HS620產(chǎn)品操作手冊

HS620產(chǎn)品操作手冊

i.i本機(jī)特點

?手持式結(jié)構(gòu)，美觀、牢固、密封性能好，具超強(qiáng)的抗干擾能力。

?全數(shù)字，真彩顯示器，依照環(huán)境選擇背景色、亮度可自由設(shè)定，領(lǐng)

潮國內(nèi)應(yīng)用技術(shù)。

?高質(zhì)量的電路系統(tǒng)，性能穩(wěn)固可靠。

?超高速采樣，使回波顯示更保真、定位更準(zhǔn)確。

?高精度定量、定位、解決遠(yuǎn)距離定位誤差。

?實時全檢波，正、負(fù)檢波和射頻波顯示。

?優(yōu)良的寬頻帶放大器，且自動校正。具有良好的近場辨論能力。

?簡潔、強(qiáng)勁的操作功能，中文提示，對話噪作，有用易學(xué)。

?焊縫剖口示意圖，更直觀顯示缺陷位置，輔助定性。

?集超聲檢測、測厚雙重功能于一機(jī)

?檢測范疇無級調(diào)劑功能。

?閘門定位報警，雙閘門失波報警功能，適用于完成不同種類別的探

傷任務(wù)。

?動態(tài)缺陷包絡(luò)線描述。

?波幅曲線按標(biāo)準(zhǔn)自動繪制。且可上下自由移動。

?自動對探頭零點進(jìn)行校準(zhǔn)和斜探頭K值（折射角）測試。

?靈活的雜波抑制調(diào)劑功能。不阻礙增益.、線性。

?自動快速的靈敏度調(diào)劑功能。提高檢測速度。

?自動波峰跟蹤搜索功能。提高檢測精度。

?有描述缺陷性質(zhì)的峰點軌跡包絡(luò)圖功能。

?縱向裂紋高度測量功能。

?近場盲區(qū)小，能夠進(jìn)行薄板及小徑管探傷。

?可對腐蝕層和氧化層厚度進(jìn)行的精確測量。

?高速USB2.0、RS232兩種接口提供傳輸打印。實現(xiàn)超聲探傷儀運(yùn)

算機(jī)治理。

?予置50組探傷參數(shù)。分別為直探頭15組，斜探頭30組，小角度

探頭5組。

?可儲備1000個探傷同波、曲線和數(shù)據(jù)。

1.2要緊技術(shù)參數(shù)

脈沖強(qiáng)度：600V

阻抗匹配：200Q、500。二檔可選

工作方式：單晶探傷、雙晶探傷

掃描范疇：零界面入射?5500mm鋼縱波

采樣頻率/位數(shù)：150MHz/8bits

檢波方式：全檢波、正、負(fù)檢波、射頻波顯示

工作頻率:0.5MHz?15MHz

各頻段等效輸入噪聲：＜15%

衰減器精度：V±ldB/l2dB

增益調(diào)劑：110dB（O.ldB、2dB、6dB步進(jìn),全自動調(diào)劑）

聲速范疇：（100?20000）m/s

動態(tài)范疇：230dB

垂直線性誤差：W3%

水平線性誤差：W0.1%

辯論力：＞40dB（5N14）

靈敏度余量：＞60dB（深200mm①2平底孔）

數(shù)字抑制：（0?80）%,不阻礙線性與增益

電源、電壓：直流（DC）7.2V±10%；交流（AC）220V±10%

工作時刻：連續(xù)工作5小時以上（鋰電池供電）

環(huán)境溫度：（-10?40）℃（參考值）

相對濕度：（20?95）%RI1

外型尺寸：200x138x60（mm）

1.儀器要緊部件名稱

本儀器要緊部件名稱如圖1T所示。

5

10

4/us,[HJ[同

???@

…曲黑共?sa

圖IT

①320X256像素的高辨論率顯示器

②電源指示燈、報警指示燈

③觸摸鍵盤

④充電插座

⑤護(hù)手帶

⑥打印機(jī)及通訊插座

⑦Q9插座（發(fā)射）

⑧Q9插座（接收）

⑨提手

⑩USB通訊接口

1.4鍵盤簡介

鍵盤是完成人機(jī)對話的媒介。本機(jī)鍵盤設(shè)有23個操縱鍵，鍵位見圖

1-2。使用者對探傷儀發(fā)出的所有操縱指令，均通過鍵盤操作傳遞給探傷

儀。23個操縱鍵分為三大類：專門鍵（1個），菜單功能選擇鍵（9個）,

功能熱鍵（11t）和方向操縱鍵（2）。鍵盤操作過程中，探傷儀依照不

同的狀態(tài)自動識別各鍵的不同含意，執(zhí)行操作人員的指令。各鍵的具體

使用方法在以后的各章節(jié)中分批逐步介紹。下面是各鍵的具體功能簡介。

AAAA

ZONZ???

