材料研究與測(cè)試方法學(xué)習(xí)通超星期末考試答案章節(jié)答案2024年

材料研究與測(cè)試方法學(xué)習(xí)通超星期末考試章節(jié)答案2024年掃描電鏡與電子探針結(jié)合可實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣的（）

答案:

成分和形貌的綜合分析電子探針對(duì)試樣（）

答案:既能定性分析，又能定量分析STEM用電子束在樣品表面掃描進(jìn)行微觀形貌分析時(shí)，探測(cè)器置于（）

答案:試樣下方，接受透射電子束流熒光成像高角環(huán)形暗場(chǎng)像的像襯度是（）

答案:原子序數(shù)襯度像（或Z襯度像）能譜儀是通過(guò)

對(duì)不同能量的特征X射線(xiàn)進(jìn)行展譜的。（）

答案:Si(Li)半導(dǎo)體波譜儀是通過(guò)

對(duì)不同波長(zhǎng)的特征X射線(xiàn)進(jìn)行展譜的。（）

答案:分光晶體約翰遜（Johannson）分光晶體不可完全聚焦，曲率半徑為聚焦圓半徑的（）

答案:2倍約翰遜（Johannson）分光晶體可完全聚焦，曲率半徑為聚焦圓半徑的（）

答案:1倍電子探針?lè)治隹煞治鑫^(qū)的（）

答案:成分電子探針?lè)治鲇玫奈锢硇盘?hào)是電子束作用樣品后產(chǎn)生的（）

答案:特征X射線(xiàn)差熱分析法的英文縮寫(xiě)為（）

答案:DTA微商熱重分析法的英文縮寫(xiě)為

答案:DTA差示掃描量熱法的英文縮寫(xiě)為（）

答案:DSC粉狀試樣相比于塊狀試樣（）

答案:導(dǎo)熱性能下降，反應(yīng)過(guò)程延長(zhǎng)，峰寬增大，峰高下降粉末試樣的粒度愈大，導(dǎo)致（）

答案:

熱效應(yīng)后移粉狀試樣相對(duì)于塊狀試樣（）

答案:具有比表面積大，活性強(qiáng)、反應(yīng)提前的特性粉末試樣的粒度愈小，比表面積愈大，活性愈強(qiáng)，導(dǎo)致（）

答案:反應(yīng)的起始溫度降低試樣用量大時(shí)，（）

答案:能使峰形變寬并向高溫漂移試樣用量少時(shí)（）

答案:相鄰峰分離能力增強(qiáng)、分辨率提高，但DSC的靈敏度會(huì)有所降低降低升溫速率，可能會(huì)使熱效應(yīng)峰

答案:分裂成多峰為防護(hù)X射線(xiàn)一般采用（）

答案:重金屬Pb如果采用Cu(Z=29)靶X光照相，錯(cuò)用了Fe(Z=26)濾片，會(huì)產(chǎn)生（）

答案:特征λkα被大量吸收，而λkβ未被大量吸收，使衍射強(qiáng)度急劇下降X射線(xiàn)的折射率≈1，意味著（）

答案:在穿越不停媒質(zhì)時(shí)，方向幾乎不變。電場(chǎng)和磁場(chǎng)均不能改變其傳播方向反沖電子是指（）

答案:束縛較松的外層電子或者自由電子吸收了部分X射線(xiàn)（光量子）的能量而產(chǎn)生的，使X射線(xiàn)的能量降低，波長(zhǎng)增加。光電子是指（）

答案:X射線(xiàn)（光量子）作用物質(zhì)后，激發(fā)束縛緊的內(nèi)層電子使之成為自由電子，具有特征能量。電子束碰撞靶材產(chǎn)生特征X射線(xiàn)取決于（）

