《常用統(tǒng)計(jì)技術(shù)》課件

常用統(tǒng)計(jì)技術(shù)描述性統(tǒng)計(jì)推論性統(tǒng)計(jì)統(tǒng)計(jì)圖形時(shí)間序列分析非參數(shù)統(tǒng)計(jì)方法貝葉斯統(tǒng)計(jì)描述性統(tǒng)計(jì)01表示某一數(shù)據(jù)值出現(xiàn)的次數(shù)。頻數(shù)頻數(shù)與數(shù)據(jù)總數(shù)的比值，表示某一數(shù)據(jù)值的出現(xiàn)概率。頻率頻數(shù)和頻率是描述數(shù)據(jù)分布特征的重要指標(biāo)，通過它們可以了解數(shù)據(jù)的集中趨勢和離散程度?？偨Y(jié)頻數(shù)與頻率123所有數(shù)據(jù)值的和除以數(shù)據(jù)總數(shù)，表示數(shù)據(jù)的平均水平。均值將數(shù)據(jù)按大小排序后，位于中間位置的數(shù)值。中位數(shù)均值和中位數(shù)都是描述數(shù)據(jù)集中趨勢的指標(biāo)，但它們的特性不同。均值易受極端值影響，而中位數(shù)則不受極端值影響?？偨Y(jié)均值與中位數(shù)方差各數(shù)值與均值之差的平方的平均值，表示數(shù)據(jù)的離散程度。標(biāo)準(zhǔn)差方差的平方根，也是表示數(shù)據(jù)的離散程度?？偨Y(jié)方差和標(biāo)準(zhǔn)差是描述數(shù)據(jù)離散程度的常用指標(biāo)，通過它們可以了解數(shù)據(jù)分布的穩(wěn)定性。方差與標(biāo)準(zhǔn)差

偏度與峰度偏度描述數(shù)據(jù)分布對稱性的指標(biāo)，正偏度表示數(shù)據(jù)向右偏移，負(fù)偏度表示數(shù)據(jù)向左偏移。峰度描述數(shù)據(jù)分布形態(tài)的指標(biāo)，峰度大于3時(shí)表示數(shù)據(jù)分布比正態(tài)分布更尖峰，峰度小于3時(shí)表示數(shù)據(jù)分布比正態(tài)分布更扁平?？偨Y(jié)偏度和峰度是描述數(shù)據(jù)分布形態(tài)的指標(biāo)，通過它們可以了解數(shù)據(jù)分布的形狀和對稱性。推論性統(tǒng)計(jì)0201參數(shù)估計(jì)是一種推論性統(tǒng)計(jì)方法，通過對樣本數(shù)據(jù)的分析來估計(jì)總體參數(shù)的值。02點(diǎn)估計(jì)：用單一的數(shù)值來估計(jì)總體參數(shù)，如樣本均值、中位數(shù)等。03區(qū)間估計(jì)：提供總體參數(shù)的可能范圍，如置信區(qū)間。04估計(jì)的準(zhǔn)確性取決于樣本大小和數(shù)據(jù)的分布情況。參數(shù)估計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)01假設(shè)檢驗(yàn)是推論性統(tǒng)計(jì)中的一種重要方法，用于檢驗(yàn)關(guān)于總體參數(shù)的假設(shè)是否成立。02包括參數(shù)檢驗(yàn)和非參數(shù)檢驗(yàn)，如t檢驗(yàn)、卡方檢驗(yàn)等。通過選擇合適的檢驗(yàn)方法和樣本數(shù)據(jù)，判斷假設(shè)是否成立，從而做出決策。0303方差分析在實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和數(shù)據(jù)分析中廣泛應(yīng)用，如單因素方差分析、多因素方差分析等。01方差分析是一種統(tǒng)計(jì)方法，用于比較不同組數(shù)據(jù)的變異程度。02通過比較不同組之間的方差，判斷各組數(shù)據(jù)是否來自同一總體或不同總體。方差分析相關(guān)分析用于研究兩個(gè)或多個(gè)變量之間的關(guān)系，包括正相關(guān)、負(fù)相關(guān)和不相關(guān)。回歸分析用于預(yù)測一個(gè)因變量基于一個(gè)或多個(gè)自變量的值，包括線性回歸、多元回歸和非線性回歸等。相