VZbEFj也近報警屏住<3S

［調(diào)校|［包絡(luò)|［報警］［閘門］（增益］［抑制）

（通道）

gg回函

HS620（存儲）

］俞出I［參數(shù)）

t數(shù)字式超聲波探傷儀H

電源開/關(guān)鍵調(diào)校類功能鍵

回

［包絡(luò)）

包絡(luò)功能鍵閘門功能系統(tǒng)鍵

回

探頭零點自動校準(zhǔn)

增益熱鍵

熱鍵

畫

pH?］

抑制熱鍵H自動增益鍵

［曲線］

波幅曲線功能鍵輸出數(shù)據(jù)功能鍵

回

聲響報警鍵儲備傷波數(shù)據(jù)鍵

「波峰］波形凍結(jié)/輸入命

波峰經(jīng)歷鍵

［記憶J令、數(shù)據(jù)認(rèn)可鍵

50組探傷參數(shù)選［色彩］

(通道)顯示屏彩色切換鍵

擇鍵

進(jìn)入/退出參數(shù)圖關(guān)閉屏幕顯示，進(jìn)

列表顯不鍵入節(jié)電狀態(tài)

A子功能菜單/操作<3

左/下方向鍵

功能鍵

右/上方向鍵

1.5功能介紹

儀器的功能及其邏輯關(guān)系

調(diào)校閘門

范圍零偏聲速K值范圍并移閘門移位閘門閘門讀數(shù)

A

曲線AVG/DAC輸出

制作調(diào)整刪除清零讀出刪除通訊打印

包絡(luò)增益自動增益波峰記憶報警

抑制通道傷波存儲色彩切換

1.調(diào)校功能：

?范疇：探傷范疇的調(diào)劑

?零偏：探頭入射零點的調(diào)劑

?聲速：材料聲速(0-20000)m/s連續(xù)調(diào)劑

?K值：斜探頭的折射角(K值)測量

2.閘門功能：

?范疇/平移；(0-6000)mm掃查范疇的無級調(diào)劑/脈沖平移調(diào)劑

?閘門操作：閘門移位/閘門寬度/閘門高度調(diào)劑

?閘門選擇：閘門A/B選擇

?閘門讀數(shù)：選擇單閘門讀數(shù)/雙閘門讀數(shù)方式

3,曲線功能：

?制作：制作AVG、DAC曲線及曲線延長

?調(diào)整：調(diào)整已制作的曲線

?刪除：刪除已制作的曲線

?清零：將當(dāng)前通道的參數(shù)初始化

4,輸出功能：

?讀出：顯示當(dāng)前讀出號的缺陷波形及數(shù)據(jù)

?刪除：刪除當(dāng)前存貯號或連續(xù)存貯區(qū)間的缺陷波形及數(shù)據(jù)

?通訊：將儲備的缺陷波形及數(shù)據(jù)傳送到運(yùn)算機(jī)

?打?。捍蛴√絺麍蟾?/p>

5.包絡(luò)功能：對缺陷回波進(jìn)行波峰軌跡描畫，輔助對缺陷定性判定。

6.增益/自動增益功能：手動調(diào)劑儀器靈敏度/自動定高調(diào)劑儀器靈敏

度。

7.波峰經(jīng)歷：對閘門內(nèi)動態(tài)回波進(jìn)行最高回波的捕捉，并保留在屏幕

上。

8.色彩切換：對屏幕顯示色彩1前景、背景）進(jìn)行切換。

9.報警：閘門內(nèi)的缺陷回波高于閘門/曲線高度時，儀器發(fā)出聲響

提示

10.存儲：將屏幕上的回波及其相應(yīng)的數(shù)據(jù)儲備在儀器存貯器中。

11.抑制：調(diào)劑抑制雜波比例。

12.通道：通道切換選擇

二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的差不多操作

2.1開機(jī)

HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀采納直流供電方式，儀器內(nèi)置鋰電

池。按盤白鍵兩秒鐘，直到電源指示燈亮。儀器第一顯現(xiàn)漢威注冊

商標(biāo)，然后進(jìn)行儀器自檢，顯示如下畫面:

wWnwEi

儀器自檢

鍵盤......................0K

存儲器......................0K

綜合性能......................0K

電池狀態(tài).......................I

圖2-1-1

儀器自檢通過后，進(jìn)入開機(jī)動態(tài)界面，見圖2?1?2。

基準(zhǔn)dB

回波顯

示區(qū)偏差必

嶺59.6激幅顯示

429.9

工作方?式

0.

0.010.020.030.040.0500乎/電池狀態(tài)

范圍閘門移位阿n閘門讀數(shù)

5.OOnun/D14.5mmA

知作選擇區(qū)

圖2-1-2

說明：在縱波直探頭的情形下。，聲程（S）即聲波從工件表面至缺陷

的垂直距離。葉、沒有顯示。

在橫波斜探頭的情形下。、表示聲程（S）4表示水平距離（L）。

指的是探頭入射點至缺陷的水平距離。，表示垂直深度（H）o

指的是入射點至缺陷的垂直距離。

喇叭及參數(shù)鎖定圖標(biāo)在此圖上沒有顯示，在后面的章節(jié)中詳細(xì)介紹。

按任何熱鍵或者子功能菜單鍵時，相應(yīng)的區(qū)域顯現(xiàn)反顯，表示當(dāng)前

操作狀態(tài)。

2.2常規(guī)功能狀態(tài)的調(diào)劑

2.2.1通道選擇

本儀器預(yù)置了50組探傷參數(shù)，即50個通道。分別為直探頭15

組，斜探頭30組，小角度5組。探傷人員可依照需要修改各通道的參

數(shù)。按通道鍵對通道進(jìn)行選擇，現(xiàn)在顯示屏上顯示通道區(qū)顯現(xiàn)反顯。連

續(xù)按此鍵可選擇不同的檢測任務(wù)。如下圖。

1

抑制00%

增益。1

30.OdB

±0.0

hT

一—一一一一

■1

■28.5

1

°20406080100Rg

范圍閘門移位閘門閘門讀數(shù)

