吸收劑量的測(cè)量綜述課件

吸收劑量的測(cè)量湖北省腫瘤醫(yī)院放療科徐利明吸收劑量的測(cè)量方法吸收劑量測(cè)量的原理照射量與吸收劑量的概念照射量轉(zhuǎn)換為吸收劑量測(cè)量吸收劑量的條件和技術(shù)要求介質(zhì)、設(shè)備和技術(shù)要求電離室的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范Cλ和CE方法IAEA277號(hào)報(bào)告及其修定GB吸收劑量測(cè)量的原理二者概念完全不同照射量表達(dá)的是電離輻射對(duì)空氣電離的本領(lǐng)；吸收劑量表達(dá)的是電離輻射在物質(zhì)中沉積的能量的多少。二者的關(guān)系

D空氣=f·X吸收劑量的測(cè)量電離室測(cè)量吸收劑量的原理

電離室的工作原理表明，它的作用是收集被電離的空氣中的電離電荷，以電離電流的大小來(lái)反映電離輻射的強(qiáng)度的，所以電離室實(shí)際測(cè)量的是照射量。在空氣中每產(chǎn)生一對(duì)正負(fù)離子所消耗的電子動(dòng)能，對(duì)所有能量的電子來(lái)講，基本上是一個(gè)常數(shù)，即平均電離能為W/e=33.97J/C。因此，便決定了吸收劑量的測(cè)量是通過(guò)兩步來(lái)完成的：

測(cè)量電離輻射產(chǎn)生的電離電荷；

利用空氣的平均電離能來(lái)計(jì)算電離產(chǎn)生的能量沉積，即吸收劑量?？諝庵形談┝康臏y(cè)量如果用于測(cè)量的電離室為：①室壁由空氣等效材料制成；②室壁厚度（或加平衡帽后）可達(dá)到電子平衡；③氣腔體積可精確確定。式中：Q–氣腔中釋放的電離電荷，

ρ-氣腔中的空氣密度，

V–氣腔體積

A–傳輸系數(shù)，表示能量通過(guò)室壁的份額，其值略小于1。而吸收劑量則為：

Da=X×W/e即：

Da（J/kg)=X（R）×2.58×10-4(C/kg/R)×33.97(J/C)=0.876×10-2（J/kg·R）×X（R）

Da

（rad）=0.876（rad/R）·X(R)即：Da=f·Xf:倫琴-拉德轉(zhuǎn)換因子，或照射量-吸收劑量轉(zhuǎn)換因子。吸收劑量轉(zhuǎn)換為照射量的過(guò)程1電子電量e=1.6021×10-19庫(kù)侖在空氣中產(chǎn)生一對(duì)離子所消耗的平均電離能量W/e=33.97eV1eV=1.60×10-19J1R=2.58×10-14C·Kg-1∴2.58×10-14D空氣=

───────

×

33.97×1.60×10-19

1.6021×10-19

=8.76×10-3Gy=0.876cGy

吸收劑量轉(zhuǎn)換為照射量的過(guò)程

(μen/ρ)物質(zhì)(μen/ρ)物質(zhì)D物質(zhì)

=

─────·

·

D空氣=(8.76×10-3)·

──────··

X(μen/ρ)空氣

(μen/ρ)空氣

=f·X

(μen/ρ)物質(zhì)

f=(8.76×10-3)·

──────(Gy·R-1)

(μen/ρ)空氣

(μen/ρ)物質(zhì)─物質(zhì)的質(zhì)能吸收系數(shù)(μen/ρ)空氣─空氣的質(zhì)能吸收系數(shù)吸收劑量轉(zhuǎn)換為照射量的過(guò)程

D物質(zhì)=f·Xf:照射量～吸收劑量轉(zhuǎn)換因子(Gy·R-1)介質(zhì)、設(shè)備和技術(shù)要求測(cè)量介質(zhì)（ICRU定義的模體）標(biāo)準(zhǔn)模體30立方厘米水模體均勻模體固態(tài)或干水，邊長(zhǎng)30cm，不同厚度的組合，用于常規(guī)檢查人體模體標(biāo)準(zhǔn)人體外型，模擬人體不同組織器官密度，若干片狀組合，用于特殊治療的劑量學(xué)研究劑量準(zhǔn)確性要求標(biāo)準(zhǔn)水模體的測(cè)量值為標(biāo)準(zhǔn)其它替代介質(zhì)的精度要求誤差不超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)水模體的1%。定義：對(duì)射線的散射和吸收的特性與人體組織相同的材料即為組織替代材料。材料的選擇總線性（或總質(zhì)量）衰減系數(shù)與被替代的組織相同；質(zhì)量密度（物理密度）近似相等；組織替代材料間的轉(zhuǎn)換不同能量的射線與替代材料的作用方式有所不同，則計(jì)算替換厚度的數(shù)學(xué)模型不同人體模型（組織替代材料）介質(zhì)、設(shè)備和技術(shù)要求不同介質(zhì)對(duì)水的吸收劑量的轉(zhuǎn)換

