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文檔簡(jiǎn)介
ICS81.060.30
CCSQ32
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/TXXXX—XXXX
精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法單邊V型切
口梁法
Fineceramics—Testmethodsforfracturetoughnessofmonolithicceramics—
Single-edgeV-notchbeam(SEVNB)method
[ISO23146:2012,Fineceramics(advancedceramics,advancedtechnicalceramics)
—Testmethodsforfracturetoughnessofmonolithicceramics—Single-edge
V-notchbeam(SEVNB)method,MOD]
(征求意見稿)
在提交反饋意見時(shí),請(qǐng)將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。
XXXX-XX-XX發(fā)布XXXX-XX-XX實(shí)施
GB/TXXXXX—XXXX
精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法單邊V型切口梁法
1范圍
本文件規(guī)定了精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法,采用單邊V型切口梁在四點(diǎn)彎曲模式下加載直致破壞。
本方法適用于晶粒尺寸或主要微觀特征結(jié)構(gòu)尺寸大于1μm的塊體陶瓷。
本文件不推薦用于釔穩(wěn)定四方相氧化鋯多晶材料(Y-TZP)。這種方法也可能不適用于V型切口的
根部不會(huì)形成尖銳裂紋的其他高韌性或“軟”陶瓷。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T1216外徑千分尺
GB/T6569精細(xì)陶瓷彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)方法(GB/T6569—2006,ISO14704:2000,MOD)
GB/T16825.1靜力單軸試驗(yàn)機(jī)的檢驗(yàn)第1部分:拉力和(或)壓力試驗(yàn)機(jī)測(cè)力系統(tǒng)的檢驗(yàn)與校準(zhǔn)
(GB/T16825.1—2008,ISO7500-1:2004,IDT)
GB/T23806精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法單邊預(yù)裂紋梁(SEPB)法(GB/T23806—2009,ISO
15732:2003,MOD)
3術(shù)語和定義
GB/T23806界定的術(shù)語和定義適用于本文件。
4原理
本文件規(guī)定的斷裂韌性試驗(yàn)方法是基于切口尖端尖銳的長(zhǎng)條樣品的斷裂試驗(yàn)。使用手工方法或簡(jiǎn)易
的機(jī)器,通過結(jié)合金剛石研磨膏的剃須刀片往復(fù)運(yùn)動(dòng),在樣品中磨出一個(gè)窄的切口??刂魄锌谥苽錀l件,
根據(jù)試驗(yàn)材料的晶粒尺寸不同,制備切口尖端的半徑為(1~20)μm。對(duì)于許多材料來說,這非常接近
一個(gè)尖銳裂紋,如果切口根部在制備過程中或在隨后的斷裂過程中形成尖銳的裂紋,這種方法的試驗(yàn)結(jié)
果和單邊預(yù)裂梁法(GB/T23806)或表面裂紋彎曲法(ISO18756)[14]非常接近。與尖端半徑通常大
于50μm的金剛石尖鋸片或表面鑲金剛石的線鋸相比,該方法具有切口制作簡(jiǎn)單的優(yōu)點(diǎn)。與其他預(yù)裂紋
方法相比,本方法更易操作,也被廣泛應(yīng)用于本標(biāo)準(zhǔn)適用范圍之外的材料。
這種方法已經(jīng)過廣泛的研究(見參考文獻(xiàn)),并經(jīng)過歐洲結(jié)構(gòu)完整性學(xué)會(huì)/新材料與標(biāo)準(zhǔn)凡爾賽計(jì)
劃(VAMAS)的比對(duì)試驗(yàn),其結(jié)果見附錄B。
對(duì)于晶粒尺寸小于1μm的材料,本方法有一定局限性,因?yàn)榍锌诮朴诩怃J裂紋的假設(shè)可能不成立
(見附錄C)。使用者應(yīng)盡量減少樣品的切口根部半徑。本文件暫定切口根部半徑應(yīng)小于等于被測(cè)材料
平均晶粒尺寸的兩倍。
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5裝置
5.1普通剃須刀刀片,沿一邊有支撐結(jié)構(gòu),也可以插入合適的刀架中。
注1:剃須刀刀片薄于0.2mm,用兩個(gè)鋼板用螺釘固定或粘合夾持,只留下邊緣約2mm的刃口以保持剛度。理想的剃
須刀刀片的刀尖角度為30°或更小。
注2:雖然完全可以用手工加工切口,但是使用一個(gè)簡(jiǎn)單的裝置固定樣品,再用涂有金剛石膏的剃須刀片在樣品上作往
復(fù)運(yùn)動(dòng),可使剃須刀片的加載可控和方向穩(wěn)定,從而產(chǎn)生更鋒利的切口。示例見附錄A。
5.2金相用金剛石膏,混合在粘性有機(jī)載體中,晶粒細(xì)小,通常為1μm至3μm。
5.3潤(rùn)滑劑,剃須刀刀片用的輕質(zhì)潤(rùn)滑油。
5.4樣品夾具,由一個(gè)平板或其他合適的裝置組成,用于在切口研磨過程中固定樣品。
5.5彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具,按照GB/T6569要求的四點(diǎn)彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具或者三點(diǎn)彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具。
使用三點(diǎn)彎曲夾具時(shí),應(yīng)保證V型切口與中心加載輥對(duì)齊。
樣品放置在兩個(gè)垂直于其長(zhǎng)軸的支撐點(diǎn)上。外支承點(diǎn)宜為直徑5.0mm±0.2mm的平行輥棒,并且能
夠在同平面向外滾動(dòng)。其中一個(gè)輥棒應(yīng)能圍繞與樣品長(zhǎng)度平行的軸旋轉(zhuǎn)以使扭轉(zhuǎn)載荷降到最低。兩個(gè)輥
棒間距為40.0mm±0.5mm(四點(diǎn)彎曲)或30mm±0.5mm(三點(diǎn)彎曲),軸線平行度公差小于1°。測(cè)量輥