答案:管壓UX射線(xiàn)的強(qiáng)度是指（）

答案:單位面積上通過(guò)X光子的總能量X射線(xiàn)具有波粒二象性是指（）

答案:在一定條件下表現(xiàn)為波動(dòng)性，而在另一條件下又表現(xiàn)為粒子性X射線(xiàn)不具有以下性質(zhì)（）

答案:可見(jiàn)性X射線(xiàn)是一種電磁波，波長(zhǎng)范圍在（）

答案:0.001~10nm選濾片的依據(jù)是讓靶材產(chǎn)生的λkα、λkβ特征X射線(xiàn)盡可能（）

答案:保留λkα、過(guò)濾λkβ選靶材的依據(jù)是（）

答案:產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)作用試樣后不被試樣大量吸收同一物質(zhì)而言，存在以下關(guān)系（）

答案:

λk質(zhì)量吸收系數(shù)和線(xiàn)吸收系數(shù)相比（）

答案:前者考慮物質(zhì)密度，從而更能反映單位質(zhì)量物質(zhì)對(duì)X射線(xiàn)吸收的能力和本質(zhì)X射線(xiàn)作用物質(zhì)產(chǎn)生光電效應(yīng)后，熒光效應(yīng)和俄歇效應(yīng)（）

答案:均能產(chǎn)生，只是兩者的概率不同而已光電效應(yīng)是指（）

答案:入射X射線(xiàn)（入射光子）激發(fā)原子產(chǎn)生特征輻射的過(guò)程激發(fā)限波長(zhǎng)λk是（）

答案:使K層電子離開(kāi)形成空位，產(chǎn)生K激發(fā)態(tài)所需最小能量對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)，與物質(zhì)一一對(duì)應(yīng)的常數(shù)X射線(xiàn)與物質(zhì)發(fā)生相關(guān)散射后，其波長(zhǎng)將會(huì)（）

答案:不變X射線(xiàn)與物質(zhì)發(fā)生非相干散射后，其波長(zhǎng)將會(huì)（）

答案:增加光譜分析的基礎(chǔ)是（）

答案:特征X射線(xiàn)，莫塞萊公式反射球的直徑為（）

答案:2/λ衍射錐的錐頂角為（）

答案:4θ粉末法中的當(dāng)晶體尺寸粗化時(shí)，倒易球球面的致密性（）

答案:減小甚至成漏球采用單色X射線(xiàn)照射多晶體以獲得多晶體衍射花樣的方法是（）

答案:粉末法采用連續(xù)X射線(xiàn)照射不動(dòng)的單晶體以獲得衍射花樣的方法是（）

答案:勞埃法已知晶面間距的分光晶體來(lái)衍射從晶體中發(fā)出來(lái)的特征X射線(xiàn)，通過(guò)測(cè)定衍射角求得對(duì)應(yīng)的晶面間距，獲得晶體（）

答案:成分信息已知波長(zhǎng)的X射線(xiàn)照射晶體，由測(cè)量得到的衍射角求得對(duì)應(yīng)的晶面間距，獲得晶體（）

答案:結(jié)構(gòu)信息厄瓦爾德球山的倒易陣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的晶面（hkl）（）

答案:滿(mǎn)足布拉格方程/star3/origin/8dbaa97ea68f1aa5163fa664d89d930b.png

答案:對(duì)/star3/origin/114e823510653c142395273ac10b690b.png

答案:錯(cuò)原子核有Z個(gè)電子，受核束縛較緊，且集中于一點(diǎn)，單個(gè)原子對(duì)X射線(xiàn)的散射強(qiáng)度為單個(gè)電子的散射強(qiáng)度的Z倍