(μen/ρ)w

Dw=Dm─────(μen/ρ)m不同介質(zhì)對(duì)水的等效厚度的轉(zhuǎn)換

T水=T模體×ρ模體×(Z/A)模體／(Z/A)水介質(zhì)、設(shè)備和技術(shù)要求不同介質(zhì)對(duì)水的測(cè)量深度的校正在SCD固定不變的前提下，校正系數(shù)為：

SF=dw/dm=μm/μw不同介質(zhì)對(duì)水的額外散射的轉(zhuǎn)換

(μen/ρ)w

Dw=Dm─────·ESC(μen/ρ)m材料質(zhì)量密度(g·cm-3)電子密度(電子數(shù)·g·cm-3)有效原子序數(shù)(光電效應(yīng))空氣1.29×10-33.89×10-37.78水1.003.347.42聚苯乙烯1.03～1.053.34～3.405.69有機(jī)玻璃1.16～1.203.76～3.896.48聚乙烯0.923.166.16石蠟0.87～0.933.00～3.215.42MIXD0.993.377.05M31.053.517.35常用組織替代材料的物理參數(shù)射線質(zhì)低能X中能X高能X鈷-60γ電離室形狀平板柱形柱形柱形入射窗或室壁厚度薄膜＜0.1g·cm2＜0.1g·cm2＜0.1g·cm2收集極直徑≤20mm≤2mm≤2mm≤2mm保護(hù)極寬度＞3mm＞3mm氣腔內(nèi)直徑≤7mm≤7mm≤7mm氣腔長(zhǎng)度＜25mm＜25mm＜25mm材料入射窗，室壁與中心電極最好用相同低原子序數(shù)材料平衡帽+室壁厚度0.4～0.6g·cm2電離室的結(jié)構(gòu)與技術(shù)要求適用于放射治療測(cè)量用的電離室的主要指標(biāo)漏電流受電離輻射照射前，5min內(nèi)小于10-14A，照射后1min內(nèi)小于5×10-13A和5min內(nèi)小于10-13A重復(fù)性鈷-60照射5Gy，讀數(shù)重復(fù)性應(yīng)在0.5%之內(nèi)桿效應(yīng)10cm×35cm射野內(nèi)電離室主軸與射野長(zhǎng)軸平行，照射后的讀數(shù)與照射野旋轉(zhuǎn)90°后的讀數(shù)差別應(yīng)在0.5%之內(nèi)能量響應(yīng)電離室對(duì)中低能X線（HVL=2mm鋁到4mm銅）的響應(yīng)與鈷-60γ線的響應(yīng)系數(shù)差別小于0.5%角度依賴性指形電離室沿主軸旋轉(zhuǎn)，角度依賴性應(yīng)小于0.5%極化效應(yīng)X（γ）光子輻射條件下，改變收集極極性，電離室響應(yīng)差別小于0.5%收集效率“雙電壓”法測(cè)量加速器X線，劑量率4Gy/min，收集效率應(yīng)好于99.5%環(huán)境影響非密閉型電離室的靈敏體積，應(yīng)在1小時(shí)內(nèi)達(dá)到于環(huán)境的熱平衡適用于放射治療測(cè)量用的靜電計(jì)的主要指標(biāo)預(yù)熱預(yù)熱10min后，零點(diǎn)漂移24小時(shí)應(yīng)小于1mV本底電流電離輻射照射前及照射后30秒內(nèi)，本地電流小于5×10-15A桿效應(yīng)10cm×35cm射野內(nèi)電離室主軸與射野長(zhǎng)軸平行，照射后的讀數(shù)與照射野旋轉(zhuǎn)90°后的讀數(shù)差別應(yīng)在0.5%之內(nèi)刻度線性好于0.01%環(huán)境敏感性環(huán)境溫度變化每攝氏度，零點(diǎn)漂移小于150μA反饋電容泄漏靜態(tài)時(shí)，靜電計(jì)讀數(shù)變化率每分鐘小于0.5%示值非線性