棒中心距離,精確到0.1mm。輥棒宜用硬化鋼或其他硬質(zhì)材料制成,硬度大于40HRC(洛氏硬度C級(jí))。
輥棒表面光滑無毛刺,粗糙度小于0.5μmRa,直徑公差±0.02mm。
對(duì)于四點(diǎn)彎曲,兩個(gè)加載輥位于1/4點(diǎn)(或1/3點(diǎn)),內(nèi)跨為20mm±0.2mm(或10mm±0.2mm為1/3
點(diǎn)彎曲),可自由向內(nèi)滾動(dòng)。輥棒可以圍繞與樣品長(zhǎng)軸平行的軸線方向轉(zhuǎn)動(dòng)以校直。對(duì)于三點(diǎn)彎曲,棍
棒不需要旋轉(zhuǎn),應(yīng)位于外支承輥之間的中心位置。使用移動(dòng)顯微鏡或其他合適的裝置沿樣品長(zhǎng)度方向并
垂直于加載方向測(cè)量輥棒間距離精確到0.1mm。四點(diǎn)彎曲加載輥應(yīng)對(duì)稱定位在±0.1mm以內(nèi)。應(yīng)確保兩
個(gè)輥棒受力相等。三點(diǎn)彎曲的單輥棒宜位于中心±0.2mm以內(nèi)。
5.6萬能材料試驗(yàn)機(jī),能夠在彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具中對(duì)樣品施加恒定位移速率或恒定加載速率的力,并
記錄樣品斷裂的力。測(cè)力裝置應(yīng)符合GB/T16825.1的要求,并應(yīng)具有1%的精確度。
5.7試驗(yàn)機(jī)應(yīng)具有記錄力/位移曲線的能力,應(yīng)有直接接觸樣品的引伸計(jì)系統(tǒng)。試驗(yàn)機(jī)剛度足夠時(shí),可
采用設(shè)備記錄位移。
5.8超聲波清洗機(jī),用于開槽后放入燒杯或其它含有溶劑的容器中清洗樣品。
5.9經(jīng)校準(zhǔn)的符合GB/T1216要求的千分尺,也可用游標(biāo)或電子讀數(shù)器讀出0.002mm的精度。
5.10光學(xué)顯微鏡,校準(zhǔn)后放大倍數(shù)為50倍~500倍,適用于觀察切口尖端形狀,配有攝像頭。
5.11切口測(cè)量裝置,一種經(jīng)校準(zhǔn)的測(cè)量裝置,用于測(cè)量斷裂后切口的深度,讀數(shù)精度為0.002mm。
5.12可使用測(cè)量用移動(dòng)顯微鏡,或者帶有校準(zhǔn)的步進(jìn)運(yùn)動(dòng)樣品臺(tái)的傳統(tǒng)金相顯微鏡,或者帶有校準(zhǔn)目
鏡的顯微鏡。
5.13干燥爐,用于干燥清洗后的樣品,可在120℃±5℃保溫。
5.14金剛石切割機(jī),可在一組樣品上預(yù)留不超過0.5mm深的切口,見6.3。
6樣品制備
6.1樣品數(shù)量
至少要準(zhǔn)備七個(gè)樣品用于切槽,其中五個(gè)樣品用于試驗(yàn),兩個(gè)樣品用于在切槽準(zhǔn)備過程中保護(hù)其他
樣品。
注:如果使用機(jī)器切割V型切口,不必用護(hù)邊樣品來保護(hù)一組由五個(gè)樣品組成的樣品組。
建議沒有經(jīng)驗(yàn)的操作人員先用多余的樣品進(jìn)行試驗(yàn)。
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6.2樣品尺寸
按照GB/T6569的要求,準(zhǔn)備矩形截面的長(zhǎng)條樣品。圖1所示標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的樣品形狀和主要尺寸。
注1:GB/T6569中的倒角或圓角要求對(duì)V型切口試驗(yàn)并不是必要的。
注2:其他尺寸的樣品,例如(2mm×2.5mm×25mm)可以與相應(yīng)彎曲強(qiáng)度夾具選擇性地使用。
標(biāo)引符號(hào)說明:
L——大于45mm(四點(diǎn)彎曲試驗(yàn))或大于35mm(三點(diǎn)彎曲試驗(yàn));
W——4.0mm±0.2mm;
B——3.0mm±0.2mm。
圖1按照GB/T6569要求的樣品尺寸示意圖
6.3手工準(zhǔn)制備V型切口
使用適當(dāng)粘合劑將樣品并排粘在樣品夾具上,如圖2所示。試驗(yàn)樣品和護(hù)邊樣品盡可能靠近。確保
樣品的頂部表面是水平的。在樣品的長(zhǎng)度中點(diǎn)畫一條鉛筆直線,標(biāo)明準(zhǔn)備切口的位置。當(dāng)安裝在夾具上
時(shí),應(yīng)避免使樣品彎曲。
標(biāo)引序號(hào)說明:
1——定位墊塊;
2——護(hù)邊樣品;
3——試驗(yàn)樣品;
4——導(dǎo)引金剛石鋸片開槽鉛筆劃線。
圖2夾具固定樣品示意圖
如圖3所示,把夾具安裝在金剛石切割機(jī)。沿鉛筆線切一個(gè)寬度0.5mm、深度0.5mm和長(zhǎng)度超過樣
品組的預(yù)切槽,切好后,清洗刀架、樣品,尤其是預(yù)切槽。
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a)排列在支座上的樣品b)用薄金剛石鋸片開槽
標(biāo)引符號(hào)說明:
A——樣品受力表面;
B——金剛石切割機(jī)底盤;
C——金剛石鋸片;
D——預(yù)切槽;
X——護(hù)邊樣品。
圖3預(yù)開槽示意圖
注1:金剛石鋸片的厚度應(yīng)僅比剃須刀片厚度稍大。否則,刀片尖可能滑過預(yù)開槽表面而難以形成V型切口。如果鋸
片比剃須刀片厚得多,將鋸片尖端做成V型。
將樣品夾具固定在虎鉗或其他合適的夾持工裝上。如圖4a)所示,用金剛石研磨膏填充在預(yù)切槽。
為了保護(hù)手指,應(yīng)將剃須刀片放在刀架上或使用膠帶固定(如圖4b所示)。將剃須刀片外露刀尖置
于預(yù)開槽上,輕輕施加載荷。
注2:過度用力適得其反,將導(dǎo)致刀尖快速鈍化。建議用約5N至10N的載荷。
如圖4b)所示用剃須刀片前后往復(fù)運(yùn)動(dòng)來研磨V型切口,盡可能保持刀片水平和豎直。
注3:在預(yù)開槽中滴入輕質(zhì)潤(rùn)滑油可提高刀片運(yùn)動(dòng)過程中的穩(wěn)定性。
a)在槽中填入金剛石研磨膏b)在槽中往復(fù)運(yùn)動(dòng)的剃須刀片
標(biāo)引序號(hào)說明:
1——厚膠帶起保護(hù)作用;
2——剃須刀片。
圖4預(yù)開槽中的剃須刀片
用光學(xué)顯微鏡定期檢查V型切口兩端的深度。如果可能的話,檢查樣品時(shí),建議不從夾具上取下。
如需取下樣品,還需進(jìn)一步研磨,重新固定樣品時(shí)應(yīng)將刀片插入V型切口作為導(dǎo)向。如果V型切口總深
