《電子產(chǎn)品工藝與制作技術(shù)》課件-5.1.1調(diào)試的概念_第1頁(yè)
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調(diào)試的概念1.調(diào)試的原因電子產(chǎn)品是由許多的元器件組成的,由于各元器件性能參數(shù)具有很大的離散性、電路設(shè)計(jì)的近似性、再加上生產(chǎn)過程中其他隨機(jī)因素的影響,使得裝配完成之后的電子產(chǎn)品在性能方面有較大的差異,通常達(dá)不到設(shè)計(jì)規(guī)定的功能和性能指標(biāo),因此整機(jī)裝配完畢后必須進(jìn)行調(diào)試。調(diào)試的概念2.調(diào)試的含義調(diào)試由調(diào)整和測(cè)試兩個(gè)部分構(gòu)成。通過調(diào)試可以發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和裝配工藝的缺陷和錯(cuò)誤,并及時(shí)改進(jìn)與糾正,確保電子產(chǎn)品的各項(xiàng)功能和性能指標(biāo)均達(dá)到設(shè)計(jì)要求。(1)調(diào)整調(diào)整是指對(duì)電路參數(shù)的調(diào)整。一般是對(duì)可調(diào)元器件以及對(duì)機(jī)械部分進(jìn)行調(diào)整,使電路達(dá)到預(yù)定的功能、技術(shù)指標(biāo)和性能要求。(2)測(cè)試測(cè)試是指對(duì)電路的各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)和功能進(jìn)行測(cè)量與試驗(yàn)并同設(shè)計(jì)的性能指標(biāo)進(jìn)行比較,以確定電路是否合格。調(diào)試的概念3.調(diào)試的目的

(1)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)的缺陷和安裝的錯(cuò)誤,并改進(jìn)與糾正,或提出改進(jìn)建議。

(2)通過調(diào)整電路參數(shù),確保產(chǎn)品的各項(xiàng)功能和性能指標(biāo)均達(dá)到設(shè)計(jì)要求。電子產(chǎn)品的調(diào)整和測(cè)試是相互依賴、相互補(bǔ)充、同時(shí)進(jìn)行的。實(shí)際操作中,調(diào)整和調(diào)試必須多次、反復(fù)進(jìn)行。

調(diào)試分為電路和機(jī)械兩部分進(jìn)行,電子整機(jī)調(diào)試中,機(jī)械部分調(diào)試相對(duì)

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