10.OOmm/D25.9nonA

圖2-2-1

2.2.2閘門的調(diào)劑

數(shù)字式探傷儀的最突出的特點是能夠把所有的有關(guān)反射波的信息用

數(shù)字量顯示在屏幕上。讀數(shù)時儀器處理運(yùn)算閘門內(nèi)的回波，并顯示最高

回波的所有數(shù)據(jù)（包括聲程、水平距離和垂直距離）。因此探傷過程中

需使用閘門套住缺陷回波，儀器才能顯示探傷所需要的數(shù)據(jù)。

2.2.2.1閘門選擇和閘門讀數(shù)方式

本儀器是雙閘門工作方式，分為A閘門和B閘門。閘門讀數(shù)方式

有兩種，即單閘門讀數(shù)方式和雙閘門讀數(shù)方式。用戶能夠選擇任意閘門

作為當(dāng)前使用閘門，下面將要介紹閘門的起始位置、寬度、高度調(diào)劑差

不多上針對當(dāng)前使用閘門而言。

操作步驟：

1顯示方式選擇

按碗）鍵

,進(jìn)入掃查狀態(tài)，儀器默認(rèn)的是''單閘門讀數(shù)方式〃

用戶想選擇''雙閘門讀數(shù)方式〃按閘門讀數(shù)對應(yīng)的鍵即

可。其閘門讀數(shù)方式如下圖。

.41.9

?42.6f37.5442.6

，52.88180.5■18.84180.5

縱波宜槌頭縱波直櫬頭橫波斜探頭橫波斜探頭

單閘門讀數(shù)雙閘門讀赦單閘門讀敖雙閘門讀赦

方式方式方式方式

圖2-2-2

2閘門選擇

按鍵后就進(jìn)入了掃查狀態(tài)，如下圖C按閘門欄對應(yīng)的A

鍵，現(xiàn)在閘門欄反顯，初始值為A閘門，再按一次對應(yīng)的A鍵

切換為B閘門，如下圖

范圍閘門移位閘門閘門讀數(shù)

10.00mm/D28.8mmA

范圍閘門移位閘門閘門讀數(shù)

10.OOirun/D28.8mmB

圖2-2-3

22.2.2閘門起始

閘門起始是對當(dāng)前使用閘門的起始位置進(jìn)行調(diào)劑。用戶可依照需

要

將閘門平行移動到想要的位置來鎖定你所感愛好的回波。

操作如下：

△鍵進(jìn)入此功能，現(xiàn)在該欄反顯，如圖。再按

按起始相對應(yīng)的

、山口/鍵進(jìn)行調(diào)劑。例如，當(dāng)前的使用閘門位置在回波顯示區(qū)

的最左端，當(dāng)要使閘門移到最右端，按住叵）鍵，直到閘門移到

目標(biāo)位置。

范圍閘門移位閘門閘門讀數(shù)

10.OOmm/D28.8ironA

圖2-2-4

注意：為了回波顯示區(qū)簡單明了，用戶能夠?qū)⒛骋婚l門移出回波顯

示區(qū)，現(xiàn)在數(shù)據(jù)顯示

區(qū)的讀數(shù)為XXX.X的形式。如下圖。

XXX.X

XXX.X

XXX.X，XXX.X

縱波宜櫬頭橫波斜櫬頭

單閘門讀教單閘門讀教

方式方式

圖2-2-5

2.2.23閘門寬度

按閘門移位對應(yīng)的就進(jìn)入了閘門寬度調(diào)劑，現(xiàn)在寬度欄

顯現(xiàn)反顯，如下圖。再按鍵可改變閘門的寬度。

范圍閘門寬度閘門閘門讀數(shù)

10.OOnun/D24?2mmA

圖2-2-6

2.2.2.4閘門高度

閘門高度指的是閘門相關(guān)于回波顯示區(qū)滿幅的百分比。按閘門寬

度相對應(yīng)的A鍵，就進(jìn)入了閘門高度調(diào)劑，現(xiàn)在高度欄反顯，如下圖

2-2-7,再按、￡1匚/鍵可改變閘門的高度。

范圍閘門高度閘門閘門讀數(shù)

