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文檔簡介
1.4拓展知識1.4.3場效應晶體管下頁總目錄
場效應晶體管又叫單極型半導體晶體管(簡稱FET),它具有輸入電阻高,另外還具有噪聲低、熱穩(wěn)定性好、抗輻射能力強、壽命長等優(yōu)點,因而得到廣泛應用。
場效應晶體管根據(jù)結(jié)構(gòu)的不同,分成兩類:金屬(Metal)—氧化物(Oxide)—半導體(Semiconductor)(簡稱MOSFET)和結(jié)型場效應晶體管(簡稱JFET)。
場效應晶體管根據(jù)制造工藝和材料的不同,又分為N溝道場效應晶體管和P溝道場效應晶體管。1.4.3場效應晶體管下頁上頁首頁1.MOS場效應晶體管MOS場效應晶體管按工作方式,又分為增強型和耗盡型兩類。這里以N溝道增強型MOS場效應晶體管為例,討論MOS管的有關(guān)特性。下頁上頁首頁
(1)N溝道增強型MOS場效應晶體管1)結(jié)構(gòu)與符號N溝道增強型MOS場效應晶體管的結(jié)構(gòu)如圖1-32(a)所示,它的制造工藝是:以一塊摻雜濃度較低的P型硅片作為襯底,然后利用擴散的方法在襯底的兩側(cè)形成摻雜濃度比較高的N+區(qū),并用金屬鋁引出兩個電極,分別是源極(S)和漏極(D),然后在硅片表面覆蓋一層很薄的二氧化硅(SiO2)的絕緣層,然后在漏源之間的絕緣層表面再用金屬鋁引出一個電極作為柵極(G),另外從襯底引出襯底引線B。下頁上頁首頁
可見這種場效應晶體管由金屬、氧化物和半導體組成,所以簡稱為MOS場效應晶體管。根據(jù)這種結(jié)構(gòu),源極和漏極可以交換使用。但再實際應用中,通常源極和襯底引線B相連(此時S和D不能交換使用)。下頁上頁首頁
如果以N型硅片作為襯底,可制成P溝道增強型MOS場效應晶體管。N溝道和P溝道增強型MOS場效應晶體管的符號分別如圖1-32(b)和(c)所示,圖中襯底B的方向始終是PN結(jié)加正偏電壓時正向電流的方向。下頁上頁首頁2)工作原理N溝道增強型MOS場效應晶體管正常工作時,柵源之間加正向電壓uGS,漏源之間加正向電壓uDS,并將源極和襯底相連。襯底是電路中的最低電位。
①柵源間電壓uGS對iD的控制
當柵源間無外加電壓時,由于漏源間不存在導電溝道,所以無論在漏源間無論加上何種極性的電壓,都不會產(chǎn)生漏極電流。下頁上頁首頁
當在柵源間外加正向電壓uGS時,外加的正向電壓在柵極和襯底之間的SiO2絕緣層中產(chǎn)生了由柵極指向襯底的電場,該強電場會使靠近SiO2一側(cè)P型硅中的多子(空穴)受到排斥而向體內(nèi)運動,從而在表面留下不能移動的負離子,形成耗盡層。下頁上頁首頁
這時,如果在漏源間加上電壓,就會有漏極電流產(chǎn)生,如圖1-34(a)所示。人們將開始形成反型層所需的uGS值稱為開啟電壓,用UGS(th)表示。顯然,柵源電壓uGS越大,作用于半導體表面的電場越強,被吸引到反型層中的電子愈多,溝道愈厚,相應的溝道電阻就愈小。下頁上頁首頁
可見,這種場效應晶體管uGS=0時沒有導電溝道,只有uGS>UGS(th)才有導電溝道。其轉(zhuǎn)移特性曲線如圖1-34(b)所示,可近似用下式表示IDO是uGS=2UGS(th)時的iD
的電流。下頁上頁首頁
②漏源電壓
對溝道的影響
iD流經(jīng)溝道產(chǎn)生壓降,使得柵極與溝道中各點的電位不再相等,也就是加在“平板電容器”上的電壓將沿著溝道產(chǎn)生變化,導電溝道從等寬到不等寬,呈楔形分布。當uGS>UGS(th)且為某一定值,如果在漏源間加上正向電壓uDS,uDS將在溝道中產(chǎn)生自漏極指向源極的電場,該電場使得N溝道中的多數(shù)載流子電子沿著溝道從源極漂移到漏極形成漏極電流iD。下頁上頁首頁
其特性曲線如圖1-35所示。從圖中可以看出,管子的工作狀態(tài)可分為可變電阻區(qū)、放大區(qū)和截止區(qū)這三個區(qū)域。下頁上頁首頁圖1-35增強型NMOS場效應晶體管的輸出特性曲線
可變電阻區(qū):這是uDS較小的區(qū)域,但uGS為一定值時,
與uDS成線性關(guān)系,其相應直線的斜率受uGS控制,這時場效應晶體管D、S間相當于一個受電壓uGS控制的可變電阻,其阻值為相應直線斜率的倒數(shù)。
放大區(qū):這是uDS>uGS-UGS(th),場效應晶體管夾斷后對于的區(qū)域,其特點是曲線近似為一簇平行于uDS軸的直線,iD僅受uGS控制而與uDS基本無關(guān)。在這一區(qū)域,場效應晶體管的D、S之間相當于一個受電壓uDS控制的電流源,所以也稱為恒流區(qū),場效應晶體管用于放大電路時,一般就工作于該區(qū)域。
截止區(qū):指uGS<UGS(th)的區(qū)域,這時導電溝道消失,iD=0,管子處于截止狀態(tài)。下頁上頁首頁