儀表在不同量程范圍內(nèi)示值偏離線性的百分偏差。電離室置于恒定輻射場(chǎng)內(nèi)合適的劑量率點(diǎn)上，在被檢量程內(nèi)選點(diǎn)5個(gè)以上，記錄從0累積到不同示值的時(shí)間，以量程示值的中點(diǎn)測(cè)量的時(shí)間歸一，計(jì)算各點(diǎn)示值偏離線性的百分偏差：

ti1△Ki=（──×──-1）×100%2t0ρi式中：ti─第i點(diǎn)的測(cè)量時(shí)間；

t0─量程示值中點(diǎn)的測(cè)量時(shí)間；

ρi

─相應(yīng)點(diǎn)的百分比（相對(duì)滿量程）。標(biāo)準(zhǔn)：工作級(jí)≤±1.0%；次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)≤±02.%參考源及其應(yīng)用參考源的意義

亦稱監(jiān)督源或檢驗(yàn)源，用于對(duì)劑量?jī)x的檢驗(yàn)和校準(zhǔn)。同位素鍶-90（90Sr），半衰期=28.1年，釋放β射線（最高能量0.54MeV）。應(yīng)用一般以120s為測(cè)量基準(zhǔn)歸一；測(cè)量值應(yīng)使用10%以上量程參考源原則上只能在檢定周期（一年）內(nèi)應(yīng)用應(yīng)用電離室劑量?jī)x的注意事項(xiàng)定期送國(guó)家計(jì)量部門檢定；儀器靈敏度不得隨意調(diào)整，電離室不得隨意拆卸，使用加長(zhǎng)電纜時(shí)，加長(zhǎng)電纜須與電離室同時(shí)校準(zhǔn)；防潮、防震、防塵、防霉；電離室壁薄而脆，應(yīng)用時(shí)應(yīng)小心謹(jǐn)慎，勿碰撞和擠壓盡可能不使用塑料材料制成的電離室；注意電離室與模體的環(huán)境條件平衡；測(cè)量不同質(zhì)的輻射場(chǎng)時(shí)，注意電離室的能量響應(yīng)；實(shí)際測(cè)量時(shí)，應(yīng)注意使劑量?jī)x主機(jī)盡可能遠(yuǎn)離輻射場(chǎng)，電離室電纜應(yīng)盡量拉直，以減少輻射場(chǎng)對(duì)電纜的有效照射長(zhǎng)度。規(guī)程演變1964年，ICRU第14號(hào)報(bào)告：1973年，ICRU第23號(hào)報(bào)告：

《單束X或Υ射線照射體模中吸收劑量的測(cè)定》；1983年，美國(guó)物理與醫(yī)學(xué)學(xué)會(huì)(AAPM)出版之TG21號(hào)議定書；1987年，國(guó)際原子能機(jī)構(gòu)IAEA第277號(hào)報(bào)告

《光子和電子束中的吸收劑量測(cè)定》1989年，國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局頒布JJG589－89號(hào)規(guī)程：

《60Co遠(yuǎn)距離治療輻射源》1990年，國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局頒布JJG664－90號(hào)規(guī)程：

《醫(yī)用加速器X輻射源》規(guī)定的劑量定標(biāo)方法與ICRU23號(hào)報(bào)告一致，1991年，國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局頒布JJG1026－91號(hào)規(guī)程：

《光子和高能電子束吸收劑量的測(cè)定方法》轉(zhuǎn)換到了IAEA277號(hào)報(bào)告的方法。1999年，AAPM頒布了新的議定書TG51.2001年,國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局頒布JJG664－90號(hào)規(guī)程：

《外照射治療輻射源》規(guī)程演變（ICRU）1964年ICRU第14號(hào)報(bào)告和1973年ICRU第23號(hào)報(bào)告：《單束X或Υ射線照射體模中吸收劑量的測(cè)定》；Cλ＝｛f·(μab/ρ)med，wall·Swall,air·kc+(1-f)·Sm,air·k

a｝·W/e

上式中，f為光子在電離室氣腔內(nèi)發(fā)生作用的份額，μab/ρ為光子質(zhì)能吸收系數(shù)，k為電離室擾動(dòng)修正，腳標(biāo)med,wall,air和a,b分別代表電離室外介質(zhì)、壁材料、腔內(nèi)空氣和氣腔內(nèi)徑、平衡帽外徑。規(guī)程演變（AAPM）1983年，美國(guó)物理與醫(yī)學(xué)學(xué)會(huì)(AAPM)出版物TG21號(hào)議定書；1999年，AAPM頒布了新的議定書TG51.