10.OOmm/D40%A

圖2-2-7

2.2.3波峰經(jīng)歷

波峰經(jīng)歷是儀器自動以閘門內(nèi)最高動態(tài)回波進(jìn)行記錄，并保留在

屏幕上。在實際探傷中，這有助于最大缺陷回波的捕捉。

操作：

1.用閘門鎖定將要搜索的回波。

2.按置鍵，進(jìn)入波峰搜索狀態(tài)，同時在回波顯示區(qū)的

右上端顯示出''波峰經(jīng)歷〃字樣。當(dāng)您移動探頭時，如

有一個比前面顯示回波更高的新波顯現(xiàn)時，儀器趕忙捕

捉住此高波作為當(dāng)前最高顯示波。

3.按圜鍵，退出搜索狀態(tài)。

2.2.4增益調(diào)劑（dB調(diào)劑）

在探傷工作中，利用衰減器可操縱儀器的靈敏度，測量信號

的相對高度，用以判定缺陷的大小，或測量材料的衰減等。衰減器

除了上述作靈敏度操縱外，它的要緊用途是測量反射波幅度的相對

大小，用分貝表示。

本機(jī)型的系統(tǒng)靈敏度由基準(zhǔn)dB讀數(shù)和偏差dB讀數(shù)兩部分組

成。總余量為llOdB。

2.2.4.1手動增益調(diào)劑

操作：

①按質(zhì)㈣鍵選擇調(diào)劑步進(jìn)值。按第一次，增益顯示區(qū)基準(zhǔn)

dB值反顯，現(xiàn)在，增益的右上方顯現(xiàn)0.1的字樣，表示

當(dāng)前以O(shè).ldB步進(jìn)值調(diào)劑基準(zhǔn)dB值。如圖2.2-8(a)

所示。按第二次，現(xiàn)在增益的右上方顯現(xiàn)2.0的字樣，

表示當(dāng)前以2.()dB步進(jìn)值調(diào)劑基準(zhǔn)dB值，如圖2-2-8(b),

按第三次，現(xiàn)在增益的右上方顯現(xiàn)6.0的字樣，表示當(dāng)

前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)劑基準(zhǔn)dB值。如圖2-2?8(c)所示。

按第四次時，增益顯示區(qū)的偏差dB值反顯，現(xiàn)在增益

的右上方顯現(xiàn)0.1的字樣，表示當(dāng)前以O(shè).ldB步進(jìn)值調(diào)

劑偏差dB值。如圖2-2-8(d)所示。按動鍵盤增益鍵，現(xiàn)

在增益的右上方顯現(xiàn)6.0的字樣，增益顯示區(qū)的偏差dB

值反顯，表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)劑偏差dB值。如

圖2?2?8(e)所示。

②按《9叵＞鍵調(diào)劑基準(zhǔn)dB值或偏差dB值。例如：

當(dāng)前的基準(zhǔn)dB值為80dB,假如以0.IdB的步進(jìn)值增大基

準(zhǔn)dB的值到U()dB,調(diào)劑鍵，使反顯顯現(xiàn)在基準(zhǔn)

dB欄，增益的右上方顯現(xiàn)0.1的字樣，再調(diào)劑鍵

不放，可產(chǎn)牛連續(xù)增益調(diào)劑。直到UOdB。

斜/表01斜/表斜/表01斜/表01斜/表01斜/表01

抑制抑制00%

抑制00%抑制00%抑制00%抑制00%00%

增益2.0增益6。

增益01增益2.0增益6.0增益01

30.LhdEi.翱30.。起■30.OdB30.OdB30.OdB

±0.0±0.0±0.|

±0.0__________

偏差dB偏差dB

基準(zhǔn)dB基準(zhǔn)dB基準(zhǔn)dB偏差dB

6.OdB

0.IdB2.OdB6OdB0IdB2.OdB

調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)

(a)(b)(c)(d)(e)(f)

