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文檔簡介
2025年無損探傷工(高級(jí)技師)考試題及答案(歷年真題)單選題1.最有效的退磁方法是()。A、有反向和降壓控制器的直流電B、有降壓控制器的交流電C、半波整流交流電D、全波整流電2.柱面波是指波源為一無限長柱體,任意時(shí)刻的波陣面為一()。A、同軸圓柱面B、平面C、同心圓球面D、斜面3.中心導(dǎo)體磁化,產(chǎn)生的磁場強(qiáng)度在工件內(nèi)表面為()。B、與外表面相同C、最大4.制定工件的磁化規(guī)范時(shí),應(yīng)考慮的參數(shù)是()。B、材料磁性能C、工件使用時(shí)間D、以上都不對5.直線加速器中,電子以()加速。A、高頻電波B、加速磁鐵C、中子轟擊D、改變交流電磁鐵的磁場6.直探頭組成的主要元件有()等。A、壓電晶片、電極層C、保護(hù)膜、外殼7.直徑25mm,頻率5MHz的直探頭在水中的近場長度約為()。8.長軸類鍛件從端面作軸向探測時(shí),容易出現(xiàn)的非缺陷回波是B、61°反射波C、材料晶界回波參考答案:A9.在中低能量射線照相中,使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度A、大于不使用鉛增感屏的底片B、與不使用鉛增感屏的底片相同C、小于不使用鉛增感屏的底片D、以上都不對10.在一般情況下,射線膠片"固有不清晰度"的大小隨著射線的()A、能量C、指向性D、工件厚度與焦距的比值11.在液體中可以傳播的超聲波型有()。A、縱波12.在選用透照參數(shù)時(shí),曝光量應(yīng)()。A、不大于曝光曲線推薦的最小值B、不小于曝光曲線推薦的最小值C、不小于曝光曲線推薦的最大值D、以上都不是參考答案:B13.在下面的諸材料中,能用磁粉探傷法檢測的材料是()。A、碳鋼B、黃銅C、塑料D、奧氏體不銹鋼14.在吸收劑量相同的情況下,()對人體的危害程度最大。B、中子射線D、γ射線參考答案:A15.在酸性堅(jiān)膜定影液中會(huì)有相互分解的成分,大蘇打要靠()才C、硼酸16.在射線照射下,膠片乳劑層中的鹵化銀感光微粒將發(fā)生變化,可以形成潛在的影像,稱為。()。C、潛影17.在鋼板表面?zhèn)鞑サ某暡ǚQ為()。B、表面波C、縱波D、板波18.在X射線照相中使用相紙技術(shù)時(shí),其黑度的測量是采用()。A、透射式黑度計(jì)B、反射式黑度計(jì)C、聚焦旋轉(zhuǎn)式黑度計(jì)D、以上都不對參考答案:B19.在X射線譜圖上,當(dāng)射線管中的電子能量達(dá)到足以將靶原子核內(nèi)層電子擊出軌道時(shí),則譜圖上出現(xiàn)()。A、連續(xù)X射線譜形B、特征X射線譜形C、連續(xù)和特征X射線譜形20.源在外的雙壁透照環(huán)焊縫,焦距越大,則有效透照長度()。A、越小B、越大C、焦距等于工件直徑時(shí)有效長度最小D、以上都不對21.原子核內(nèi)的質(zhì)子數(shù)相同,而()數(shù)不同的元素叫做同位素。22.原子核的正電荷數(shù)等于()。D、原子核質(zhì)量數(shù)23.與聲束不垂直的光滑平面狀缺陷反射波的顯示不是()。A、回波幅度與底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波與缺陷波同時(shí)存在24.有關(guān)退磁的敘述,正確的是()。A、直流電只能退去工件表面的剩磁B、退磁是將工件上的剩磁減小到不妨礙使用的程度C、將工件放入通直流電的線圈中,不變換電流方向,使工件逐漸遠(yuǎn)離線圈就可以退磁D、退磁應(yīng)在工件組裝后進(jìn)行25.用直接通電法時(shí),觸頭前加銅墊、鋁錫合金或金屬絲編織網(wǎng)帶后再與工件接觸通電,是為了()。A、使接觸點(diǎn)電阻增加B、在工件中獲得較高的磁場C、增加表面接觸面積,避免接觸點(diǎn)高溫而燒壞試件表面D、避免因發(fā)熱而引起的導(dǎo)磁不良26.用交流磁軛對大型結(jié)構(gòu)件對接焊縫進(jìn)行磁粉探傷時(shí),需要注意的事項(xiàng)是()。