度小于0.8mm,則需繼續(xù)研磨直至切口總深度在0.8mm至1.2mm之間。
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注4:用4μm金剛石研磨膏手工研磨,可得到約20μm的V型切口寬度。使用較細(xì)的金剛石研磨膏,例如1μm的金
剛石研磨膏,通常不會(huì)減少切口寬度。如果V型切口寬度大于30μm,建議使用新的或不同品牌的刀片。在粗晶
材料中,大顆粒在研磨過程中可能會(huì)從切口中崩出,難以獲得尖銳V型切口。
注5:不同的材料研磨切口的時(shí)間不同。通常較硬的陶瓷比較容易加工。對(duì)個(gè)試驗(yàn)樣品和2個(gè)護(hù)邊樣品的樣品組,加
工氧化鋁材料通常需要約30min,氮化硅材料需要約4h。
從夾具上取下樣品,同時(shí)避免彎曲樣品。在超聲清洗機(jī)中用丙酮清潔樣品。清洗時(shí)不要損壞樣品,
例如在超聲清洗過程中允許樣品接觸。將樣品放入120℃烘箱內(nèi)烘干至少1h。
注6:V型切口很難清洗干凈,特別是當(dāng)切口尖端半徑很小時(shí)。可采取其他方法來沖洗或刮去金剛石顆粒。
6.4用機(jī)器加工V型切口(可選)
可用機(jī)器自動(dòng)研磨V型切口。附錄A列出了機(jī)器實(shí)例及其主要要求。
注1:采用足夠剛度的機(jī)器和1μm的金剛石研磨膏,研磨晶粒尺寸約為1μm至2μm的陶瓷,切口寬度通常可小到1μm。
注2:可使用剃須刀片和中等粒度的金剛石研磨膏(通常為10μm)直接在樣品的平面上開V型切口,而不需要預(yù)切
槽。當(dāng)切口足夠深時(shí),清理切口后換新的剃須刀片和細(xì)金剛石研磨膏以研磨尖銳的V型切口。
6.5切口根部半徑的測(cè)定
從五個(gè)試驗(yàn)樣品中選擇兩個(gè)樣品進(jìn)行試驗(yàn)。用約50倍的放大倍率拍攝每個(gè)樣品一側(cè)的V型切口,如
果切口尖端在這個(gè)放大倍數(shù)下沒有分辨出來,可采用更大的放大倍數(shù)。通過拍照控制V型切口的幾何形
狀。報(bào)告任何幾何形狀偏離圖5所示的切口情況。
用約300放大倍率拍攝上述樣品的V型切口尖端。根據(jù)圖5測(cè)量V型切口的角度和寬度。報(bào)告V型切
口的角度β和寬度S。
切口寬度應(yīng)不大于試驗(yàn)材料平均晶粒尺寸的兩倍。寬度大于20μm的切口在任何試驗(yàn)材料中都是不
可接受的,不論晶粒大小。
注1:測(cè)量平均晶粒尺寸的線性截距方法參見ASTME112[8]或EN623-3[9]。
注2:測(cè)量最外層樣品的切口寬度,可連續(xù)研磨直至切口符合要求后再從夾具上移除樣品。
標(biāo)引符號(hào)說明:
a——0.8mm~1.2mm;
b——≈0.5mm;
c——剃須刀片寬,a-b>c;
β——≈30°或越小越好;
S——V型槽寬度。
圖5V型槽尺寸示意圖
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7試驗(yàn)步驟
7.1樣品尺寸
用千分尺測(cè)量每個(gè)樣品靠近切口的厚度W和寬度B(見圖1),將每個(gè)值讀取到0.002mm。
7.2彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)
將樣品3mm寬表面放置在彎曲試驗(yàn)夾具上,V型切口面置于外支撐輥上,切口在加載輥之間。如果
采用三點(diǎn)彎曲,確保切口位于加載輥正下方±0.1mm范圍內(nèi)。對(duì)樣品加載,控制斷裂時(shí)間在5s到15s之間。
注1:該斷裂時(shí)間相當(dāng)于機(jī)器位移速率為0.5mm/min。
記錄斷裂載荷(最大載荷)到三位有效數(shù)字。試驗(yàn)應(yīng)在室溫空氣中進(jìn)行。如果預(yù)計(jì)會(huì)出現(xiàn)亞臨界裂
紋擴(kuò)展,試驗(yàn)也可以在干燥的氮?dú)夥罩羞M(jìn)行。報(bào)告試驗(yàn)期間的試驗(yàn)介質(zhì)、溫度和相對(duì)濕度。
檢查載荷/位移曲線,看是否有亞臨界裂紋擴(kuò)展或裂紋突變現(xiàn)象,特別是在開始斷裂前曲線的向下
彎曲。
注2:檢測(cè)亞臨界裂紋擴(kuò)展的能力受到試驗(yàn)夾具和載荷位移系統(tǒng)剛度的影響。可使用靈敏的位移傳感器或放置在切口
對(duì)面的樣品表面上的引伸計(jì)直接測(cè)量位移。
7.3切口深度的測(cè)量
使用放大倍率50倍顯微鏡與經(jīng)校準(zhǔn)的步進(jìn)位移平臺(tái)觀察斷裂表面(見圖6)并測(cè)量V型切口深度,
讀出a1、a2和a3到三位有效數(shù)字。檢查斷裂是否始于V型切口底部的整個(gè)長(zhǎng)度,如果不是,試驗(yàn)無效。
注1:白色材料可能難以測(cè)量V型切口深度。為了突出斷裂的邊緣,可用光纖光源的掠入式照明或在斷裂前在V型切
口上涂上有色染料。
高倍放大觀察靠近切口尖端的斷裂區(qū)域,在傾斜角度或掠入照明下進(jìn)行觀察。如果可以看到裂紋從
切口根部擴(kuò)展起來的狹窄區(qū)域(圖6中的3),或者裂紋在快速斷裂之前亞臨界擴(kuò)展的區(qū)域,確定這個(gè)區(qū)
域的寬度δa1、δa2、δa3,在圖6所示的三個(gè)位置,并將這些數(shù)值分別加到切口長(zhǎng)度a1、a2和a3上。
注2:不可能在所有試驗(yàn)材料上都清楚地看到初始裂紋擴(kuò)展區(qū)域。
標(biāo)引序號(hào)說明:
1——斷裂表面;
2——V型槽表面;
3——寬度為δa的臨界裂紋擴(kuò)展區(qū)域。
圖6V型槽尺寸示意圖
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7.4計(jì)算斷裂韌性
利用公式(1)計(jì)算V型切口的平均深度。根據(jù)公式(3)計(jì)算平均相對(duì)V型切口深度α,其應(yīng)介于0.2
和0.3之間,并滿足公式(2)。
.....................................................................(1)
.......................................................................(2)
?=(?1+?2+?3)/3
................................................................................(3)
???????/?≤0.1
對(duì)于四點(diǎn)彎曲,使用公式(4)和(5)(參見GB/T23806)計(jì)算斷裂韌性KIC,SEVNB:
?=?/?
