基于多掃描電路的內(nèi)建自測試方法研究的開題報(bào)告

基于多掃描電路的內(nèi)建自測試方法研究的開題報(bào)告開題報(bào)告一、選題背景在集成電路的制造和測試中，良率的提高和測試效率的提升一直是工程師們追求的目標(biāo)。內(nèi)建自測試技術(shù)是一種根據(jù)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的測試方法，可以大大提高集成電路測試的效率和精度，同時(shí)也減少了測試設(shè)備的需要和測試時(shí)間。多掃描電路（MultipleScanChain）是一種用于內(nèi)建自測試的電路結(jié)構(gòu)，它將芯片內(nèi)部的掃描鏈進(jìn)行了分組，每組掃描鏈對(duì)應(yīng)一個(gè)觸發(fā)器。該方法使得測試時(shí)所需的測試數(shù)據(jù)量大大降低，測試時(shí)間也相應(yīng)減少。因此，研究基于多掃描電路的內(nèi)建自測試方法具有重要的理論和實(shí)際意義。二、研究內(nèi)容本文旨在研究基于多掃描電路的內(nèi)建自測試方法，具體研究內(nèi)容包括：1.多掃描電路的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，包括掃描鏈分組、觸發(fā)器設(shè)計(jì)、控制電路設(shè)計(jì)等。2.基于多掃描電路的內(nèi)建自測試方法，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)檢測故障和精確定位故障的算法和模型，同時(shí)分析測試精度和測試時(shí)間對(duì)比。3.基于VHDL語言對(duì)設(shè)計(jì)的多掃描電路和內(nèi)建自測試算法進(jìn)行仿真和驗(yàn)證，分析其實(shí)現(xiàn)的可行性和實(shí)用性。三、研究方法本研究采用理論分析、電路設(shè)計(jì)、算法設(shè)計(jì)、仿真驗(yàn)證等方法進(jìn)行，具體包括：1.對(duì)多掃描電路結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，確定分組算法、觸發(fā)器設(shè)計(jì)和控制電路設(shè)計(jì)。2.基于多掃描電路結(jié)構(gòu)，設(shè)計(jì)檢測故障和精確定位故障的算法和模型，分析測試精度和測試時(shí)間的對(duì)比。3.使用VHDL語言對(duì)所設(shè)計(jì)的多掃描電路和內(nèi)建自測試算法進(jìn)行仿真和驗(yàn)證，分析其實(shí)現(xiàn)的可行性和實(shí)用性。四、預(yù)期成果本研究預(yù)期的成果包括：1.設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)多掃描電路結(jié)構(gòu)和內(nèi)建自測試算法，分析其實(shí)現(xiàn)的可行性和實(shí)用性。2.基于VHDL語言進(jìn)行仿真和驗(yàn)證，分析測試精度和測試時(shí)間的對(duì)比。3.發(fā)表相關(guān)學(xué)術(shù)論文，并能應(yīng)用于實(shí)際集成電路設(shè)計(jì)和制造中。五、研究難點(diǎn)本研究主要的難點(diǎn)在于：1.多掃描電路結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，需要考慮到多種因素，如測試數(shù)據(jù)量、測試時(shí)間、故障檢測等。2.基于多掃描電路的內(nèi)建自測試算法的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，需要考慮到測試精度和測試時(shí)間的均衡。3.對(duì)多掃描電路和算法進(jìn)行仿真和驗(yàn)證，需要考慮到仿真精度和仿真時(shí)間的對(duì)比。六、進(jìn)度安排本研究報(bào)告的時(shí)間進(jìn)度安排如下：1.第一階段（2021年9月-2021年10月）：深入研究多掃描電路的結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)，并確定內(nèi)建自測試算法的相關(guān)設(shè)計(jì)。2.第二階段（2021年11月-2022年1月）：基于所設(shè)計(jì)的多掃描電路和內(nèi)建自測試算法，進(jìn)行VHDL仿真和驗(yàn)證。3.第三階段（2022年2月-2022年6月）：分析仿真結(jié)果，優(yōu)化電路設(shè)計(jì)和測試算法，完成相關(guān)論文的撰寫與提交。七、參考文獻(xiàn)[1]R.Rohit,K.Ravi,R.P.Gajbhiye,“Built-inselftestarchitectureformultiplescanchainsusingnoveltestpointinsertiontechnique,”InternationalJournalofAdvancedEngineeringResearchandScience(IJAERS),Volume-3,Issue-7,2016.[2]Y.Lu,X.Qian,X.Zhang,“Anewbuilt-inself-testmethodbasedonmultiplescanchains,”Proceedingsofthe50thAnnualDesignAutomationConference,2013.[3]S.S.Mittal,S.K.Gupta,A.K.Singh,“Designingofmultiplescanchainswithanefficienttestcontroltechnique,”InternationalJournalofEngineeringScienceandTechnology(IJEST),Volume-3,Issue-3,2011.[4]G.Taggi,L.Benini,“Multiplescanchaininsertionforlow-areabuilt-inself-test,”Procee