A、磁粉探傷部位的厚度B、磁極對焊縫相對位置的安置及磁極間距C、反磁場的影響D、以上都是27.用電磁鐵和變壓器配合,以環(huán)形軌跡加速電子的裝置稱為()。A、靜電加速器B、直線加速器C、電磁感應(yīng)加速器D、回旋加速器28.用γ射線源對40mm厚的鋼鐵材料進(jìn)行射線照像,最適合的放29.用10Ci的銥192放射源在野外對距其1m處厚20mm的鋼進(jìn)行透照拍片,已知該射源的電離常數(shù)為0.6rhm/Ci,對鋼的半值層為10mm,為了獲得2.0黑度的底片需要曝光()。30.硬射線和軟射線()。A、是兩種本質(zhì)不同的射線B、僅僅是波長的長短不同C、沒有任何區(qū)別D、前者指γ射線,后者指X射線31.影響儀器()的旋鈕有發(fā)射強(qiáng)度和增益旋鈕、衰減器抑制旋鈕、深度補(bǔ)償旋鈕等。D、抑制散角度大約是()。33.一次結(jié)晶過程中。由于冷卻速度快,會(huì)產(chǎn)生化學(xué)成份分布不均勻現(xiàn)象,這種現(xiàn)象稱為()。A、多晶B、柱狀晶D、偏析34.一般要求儀器的分辨力()。35.選擇K值的經(jīng)驗(yàn)公式為()。A、K=(上焊縫寬度+下焊縫寬度+探頭前沿距離)/板厚B、K≤(上焊縫寬度+下焊縫寬度+探頭前沿距離)/板厚C、K≥(上焊縫寬度+下焊縫寬度+探頭前沿距離)/板厚D、K值可以取任意值將(),并按給定的折射角將橫波透入試件。A、縱波轉(zhuǎn)換為橫波B、橫波轉(zhuǎn)換為縱波C、聲波轉(zhuǎn)換為電磁波37.下面關(guān)于磁導(dǎo)率的敘述中,正確的是()。A、磁導(dǎo)率有極大值和極小值B、磁導(dǎo)率的大小反映材料被磁化的難易程度C、磁導(dǎo)率是一個(gè)變量38.下面()不是退磁的正當(dāng)理由。A、剩磁會(huì)干擾射線探傷時(shí)的輻射頻譜B、剩磁會(huì)吸引鐵屑或小顆粒,造成擦傷或機(jī)械磨損C、剩磁會(huì)影響裝在零件附近的儀表磁導(dǎo)率工件精度D、剩磁會(huì)影響后加工中焊接電弧的通路39.下列有關(guān)磁懸液的制作方法的敘述,正確的是()。A、把磁粉很快地投入大量的水中,然后仔細(xì)地?cái)嚢鐱、先把磁粉和少量水?dāng)嚢?,然后再慢慢地稀釋C、先把磁粉用表面活性劑仔細(xì)攪拌,然后再用水沖淡,分散于大量的水中D、熒光磁粉中加入表面活性劑放入研缽,用研棒仔細(xì)研磨后,再把它分散于大量的水中40.下列有關(guān)磁粉探傷用的設(shè)備裝置的敘述,()是正確的。A、用線圈法磁化時(shí),線圈的形狀與磁場強(qiáng)度無關(guān)B、噴嘴噴灑磁懸液時(shí)的壓力對缺陷磁痕的形成有很大影響C、交流磁化裝置不易發(fā)現(xiàn)表面缺陷,但能發(fā)現(xiàn)近表面缺陷參考答案:B41.下列有關(guān)磁粉的敘述正確的是()。A、磁粉應(yīng)具有高的磁導(dǎo)率B、磁粉應(yīng)有大的矯頑力C、磁粉粒度與缺陷大小無關(guān),越小越好D、磁粉的沉降速度越快越好42.下列因素中會(huì)影響滲透劑跡痕的分辨力的是()。A、所采用的滲透劑材料的靈敏度B、工件的表面狀況C、工件(或滲透劑)的溫度43.下列壓電晶體中()用做高頻探頭較為適宜。A、鈦酸鋇(cL=5470m/s)B、鈮酸鋰(cL=7400m/s)D、鈦酸鉛(cL=4200m/s)44.下列問題中適于康普頓背散射成像技術(shù)檢驗(yàn)的是()。A、金屬表面的腐蝕裂紋B、原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線照相C、厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷45.下列是滲透探傷中進(jìn)行干燥處理的一個(gè)目的的是()。A、保證多余的滲透劑都蒸發(fā)掉B、保證施加在濕乳化劑上的干式顯像劑均勻干燥C、縮短滲透時(shí)間D、施加濕式顯像劑后,干燥處理有助于形成均勻的顯像劑涂層46.下列能夠進(jìn)行磁粉探傷的材料是()。A、碳鋼C、硬鋁A、急性淋巴細(xì)胞白血病B、急性粒細(xì)胞性白血病C、急性粒一單核細(xì)胞白血病D、淋巴瘤E、多發(fā)性骨髓瘤48.