..........................................................(4)
??1??23?
1.5?
?IC,SEVNB=?????21????
3.490.681.352(1)
Y*1.98871.326....................................(5)
12
對(duì)于使用40mm跨距的三點(diǎn)彎曲樣品(即S1/w=10),使用公式(6)和(7)(引自GB/T23806)
計(jì)算斷裂韌性KIC,SEVNB:
................................................................(6)
??13??
?IC,SEVNB=?????2??......................(7)
?2345
對(duì)于使用30mm跨距的三點(diǎn)彎曲樣品(即S1/w=7,5),使用方程式(6)和(8)(參見GB/T23806)
?=1.9472?5.0247?+11.8954??18.0635?+14.5986??4.6896?
計(jì)算斷裂韌性KIC,SEVNB:
.....................................(8)
式中:?234
?=1.964?2.837?+13.7714??23.250?+24.129?
1/2
KIC,SEVNB——為SEVNB法測(cè)得的斷裂韌性,單位為兆帕每米的0.5次方(MPa·m);
F——為斷裂載荷,單位為兆牛(MN);
B——為樣品寬度,單位為米(m);
W——為樣品厚度,單位為米(m);
S1——為支撐跨距,單位為米(m);
S2——為加載跨距S1>S2,單位為米(m);
a——為V型切口平均深度,單位為米(m);
amax——是a1、a2和a3的最大值,單位為米(m);
amin——是a1、a2和a3的最小值,單位為米(m);
α——V型切口的相對(duì)深度;
Y*——是應(yīng)力強(qiáng)度形狀因子。
注1:上述計(jì)算對(duì)于0.35<a/W<0.6和指定的S1/W值有效。
[6]
ASTMC1421為其他S1/W值提供了替代方程。
所有計(jì)算采用三位有效數(shù)字。計(jì)算KIC,SEVNB的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差,將結(jié)果四舍五入到小數(shù)點(diǎn)后兩位。
注2:四點(diǎn)彎曲公式KIC,SEVNB計(jì)算可用下列值進(jìn)行檢查:
-6-3-3-3-3-3
F=100×10MN,B=3×10m,W=4×10m,a=10m,S1=40×10m,S2=20×10m。結(jié)果:KIC,SEVNB=3.80
MPa·m1/2。
注3:上述分析假定,在快速斷裂點(diǎn),從切口端開始的裂紋長(zhǎng)度大于切口根部寬度S。如果裂紋長(zhǎng)度明顯小于這個(gè)值,
那么斷裂韌性值就被高估了,還需要額外修正(見附錄C)。
8精度和偏差
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附錄B所示的國際比對(duì)試驗(yàn)結(jié)果所示,對(duì)于粒徑大于1μm的材料,四點(diǎn)彎曲樣品的試驗(yàn)結(jié)果的變異
系數(shù)通常小于10%,其平均值與其他類似材料的試驗(yàn)結(jié)果相當(dāng)。對(duì)于具有較細(xì)晶粒尺寸的材料,結(jié)果依
賴于切口尖端部半徑,可能會(huì)比尖銳裂紋得到的真實(shí)結(jié)果更高。
該方法假定裂紋在切口尖端開始擴(kuò)展,切口長(zhǎng)度等于尖銳裂紋長(zhǎng)度。在實(shí)踐中,尖銳的裂紋可能是
連續(xù)損傷的累積,真實(shí)的臨界裂紋長(zhǎng)度可能略長(zhǎng)于測(cè)量切口長(zhǎng)度,導(dǎo)致低估韌性幾個(gè)百分點(diǎn)。對(duì)靠近切
口處的裂紋表面進(jìn)行近距離觀察,可以確定臨界起始過程,并可以對(duì)裂紋長(zhǎng)度測(cè)量值進(jìn)行修正(見圖6
和附錄C)。氧化物材料在正常濕度的空氣中試驗(yàn)時(shí),最有可能觀察到亞臨界效應(yīng)。
9試驗(yàn)報(bào)告
試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含以下內(nèi)容:
a)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的名稱和地址;
b)試驗(yàn)日期、報(bào)告和每頁的唯一標(biāo)識(shí)、客戶名稱和地址以及報(bào)告的授權(quán)簽字人;
c)引用的本文件名稱;
d)試驗(yàn)材料信息,批次代碼和制造日期等,機(jī)加工、倒角或修圓的詳細(xì)步驟;
e)說明用以制備V型切口的方法、切口的深度及切口根部的寬度,包括照片;
f)強(qiáng)度試驗(yàn)夾具的描述,是三點(diǎn)彎曲還是四點(diǎn)彎曲,以及斷裂試驗(yàn)程序的細(xì)節(jié);
g)斷裂后切口長(zhǎng)度的測(cè)量值,觀察的斷裂前明顯亞臨界裂紋擴(kuò)展(從柔度變化或斷口分析證據(jù));
h)每個(gè)試驗(yàn)的斷裂韌性計(jì)算值、最少五個(gè)有效試驗(yàn)的平均值,以及標(biāo)準(zhǔn)差;
i)是否因切口根部效應(yīng)或穩(wěn)定裂紋擴(kuò)展而對(duì)斷裂韌性計(jì)算做出任何修正(見附錄C);
j)與本文件規(guī)定的試驗(yàn)條件有任何必要偏離的詳細(xì)情況。由于樣品的形狀或大小,或切口的準(zhǔn)備
方法。
8
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AA
附錄A
(資料性)
用機(jī)器研磨V型槽
使用小型機(jī)器對(duì)刀片或樣品進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng),大大簡(jiǎn)化了切口研磨過程。圖A.1顯示了這種機(jī)器的一
個(gè)例子,在這種機(jī)器中,一個(gè)小電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)一個(gè)曲軸連接到一個(gè)直線滑桿上,試驗(yàn)樣品固定在上面。剃
須刀片夾在垂直滑塊的末端,滑塊上有一個(gè)小小的8字。百分表接觸頂部的滑動(dòng)軸,指示切進(jìn)深度。應(yīng)
該注意的是,百分表給出了切口深度和刀片磨損的和。切口深度需要用顯微鏡來檢查。另一種配置是剃
須刀片往復(fù)運(yùn)動(dòng)而樣品固定。
無論采用何種配置,機(jī)器運(yùn)動(dòng)需具有以下關(guān)鍵特性:
