基于等確定位切分的SoC內(nèi)建自測試方法研究的開題報(bào)告

基于等確定位切分的SoC內(nèi)建自測試方法研究的開題報(bào)告一、課題背景和研究意義隨著SoC設(shè)計(jì)的不斷復(fù)雜化，內(nèi)部連接的細(xì)節(jié)復(fù)雜，為了保證SoC的功能正確和可靠性，需要進(jìn)行完備靈活的測試，提高測試的可靠性，降低維護(hù)費(fèi)用，盡可能減少測試時間。因此，內(nèi)建自測試成為一個熱點(diǎn)問題，在SoC設(shè)計(jì)中發(fā)揮著越來越重要的作用。本課題針對基于等確定位切分的SoC內(nèi)建自測試方法進(jìn)行研究，目的是為了提高SoC的測試效率、減少測試時間，并且能夠快速準(zhǔn)確地定位故障。二、國內(nèi)外研究現(xiàn)狀在國外，傳統(tǒng)的內(nèi)建自測試方法主要有Scan鏈和BoundaryScan等方法。在Scan鏈中，元器件的輸入和輸出均由一個可控的掃描鏈（ScanChain）驅(qū)動，并將測試數(shù)據(jù)和測試結(jié)果通過這個掃描鏈輸入和輸出。而BoundaryScan方法則利用芯片邊界（Boundary）上的特殊輸入/輸出（IO）引腳來進(jìn)行測試。近年來，在國內(nèi)外研究人員的努力下，又學(xué)術(shù)界提出了許多新的內(nèi)建自測試方法，如基于隨機(jī)激勵、基于遺傳算法等。三、研究內(nèi)容和方法本研究主要圍繞基于等確定位切分的SoC內(nèi)建自測試方法進(jìn)行研究，主要研究內(nèi)容包括：（1）基于等確定位切分的SoC內(nèi)建自測試方法的原理和算法；（2）測試數(shù)據(jù)生成和故障模擬方法的研究；（3）測試覆蓋率分析方法的研究；（4）內(nèi)建自測試裝置的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)。研究方法主要采用理論分析和實(shí)驗(yàn)方法相結(jié)合，通過對已有方法的分析和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，針對SoC內(nèi)部特性，進(jìn)一步完善內(nèi)建自測試方法。四、研究預(yù)期成果通過本研究，實(shí)現(xiàn)基于等確定位切分的SoC內(nèi)建自測試方法，并且具有以下特點(diǎn)：（1）測試效率高，減少測試時間；（2）測試可靠性高，能夠快速定位故障；（3）測試成本低，減少維護(hù)費(fèi)用；（4）方法實(shí)現(xiàn)簡單、操作便捷。五、研究中的問題和挑戰(zhàn)在本研究中，可能會面臨以下問題和挑戰(zhàn)：（1）內(nèi)建自測試方法的復(fù)雜性，研究難度大；（2）如何實(shí)現(xiàn)高覆蓋率的測試，是一個較大的挑戰(zhàn)；（3）如何在實(shí)現(xiàn)高效測試的同時，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，亦是一個難點(diǎn)。六、進(jìn)度安排（1）研究設(shè)計(jì)和文獻(xiàn)綜述1個月（2）算法分析和模型建立3個月（3）測試數(shù)據(jù)生成和故障模擬方法研究2個月（4）測試覆蓋率分析方法研究2個月（5）內(nèi)建自測試裝置的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)3個月（6）實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析和論文撰寫2個月七、參考文獻(xiàn)[1]金梁.基于結(jié)構(gòu)化和隨機(jī)測試的SoC內(nèi)建自測試技術(shù)研究[J].計(jì)算機(jī)工程與設(shè)計(jì),2013,34(01):78-83.[2]陳衛(wèi)萍,楊志豪.基于隨機(jī)激勵的SoC內(nèi)建自測試[J].電腦知識與技術(shù)：學(xué)術(shù)普及版,2014,10(30):7243-7246.[3]王正東,張家銘.面向SoC設(shè)計(jì)的Scan鏈技術(shù)[J].電腦與數(shù)字工程,2014,42(