下列技術(shù)中適于檢驗(yàn)厚度很大物體表面層缺陷的是()。A、中子射線照相B、射線CT技術(shù)C、康普頓背散射成像技術(shù)49.下列關(guān)于焊接變形敘述中不正確的是()。A、在一般情況下,焊接變形是對焊接質(zhì)量不利的B、利用反變形來校正變形C、掌握了變形的機(jī)理和規(guī)律,便可利用它并控制它D、變形可以提高接頭的致密性50.下列關(guān)于鋼磁特性的敘述正確的為()。A、一般含碳量越多,矯頑力越小B、一般經(jīng)淬火的材料矯頑力大C、含碳量越高的鋼,一般磁導(dǎo)率也越高D、奧氏體不銹鋼顯示的磁性強(qiáng)51.下列關(guān)于磁粉的敘述中正確的是()。A、磁粉應(yīng)具有高磁導(dǎo)率B、磁粉應(yīng)具有大的矯頑力C、磁粉粒度越小越好D、磁粉的沉降速度越快越好52.下列各項(xiàng)中與描述輻射防護(hù)最優(yōu)化原則相關(guān)的是()。A、避免一切不必要的照射B、盡量減少受到的照射C、危害應(yīng)低于得到的利益53.下列各項(xiàng)中描述隨機(jī)效應(yīng)特點(diǎn)的是()。A、效應(yīng)的發(fā)生率與劑量無關(guān)B、劑量越大效應(yīng)越嚴(yán)重C、只要限制劑量就可以限制效應(yīng)的發(fā)生54.下列方程式中()為振動(dòng)方程。55.下列不是按化學(xué)成份分類的鋼是()。A、非合金鋼D、低碳鋼56.吸收衰減是指超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),由于介質(zhì)的粘滯性而造成質(zhì)點(diǎn)之間的內(nèi)摩擦,從而一部分聲能變成熱能,導(dǎo)致()。A、電能的損耗B、頻率的損耗C、波長的損耗D、聲能的損耗57.鎢增感屏的優(yōu)點(diǎn)是()。A、清晰度高B、不易出現(xiàn)偽像C、使用壽命長58.為提高觀片效果,觀片室的環(huán)境應(yīng)盡可能地()。C、與透過底片的光亮度相同D、以上都不對59.為了檢驗(yàn)空心零件內(nèi)壁上的縱長方向缺陷,應(yīng)采用()。A、縱向通電磁化B、線圈通電磁化C、芯棒通電磁化D、增大安培數(shù)參考答案:C60.為了檢出高強(qiáng)度鋼螺栓螺紋部分的周向缺陷,適用的方法是A、剩磁法、濕法B、線圈法C、熒光磁粉參考答案:D61.退磁的零件應(yīng)從磁場中沿直線退出()。參考答案:B62.透照某工件時(shí)采用熒光增感,假定管電流為10mA,曝光時(shí)間40s,可以得到理想的射線底片,若用5mA管電流得到同樣黑度的底片,需要的曝光時(shí)間是()。A、小于80sB、大于80sC、等于80s63.透過觀片燈窗口的光照度為50000lx,若透過底片的光強(qiáng)不少于501x,則該觀片燈能觀察底片的最大黑度值為()。64.通常用()改善退磁。B、用絕緣的順磁性軌道65.通常所指的金屬材料的性能是()。A、化學(xué)性能B、力學(xué)性能C、使用性能和工藝性能66.停顯液的成分是()。67.探頭中晶片壓電材料的作用是()。A、將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能B、將機(jī)械能轉(zhuǎn)換成電能C、將熱能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能68.探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長的函數(shù),它是隨()。A、頻率增加、晶片直徑減小而減小B、頻率或直徑減小而增大C、頻率或直徑減小而減小D、頻率增加、晶片直徑減小而增大C、保持不變D.以上都不對70.探頭內(nèi)()的主要作用是防止產(chǎn)生雜波、使脈沖變窄、使盲區(qū)A、電纜C、保護(hù)膜D、以上都不對71.探頭晶片尺寸越大,其指向角()。A、越大C、不變D、以上都不對72.探傷面的修整應(yīng)能滿足()的掃查。C、一次半波D、二次波73.適用于干燥被檢物的方法是()。A、紅外線裝置B、熱空氣C、風(fēng)扇74.