a)剃須刀片必須與機(jī)器運(yùn)動(dòng)方向精準(zhǔn)對(duì)齊,否則會(huì)在切口處粘連,刀片邊緣應(yīng)與運(yùn)動(dòng)方向平行,
以確保磨損均勻,研磨深度均勻;
b)剃須刀片更換時(shí)必須精確定位,以對(duì)準(zhǔn)研磨切口;
c)往復(fù)運(yùn)動(dòng)必須有足夠的橫向剛性,以避免錯(cuò)位和扭曲;
d)樣品夾具應(yīng)精確地固定在機(jī)器底座上,如拆下后檢查完樣品,可容易地固定在同一位置。
在操作過程中,每隔10min需要潤(rùn)滑刀片并刷一次新金剛石磨料。
使用這樣的機(jī)器,可直接使用剃須刀片獲得滿意的切口而不用預(yù)開槽。
a)簡(jiǎn)單的樣品往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)器b)剃須刀片和樣品夾具放大示意圖
圖A.1簡(jiǎn)單的樣品往復(fù)運(yùn)動(dòng)機(jī)器及剃須刀片和樣品夾具示意圖
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BB
附錄B
(資料性)
SEVNB斷裂韌性試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室比對(duì)結(jié)果
有31個(gè)實(shí)驗(yàn)室參與了歐洲結(jié)構(gòu)完整性學(xué)會(huì)/新材料與標(biāo)準(zhǔn)凡爾賽計(jì)劃(VAMAS)的SEVNB斷裂韌
性試驗(yàn)方法比對(duì)試驗(yàn)。表B.1列出了四種塊體精細(xì)陶瓷樣品的信息,它們均具有大于1μm的平均晶?;?/p>
顯微結(jié)構(gòu)特征尺寸。
表B.1樣品工藝參數(shù)和材料特性
參數(shù)998氧化鋁999氧化鋁氣壓氮化硅GPSSN反應(yīng)燒結(jié)碳化硅SSIC
粉體純度>99.8%>99.8%BayerN3208
成型/燒結(jié)/熱等處理冷等靜壓a/空氣冷等靜壓/空氣氣壓氣壓熱等靜壓b
晶粒尺寸>10μm≈1.7μm<1μm,長(zhǎng)柱狀晶7μm
密度3.86g/cm33.97g/cm33.23g/cm33.15g/cm3
強(qiáng)度342MPac350MPac>920MPac
a冷等靜壓
b熱壓
c四點(diǎn)彎曲
這些陶瓷材料在這種試驗(yàn)方法的應(yīng)用時(shí)有不同難度。氧化鋁-998的試驗(yàn)結(jié)果非常一致。28個(gè)實(shí)驗(yàn)室
的135個(gè)B尺寸有效四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)的斷裂韌性為3.57±0.22MPa·m1/2(平均值和標(biāo)準(zhǔn)差)。氧化鋁-999的
試驗(yàn)結(jié)果比較一致。21個(gè)實(shí)驗(yàn)室102個(gè)有效試驗(yàn)的斷裂韌性為3.74±0.40MPa·m1/2。GPSSN的試驗(yàn)結(jié)果一
致。27個(gè)實(shí)驗(yàn)室129個(gè)有效試驗(yàn)的斷裂韌性為5.36±0.34MPa·m1/2。SSiC的試驗(yàn)結(jié)果非常一致。12個(gè)實(shí)驗(yàn)
室56個(gè)有效試驗(yàn)的斷裂韌性2.61±0.18MPa·m1/2。
對(duì)釔穩(wěn)定四方相氧化鋯多晶材料(Y-TZP)也進(jìn)行了少量的試驗(yàn)。結(jié)果清楚地表明了切口根部半徑
的依賴性,所有結(jié)果都給出了比彎曲表面裂紋法(SCF)更高的韌性值。沒有一個(gè)實(shí)驗(yàn)室能夠獲得足夠
小的切口根半徑。因此,SEVNB方法不推薦適用于這種材料。
使用了ISO5725-2[2]分析了SEVNB斷裂韌性測(cè)量方法比對(duì)試驗(yàn)的重復(fù)性(實(shí)驗(yàn)室內(nèi))和再現(xiàn)性(實(shí)
驗(yàn)室之間)。統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果見表B.2,并與參考文獻(xiàn)[3]中使用的早期VAMAS比對(duì)試驗(yàn)的結(jié)果進(jìn)行了比
較。SCF方法的精密度和偏差是依照ASTME691[4]的相同的方式計(jì)算出來的。(注意在ISO5725-2中,異常值的
標(biāo)準(zhǔn)是1%,而在ASTME691中是0.5%。)
這種方法對(duì)少量樣品的適用性見參考文獻(xiàn)[5]。
[1][3]
表B.2SEVNB法結(jié)果的變異系數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差的重復(fù)性和再現(xiàn)性與SCF法測(cè)熱壓Si3N4結(jié)果對(duì)比
實(shí)驗(yàn)室間重實(shí)驗(yàn)室內(nèi)再
參加試驗(yàn)單
材料方法樣品數(shù)復(fù)性變異系數(shù)現(xiàn)性變異系數(shù)
位數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差
998氧化鋁SEVNB281350.174.60.226.1
999氧化鋁SEVNB211020.236.20.410.7
GPSSNSEVNB271290.285.30.346.3
SSiCSEVNB12560.124.50.186.8
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熱壓氮化硅SCF191020.245.40.316.8
熱等靜壓氮
SCF151000.387.70.458.9
化硅
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CC
附錄C
(資料性)
有效裂紋長(zhǎng)度大于切口深度的修正
本文件在數(shù)學(xué)分析中假定有效裂紋長(zhǎng)度等于切口深度。實(shí)際上,一個(gè)尖銳的裂紋必須從切口尖端的
研磨損傷中產(chǎn)生(即亞臨界狀態(tài)或“崩入”)才會(huì)發(fā)生斷裂,因此,施加在樣品上峰值力對(duì)應(yīng)的真實(shí)裂紋
長(zhǎng)度很可能比從切口深度估計(jì)的要長(zhǎng),從而低估了真實(shí)的斷裂韌性。
通過檢測(cè)樣品在峰值力達(dá)到之前的力位移曲線的非線性來判斷斷裂前亞臨界裂紋擴(kuò)展的存在。切口
以下裂紋狀缺陷的亞臨界擴(kuò)展程度,要么直接測(cè)量,例如通過斷口觀察,要么推定晶粒尺寸為缺陷尺度。
為了提供一個(gè)更好的估計(jì)斷裂韌性方法,可遵循參考文獻(xiàn)[6]的分析。文獻(xiàn)[6]假定裂紋在切口根部和