圖2-2-8

22.4.2自動增益調(diào)劑

操作：

①移動閘匚鎖定回波。

②選擇是調(diào)劑基準(zhǔn)dB或偏差dB。

③按㈤鍵，儀器自動進(jìn)行增益調(diào)劑，使閘門內(nèi)的最大回

波波幅調(diào)劑到縱坐標(biāo)的80%左右高度。同時在回波顯示

區(qū)的右上角有''自動增益〃的字樣提示。調(diào)劑完成后

''自動增益〃的字樣消逝。

2.2.5檢測范疇（脈沖位移）的調(diào)劑

檢測人員依照被檢測工件的厚度合適的調(diào)劑檢測范疇，范疇調(diào)劑可

不能改變回波之間的相對位置和幅度，本儀器調(diào)劑的范疇為（0?6000）

mm（鋼縱波）。

操作如下：

①按回鍵進(jìn)入調(diào)校功能菜單?，F(xiàn)在網(wǎng)欄反顯。如圖

范圍零偏聲速K值

20.00mm/D0.00US3240m/s2.00

②在按、7匚，鍵進(jìn)行范疇調(diào)劑。范疇值實時顯示，表

示每格的對應(yīng)的實際距離（儀器波形顯示區(qū)分為十格。當(dāng)檢

測范疇為200mm時，每小格的值為20mm〕。

例如:將當(dāng)前橫坐標(biāo)的每小格距離為20mm調(diào)劑到40mm,

按住《HI鍵不

放，直到范疇數(shù)據(jù)連續(xù)變換到40mm。

2.2.6零點調(diào)劑

零點調(diào)劑指的是探頭零點的調(diào)劑。為了準(zhǔn)確的對工件缺陷定位，我

們必須調(diào)劑探頭的零點，通俗的說也確實是探頭的壓電晶片到工件表面

的距離（包括探頭愛護(hù)膜的厚度和耦合劑的厚度）。在本儀器中用時刻

（US微妙）來表示探頭零點的距離。

操作：

回進(jìn)入功能菜單，再按零偏相對應(yīng)的

①按

現(xiàn)在，該欄反顯,

如下圖2-2-9o

范圍零偏聲速K值

20.00mm/D0.00us3240m/s2.00

圖2-2-9

②按鍵來調(diào)劑零偏的大小。且零偏的時

刻值實時顯示。例如：當(dāng)前的零偏值是0.00us時,

要使零偏的值調(diào)劑到0.56us。就按住0J鍵，直

到數(shù)據(jù)顯示為0.56us為止。

注意：

探頭的零點一旦校準(zhǔn)好后，就不能改變，否

那么會阻礙數(shù)據(jù)精度。

假如確實要改變的話，會有一個滾動信息提

示''已校準(zhǔn)，是否

要改變零偏？〃接回鍵后，再進(jìn)行改變。

按其他的鍵返回即

不改變。

2.2.7脈沖移位調(diào)劑

調(diào)劑儀器的脈沖移位，可不能改變回波的相對位置和幅度。最

大可調(diào)劑位移距離不小于3500mm（鋼縱波）。

操作：

回進(jìn)入功能菜單，再按平移相對應(yīng)的

③按

現(xiàn)在，該欄反顯,

如下圖。

范圍平移聲速K值

20.00mm/D0.00us3240rn/s2.00

圖2-2-10

④按鍵來調(diào)劑平移量的大小。且平移的

時亥||值實時顯示。例如：當(dāng)前的平移值是O.OOus時,

要使平移的值調(diào)劑到0.56US。就按住《司鍵，直

到數(shù)據(jù)顯示為0.56us為止。〔本儀器中用時刻（us微

妙）來表示）。

2.2.8聲速測定

我們明白，材料聲速是探傷缺陷定位中專門重要的一個參數(shù)。聲

速關(guān)于超聲波探傷中的定位精確度有著極其重要的作用，因此關(guān)于未知

材料聲速的工件探傷時測定其聲速，是探傷前的重要預(yù)備步驟，下面利

用一塊厚度為50mm的未知聲速材料為例講述聲速測量方法。

操作：

①同步法：利用同一個反射休上的一次和二次底波反射來

進(jìn)行聲速測定。

按叵?鍵進(jìn)入功能選擇狀態(tài)，按這］鍵移動方塊

光標(biāo)到調(diào)校欄，按叵）鍵，再按聲速相對應(yīng)的A鍵，現(xiàn)

在該欄反顯，儀器彈出提示：

請選聲速測試方式：同步法

請輸入測試距離：50mm

將探頭放在實物試塊上，移動探頭找出最大反射波，觀看

屏幕上回波，移動兩個閘門分別套住兩個回波后，按按理

鍵

現(xiàn)在儀器自動開始調(diào)劑聲速，直到兩次回波分別對齊50mm

和100mm的位置，聲速測定完畢?。?注：假如實物聲速和儀

器初始聲速差異太大，有可能回波不在屏幕內(nèi)，這時需要調(diào)