將照射量轉(zhuǎn)換系數(shù)Nx

氣轉(zhuǎn)換為氣腔校正系數(shù)（CavityGasCalibrationFactor)Ngas來(lái)修正電離室，即：規(guī)程演變（IAEA）1987年，國(guó)際原子能機(jī)構(gòu)IAEA第277號(hào)報(bào)告：《光子和電子束中的吸收劑量測(cè)定》1997年，國(guó)際原子能機(jī)構(gòu)IAEA第277號(hào)報(bào)告：《光子和電子束中的吸收劑量測(cè)定，國(guó)際實(shí)用規(guī)定》1997年第二版

將比釋動(dòng)能因子Nk

轉(zhuǎn)換為空氣吸收劑量系數(shù)ND來(lái)修正電離室，即：

Nd=Nk×（1-g）×Katt×Km

或：

Nd=Nx×（W/e）×Katt×KmKatt

電離室材料對(duì)射線吸收和散射的校正因子；Km電離室材料空氣不完全等效的校正因子；

規(guī)程演變（IAEA與ICRU的差異）兩個(gè)報(bào)告實(shí)際結(jié)果的差異為2.0％；IAEA277號(hào)報(bào)告引進(jìn)了有效測(cè)量點(diǎn)的新概念，估計(jì)由這項(xiàng)位移引入的差異為0.8%；W/e數(shù)據(jù)帶來(lái)的差異約0.7%；綜合考慮上述因素，這兩個(gè)報(bào)告的系統(tǒng)差異約為0.8%。規(guī)程演變（W/e的變化）從上述演變可以看出，無(wú)論是Cλ還是ND

或Ngas中均含有W/e（在空氣中產(chǎn)生一對(duì)離子所需要的平均能量）項(xiàng)，而W/e的公布數(shù)據(jù)是變化的：60年代：33.73J/C70年代：33.85J/C現(xiàn)在：33.97J/C

Cλ＝0.95是W/e=33.73時(shí)代的數(shù)據(jù),如果考慮到W/e的變化,Cλ應(yīng)增加0.7%（0.8%),由此算得的劑量也應(yīng)該增加0.7%(0.8%)。電離室的校準(zhǔn)現(xiàn)場(chǎng)使用的電離室，須經(jīng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的照射量基準(zhǔn)或空氣比釋動(dòng)能基準(zhǔn)校準(zhǔn)

Nx=Xc/Mc

或

Nk=Ka,c/McM─儀表讀數(shù)

c─輻射質(zhì)近似關(guān)系：

Nk=Nx（W/e）電離室的校準(zhǔn)

在60-Coγ或（X）射線下，依次用標(biāo)準(zhǔn)照射量計(jì)和被檢照射量計(jì)在同樣的輻射條件下測(cè)量照射量率，分別得到測(cè)量值Xa和Xm，則被檢照射量計(jì)的校準(zhǔn)因子為：

nc=（Nc×Xa）/Xm

式中：Nc─標(biāo)準(zhǔn)照射量計(jì)的校準(zhǔn)因子

Xa─經(jīng)過(guò)空氣密度校正的標(biāo)準(zhǔn)照射量計(jì)測(cè)量值

Xm

─經(jīng)過(guò)空氣密度校正的被檢照射量計(jì)測(cè)量值

參考條件：溫度20℃，氣壓101.32kPa注：密封電離室須進(jìn)行靈敏度校正，無(wú)須空氣密度校正。校正因子的使用僅對(duì)被檢量程有效，若須使用其它量程，必須另行校準(zhǔn)；對(duì)于60-220kV的X射線，至少在5個(gè)射線質(zhì)下確定校正因子；不同能級(jí)的校準(zhǔn)因子不能混用；工作級(jí)照射量計(jì)校準(zhǔn)因子的不確定度：標(biāo)準(zhǔn)級(jí)照射量計(jì)校準(zhǔn)因子的不確定度；檢定過(guò)程中的傳遞誤差；被檢照射量計(jì)的固有誤差；

置信度：99%Cλ和CE方法電離室校準(zhǔn)輻射場(chǎng)：鈷-60γ射線或2MVX射線滿足電子平衡鈷-60γ射線在水中的吸收劑量為：鈷-60γ射線照射量-吸收劑量轉(zhuǎn)換因子Cλ因此