試件表面為中等粗糙,但要求檢測的靈敏度較高,()的滲透探傷材料較佳。B、后乳化型C、溶劑型75.使用磁軛法,探傷區(qū)域應(yīng)限制在兩磁極連線的兩側(cè)相當(dāng)于下述磁極間距的面積范圍內(nèi)()。D、3/4的磁極間距76.使用γ射線或高能X射線透照厚工件時(shí),膠片類型和膠片()D、以上都不對77.實(shí)際探傷中,所用X射線束是()。A、單色窄線束B、連續(xù)標(biāo)識(shí)X線束C、寬束連續(xù)X線束78.聲壓是指聲波在傳播過程中,介質(zhì)某一點(diǎn)的()超過沒有聲波存在時(shí)的靜態(tài)壓強(qiáng)的量值。A、聲場D、聲阻抗79.聲壓P與聲強(qiáng)I的關(guān)系式是()。80.聲波可繞過障礙物的邊緣不按原來的方向而折向障礙物后面?zhèn)鞑?,即所謂()。81.射線源焦點(diǎn)尺寸太大造成()。A、不能穿透工件B、底片清晰度增加C、底片清晰度不良D、以上都不對82.射線膠片的組成是()。B、乳劑層C、保護(hù)層參考答案:D83.射線膠片的反差系數(shù)r與感光速度s取決于膠片的()。A、乳膠厚度C、溴化銀的粒度84.射線的線質(zhì)越硬,其半價(jià)層厚度越()。C、無變化為Ip=I+Is,則散射比為()。86.瑞利波是()的一種,其振幅隨著深度的增加而迅速減小。C、橫波87.入射波以某一入射角入射到第二介質(zhì)為固體的異質(zhì)平面界面上時(shí),將發(fā)生()。透射波將分離為折射縱波和/或折射橫波。A、波形轉(zhuǎn)換B、反射橫波D、以上不都對88.乳化劑的()愈低則親油性愈強(qiáng)。B、乳化時(shí)間C、相對分子質(zhì)量D、以上都不對89.如果零件不能按圖紙完全檢驗(yàn),則()。A、必須更改圖紙B、零件必須報(bào)廢C、發(fā)一份不符合檢驗(yàn)要求的報(bào)告D、在零件上標(biāo)紅漆等候處理90.如果磁懸液的濃度過大,會(huì)引起()。A、掩蓋掉缺陷的磁痕B、使襯度變好C、檢測靈敏度更高,沒有什么壞處D、不得不增加磁化電流91.鉛箔增感屏中起吸收軟射線作用的是()。A、前屏B、后屏C、沒有任何區(qū)別D、以上都不對92.曝光曲線的斜率越大,一次透照的厚度差范圍就()。B、越小C、曝光曲線的斜率與透照厚度差范圍無關(guān)D、以上都不對93.平面波是指波源為一無限大平面聲源,任意時(shí)刻的波陣面為與聲源()的平面。A、相反B、相交D、平行94.頻率為2.5MHz、圓晶片直徑為20mm探頭表示為()。95.脈沖反射式超聲波探傷儀中,協(xié)調(diào)各部分功能和時(shí)間的部件叫B、接收電路C、顯示電路96.脈沖波是指振動(dòng)持續(xù)時(shí)間()的波動(dòng)。C、無窮D、任意參考答案:B97.濾光片是高原子序數(shù)金屬(如銅、鋼、鉛)制成,其作用是()。A、吸收X軟射線,達(dá)到過濾目的B、降低工件對比度,從而增大其寬容度C、減少由軟射線所引起的散射線參考答案:D98.漏磁場與()有關(guān)。A、磁化的磁場強(qiáng)度與材料的磁導(dǎo)率B、缺陷埋藏的深度、方向和形狀尺寸C、缺陷內(nèi)的介質(zhì)D、半衰期較短100.可能造成零件形成磁極太強(qiáng),因而不能對零件進(jìn)行滿意檢驗(yàn)A、軸向通電磁化B、線圈法縱向磁化C、觸頭法通電磁化D、磁軛法磁化101.決定X射線管靶材適用性的兩個(gè)因素是()。A、拉伸強(qiáng)度和屈服強(qiáng)度C、電阻和抗氧化性能D、原子序數(shù)和熔點(diǎn)102.晶片直徑相同的超聲波探頭,頻率高的其聲束擴(kuò)散角()。A、變大C、不變103.經(jīng)過周向磁化的零件和經(jīng)過縱向磁化的零件相比,在不退磁的情況下,()保留的殘留磁場最有害。A、縱向磁化B、周向磁化D、剩余磁化104.近場區(qū)長度在頻率給定時(shí),隨晶片直徑變小而()。B、不變D、擴(kuò)散105.接觸法斜角探傷時(shí),如果入射角達(dá)到第二臨界角A、橫波全反射B、縱波全反射C、表面波全反射D、以上都不對參考答案:B106.膠片經(jīng)曝光后產(chǎn)生的潛影()。