整范疇，將波形先調(diào)整到屏幕內(nèi)，再移動閘門套住回波）

②分步法：假如被測實物試塊聲衰減較大，無法得到二次

反射時可用分步法，利用兩個深度不同的反射體的底波

來測定聲速。例如再制作一塊40mm實物試塊。進(jìn)入聲

速測試，方法與上面相同，儀器顯現(xiàn)提示：

請選聲速測試方式：同步法按改為分步法

請輸入測試距離：50mm按改為10mm（兩個不同反

射體之間的厚度差

按

將探頭先放在厚度40mm的實物試塊上，找出反射回波后,用閘門套住,

再將探頭放在厚度50mm的實物試塊上，找出反射回波后，用閘門套住,

40mm范圍閘門移位"門

10.00wn/D28.8nun

圖2-2-12

占

-T1

5clmm閘門移位聲速

28.8jnm5940m/s

圖2-2-13

2.2.9''抑制"調(diào)劑

此功能要緊用來抑制雜波即噪音，以提高信噪比。本機(jī)型采納熱鍵

方式直截了當(dāng)操縱抑制量的調(diào)劑，并直截了當(dāng)用數(shù)字顯示被抑制掉

的百分比量值。通常抑制數(shù)據(jù)顯示區(qū)顯示的()0%表示儀器處于無抑

制狀態(tài)。如下圖。隨著抑制顯示量的增加，”抑制〃作用已被加入,

這時波高小于抑制的百分比數(shù)值的雜波被濾掉，不予顯示，而大于

百分比數(shù)值的回波那么不被改變。因此使實際探傷中的信噪比被大

大提高。

操作：

按叮鍵，現(xiàn)在畫欄反顯，如下圖。

按鍵，選擇抑制量，所顯示的百分?jǐn)?shù)即為抑制

掉的雜波高度。最大抑制量為80%。數(shù)字儀器的抑制不同于

模擬儀器的抑制不阻礙儀器的靈敏度和垂直線性，但動態(tài)范

疇會發(fā)生變化。

直探頭01

抑制40%

增益。1

30.OdB

+0.0

020406080100rri曲

S2-2-153翩

注意：隨著''抑制〃祚用的加大，儀器的動態(tài)范疇會變小，因此使

用抑制功能后，要及

時復(fù)原儀器的無抑制狀態(tài)（即抑制的百分?jǐn)?shù)為零）。

2.2.10掃查基線的調(diào)劑

按網(wǎng)鍵，可在、、抑制〃和''基線〃功能間切換，按《3叵）

鍵對其進(jìn)行調(diào)整。如圖：

圖2-2-16

掃查基線是波形顯現(xiàn)在屏幕縱向的相對位置，一樣是屏幕上的0%的高

度為準(zhǔn)，否那么會阻礙垂直線性。

三探傷應(yīng)用

本機(jī)依照用戶在探傷中的各種需求增加了諸多探傷的輔助功能，應(yīng)

用這些功能將大大的減化掉以住探傷中的人為運(yùn)算和繁瑣的操作，為提

高探傷效率制造了良好的平臺。本章將著重對這些功能進(jìn)行介紹，用戶

可依照自身探傷要求選擇適合自己的功能，以簡化探傷過程。

3.1焊縫功能（適用于斜探頭）

3.1.1焊縫參數(shù)設(shè)置

①按網(wǎng)鍵進(jìn)入?yún)?shù)頁顯示畫面，使用匕?鍵移動）光

標(biāo)指向焊縫功能欄。

）焊縫功能........................設(shè)置

②按叵?鍵進(jìn)入焊縫圖標(biāo)參數(shù)設(shè)置子功能菜單，如以下圖所示。

殳

焊

儂股

能

度

長L1O

度

厚12

度

厚H13

度

厚H23

度

屋H33

度

厚H42

角

夾H1515

角

夾260

角3

夾45

出

退

0—

圖4-1-1

③參照焊縫參數(shù)圖，使用鍵移動）光標(biāo)選擇您要修

改的焊縫參數(shù)項C

④確定了修改的焊縫參數(shù)項后，按鍵進(jìn)入修改和重新設(shè)

置。在數(shù)字的下方有一個光標(biāo)，表示當(dāng)前調(diào)劑的步進(jìn)值。假

如長時刻地按住某方向鍵時，步進(jìn)值會逐步增加。松開按鍵

后，步進(jìn)值又復(fù)原到儀器設(shè)定的默認(rèn)初值（默認(rèn)值是依照各

個參數(shù)的特性而設(shè)定）。焊縫參數(shù)輸入完后，再按回鍵退

出此焊縫參數(shù)項的設(shè)置，回到焊縫圖標(biāo)參數(shù)設(shè)置子功能菜

單。假如要是還要修改其它的參數(shù)項，就重復(fù)上面的操作。

⑤輸入焊縫圖的相關(guān)參數(shù)后，使用鍵移動）光標(biāo)

指向焊縫功能欄，按回鍵進(jìn)入焊縫功能應(yīng)用狀態(tài)，并顯示

使用焊縫參數(shù)所畫的焊縫圖標(biāo)，如以下圖所示。

試

焊

儂

能

殳置

度

長L

-1O

度

號H112

度

厚H23

度

厚H33

度

厚H43

度

厚H52

角

夾115

角

夾260

角

夾345

退

出

J^—

J

如顯示的焊縫圖標(biāo)不正確時，可把焊縫功能參數(shù)改為''設(shè)

置〃狀態(tài)，重復(fù)做①②③的操作。

注釋:

1.只有在焊縫功能為〃設(shè)置〃狀態(tài)時;才能修改與焊

縫圖標(biāo)相關(guān)的參數(shù)。

2.在焊縫功能為"應(yīng)用"狀態(tài)時,才能在A掃功能中

使用焊縫缺陷定位分析。同時與焊縫圖標(biāo)相關(guān)的參

數(shù)被鎖定（例如:工件厚度和探頭前沿等）。

3.焊縫圖標(biāo)參數(shù)中的''厚度H1”與大菜單中的“工

件厚度”是同一參數(shù)值,只是在不同的地點名稱不

同而也。

3.1.2焊縫圖的缺陷定位分析

焊縫功能設(shè)定為〃應(yīng)用〃狀態(tài)后，可使用焊縫缺陷定位分析功能。

①使用閘門鎖定缺陷波，并找出最大缺陷波峰值后按回鍵。

斜/表01

抑制00N

增益(0.1)

?27.7dB

,1±0.0

..L?*i...???,?????