Dw=R·N·Cλ射線質(zhì)量Cλ（水中）Cλ（組織中）鈷-600.950.944MV0.940.948MV0.930.9212MV0.920.9116MV0.910.9020MV0.900.8930MV0.890.87不同物質(zhì)在不同能量時(shí)的Cλ值對(duì)高能電子束，水中吸收劑量計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)公式為：

Dw=R·N·CE吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（Cλ和CE方法）準(zhǔn)備工作溫度平衡：模體置于加速器室2小時(shí)現(xiàn)場(chǎng)氣壓、溫度和濕度數(shù)據(jù)的獲取儀器擺放：電纜、電池等加速器準(zhǔn)備：預(yù)熱、10×10cm照射野空氣密度校正

DW=MU×NX×Cλ×KPT測(cè)量深度校準(zhǔn)

DW=MU×NX×Cλ×KPT×PDDCλ和CE方法的問(wèn)題空氣照射量校準(zhǔn)因子模體中的吸收劑量有相當(dāng)部分源于低能散射光子，且隨深度和射野變化，不同于空氣中校準(zhǔn)時(shí)的情況，且校正困難；等效材料的矛盾

Cλ

方法將電離室假定為水的等效材料，而

CE法時(shí)又將電離室假定為空氣的等效材料；不同置換因子的應(yīng)用矛盾沒(méi)有考慮輻射質(zhì)和深度的影響。IAEA277號(hào)報(bào)告電離輻射的測(cè)量結(jié)果在相當(dāng)大的程度上受電離室的尺寸、結(jié)構(gòu)、形狀和材料的影響，而Cλ和CE方法由于當(dāng)時(shí)對(duì)輻射理論認(rèn)識(shí)的局限性，卻又在相當(dāng)大的程度上忽略了這些因素的影響，因而使這種方法存在著較大的誤差。80年代ICRU23和24號(hào)報(bào)告對(duì)此做了一定的修正，但未解決根本問(wèn)題。IAEA提出了有效測(cè)量點(diǎn)的概念，同時(shí)更加關(guān)注電離室尺寸、結(jié)構(gòu)、形狀和材料的影響。修正系數(shù)Katt、Km隨所用的電離室不同（主要是收集電極、壁材料不同）有所變化；因此，引進(jìn)對(duì)特定電離室的修正就顯得十分必要，盡管此項(xiàng)修正數(shù)據(jù)的來(lái)源部分基于理論計(jì)算，仍有有待完善之處。事實(shí)上，在ICRU報(bào)告的Cλ計(jì)算公式中除W/e外的每一項(xiàng)都與特定的電離室有關(guān)，但I(xiàn)CRU報(bào)告在發(fā)布Cλ值時(shí)僅將其作為能量的函數(shù)列出。如果認(rèn)為ICRU當(dāng)時(shí)的做法是認(rèn)為Cλ因電離室不同的變化不大，那么，隨著現(xiàn)在用于放射治療定標(biāo)電離室的品種和材料的增加，這兩項(xiàng)修正的乘積可以從0.950(EXRADIN0.5cm3)到0.990(CAPINTEC0.65cm3PR0.6C),變化幅度達(dá)4%。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）JJG589-2001以IAEA277號(hào)報(bào)告為引用文獻(xiàn):Absorbeddosedeterminationinphotonandelectronbeams,AnInternationalcodeofPractice,SecondEdition,IAEATech.RerSer.No.277,VIENNA1997術(shù)語(yǔ)組織體模比（Tissue-PhantonRatio）TPR

輻射源到探測(cè)器的距離（SCD）恒定，在與輻射軸垂直并包含探測(cè)器的平面上，以探測(cè)器為中心的照射野取以特定值，在模體不同中心軸上，探測(cè)器測(cè)得的吸收劑量與這個(gè)特定值的比值即為TPR，當(dāng)這個(gè)特定值最大劑量深度時(shí)，即為TMR。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）術(shù)語(yǔ)rPPeff（電離室）有效測(cè)量點(diǎn)（TheeffectivePiontofmeasurement（ofanionizationchamber))

模體中有了電離室的空氣空腔后，輻射的注量梯度將與無(wú)腔時(shí)的注量梯度不同，電離室測(cè)出的吸收劑量將不是電離室?guī)缀沃行奶幍奈談┝?，而是有效測(cè)量處的吸收劑量。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）術(shù)語(yǔ)電離室劑量計(jì)（Dosemeterwithionizationchamber)