答案:錯(cuò)原子中不能對(duì)X射線(xiàn)產(chǎn)生散射作用的是中子。

答案:對(duì)帶電質(zhì)子受破振動(dòng)，質(zhì)子的散射強(qiáng)度為電子1836倍。

答案:錯(cuò)單電子對(duì)非偏振入射X射線(xiàn)的散射強(qiáng)度（）

答案:具有偏振性X射線(xiàn)作用原子產(chǎn)生反沖電子，出現(xiàn)康普頓效應(yīng)，其反沖電子來(lái)源于（）

答案:原子束縛松的外層電子滿(mǎn)足布拉格方程，其衍射強(qiáng)度（）

答案:不確定，還與消光條件有關(guān)布拉格方程式滿(mǎn)足衍射的（）

答案:必要條件簡(jiǎn)單點(diǎn)陣消光意味著凡滿(mǎn)足布拉格方程的晶面均無(wú)衍射。

答案:錯(cuò)結(jié)構(gòu)因子的大小點(diǎn)陣大小無(wú)關(guān)。

答案:對(duì)晶體產(chǎn)生的衍射條件是晶面滿(mǎn)足衍射方程。

答案:錯(cuò)超點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)是指無(wú)序時(shí)，異類(lèi)原子形成某種點(diǎn)陣遵循該點(diǎn)陣的消光規(guī)律，降溫時(shí)，原消光的陣點(diǎn)重新出現(xiàn)的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)。

答案:對(duì)消光是指滿(mǎn)足布拉格方程的晶面中，當(dāng)結(jié)構(gòu)因子為零時(shí)無(wú)衍射強(qiáng)度，不產(chǎn)生衍射花樣的現(xiàn)象，包括結(jié)構(gòu)消光和點(diǎn)陣消光。

答案:對(duì)面心點(diǎn)陣在H、K、L奇偶混雜時(shí)消光，意味著（）

答案:在H、K、L奇偶混雜時(shí)，即使?jié)M足布拉格方程也無(wú)衍射花樣產(chǎn)生體心點(diǎn)陣在H+K+L為奇數(shù)消光，意味著（）

答案:在H+K+L為奇數(shù)時(shí)，即使?jié)M足布拉格方程的晶面也無(wú)衍射花樣產(chǎn)生底心點(diǎn)陣在H+K=奇數(shù)時(shí)消光，意味著（）

答案:滿(mǎn)足布拉格方程的所有晶面中，當(dāng)H+K=奇數(shù)，L無(wú)要求，這樣的晶面消光無(wú)衍射產(chǎn)生。平板試樣的吸收因子近似常數(shù)，可表示為A=1/2μl

答案:對(duì)考慮到熱振動(dòng)對(duì)衍射強(qiáng)度的影響而引入溫度因子，其值大于1

答案:錯(cuò)X射線(xiàn)衍射儀中用的試樣一般為球形試樣

答案:對(duì)吸收因子的大小僅與試樣的質(zhì)量吸收系數(shù)和形狀有關(guān)。

答案:錯(cuò)正方晶系中｛110｝的多重因子為8

答案:錯(cuò)當(dāng)溫度一定時(shí)，θ愈高，M愈大，其衍射強(qiáng)度（）

答案:減小愈多立方晶系中｛111｝的多重因子為（）

答案:8多晶體中某晶面的衍射線(xiàn)構(gòu)成（）

答案:衍射錐多晶體中某晶面的倒易點(diǎn)構(gòu)成（）

答案:倒易球測(cè)角儀中樣品轉(zhuǎn)動(dòng)，θ從0o→90o，產(chǎn)生衍射花樣的衍射晶面與試樣表面垂直。

答案:錯(cuò)X射線(xiàn)衍射儀工作時(shí)，樣品的轉(zhuǎn)動(dòng)，θ從0o→90o，則衍射晶面間距先減小后大增大。

答案:錯(cuò)測(cè)角儀中的發(fā)射光源為多點(diǎn)光源。

答案:錯(cuò)步進(jìn)掃描僅需定標(biāo)器，與不要計(jì)數(shù)器。

答案:錯(cuò)連續(xù)掃描時(shí)計(jì)數(shù)器與計(jì)數(shù)率器相連

答案:對(duì)增加時(shí)間常數(shù)對(duì)衍射圖譜的影響與提高掃描速度對(duì)衍射圖譜的影響（）

答案:類(lèi)似掃描速度愈快，則（）

答案:衍射峰平滑，衍射線(xiàn)的強(qiáng)度和分辨率下降，衍射峰位向掃描方向漂移計(jì)數(shù)管與樣品臺(tái)保持聯(lián)動(dòng)，角速度之比為（）