、50?0

->44.7

4^22.3

83.OX

甲

L1111.,h,

0.020.040.060.080.010）0Srt：：：：：：S：：S：5：：：：：

閘門移位i閘門動態(tài)回放

L0).0(42.5mm;A

圖4—1—3

②儀器滾動出提示輸入信息:

焊縫中心至前沿：19.7mm

輸入用尺子測量焊縫中心至探頭前沿的距離后，按四鍵進(jìn)入

焊縫缺陷定位分析狀態(tài)，如以下圖所示。焊縫圖標(biāo)內(nèi)小十字標(biāo)

記表示缺陷位置。

③使用鍵可左右移動座標(biāo)內(nèi)的虛線光標(biāo)，焊縫圖

標(biāo)內(nèi)的缺陷位置標(biāo)記（小十字）也同時在聲線上移動，并在數(shù)據(jù)

顯示區(qū)顯示當(dāng)前虛線光標(biāo)位置的相關(guān)數(shù)據(jù)。

（注：現(xiàn)在按回鍵能夠儲備焊縫圖）

④按任意鍵退出焊縫缺陷定位分析狀態(tài)，如以下圖所示。

斜/表01

抑制00N

憎益(0.1)

?27.7dB

±0.0

、50.O

-?44.7

4^22.3

83.OX

______甲

0040.060.080.0io…o百.o冠0?向邙戢頒薇修

范圍閘門移位閘門

10.00riWyD42.5mmA

圖4-1-6

3.2測厚功能（適用于直探頭）

①第一，按叵?鍵進(jìn)入通道選擇功能，選擇直探頭通道，利用標(biāo)準(zhǔn)試

塊進(jìn)行直探頭縱波入射零點校準(zhǔn)。

②校準(zhǔn)完畢后，按叵?鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，移動方向鍵，將光標(biāo)移動至參

數(shù)列表中功能設(shè)置欄內(nèi)的''功能選擇……探傷功能〃子欄目前面。按

回鍵選擇',測厚功能〃，再按叵?鍵退出參數(shù)列表，進(jìn)入測厚工作

狀態(tài)

③將探頭置于待測工件上，調(diào)整靈敏度，找工件的底面反射波，然后移

動閘門A和B分別套住底面一次反射波和二次反射波，工件實際厚度值

即顯示在屏幕右側(cè)，如以下圖所示：

直探頭

抑制00%

增益01

53.6dB

1--1

1±0.0

1-=34.6

t

1

1111.<3L_一」-I

20.040.060.080.0loo.o

范圍閘門移位閘門閘門讀數(shù)

10.OOmm/D28?8mmA

33性能校驗功能

針對探頭與儀器的綜合匹配性能，本儀器設(shè)有對靈敏度余量、辨論

力、動態(tài)范疇、水平線性、垂直線性五個指標(biāo)的自動測試功能，減少了

往常手動測試的指標(biāo)的繁瑣步驟。在進(jìn)行此功能前必須需先對所測試直

探頭進(jìn)行校準(zhǔn)（前面對直探頭縱波零點自動校準(zhǔn)已作闡述）。

具體操作如下：

①按參數(shù)鍵到參數(shù)欄進(jìn)入探傷參數(shù)列表，按下方向鍵將光標(biāo)移動到性

能校驗欄，按確認(rèn)鍵將該項功能打開，按參數(shù)鍵退出參數(shù)列表后儀器自

動進(jìn)入性能測試狀態(tài)如以下圖所示：

探傷參數(shù)

-----------------功能設(shè)置一_

功能選擇----探--傷--功--能

裂紋功能............關(guān)

關(guān)

?性能校險............

-----------------儀器設(shè)置―一

期

日

中

度

亮

彩

系

色

擇

顏

色選

關(guān)

護(hù)

屏

幕

保

定

面

參

數(shù)

鎖

型

打

印

類

CAA1NON

圖4-3-1

探傷參數(shù)

一功能設(shè)置---------------------

功能

選擇............探傷功能

裂紋

能

功............關(guān)

性能

險

校

............開

“儀器設(shè)置---------------------

期

日............2008/08/08

度

亮.............中

擇

顏

色選.............彩色系列1

護(hù)

屏

幕

保.............關(guān)

定

參

數(shù)

鎖.............也

型

打

印

類

............CANON

圖4-3-2

②退出參數(shù)后儀器自動進(jìn)入到第一項靈敏度余量測試，現(xiàn)在將探頭

放在靈敏度試塊上（CS-I,02X200mmL移動探頭找出①2孔的最高回

波，按確認(rèn)鍵或單擊旋鈕儀器開始自動調(diào)整波形并運(yùn)算出靈敏度余量顯

示在屏幕下方，并進(jìn)入下一項動態(tài)范疇的測試如以下圖所示

③進(jìn)入動態(tài)范疇測試仍固定探頭不動，按確認(rèn)鍵儀器自動運(yùn)算，并

進(jìn)入下一項垂直線性的測試。

直探頭01

抑制00Z

增益(0.1)

?22.0dB

1—\—1:±0.0

、---

，200.0

80.0甲Z

P.O45.090.0135.0180.0225.060翦

余里,ra.動態(tài)范圍

圖4-3-4

-----dB-----dB

④進(jìn)入垂直線性測試，仍固定探頭不動，按確認(rèn)鍵，儀器自動運(yùn)算

并進(jìn)入下一項水平線性的測試

直探頭01

抑制OOZ

增益(0.1)