A、能夠直接被肉眼觀察到B、在紅燈下能夠被肉眼觀察到C、需要經(jīng)過電信號(hào)轉(zhuǎn)化成圖象D、以上都不是107.膠片對比度與黑度D成正比,適用于()。A、非增感型膠片B、增感型膠片C、A和BD、A和B均不適用108.將一臺(tái)儀器與一個(gè)參考標(biāo)準(zhǔn)比較的過程叫()。A、掃查B、維修C、校準(zhǔn)或標(biāo)定109.將零件從線圈中抽出時(shí),()電流對零件的退磁效應(yīng)最小。B、直流電C、半波整流交流電D、全波整流電參考答案:B110.檢驗(yàn)玻璃時(shí),為了發(fā)現(xiàn)非常細(xì)小的裂紋應(yīng)采用()。A、后乳化型熒光滲透法B、可水洗型熒光滲透法C、后乳化型著色滲透法D、帶電粒子法111.假定某γ放射源的衰變常數(shù)λ=0.021/年,112.活度為100Ci的放射源,經(jīng)過3個(gè)半衰期后,其活度為()。113.換能器聲壓波動(dòng)區(qū)域的長度主要取決于換能器的()。A、頻率與直徑C、頻率與電纜的長度D、介質(zhì)與溫度114.后乳化滲透檢驗(yàn)應(yīng)在()施加乳化劑。A、使用滲透劑之前B、水洗之后D、顯像結(jié)束115.黑光燈的強(qiáng)度應(yīng)用()測量。A、帶10倍擴(kuò)程器的光度計(jì)B、帶琥珀場濾波器的光度計(jì)C、調(diào)節(jié)到3425×10-10m的光度計(jì)D、額定值為M2的光度計(jì)116.焊接延遲裂紋是一種()。A、焊接冷裂紋B、焊接熱裂紋D、層間斷裂117.焊接性,是指被焊鋼材在采用一定的焊接方法、焊接材料、焊接規(guī)范參數(shù)及()形式的條件下,獲得優(yōu)質(zhì)焊接接頭的難易程A、焊接結(jié)構(gòu)B、焊接時(shí)間長短C、焊劑數(shù)量D、焊條尺寸118.焊縫探傷中探頭角度選擇的主要依據(jù)是()。A、探測頻率B、缺陷方向C、缺陷部位D、鋼板的厚度119.焊縫金屬的二次結(jié)晶的組織和性能與()有關(guān)。A、焊縫的淬透性B、焊縫的抗氧化性C、焊縫的抗氫腐蝕能力D、焊縫的化學(xué)成份、冷卻速度及焊后熱處理120.固體中能傳播的超聲波波形有()。B、橫波C、表面波和板波121.鈷60γ放射源的原子核中有()。A、27個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子B、27個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子C、28個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子D、28個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子122.工程中許多構(gòu)件在工作時(shí)出現(xiàn)隨時(shí)間而交替變化的應(yīng)力,這種應(yīng)力稱為()。A、交變應(yīng)力B、平均應(yīng)力C、彎曲應(yīng)力D、剪切應(yīng)力123.根據(jù)波源振動(dòng)的持續(xù)時(shí)間長短,將波動(dòng)分為()。B、脈沖波與電磁波C、連續(xù)波與脈沖波124.感光膠片的"潛影"形成后,若相隔()時(shí)間顯影,影像就會(huì)變淡,這種現(xiàn)象稱之為潛影衰退。B、很短C、適中D、無間隔125.放射性物質(zhì)原子數(shù)衰變到原來的()所需的時(shí)間稱為半衰期。126.發(fā)生光電效應(yīng)幾率的實(shí)驗(yàn)近似公式為()。127.對電鍍零件,一般認(rèn)為當(dāng)鍍層小于()時(shí)可用磁粉探傷可靠128.對大鑄鋼(鐵)件應(yīng)用磁粉檢驗(yàn)時(shí),有效的磁化方法是()。A、穿芯棒磁化B、局部兩個(gè)方向磁化C、直接磁化D、整體磁化129.電磁軛的磁極間距離應(yīng)控制在()。130.電磁波波長的數(shù)學(xué)計(jì)算式為()。131.當(dāng)聲程S≥6N(遠(yuǎn)場區(qū))長度時(shí),反射體的定量結(jié)果()。