SiC襯底上GaN薄膜和LED的制備與研究的開(kāi)題報(bào)告_第1頁(yè)
SiC襯底上GaN薄膜和LED的制備與研究的開(kāi)題報(bào)告_第2頁(yè)
SiC襯底上GaN薄膜和LED的制備與研究的開(kāi)題報(bào)告_第3頁(yè)
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

SiC襯底上GaN薄膜和LED的制備與研究的開(kāi)題報(bào)告開(kāi)題報(bào)告:基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的制備與研究一、研究背景氮化鎵(GaN)是一種重要的寬禁帶半導(dǎo)體材料,具有優(yōu)異的光電性能和熱穩(wěn)定性,被廣泛應(yīng)用于高亮度LED、激光二極管等領(lǐng)域。然而,GaN晶體的生長(zhǎng)難度大,價(jià)格高昂,限制了其在工業(yè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。而在這方面,SiC襯底具有很大優(yōu)勢(shì),具有高質(zhì)量、高穩(wěn)定性、低缺陷密度等特點(diǎn),可以提高GaN晶體生長(zhǎng)的質(zhì)量和穩(wěn)定性。因此,在SiC襯底上生長(zhǎng)GaN晶體已成為研究的焦點(diǎn)。二、研究目的和意義本論文旨在研究基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的制備方法,探究GaN薄膜和LED的結(jié)構(gòu)、性能以及生長(zhǎng)機(jī)理等相關(guān)問(wèn)題。通過(guò)研究GaN薄膜和LED的制備方法,可以為解決高質(zhì)量、高穩(wěn)定性、低缺陷密度的GaN晶體生長(zhǎng)難題提供一種新的途徑。同時(shí),研究基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的應(yīng)用前景,對(duì)于推動(dòng)我國(guó)半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。三、研究?jī)?nèi)容和方法1.基于SiC襯底的GaN薄膜的制備方法:(1)HVPE法(氣相外延法)(2)MOCVD法(金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積法)(3)MBE法(分子束外延法)2.基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的結(jié)構(gòu)和性能分析方法:(1)X射線衍射儀(XRD)(2)掃描電子顯微鏡(SEM)(3)激光掃描共聚焦顯微鏡(CLSM)(4)光譜分析儀(PL)(5)發(fā)光二極管測(cè)試系統(tǒng)(LED測(cè)試系統(tǒng))3.研究基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的生長(zhǎng)機(jī)理。四、預(yù)期成果通過(guò)本論文的研究,預(yù)計(jì)取得以下成果:1.建立基于SiC襯底的GaN薄膜的制備方法,并對(duì)制備方法進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn),提高GaN晶體生長(zhǎng)的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2.對(duì)基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的結(jié)構(gòu)和性能特點(diǎn)進(jìn)行全面分析和研究,了解GaN薄膜和LED的光電性能,并制定相應(yīng)的應(yīng)用方案。3.探究基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的生長(zhǎng)機(jī)理,為在其他材料襯底上生長(zhǎng)GaN晶體提供一定的參考。五、可行性分析1.研究方法:本論文既包含實(shí)驗(yàn)室的理論研究,也涉及到GaN薄膜和LED的制備和測(cè)試等大量實(shí)驗(yàn)工作。2.材料條件:實(shí)驗(yàn)所需材料和設(shè)備都在現(xiàn)有條件下就可以獲取,容易實(shí)現(xiàn)。3.研究團(tuán)隊(duì):本論文的研究方向主要聚焦于化學(xué)、物理和半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域,具有相應(yīng)的研究熱情和專業(yè)技能。4.預(yù)期成果:預(yù)計(jì)可以取得基于SiC襯底的GaN薄膜和LED的制備和研究初步成果,并取得一定的科研實(shí)踐能力和實(shí)驗(yàn)技能。六、進(jìn)度安排1.前期準(zhǔn)備(2個(gè)月):調(diào)研相關(guān)文獻(xiàn),制定實(shí)驗(yàn)方案,準(zhǔn)備實(shí)驗(yàn)所需材料和設(shè)備。2.實(shí)驗(yàn)和數(shù)據(jù)分析(10個(gè)月):針對(duì)不同制備方法進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究,并對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行深入分析和討論。3.撰寫論文和論文答辯(2個(gè)月):整理研究成果,完成畢業(yè)論文和論文答辯。七、參考文獻(xiàn)1.LiuF,WangY,SunB,etal.GrowthofGaNbyhydridevaporphaseepitaxyusingSiCandGaNseeds[J].JournalofCrystalGrowth,2017,464:81-86.2.WeiT,FuY,LiuY,etal.MOVPEgrowthofhighqualitythickGaNonSiCsubstratewithAlNbufferlayer[J].CeramicsInternational,2020,46(7):9625-9629.3.LiW,ParkGH,KimTK,etal.LEDBasedonSiliconCarbideandGalliumNitride[J].Physics,Simulation,andPhotonicEngineeringofPhotovoltaicDevicesI,2007,6474:647425.4.劉曉巍,朱立安,彭峰,等.基于SiC襯底的GaN外延膜研究[J].安

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫(kù)網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論