失穩(wěn)擴(kuò)展位置之間擴(kuò)展時(shí)沒有R曲線行為,如果對(duì)于平面裂紋或半橢圓裂紋δa/R≥1.5,其中δa是從切口
尖端開始的裂紋長(zhǎng)度,R是切口根部半徑,那么用擴(kuò)展裂紋長(zhǎng)度(即a0+δa)計(jì)算的韌性與真實(shí)韌性之間
的差別可以忽略不計(jì)。在這種情況下,用切口深度計(jì)算的標(biāo)稱(nominal)斷裂韌性可以用下面的公式
(C.1)修正:
.................................(C.1)
其中F=Y*(三?點(diǎn)彎曲)或Y*/(1-α)1.5(四點(diǎn)彎曲)。如果用斷口分析方法可以測(cè)量裂紋的長(zhǎng)度,則該
?IC,SEVNB≈?IC,SEVNB1+??/?0??0+??/?/??0/?
表達(dá)式可以有效地應(yīng)用于δa/R≥1.5。
如果δa/R<1.5,即裂紋尖端應(yīng)力強(qiáng)烈地受到切口半徑的影響,那么采用上述方法減小δa或增大R
會(huì)有增大的誤差。對(duì)于切口后是直裂紋,一個(gè)改進(jìn)的近似公式(C.2)為:
.................................................(C.2)
對(duì)于切口后是半橢圓裂紋??,利用公式?(C.3):
?IC,SEVNB=?IC,SEVNB????2.243??/?
...........................................(C.3)
式中:???
?IC,SEVNB=?IC,SEVNB????2.243???/???/?
...................................................
(C.4)
???/?=0.6667+0.1781?????1.64??/?
在斷口分析法無法確定明顯的裂紋擴(kuò)展區(qū)域的情況下,Damani等人[10]建議假設(shè)至少有一個(gè)晶粒長(zhǎng)
度應(yīng)該被計(jì)算在擴(kuò)展內(nèi)。對(duì)于細(xì)顆粒材料,這種修正可能微不足道,但對(duì)于粗顆粒材料,這可能是非常
重要的。本文件使用者最終采取的方案應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中報(bào)告。
12
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參?考?文?獻(xiàn)
[1]KüBLER,J.,(1999).FracturetoughnessofceramicsusingtheSEVNBmethod:roundrobin,VAMASReport
No.37(ISSN1016-2186)andESISDocumentD2-99,EMPA-Dübendorf,Switzerland,1998
[2]ISO5725-2:1994,Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults—Part2:Basic
methodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasurementmethod
[3]QUINN,G.,GETTINGS,R.andKüBLER,J.(1996).Fractographyandthesurfacecrackinflexure(SCF)method
forevaluatingfracturetoughnessofceramics,in:FractographyofGlassesandCeramicsIII:Ceramic
Transactions,64,editedbyVarner,J.R.,Fréchette,V.C.andQuinn,G.D.,Amer.Ceram.Soc.,Westerville,
USA,pp.107-44
[4]ASTME691StandardPracticeforConductinganInterlaboratoryStudytoDeterminethePrecisionofaTest
Method
[5]KUEBLER,J.,FractureToughnessofCeramicsusingtheSEVNBMethod:FromaPreliminaryStudytoa
StandardTestMethod,FractureResistanceTestingofMonolithicandCompositeBrittleMaterials,ASTM
STP1409,J.A.Salem,M.G.Jenkins,andG.D.Quinn,eds.AmericanSocietyforTestingandMaterials,West
Conshohocken,PA,2001
[6]ASTMC1421-99,StandardTestMethodsforDeterminationofFractureToughnessofAdvancedCeramicsat
AmbientTemperatures
[7]FETT,T.,Influenceofafinitenotchrootradiusonfracturetoughness,J.Eur.Ceram.Soc.,25,2005,pp.
543-547
[8]ASTME112,StandardTestMethodsforDeterminingAverageGrainSize
[9]EN623-3,Advancedtechnicalceramics—Monolithicceramics—Generalandtexturalproperties—Part3:
Determinationofgrainsizeandsizedistribution(characterizedbythelinearinterceptmethod)
[10]DAMANI,R.J.,SCHUSTER,C.andDANZER,R.PolishednotchmodificationofSENB-Sfracturetoughness
testing,J.Eur.Ceram.Soc.,17(14),1997,pp.1685-9
[11]LeBac,VerfahrenzumFeinkerbenvonkeramischenK?rpern,Patent146416,GermanDemocraticRepublic
1979-81
[12]NISHIDA,T.,HANAKI,Y.andPEZZOTTI,G.Effectofnotch-rootradiusonthefracturetoughnessofa
fine-grainedalumina,J.Am.Ceram.Soc.,77[2],1994,pp.606-8
[13]AWAJI,H.andSAKAIDA,Y.V-notchtechniqueforsingleedgenotchedbeamandchevronnotchmethods,J.