A、大于實(shí)際尺寸B、小于實(shí)際尺寸C、接近實(shí)際尺寸132.當(dāng)射線能量范圍在1~10MeV時(shí),鋼鐵材料對射線的吸收起主導(dǎo)作用的是()。A、光電效應(yīng)B、康普頓效應(yīng)C、湯姆遜效應(yīng)D、電子對生成效應(yīng)133.當(dāng)管電壓為一定值時(shí),增大管電流,則連續(xù)X射線的線質(zhì)強(qiáng)度和波長將發(fā)生()。A、線質(zhì)變軟,強(qiáng)度變大,波長不變B、線質(zhì)不變,強(qiáng)度不變,波長變短C、線質(zhì)變硬,強(qiáng)度變大,波長變長D、線質(zhì)不變,強(qiáng)度變大,波長不變134.當(dāng)S≤3N時(shí),反射體的定量結(jié)果與實(shí)際當(dāng)量尺寸()。A、略大于實(shí)際尺寸B、略小于實(shí)際尺寸D、有較大誤差135.單色窄束射線的半價(jià)層厚度約為1/10價(jià)層厚度的0.3倍;若已知線衰減系數(shù)μ,則1/10價(jià)層厚度為()。136.淬火螺栓經(jīng)磁粉探傷后,通電法退磁的電流()。A、電流應(yīng)盡量大,使之達(dá)到磁飽和B、低于充磁時(shí)的電流強(qiáng)度C、比充磁時(shí)的電流稍大些D、螺栓已經(jīng)過熱處理,不必通電退磁137.從工件兩端采用直接通電磁化時(shí),磁化電流的大小應(yīng)按()來選擇。A、工件長度B、工件直徑C、工件長度與直徑之比D、工件長度與直徑之積138.磁粉有多種顏色是原因是()。A、與零件表面形成對比B、使顯示容易看到C、與外加磁場強(qiáng)度大小有關(guān)139.磁粉探傷中,應(yīng)根據(jù)()選擇適當(dāng)?shù)拇呕椒?。A、工件的形狀和尺寸B、材質(zhì)C、缺陷的位置和方向140.磁粉探傷時(shí),被檢零件中的磁場在()最強(qiáng)。A、交流電磁化時(shí)在切斷電流反向以前B、磁化電流切斷以后C、通電過程中D、施加磁粉時(shí)141.磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1的材料是()材料。A、抗磁C、非金屬D、金屬142.除了屬于正應(yīng)力范疇的拉應(yīng)力和壓應(yīng)力外,應(yīng)力分析中還會(huì)A、剪切應(yīng)力B、彎曲應(yīng)力C、交變應(yīng)力D、以上都對143.除非另有規(guī)定,最終磁粉探傷()。A、應(yīng)在最終熱處理后,最終機(jī)加工前B、應(yīng)在最終處理前,最終機(jī)加工后C、應(yīng)在最終熱處理和最終機(jī)加工后D、在最終熱處理后的任何時(shí)間144.超聲波在第二種介質(zhì)折射波的傳播方向不同于入射波的方向,而是按()來確定的。A、反射定律B、透射定律C、折射定律145.超聲波在傳播過程中如果遇到一個(gè)障礙物,就可能產(chǎn)生()等現(xiàn)象。D、以上都對146.超聲波探頭輻射的聲場中,聲壓以()最高。A、旁聲束上B、半擴(kuò)散角以外C、中心軸線上D、擴(kuò)散角與旁聲束交界部位147.超聲波探傷中廣泛采用的是()。148.超聲波探傷儀和探頭的組合性能指標(biāo)有()。A、水平線性C、動(dòng)態(tài)范圍D、垂直線性149.超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時(shí),這與波的()有關(guān)。C、波長D、入射角參考答案:D參考解析:暫無解析150.超聲波從一種介質(zhì)傾斜入射到平界面時(shí),將產(chǎn)生反射縱波,由于波型轉(zhuǎn)換,又會(huì)產(chǎn)生()。B、反射橫波D、以上不都對151.超聲波從聲阻抗Z1的介質(zhì)通過聲阻抗Z2的薄層介質(zhì)向聲阻抗Z3的介質(zhì)透入時(shí),為了得到良好的透聲效果,應(yīng)當(dāng)使薄層厚度等于1/4波長的奇數(shù)倍,并且其聲阻抗Z2=()。152.采用水浸法探傷時(shí),根據(jù)()產(chǎn)生的回波情況進(jìn)行缺陷評(píng)定。