答案:2:1測(cè)角儀中聚焦圓（）

答案:圓心和大小隨樣品的轉(zhuǎn)動(dòng)而變化測(cè)角儀中聚焦圓的作用（）

答案:可使晶面衍射后會(huì)聚，減少衍射線(xiàn)的散失，提高衍射強(qiáng)度和分辨率10.[其它]名詞解釋?zhuān)何锵喾治?/p>

答案:物相分析是指：確定所研究的材料由哪些物相組成和確定各種組成物相的相對(duì)含量的分析過(guò)程。9.[其它]名詞解釋?zhuān)何锵?/p>

答案:材料中成分和性質(zhì)一致、結(jié)構(gòu)相同，并與其他部分以界面分開(kāi)的部分物相分析時(shí)與PDF卡片上的對(duì)應(yīng)峰位理論上需要（）

答案:8個(gè)X射線(xiàn)衍射花樣的衍射特征，即（）

答案:衍射峰的數(shù)目、峰位和強(qiáng)度。X射線(xiàn)衍射花樣（）

答案:反映晶體中的晶胞大小、點(diǎn)陣類(lèi)型、原子種類(lèi)、原子數(shù)目和原子排列等規(guī)律。物相的定性分析是指（）

答案:確定物質(zhì)由何種物相組成的分析過(guò)程X射線(xiàn)衍射分析可以獲得（）

答案:物相結(jié)構(gòu)信息利用特征X射線(xiàn)波長(zhǎng)和原子序數(shù)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系（莫塞萊公示），能獲得材料的（）

答案:元素信息物相根據(jù)組成元素是否作用可以分為（）

答案:純?cè)匾粋€(gè)孤立原子鐘，彈性散射所占份額為（）

答案:Z/1+Z一個(gè)孤立原子的總的散射截面為原子核的彈性散射截面σn和所有核外電子的非彈性散射截面Zσe的和：σ=σn+Zσe,則彈性散射截面與非彈性散射截面的比值為（）

答案:Z當(dāng)入射電子與核外電子的作用為主要過(guò)程時(shí)，入射電子被散射后其能量將顯著減小是一種（）

答案:非彈性散射由于原子核對(duì)電子散射后，散射電子的能量損失相比于入射時(shí)的能量可以忽略不計(jì)，因此原子核對(duì)入射電子的散射可以看成是（）

答案:彈性散射電子散射是指（）

答案:電子束受固體物質(zhì)作用后，物質(zhì)原子的昆侖場(chǎng)使其運(yùn)動(dòng)方向發(fā)生改變的現(xiàn)象相干散射（）

答案:電子散射后波長(zhǎng)不變，將與入射電子有確定的位相關(guān)系電子彈性散射（）

答案:電子散射后能量、波長(zhǎng)不變根據(jù)電子的波動(dòng)特性，可以將電子散射分為（）

答案:相干散射和非相干散射根據(jù)發(fā)生散射前后電子能量的是否變化，電子散射分為（）

答案:彈性散射和非彈性散射SEM隨著放大倍數(shù)的提高，電子直徑（）

答案:變細(xì)，強(qiáng)度增強(qiáng)SEM的試樣要求是（）

答案:導(dǎo)電電子束作用物質(zhì)的區(qū)域（）

答案:輕元素是倒梨狀，重元素是半球狀相比于背散射電子作為調(diào)制信號(hào)成像時(shí)的分辨率，二次電子的分辨率（）

答案:高SEM掃描線(xiàn)圈的作用是（）

答案:使電子束發(fā)生偏轉(zhuǎn)，并在樣品表面實(shí)現(xiàn)光柵掃描和角柵掃描SEM中電子束斑的直徑越細(xì)，相應(yīng)的成像分辨率

答案:愈高掃描電鏡的末級(jí)透鏡（物鏡）的焦距（）

答案:弱透鏡，焦距焦長(zhǎng)掃描電鏡中的電磁透鏡（）

答案:均不是成像用的，只是將將電子束斑（虛光源）聚焦縮小掃描電鏡用于形貌分析的物理信號(hào)是（）

答案:二次電子、背散射電子影響精確測(cè)量點(diǎn)陣常數(shù)的關(guān)鍵因素（）

答案:sinθ對(duì)于一定的?θ，當(dāng)θ愈大，晶格常數(shù)的測(cè)量精度（）

答案:愈高對(duì)于同一個(gè)θ時(shí)，?θ愈小，晶格常數(shù)的測(cè)量誤差（）

答案:愈小不能用于晶格常數(shù)測(cè)量的方法是（）

答案:

K值法拋物線(xiàn)擬合法特別適用于（）

答案:

漫?峰半高寬法一般適用于（）

答案:尖銳峰為了使點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)量誤差最小，θ應(yīng)取0o~90o中的（）

答案:90o點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)量誤差是指測(cè)量的（）

答案:偶然誤差電磁透鏡中的極靴間隙愈小，磁場(chǎng)集中程度（）

答案:愈強(qiáng)電磁透鏡中軟磁鐵縫隙可使磁場(chǎng)在該處（）

答案:更加集中，且縫隙愈小，集中程度愈高電磁透鏡的成像條件與光學(xué)透鏡成像時(shí)滿(mǎn)足的成像條件（）

答案:相同，且焦距可調(diào)改變勵(lì)磁電流可改變電磁透鏡的（）

答案:焦距，僅在正焦距中變動(dòng)電磁透鏡的焦距（）

答案:可調(diào)，總是正值極靴和帶縫隙軟磁鐵可使電磁透鏡的磁場(chǎng)強(qiáng)度分布（）

答案:更加集中到縫隙四周電磁透鏡可由短線(xiàn)圈構(gòu)成，實(shí)現(xiàn)電子束（）

答案:螺旋會(huì)聚靜電透鏡可有兩個(gè)電位不等的同軸圓筒組成，實(shí)現(xiàn)電子束（）

答案:平動(dòng)會(huì)聚電場(chǎng)和磁場(chǎng)可使電子束（）

答案:會(huì)聚或發(fā)散電子波不同于光波，光學(xué)顯微鏡中的玻璃或樹(shù)脂透鏡（）

答案:無(wú)法改變電子波的傳播方向，無(wú)法使之會(huì)聚成像提高升溫速率，可使熱效應(yīng)峰（）

答案:向高溫方向移動(dòng)差示掃描量熱（DSC）是指（）

答案:在程序控溫下，測(cè)量單位時(shí)間內(nèi)輸入到樣品和參比物之間的能量差（或功率差）隨溫度變化的一種技術(shù)DTA曲線(xiàn)中某反應(yīng)熱效應(yīng)峰的反應(yīng)最大速率發(fā)生在（）

答案:峰頂前某點(diǎn)DTA曲線(xiàn)中的反應(yīng)峰的峰頂溫度表示（）

答案:試樣與參比物間的溫差最大熱效應(yīng)在實(shí)際差熱曲線(xiàn)上為曲線(xiàn)峰（）

答案:

對(duì)稱(chēng)曲線(xiàn)峰熱效應(yīng)在理想差熱曲線(xiàn)上表現(xiàn)為（）

答案:折線(xiàn)峰無(wú)熱效應(yīng)時(shí)，?T=0，差熱線(xiàn)應(yīng)是（）

答案:水平線(xiàn)參比物在測(cè)定的溫度范圍內(nèi)（

）

答案:不可以發(fā)生任何熱效應(yīng)差熱分析（DTA）是指在程序控溫下，測(cè)量試樣物質(zhì)與參比物

隨溫度或者時(shí)間變化的一種技術(shù)（）

答案:溫差減小入射X射線(xiàn)的波長(zhǎng)，參與衍射的晶面數(shù)會(huì)（）

答案:增加衍射（）

答案:是有選擇的反射，是相干衍射線(xiàn)作用的結(jié)果布拉格方程（）

答案:只是解決了衍射方向的問(wèn)題衍射矢量方程兩邊在三基矢上的分別投影可簡(jiǎn)化得到（）

答案:三維勞厄方程組衍射矢量方程兩邊取?；?jiǎn)寫(xiě)可得

答案:布拉格方程布拉格方程中2dsinθ=nλ與勞厄方程之間存在的關(guān)系

答案:一致性布拉格方程中2dsinθ=nλ中的n是指

答案:反射級(jí)數(shù)布拉格方程中2dsinθ=nλ中的d是指

答案:衍射晶面的面間距布拉格方程中2dsinθ=nλ中的λ是指

答案:特征X射線(xiàn)波長(zhǎng)布拉格方程2dsinθ=nλ中的θ是指（）

答案:布拉格角焦長(zhǎng)增加，成像操作（）

答案:更加方便景深增加，樣品上各微處的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)（）

答案:更清晰可見(jiàn)焦長(zhǎng)是指（）

答案:在樣品固定，在保證像清晰的前提下，像平面沿著光軸可以前后移動(dòng)的最大距離范圍；景深是指（）

答案:像平面固定，在保證像清晰的前提下，物平面沿著光軸可以前后移動(dòng)的最大距離；提高加速電壓的穩(wěn)定性，可使色差（）

答案:

減小甚至消除色差是由于（）

答案:電子波長(zhǎng)不穩(wěn)定導(dǎo)致通過(guò)改善磁場(chǎng)分布，像散（）

答案:

可基本消除像散是（）

答案:由于形成透鏡的磁場(chǎng)非旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)引起的減小球差的方法（）

答案:減小球差系數(shù)和減小孔徑半角，尤其是孔徑半角球差是（）

答案:由于電磁透鏡的近軸區(qū)磁場(chǎng)和遠(yuǎn)軸區(qū)磁場(chǎng)對(duì)電子束的折射能力不同導(dǎo)致的中心暗場(chǎng)操作需由（）

答案:物鏡光闌+偏置線(xiàn)圈共同完成完成選區(qū)衍射的光闌是（）

答案:中間鏡光闌完成明、暗場(chǎng)像操作的光闌是（）

答案:物鏡光闌為了保證選區(qū)精度，選區(qū)衍射是要求（）C

答案:選區(qū)光闌面、物鏡的像平面和中間鏡的物平面三者重合中間鏡光闌（選區(qū)光闌）位于（）

答案:中間鏡的物平面上或者物鏡的像平面上物鏡光闌位于物鏡的（）

答案:后焦面上雙聚光鏡系統(tǒng)中，聚光鏡光闌通常位于第二聚光鏡的（）

答案:后焦面上在透鏡的上下極靴之間安裝消像散器（）

答案:可基本上消除像散偏置線(xiàn)圈可（）

答案:

實(shí)現(xiàn)電子束的平移和傾斜樣品臺(tái)（）

答案:可使樣品在極靴內(nèi)平移、平移、旋轉(zhuǎn)，進(jìn)行有效觀察和分析電磁透鏡分辨率主要制約因素是（）

答案:衍射效應(yīng)+透鏡像差光學(xué)顯微鏡分辨率的制約因素是（）

答案:

衍射效應(yīng)光學(xué)顯微鏡分辨率為（）

答案:1000倍人眼分辨率約為（）

答案:

0.2mm掃描電鏡與透射電鏡的照明光源是（）B

答案:電子波金相顯微鏡的照明光源是（）

答案:可見(jiàn)光分辨率主要取決于照明光源的（）

答案:波長(zhǎng)，半波長(zhǎng)是分辨率的理論極限分辨率是指（）

答案:

能夠分辨清楚的兩點(diǎn)間的最短距離X射線(xiàn)管的效率極低,一般僅有百分之幾。

答案:對(duì)陽(yáng)極靶材的原子序數(shù)越大,特征譜波長(zhǎng)越短。

答案:對(duì)X射線(xiàn)的粒子性比波動(dòng)性更突出。

答案:對(duì)當(dāng)X射線(xiàn)管有管電壓時(shí)，則必然同時(shí)存在連續(xù)譜和特征譜。

答案:錯(cuò)第一個(gè)用X射線(xiàn)進(jìn)行晶體衍射實(shí)驗(yàn)的科學(xué)家是

答案:勞埃當(dāng)波長(zhǎng)一定時(shí),間距小的晶面,其掠射角大。

答案:對(duì)在勞厄法中,愛(ài)瓦爾德球的大小