(2)N溝道耗盡型場效應晶體管N溝道耗盡型MOS管的結(jié)構(gòu)如圖1-36(a)所示,符號如圖1-36(b)所示。N溝道耗盡型MOS管在制造時,在二氧化硅絕緣層中摻入大量的正離子。這些正離子的存在,使得uGS=0時,就有垂直電場進入半導體,并吸引自由電子到半導體的表面而形成N型導電溝道。
如果在柵源之間加負電壓,uGS所產(chǎn)生的外電場削弱正離子產(chǎn)生的電場,使得溝道變窄,電流iD減小,反之則電流iD增大。故這種管子的柵壓uGS可以是正的,也可以是負的。改變uGS就可以改變溝道寬窄,從而控制漏極電流iD。其轉(zhuǎn)移特性曲線如圖1-37(b)所示,iD=0時場效應晶體管截止,此時導電溝道消失的柵源電壓稱為夾斷電壓,用UGS(off)
來表示。其中轉(zhuǎn)移特性曲線可近似用下式表示:式中,IDSS是uGS=0時的iD
的電流,稱為漏極飽和電流。下頁上頁首頁下頁上頁首頁圖1-37耗盡型NMOS管的特性曲線2.結(jié)型場效應晶體管
(1)結(jié)構(gòu)與符號
結(jié)型場效應晶體管同MOS管一樣,也是電壓控制器件,但它的結(jié)構(gòu)和工作原理與MOS管是不同的。N溝道結(jié)型場效應晶體管的結(jié)構(gòu)示意圖和符號如圖1-38(a)和(b)所示。下頁上頁首頁圖1-38N溝道結(jié)型場效應
晶體管的結(jié)構(gòu)與符號
它是以N型半導體作為襯底,在其兩側(cè)形成摻雜濃度比較高的P區(qū),從而形成兩個PN結(jié),從兩邊的P型半導體引出的兩個電極并聯(lián)在一起,作為柵極(G),在N型襯底的兩端各引出一個電極,分別是源極(S)和漏極(D),兩個PN結(jié)中間的N型區(qū)域稱為導電溝道,它是漏、源之間電子流通的路徑,因此導電溝道是N型的,所以稱為N溝道結(jié)型場效應。結(jié)型場效應晶體管工作時,要求PN結(jié)反向偏置。下頁上頁首頁
(2)工作原理
當漏源間短路,柵源間外加負向電壓uGS時,結(jié)型場效應晶體管中的兩個PN結(jié)均處反偏狀態(tài)。隨著uGS負向增大,加在PN結(jié)上的反向偏置電壓增大,則耗盡層加寬。由于N溝道摻雜濃度較低,故耗盡層主要集中在溝道一側(cè)。耗盡層加寬,使得溝道變窄,溝道電阻增大,如圖1-39所示。圖1-39時N溝道結(jié)型效應管被夾斷
當uGS負向增大到某一值后,PN結(jié)兩側(cè)的耗盡層向內(nèi)擴展到彼此相遇,溝道被完全夾斷,此時漏源間的電阻將趨于無窮大,相應此時的漏源間電壓uGS稱為夾斷電壓,用UGS(off))表示。iD與uGS的關(guān)系可近似用下式來表示:式中,IDSS為uGS=0的漏極飽和電流。下頁上頁首頁
由以上分析可知,改變柵源電壓uGS的大小,就能改變導電溝道的寬窄,也就能改變溝道電阻的大小。如果在漏極和源極之間接入一個適當大小的正電壓VDD,則N型導電溝道中的多數(shù)載流子(電子)便從源極通過導電溝道向漏極作飄移運動,從而形成漏極電流iD,顯然,在漏源電壓VDD一定時,iD的大小是由導電溝道的寬窄決定的。下頁上頁首頁各種場效應晶體管的符號、轉(zhuǎn)移特性及輸出特性類型符號轉(zhuǎn)移特性輸出特性NMOS增強型NMOS耗盡型各種場效應晶體管的符號、轉(zhuǎn)移特性及輸出特性類型符號轉(zhuǎn)移特性輸出特性PMOS增強型PMOS耗盡型各種場效應晶體管的符號、轉(zhuǎn)移特性及輸出特性類型符號轉(zhuǎn)移特性輸出特性結(jié)型N溝道結(jié)型P溝道3.場效應晶體管的主要參數(shù)
(1)直流參數(shù)1)開啟電壓UGS(th)和夾斷電壓UGS(off)
:指uDS等于某一定值時,使漏極電流iD等于某一微小電流時柵、源之間的電壓uGS,對于增強型為開啟電壓UGS(th),對于耗盡型為夾斷電壓UGS(off)。2)飽和漏電流IDSS:指工作于放大區(qū)的耗盡型場效應晶體管在uGS=0條件下漏極的電流,它反映了場效應晶體管作為放大電路時可能輸出的最大電流。3)直流輸入電阻RGS:指漏源短路時,柵源之間所加的電壓uGS與柵極電流iG
之比,一般大于108Ω。下頁上頁首頁
(2)交流參數(shù)1)低頻跨導gm(又叫低頻互導):指uDS為一定值時,漏極電流的變化量iD與uGS的變化量之比,即
gm是表征場效應晶體管放大能力的重要參數(shù)。gm的值與管子的工作點有關(guān),單位為西(門子),符號為S。下頁上頁首頁2)漏源輸出電阻rDS:指uGS為某一定值時,uDS的變化量與iD的變化量之比,即
rDS在恒流區(qū)很大,在可變電阻區(qū)很小,當uGS=0時的rDS稱為場效應晶體管的導通電阻rDS(on)。下頁上頁首頁
(3)極限參數(shù)1)漏源擊穿電壓U(BR)DS
:指漏源間承受的最大電壓,當uDS
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