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文檔簡介
礦石的晶體學(xué)和晶體取向考核試卷考生姓名:__________答題日期:__________得分:__________判卷人:__________
一、單項(xiàng)選擇題(本題共20小題,每小題1分,共20分,在每小題給出的四個選項(xiàng)中,只有一項(xiàng)是符合題目要求的)
1.以下哪種礦物屬于立方晶系?()
A.石英
B.方解石
C.黃銅礦
D.鉀長石
2.晶體中的晶面指數(shù)(111)表示什么?()
A.晶面在三個軸上的截距相等
B.晶面在三個軸上的截距互為倒數(shù)
C.晶面在三個軸上的截距互為負(fù)倒數(shù)
D.晶面在三個軸上的截距分別為1、1、-1
3.下列哪種方法可以用來確定礦物的晶體取向?()
A.X射線衍射法
B.電子探針法
C.紅外光譜法
D.紫外光譜法
4.以下哪個晶體學(xué)參數(shù)表示晶體的空間群?()
A.晶體常數(shù)
B.晶體對稱性
C.晶系
D.點(diǎn)群
5.在晶體學(xué)中,哪個參數(shù)表示晶體結(jié)構(gòu)的周期性?()
A.原子間距
B.晶格常數(shù)
C.晶面間距
D.晶體形態(tài)
6.以下哪種礦物屬于三方晶系?()
A.金剛石
B.螢石
C.電氣石
D.磷灰石
7.晶體的布拉格定律描述了什么現(xiàn)象?()
A.X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象
B.電子在晶體中的散射現(xiàn)象
C.聲波在晶體中的傳播現(xiàn)象
D.光在晶體中的折射現(xiàn)象
8.以下哪個概念用于描述晶體中原子排列的周期性?()
A.晶格
B.原子團(tuán)
C.晶胞
D.晶體結(jié)構(gòu)
9.晶體的晶面指數(shù)與以下哪個參數(shù)有關(guān)?()
A.晶格常數(shù)
B.原子半徑
C.晶體的對稱性
D.晶體的化學(xué)成分
10.以下哪種方法不適用于晶體取向的測定?()
A.電子背散射衍射
B.X射線衍射
C.透射電子顯微鏡
D.光學(xué)顯微鏡
11.以下哪個晶體學(xué)概念描述了晶體中原子排列的規(guī)律性?()
A.晶體結(jié)構(gòu)
B.晶體形態(tài)
C.晶體化學(xué)
D.晶體物理
12.晶體的對稱元素不包括以下哪一項(xiàng)?()
A.反軸
B.旋轉(zhuǎn)軸
C.反鏡面
D.螺旋軸
13.在晶體學(xué)中,哪個參數(shù)與晶體生長習(xí)性無關(guān)?()
A.晶面指數(shù)
B.晶體常數(shù)
C.晶體形態(tài)
D.晶體生長速率
14.以下哪種礦物屬于斜方晶系?()
A.鈣鈦礦
B.石英
C.黃銅礦
D.磷灰石
15.晶體中的點(diǎn)群與以下哪個參數(shù)有關(guān)?()
A.晶體形態(tài)
B.晶體結(jié)構(gòu)
C.晶系
D.晶格常數(shù)
16.以下哪種方法通常用于晶體學(xué)研究中晶體的生長?()
A.溶液生長法
B.熔融生長法
C.化學(xué)氣相沉積法
D.以上都是
17.在X射線衍射分析中,布拉格距離與以下哪個參數(shù)有關(guān)?()
A.入射X射線波長
B.晶面間距
C.衍射角度
D.A和B
18.以下哪種晶體學(xué)方法可以用于確定晶體中原子的精確位置?()
A.X射線粉末衍射
B.單晶X射線衍射
C.電子顯微鏡
D.光學(xué)顯微鏡
19.以下哪個晶系具有三個互相垂直的旋轉(zhuǎn)軸?()
A.立方晶系
B.三方晶系
C.六方晶系
D.斜方晶系
20.晶體的晶面間距與以下哪個參數(shù)有關(guān)?()
A.晶格常數(shù)
B.晶面指數(shù)
C.原子半徑
D.A和B
二、多選題(本題共20小題,每小題1.5分,共30分,在每小題給出的四個選項(xiàng)中,至少有一項(xiàng)是符合題目要求的)
1.晶體的宏觀對稱性包括以下哪些類型?()
A.旋轉(zhuǎn)軸
B.反軸
C.反鏡面
D.螺旋軸
2.以下哪些礦物屬于等軸晶系?()
A.鈣鈦礦
B.石英
C.磷灰石
D.方解石
3.以下哪些方法可以用來確定晶體中的晶面指數(shù)?()
A.X射線粉末衍射
B.單晶X射線衍射
C.電子顯微鏡
D.光學(xué)顯微鏡
4.晶體的點(diǎn)群與以下哪些因素有關(guān)?()
A.晶體的對稱性
B.晶體的化學(xué)成分
C.晶體的晶系
D.晶體的晶胞參數(shù)
5.以下哪些現(xiàn)象可以用布拉格定律來解釋?()
A.X射線在晶體中的衍射