A、第一次表面回波之前和第二次表面回波之后B、第一次表面回波和第二次表面回波之間D、以上都不對153.采用濕式連續(xù)法時(shí),來自軟管的磁懸液應(yīng)在()。A、通電后立即切斷B、通電前的瞬間切斷C、通電過程中切斷D、通電前30S切斷154.采用剩磁法探傷時(shí),被檢材料應(yīng)具有()。A、較高的頑磁性B、較大的飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度C、光滑的表面D、較高的磁導(dǎo)率155.采用底波高度法(F/B百分比法)對缺陷定量時(shí),下面說法正確的是()。A、F/B相同,缺陷當(dāng)量相同B、該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量156.材料晶粒尺寸大于()波長時(shí),超聲波的散射會(huì)影響檢驗(yàn)結(jié)157.材料的加工工藝性能包括()。A、冷熱加工成型性能和焊接性能B、短面收縮率C、試件的標(biāo)距D、屈強(qiáng)比158.不屬于焊接變形和應(yīng)力的形成因素的是()。A、焊件上溫度的分布不均勻B、測量方式C、金屬組織的轉(zhuǎn)變D、熔敷金屬的收縮159.不適宜采用水洗性滲透探傷法檢測的缺陷是()。A、裂縫B、疲勞裂紋C、氣孔D、以上都不是160.不是顯像劑成份本身作用的是()。A、將滲透劑從缺陷中吸出來B、有助于形成缺陷圖像C、增強(qiáng)滲透劑的熒光D、有助于控制滲出161.不可用來制作鍋爐壓力容器的金屬材料是()。A、低碳鋼B、低合金鋼C、奧氏體不銹鋼162.不會(huì)影響儀器垂直線性的旋鈕有()。C、抑制旋鈕D、脈沖位移163.波陣面中波的()稱為波線。A、傳播方向D、近場區(qū)164.波陣面是指波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí),同一時(shí)刻介質(zhì)中振動(dòng)相位()的所有各點(diǎn)的軌跡。C、相同D、相反165.半價(jià)層的大小與()因素有關(guān)。C、物質(zhì)的原子序數(shù)D、物質(zhì)的密度參考答案:B166.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17×103m/s的材料上,則折射角約為()。167.按照彎曲時(shí)受拉面位置的不同,彎曲實(shí)驗(yàn)的類型分為()。B、背彎D、以上都是參考答案:DA、圓晶片半擴(kuò)散角B、方晶片半擴(kuò)散角C、反射角D、折射角參考答案:B169.y射線源的輻射輸出又稱為特性強(qiáng)度,通常以有效輸出表示,其單位為()。(注:1Ci=3.7×1010Bg)參考答案:C170.γ射線的波長僅決定于()。B、尺寸D、能量171.X射線與γ射線的區(qū)別是()。A、穿透能力不同B、強(qiáng)度不同C、產(chǎn)生機(jī)理不同172.X射線工業(yè)電視探傷的主要缺點(diǎn)是()。A、其檢測靈敏度一般較X射線照相法低B、對形狀復(fù)雜的零件檢查有困難C、初始投入較高,設(shè)備較復(fù)雜D、以上都對173.K值為焊縫的透照厚度比,縱縫的AB級(jí)的K值不大于()。174.CSK-ⅢA試塊的反射體孔徑是()。175.AVG曲線中,以距離作為橫坐標(biāo),以()作為縱坐標(biāo)。B、缺陷當(dāng)量尺寸D、以上都不對照射率衰減到10mR/h以下,至少還應(yīng)復(fù)蓋()的鉛板。(HPb177.()用濕法熒光磁粉探傷進(jìn)行檢驗(yàn)比干法好。A、零件大而笨重時(shí)B、需要提高檢驗(yàn)速度和靈敏度時(shí)C、欲使許多車間配備的熒光燈投入使用時(shí)D、被檢零件要在現(xiàn)場焊接組裝時(shí)178.()為聲壓反射率的公式。C、波動(dòng)D、傳播180.()是指探傷儀熒光屏上反射波高從滿幅降至消失時(shí),儀器衰減器的變化范圍。A、探測距離B、動(dòng)態(tài)范圍C、垂直線性D、水平線性181.()是指探傷儀水平掃描速度的均勻程度,即掃描線上顯示的反射波距離與反射體距離成正比的程度。