Am.Ceram.Soc.,76[11],1990,pp.3522-5
[14]ISO18756:2003,Fineceramics(advancedceramics,advancedtechnicalceramics)—Determinationof
fracturetoughnessofmonolithicceramicsatroomtemperaturebythesurfacecrackinflexure(SCF)method
ISO24370:2005,Fineceramics(advancedceramics,advancedtechnicalceramics)—Testmethodfor
fracturetoughnessofmonolithicceramicsatroomtemperaturebychevron-notchedbeam(CNB)method。
______________________________
13
GB/TXXXXX—XXXX
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定
起草。
本文件修改采用ISO23146:2012《精細(xì)陶瓷(先進(jìn)陶瓷、先進(jìn)技術(shù)陶瓷)單片陶瓷斷裂韌度的
試驗(yàn)方法單邊V形切口束(SEVNB)法》。
本文件做出下列編輯性改動(dòng)及其技術(shù)性差異:
——為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào),將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法單邊V型切口梁法》;
——為適應(yīng)我國的技術(shù)條件,第2章規(guī)范性引用文件中的ISO3611、ISO7500-1、ISO14704、ISO
15732分別由GB/T1216、GB/T16825.1、GB/T6569、GB/T23806替代。
本文件由中國建筑材料聯(lián)合會(huì)提出。
本文件由全國工業(yè)陶瓷標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC194)歸口。
本文件起草單位:中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所等。
本文件主要起草人:王新剛,蔣丹宇等。
I
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精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法單邊V型切口梁法
1范圍
本文件規(guī)定了精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法,采用單邊V型切口梁在四點(diǎn)彎曲模式下加載直致破壞。
本方法適用于晶粒尺寸或主要微觀特征結(jié)構(gòu)尺寸大于1μm的塊體陶瓷。
本文件不推薦用于釔穩(wěn)定四方相氧化鋯多晶材料(Y-TZP)。這種方法也可能不適用于V型切口的
根部不會(huì)形成尖銳裂紋的其他高韌性或“軟”陶瓷。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T1216外徑千分尺
GB/T6569精細(xì)陶瓷彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)方法(GB/T6569—2006,ISO14704:2000,MOD)
GB/T16825.1靜力單軸試驗(yàn)機(jī)的檢驗(yàn)第1部分:拉力和(或)壓力試驗(yàn)機(jī)測(cè)力系統(tǒng)的檢驗(yàn)與校準(zhǔn)
(GB/T16825.1—2008,ISO7500-1:2004,IDT)
GB/T23806精細(xì)陶瓷斷裂韌性試驗(yàn)方法單邊預(yù)裂紋梁(SEPB)法(GB/T23806—2009,ISO
15732:2003,MOD)
3術(shù)語和定義
GB/T23806界定的術(shù)語和定義適用于本文件。
4原理
本文件規(guī)定的斷裂韌性試驗(yàn)方法是基于切口尖端尖銳的長(zhǎng)條樣品的斷裂試驗(yàn)。使用手工方法或簡(jiǎn)易
的機(jī)器,通過結(jié)合金剛石研磨膏的剃須刀片往復(fù)運(yùn)動(dòng),在樣品中磨出一個(gè)窄的切口??刂魄锌谥苽錀l件,
根據(jù)試驗(yàn)材料的晶粒尺寸不同,制備切口尖端的半徑為(1~20)μm。對(duì)于許多材料來說,這非常接近
一個(gè)尖銳裂紋,如果切口根部在制備過程中或在隨后的斷裂過程中形成尖銳的裂紋,這種方法的試驗(yàn)結(jié)
果和單邊預(yù)裂梁法(GB/T23806)或表面裂紋彎曲法(ISO18756)[14]非常接近。與尖端半徑通常大
于50μm的金剛石尖鋸片或表面鑲金剛石的線鋸相比,該方法具有切口制作簡(jiǎn)單的優(yōu)點(diǎn)。與其他預(yù)裂紋
方法相比,本方法更易操作,也被廣泛應(yīng)用于本標(biāo)準(zhǔn)適用范圍之外的材料。
這種方法已經(jīng)過廣泛的研究(見參考文獻(xiàn)),并經(jīng)過歐洲結(jié)構(gòu)完整性學(xué)會(huì)/新材料與標(biāo)準(zhǔn)凡爾賽計(jì)
劃(VAMAS)的比對(duì)試驗(yàn),其結(jié)果見附錄B。
對(duì)于晶粒尺寸小于1μm的材料,本方法有一定局限性,因?yàn)榍锌诮朴诩怃J裂紋的假設(shè)可能不成立
(見附錄C)。使用者應(yīng)盡量減少樣品的切口根部半徑。本文件暫定切口根部半徑應(yīng)小于等于被測(cè)材料
平均晶粒尺寸的兩倍。
1
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5裝置
5.1普通剃須刀刀片,沿一邊有支撐結(jié)構(gòu),也可以插入合適的刀架中。
注1:剃須刀刀片薄于0.2mm,用兩個(gè)鋼板用螺釘固定或粘合夾持,只留下邊緣約2mm的刃口以保持剛度。理想的剃
須刀刀片的刀尖角度為30°或更小。
注2:雖然完全可以用手工加工切口,但是使用一個(gè)簡(jiǎn)單的裝置固定樣品,再用涂有金剛石膏的剃須刀片在樣品上作往
復(fù)運(yùn)動(dòng),可使剃須刀片的加載可控和方向穩(wěn)定,從而產(chǎn)生更鋒利的切口。示例見附錄A。