B.電子在晶體中的散射
C.光在晶體中的折射
D.聲波在晶體中的傳播
6.晶體學(xué)中的晶胞參數(shù)包括以下哪些?()
A.晶格常數(shù)
B.晶面指數(shù)
C.頂點(diǎn)坐標(biāo)
D.原子坐標(biāo)
7.以下哪些技術(shù)常用于礦物晶體取向的研究?()
A.電子背散射衍射
B.X射線衍射
C.透射電子顯微鏡
D.掃描電子顯微鏡
8.以下哪些礦物可以通過溶液生長法進(jìn)行晶體生長?()
A.方解石
B.鈣鈦礦
C.石英
D.螢石
9.晶體的晶面間距與以下哪些因素有關(guān)?()
A.晶體的晶系
B.晶面指數(shù)
C.晶格常數(shù)
D.原子半徑
10.以下哪些是晶體學(xué)中的基本晶體系統(tǒng)?()
A.立方晶系
B.三方晶系
C.六方晶系
D.隨機(jī)晶系
11.以下哪些方法可以用來測定晶體的結(jié)構(gòu)?()
A.X射線粉末衍射
B.單晶X射線衍射
C.紅外光譜
D.電子探針
12.晶體生長過程中,影響晶體形態(tài)的因素包括以下哪些?()
A.晶面生長速率
B.晶體生長速率
C.晶面取向
D.生長溶液的濃度
13.以下哪些礦物屬于四方晶系?()
A.金剛石
B.螢石
C.電氣石
D.鉻鐵礦
14.X射線粉末衍射技術(shù)可以用于以下哪些方面的研究?()
A.晶體結(jié)構(gòu)的鑒定
B.晶體取向的測定
C.晶粒大小的測定
D.材料成分的分析
15.晶體學(xué)中的晶格缺陷包括以下哪些類型?()
A.點(diǎn)缺陷
B.線缺陷
C.面缺陷
D.體缺陷
16.以下哪些因素會影響晶體生長的形態(tài)?()
A.溫度
B.壓力
C.溶液成分
D.晶體取向
17.在晶體學(xué)研究中,以下哪些方法可以用來觀察晶體表面?()
A.掃描電子顯微鏡
B.透射電子顯微鏡
C.光學(xué)顯微鏡
D.原子力顯微鏡
18.以下哪些晶系具有高次軸旋轉(zhuǎn)對稱性?()
A.六方晶系
B.三方晶系
C.立方晶系
D.斜方晶系
19.以下哪些技術(shù)可以用于晶體取向的精確測量?()
A.電子背散射衍射
B.X射線衍射
C.原子力顯微鏡
D.光學(xué)顯微鏡
20.以下哪些因素會影響晶體中X射線的衍射強(qiáng)度?()
A.晶體中原子的種類和排列
B.入射X射線的波長
C.衍射角度
D.晶體的溫度和壓力條件
三、填空題(本題共10小題,每小題2分,共20分,請將正確答案填到題目空白處)
1.晶體學(xué)中,晶體的三個基本軸分別稱為________軸、________軸和________軸。
2.晶體的點(diǎn)群是由晶體的________和________決定的。
3.在晶體中,________是指晶體內(nèi)部原子或離子排列的周期性。
4.晶體的________是指晶體中所有晶面和晶向的集合。
5.布拉格定律中,衍射角θ、入射X射線的波長λ和晶體的________之間有關(guān)系。
6.晶體的________是指晶體中原子或離子排列的規(guī)律性。
7.晶體的________是指晶體中原子或離子排列的空間幾何形狀。
8.在晶體學(xué)中,________是指晶體中原子的空間位置。
9.晶體的________是指晶體在宏觀上表現(xiàn)出的幾何形狀。
10.晶體生長過程中,影響晶體生長速率的因素有________、________和________。
四、判斷題(本題共10小題,每題1分,共10分,正確的請在答題括號中畫√,錯誤的畫×)
1.晶體的晶面指數(shù)與晶體的晶系無關(guān)。()
2.在晶體學(xué)中,晶體的晶胞是指晶體結(jié)構(gòu)中重復(fù)出現(xiàn)的基本單元。()
3.晶體的晶格常數(shù)與溫度無關(guān)。()
4.X射線粉末衍射可以用來測定單晶體中原子的精確位置。()
5.晶體的對稱性越高,其晶體結(jié)構(gòu)越簡單。()
6.晶體生長速率只與生長溶液的濃度有關(guān)。()
7.晶體的布拉格距離與入射X射線的波長成正比。()
8.透射電子顯微鏡可以用來觀察晶體內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。()
9.立方晶系的晶體具有四個互相垂直的三次軸。()
10.在晶體學(xué)中,晶體的化學(xué)成分與其晶體結(jié)構(gòu)無關(guān)。()
五、主觀題(本題共4小題,每題5分,共20分)
1.請簡述晶體學(xué)中晶體的七大晶系,并舉例說明每種晶系的特征旋轉(zhuǎn)軸和晶胞形狀。
2.描述晶體取向研究的重
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