?22.0dB

■200.0

80.0N

甲

180.0國C逐盟

余量：動態(tài)范圍：垂直線性：

圖4-3-5

⑤進(jìn)入水平線性測試，將探頭放置在CSK-IA試塊上厚25nmi的地點,

找出大平底的六次反射回波，假設(shè)有波峰高于滿屏可按自動增益鍵將波

形衰減到屏幕內(nèi)，按確認(rèn)鍵，儀器依次讀取六次回波的數(shù)值并運(yùn)算出水

平線性，同時進(jìn)入下一項辨論力的測試。

ECSK-IB

⑥進(jìn)入辨論力測試，將探頭放在CSK-IA試塊上如以下圖所示，找

出86nlm和91mm兩處平底的反射回波并找出相同高度時，按確認(rèn)鍵，儀

器自動運(yùn)算出辨論力。

直探頭01

抑制ooz

增益(0.1)

?22.0dB

±0.0

0030.060.090.0120.0150.0S鼻巍

余量動態(tài)范圍垂直線性水平線性分辨力

---dB---dB一一%----%---dB

3.4曲線延長功能

①在一樣工作過程中往往會遇到所測工件厚度不一樣，因此要

求曲線制的長度也不一樣，假如在現(xiàn)場遇到檢測工件厚度大

于調(diào)校時所取點的深度時，能夠曲線延長功能，儀器自動依

照超聲波衰減規(guī)律延長曲線長度。

②操作：

在儀器調(diào)校時，最深的采樣點為50mm，那么依照標(biāo)準(zhǔn)能夠?qū)?/p>

25mm以下的焊縫進(jìn)行檢測，假如在現(xiàn)場要對25mm以上的

焊縫進(jìn)行檢測，例如40mm,那么曲線長度應(yīng)至少為80mm,

操作如下：

在曲制作完畢后，進(jìn)入探傷時要延長曲線，那么按蹣鍵，

然后再按|制作|對應(yīng)的（~）鍵，儀器下方顯現(xiàn)提示：

是否需要曲線延長？

按麗鍵將延長曲線，按其它鍵退出曲線延長狀態(tài)

請輸入探頭規(guī)格：00X00mm

按方向鍵輸入晶片尺寸后按豳健

請輸入曲線延長至深度00mm

按方向鍵輸入曲線延長的深度80mm，然后按耐鍵

現(xiàn)在儀器上的曲線自動會延長到80mm

調(diào)整

3.5縱向裂紋高度測量的應(yīng)用

縱向裂紋高度測量也確實是端點衍射波測定缺陷高度。采納端

點衍射波測定方法是依靠于缺陷端點反射波來辨認(rèn)衍射回波的，進(jìn)

而又通過缺陷兩端點衍射回波之間的延時時刻差值，確定缺陷自身

高度，而不是用聲傳播振幅描述的。

在檢測過程中，不同檢測面上探測，其缺陷回波高度顯著不同。

在平行于缺陷的探測面上探測，缺陷回波高。在垂直于缺陷的探測

面上探測，缺陷回波專門低，甚至無缺陷回波，如此的缺陷回波可

初步判定為連續(xù)裂紋。本儀器確實是采納端點衍射同波法測定裂紋

的高度。下面就以一個開口裂紋為例說明（采納斜探頭）。

操作：

①按回I鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表。按叵）鍵，將光標(biāo)移至''裂紋功

能.關(guān)〃前，按叵）打開裂紋功能，再接回I鍵退出參

數(shù)界面進(jìn)入裂紋測高工作界面，現(xiàn)在范疇欄反顯。調(diào)劑檢測

范疇到一定值C

②確定上端點同波：

移動探頭，用閘門鎖定缺陷回波（在裂紋測深功能下，只有單閘門

操作，且只能平行移動）找到缺陷回波的最大幅度（也確實是缺陷

回波峰值開始降落前瞬時的幅度位置）。再按上端點相對應(yīng)的A

鍵，鎖定并凍結(jié)此回波波形，同時在該缺陷回波的峰值處顯示一個

大三角圖形。如下圖?，F(xiàn)在，儀器記住了上端點的ADW上的值。

范圍閘門起始上端點下端點

10.0mm/D49.5mm

圖4-5-1

③確定下端點回波

連續(xù)移動探頭，用閘門鎖定缺陷回波，找到缺陷回波的最大幅度再

按下端點相對應(yīng)的鍵，鎖定并凍結(jié)此回波波形，如以下圖所示。

儀器記住了下端點的

范圍閘門起始上端點下端點

10.0mm/D70.5mm

圖4-5-2

△DWF的值。同時儀器自動運(yùn)算出缺陷的自身高度AH,同時滾出

一條信息:

裂紋高度AH=ADWT-ADW±=20.2mm假如用戶想重新測裂紋

高度，再按畫鍵重新操作①②③。假如不想的話，就按任意鍵退

出。

3.6包絡(luò)功能

包絡(luò)功能要緊對斜探頭而言，用來記錄變化的傷波峰點的軌跡圖。

要緊用于缺陷的定性分析。

如下圖，探頭在不同的位置，所反射的回波高度和距離也不同,

當(dāng)探頭從①移到③處，在屏幕上的回波幅度應(yīng)該從低高一