。線陣探測器成像系統(tǒng)也用在工業(yè)成像檢測中,目前常用于鍋爐焊管的對接焊縫檢測中。3、射線數(shù)字成像像質(zhì)的評價3.1像質(zhì)影響因素(1)像素尺寸(2)焦點大小(3)信噪比(4)透照參數(shù)(電壓、曝光量、幾何參數(shù))(5)動態(tài)范圍(6)噪聲(7)壞像素(8)數(shù)字探測器響應(yīng)不一致性Tel:Email:liang-li-3.2像質(zhì)評價指標(biāo)對比度靈敏度、分辨率對比度靈敏度和空間分辨率是一對相互制約的關(guān)系,如何均衡是實現(xiàn)高信噪比、高像質(zhì)成像的關(guān)鍵。Tel:Email:liang-li-(1)對比度靈敏度像質(zhì)計靈敏度,利用像質(zhì)計評定。Tel:Email:liang-li-(2)分辨率空間分辨率、密度分辨率Tel:Email:liang-li-(2)分辨率空間分辨率系統(tǒng)所能分辨的兩個相鄰細節(jié)間的最小距離。單位:用lp/mm(線對/毫米)表示。影響因素:成像器件固有特性、系統(tǒng)幾何參數(shù)、源焦點尺寸、轉(zhuǎn)換屏厚度測試:利用分辨率測試卡或雙絲像質(zhì)計通過靜止成像得到的。Tel:Email:liang-li-不同空間分辨率成像比較4、JB/T4730.11

承壓設(shè)備無損檢測

X射線數(shù)字成像檢測

4.1相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀5.1.1國外標(biāo)準(zhǔn)實時成像標(biāo)準(zhǔn)(圖像增強器)DR標(biāo)準(zhǔn)陸續(xù)發(fā)布數(shù)字探測器標(biāo)準(zhǔn)4.1.2國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)GB17925-1999《氣瓶對接焊縫X射線實時成像檢測》GB/T19293-2003《對接焊縫X射線實時成像檢測法》4.2JB/T4730.11

4.2.1概述

目的:代替膠片照相,提高檢測效率

基本原則:基于4730.2檢測技術(shù)等級

質(zhì)量分級的要求

4.2.2與473

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