5.2金相用金剛石膏,混合在粘性有機(jī)載體中,晶粒細(xì)小,通常為1μm至3μm。
5.3潤(rùn)滑劑,剃須刀刀片用的輕質(zhì)潤(rùn)滑油。
5.4樣品夾具,由一個(gè)平板或其他合適的裝置組成,用于在切口研磨過程中固定樣品。
5.5彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具,按照GB/T6569要求的四點(diǎn)彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具或者三點(diǎn)彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具。
使用三點(diǎn)彎曲夾具時(shí),應(yīng)保證V型切口與中心加載輥對(duì)齊。
樣品放置在兩個(gè)垂直于其長(zhǎng)軸的支撐點(diǎn)上。外支承點(diǎn)宜為直徑5.0mm±0.2mm的平行輥棒,并且能
夠在同平面向外滾動(dòng)。其中一個(gè)輥棒應(yīng)能圍繞與樣品長(zhǎng)度平行的軸旋轉(zhuǎn)以使扭轉(zhuǎn)載荷降到最低。兩個(gè)輥
棒間距為40.0mm±0.5mm(四點(diǎn)彎曲)或30mm±0.5mm(三點(diǎn)彎曲),軸線平行度公差小于1°。測(cè)量輥
棒中心距離,精確到0.1mm。輥棒宜用硬化鋼或其他硬質(zhì)材料制成,硬度大于40HRC(洛氏硬度C級(jí))。
輥棒表面光滑無毛刺,粗糙度小于0.5μmRa,直徑公差±0.02mm。
對(duì)于四點(diǎn)彎曲,兩個(gè)加載輥位于1/4點(diǎn)(或1/3點(diǎn)),內(nèi)跨為20mm±0.2mm(或10mm±0.2mm為1/3
點(diǎn)彎曲),可自由向內(nèi)滾動(dòng)。輥棒可以圍繞與樣品長(zhǎng)軸平行的軸線方向轉(zhuǎn)動(dòng)以校直。對(duì)于三點(diǎn)彎曲,棍
棒不需要旋轉(zhuǎn),應(yīng)位于外支承輥之間的中心位置。使用移動(dòng)顯微鏡或其他合適的裝置沿樣品長(zhǎng)度方向并
垂直于加載方向測(cè)量輥棒間距離精確到0.1mm。四點(diǎn)彎曲加載輥應(yīng)對(duì)稱定位在±0.1mm以內(nèi)。應(yīng)確保兩
個(gè)輥棒受力相等。三點(diǎn)彎曲的單輥棒宜位于中心±0.2mm以內(nèi)。
5.6萬能材料試驗(yàn)機(jī),能夠在彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)夾具中對(duì)樣品施加恒定位移速率或恒定加載速率的力,并
記錄樣品斷裂的力。測(cè)力裝置應(yīng)符合GB/T16825.1的要求,并應(yīng)具有1%的精確度。
5.7試驗(yàn)機(jī)應(yīng)具有記錄力/位移曲線的能力,應(yīng)有直接接觸樣品的引伸計(jì)系統(tǒng)。試驗(yàn)機(jī)剛度足夠時(shí),可
采用設(shè)備記錄位移。
5.8超聲波清洗機(jī),用于開槽后放入燒杯或其它含有溶劑的容器中清洗樣品。
5.9經(jīng)校準(zhǔn)的符合GB/T1216要求的千分尺,也可用游標(biāo)或電子讀數(shù)器讀出0.002mm的精度。
5.10光學(xué)顯微鏡,校準(zhǔn)后放大倍數(shù)為50倍~500倍,適用于觀察切口尖端形狀,配有攝像頭。
5.11切口測(cè)量裝置,一種經(jīng)校準(zhǔn)的測(cè)量裝置,用于測(cè)量斷裂后切口的深度,讀數(shù)精度為0.002mm。
5.12可使用測(cè)量用移動(dòng)顯微鏡,或者帶有校準(zhǔn)的步進(jìn)運(yùn)動(dòng)樣品臺(tái)的傳統(tǒng)金相顯微鏡,或者帶有校準(zhǔn)目
鏡的顯微鏡。
5.13干燥爐,用于干燥清洗后的樣品,可在120℃±5℃保溫。
5.14金剛石切割機(jī),可在一組樣品上預(yù)留不超過0.5mm深的切口,見6.3。
6樣品制備
6.1樣品數(shù)量
至少要準(zhǔn)備七個(gè)樣品用于切槽,其中五個(gè)樣品用于試驗(yàn),兩個(gè)樣品用于在切槽準(zhǔn)備過程中保護(hù)其他
樣品。
注:如果使用機(jī)器切割V型切口,不必用護(hù)邊樣品來保護(hù)一組由五個(gè)樣品組成的樣品組。
建議沒有經(jīng)驗(yàn)的操作人員先用多余的樣品進(jìn)行試驗(yàn)。
2
GB/TXXXXX—XXXX
6.2樣品尺寸
按照GB/T6569的要求,準(zhǔn)備矩形截面的長(zhǎng)條樣品。圖1所示標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的樣品形狀和主要尺寸。
注1:GB/T6569中的倒角或圓角要求對(duì)V型切口試驗(yàn)并不是必要的。
注2:其他尺寸的樣品,例如(2mm×2.5mm×25mm)可以與相應(yīng)彎曲強(qiáng)度夾具選擇性地使用。
標(biāo)引符號(hào)說明:
L——大于45mm(四點(diǎn)彎曲試驗(yàn))或大于35mm(三點(diǎn)彎曲試驗(yàn));
W——4.0mm±0.2mm;
B——3.0mm±0.2mm。
圖1按照GB/T6569要求的樣品尺寸示意圖
6.3手工準(zhǔn)制備V型切口
使用適當(dāng)粘合劑將樣品并排粘在樣品夾具上,如圖2所示。試驗(yàn)樣品和護(hù)邊樣品盡可能靠近。確保
樣品的頂部表面是水平的。在樣品的長(zhǎng)度中點(diǎn)畫一條鉛筆直線,標(biāo)明準(zhǔn)備切口的位置。當(dāng)安裝在夾具上
時(shí),應(yīng)避免使樣品彎曲。
標(biāo)引序號(hào)說明:
1——定位墊塊;
2——護(hù)邊樣品;
3——試驗(yàn)樣品;
4——導(dǎo)引金剛石鋸片開槽鉛筆劃線。
圖2夾具固定樣品示意圖
如圖3所示,把夾具安裝在金剛石切割機(jī)。沿鉛筆線切一個(gè)寬度0.5mm、深度0.5mm和長(zhǎng)度超過樣
品組的預(yù)切槽,切好后,清洗刀架、樣品,尤其是預(yù)切槽。
3
GB/TXXXXX—XXXX
a)排列在支座上的樣品b)用薄金剛石鋸片開槽
標(biāo)引符號(hào)說
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