以電離室為探測(cè)器的測(cè)量吸收劑量的儀器，通常由一個(gè)或幾個(gè)電離室及平衡帽、測(cè)量單元和穩(wěn)定性檢驗(yàn)源組成。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）術(shù)語(yǔ)校準(zhǔn)深度（CalibrationDepth）在模體中進(jìn)行吸收劑量校準(zhǔn)測(cè)量時(shí)，探測(cè)器的有效測(cè)量點(diǎn)所在的深度。校準(zhǔn)因子（CalibrationFactor）計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)給出的劑量值與被檢定劑量計(jì)對(duì)該劑量的顯示值的比值。校準(zhǔn)因子可以是吸收劑量（ND）、比釋動(dòng)能（NK）或照射量（NX）的校準(zhǔn)因子。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）術(shù)語(yǔ)極化效應(yīng)（Polarityeffect）

對(duì)相同的電離輻射，當(dāng)電離室的極化電壓大小相等但極性相反時(shí)，得到的極性電流的絕對(duì)值分別是|Ｉ+|和|Ｉ-|，（|Ｉ+|-|Ｉ-|）則2———————

（|Ｉ+|+|Ｉ-|）即為該電離室的極化效應(yīng)，這種效應(yīng)不是由電離輻射產(chǎn)生的電離或絕緣不好形成的電荷（流）所產(chǎn)生的效應(yīng)，而是極化電壓極性不同引起的效應(yīng)。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）術(shù)語(yǔ)吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）D20/D10

SSD=100cm，模體表面照射野為10×10cm，在輻射中心軸上，模體內(nèi)深度分別為20cm和10cm測(cè)得的吸收劑量的比值。術(shù)語(yǔ)吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）TPR20/10

SCD=100，在電離室有效測(cè)量點(diǎn)所在的并與輻射軸垂直的平面上，以輻射束軸為中心的照射野為10×10cm，在為20cm和10cm測(cè)得的吸收劑量的比值。20cm10cm術(shù)語(yǔ)最大吸收劑量（MaximumAbsorbedDose）

輻射在模體內(nèi)沿輻射中心軸產(chǎn)生的吸收劑量最大者，稱為最大吸收劑量。幾何野（GeometricalField）模體表面上由光野限定的范圍，為幾何野；在模體的不同深度處，幾何野的投影與幾何野的大小相同；反散射因子（BackscatterFactor）模體表面處的吸收劑量與在同一點(diǎn)處無(wú)模體時(shí)的吸收劑量的比值。吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）確定有效測(cè)量點(diǎn)ND的確定等效材料轉(zhuǎn)換現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)備工作測(cè)量并計(jì)算結(jié)果有效測(cè)量點(diǎn)的規(guī)定高能電子束0.5r高能X射線0.75r鈷-60γ射線0.5r中能X射線幾何中心IAEA修訂(1997)：建議高能X射線和鈷-60γ射線都以0.6r

為宜。電離室的有效測(cè)量點(diǎn)吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）固體模有效測(cè)量點(diǎn)的確定在校準(zhǔn)深度下，以有效測(cè)量點(diǎn)深度處的PDD計(jì)算dm處的吸收劑量。以可調(diào)整深度的水箱，精確將測(cè)量深度調(diào)整至有效測(cè)量點(diǎn)，然后對(duì)固體模進(jìn)行比對(duì)后校準(zhǔn)。電離室的有效測(cè)量點(diǎn)吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）校準(zhǔn)深度有效測(cè)量點(diǎn)深度固體模有效測(cè)量點(diǎn)的確定在校準(zhǔn)深度下，以有效測(cè)量點(diǎn)深度處的PDD計(jì)算dm處的吸收劑量。0.6r吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）校準(zhǔn)深度電離室?guī)缀沃行纳疃人渲杏行y(cè)量點(diǎn)的確定以可調(diào)整深度的水箱，精確將測(cè)量深度調(diào)整至有效測(cè)量點(diǎn)，然后對(duì)固體模進(jìn)行比對(duì)后校準(zhǔn)。公式0.6r吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）不同射線深度劑量特性的比較0100DoseDepth━深部X線━鈷-60γ線━加速器高能X線━加速器電子線吸收劑量的測(cè)量實(shí)踐（國(guó)標(biāo)方法）電離室校準(zhǔn)因子（ND）的確定照射量校準(zhǔn)因子NX為：Ｘ

NX

=

———（C/kg）Ｍ式中：Ｘ–照射量的標(biāo)準(zhǔn)值Ｍ–劑量計(jì)的顯示值吸收劑量校準(zhǔn)因子