A、水平線性B、缺陷定量C、水平定位參考答案:C182.()是指聲波在傳播過程中,介質(zhì)某一點(diǎn)的聲壓強(qiáng)超過沒有聲波存在時(shí)的靜態(tài)壓強(qiáng)的量值。A、聲場B、聲壓C、聲強(qiáng)D、聲阻抗參考答案:B183.()是指波動(dòng)過程中,任一給定點(diǎn)在1S內(nèi)所通過的完整波的個(gè)數(shù)。A、波動(dòng)頻率B、掃描亮度C、時(shí)基線參考答案:A184.()是干式磁粉探傷中最常用的。A、三相交流電B、半波整流交流電C、高壓低安培電流D、穩(wěn)恒直流電185.()會(huì)使黑光燈泡的壽命降低。A、電源電壓波動(dòng)很大B、燈泡上有灰塵C、室溫變化186.()遲到的時(shí)間與工件的長度和直徑有關(guān)。A、三角反射波187.()d33較大,可獲得較高的發(fā)射靈敏度。A、機(jī)械品質(zhì)因子B、壓電應(yīng)變常數(shù)C、壓電電壓常數(shù)D、機(jī)電耦合系數(shù)填空題1.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)三次所需要的時(shí)間可以使超聲波在介質(zhì)中傳播()的答:3個(gè)波長2.制作磁懸液要先把磁粉用()仔細(xì)攪拌,然后再用水沖淡,分散于大量的水中。3.直線加速器的優(yōu)點(diǎn)是體積小和輸出射線強(qiáng)度大,回旋加速器的答:焦點(diǎn)尺寸小4.直探頭接觸法探傷時(shí),發(fā)現(xiàn)缺陷回波較低,且底面回波降低或消失的原因是與工件表面呈()。5.直探頭對長形工件探傷時(shí),由于聲束擴(kuò)散,一部分能量打在工件側(cè)面轉(zhuǎn)換為(),經(jīng)過幾次波型轉(zhuǎn)換后,要比單按縱波垂直反射回波時(shí)間滯后。所以稱為()。答:橫波;遲到波6.正應(yīng)力可分為()和()。答:拉應(yīng)力;壓應(yīng)力7.振動(dòng)與波動(dòng)的關(guān)系:()是波動(dòng)的根源,()是振動(dòng)的過程。答:振動(dòng);波動(dòng)8.在手工探傷中一般使用直接接觸法而不使用()。原因是液浸法手工探傷時(shí)難以保持穩(wěn)定;直接接觸法探傷,方法簡單、使用9.在固體介質(zhì)中,()聲速>()聲速>()聲速。答:縱波;橫波;表面波10.在對熒光磁粉痕顯示照相時(shí),要用()濾光片濾去()才能照答:黃色;紫外光11.在X射線照相中使用濾波板可以提高底片的()和()。答:清晰度;寬容度12.在X射線實(shí)時(shí)成像中,射線照射工件傳到熒光屏上所產(chǎn)生的顯示與射線強(qiáng)度有關(guān),而與()無關(guān)。答:曝光時(shí)間13.在X≥3N的距離上,當(dāng)孔徑不變,聲程增加一倍時(shí),大平底的反射聲壓為原來的()。答:1/2倍14.原子核內(nèi)的()和()的質(zhì)量基本相等。答:質(zhì)子;中子15.有效焦點(diǎn)為3x3mm,則其實(shí)際焦點(diǎn)是()。16.用平探頭對曲面工件接觸法探傷時(shí),探傷面曲率越大,耦合效答:越差17.用噴嘴噴灑磁懸液的壓力,對()有很大影響。答:磁痕的形成18.硬射線和軟射線僅僅是()。答:波長的長短不同19.影響儀器靈敏度的旋鈕有()和()、()、()等。答:發(fā)射強(qiáng)度;增益旋鈕;衰減器抑制旋鈕;深度補(bǔ)償旋鈕20.儀器水平線性的好壞直接影響到對()。答:缺陷位置的判斷21.儀器的盲區(qū)除了與()有關(guān)外,主要還決定于接收放大器在強(qiáng)信號(hào)沖擊下的阻塞恢復(fù)時(shí)間。22.壓縮波能在()傳播。答:液體中23.斜探頭橫波聲場近場區(qū)分布在兩種介質(zhì)中,近場長度隨入射角的增大而()。24.斜探頭K值的測定應(yīng)在聲場的()以外進(jìn)行。25.顯像后如發(fā)現(xiàn)零件表面殘留滲透液過多而無法判定時(shí),應(yīng)重新從()開始,做滲透檢驗(yàn)的全過程。26.為提高觀片效果,觀片室環(huán)境亮度盡可能與透過底片光線的亮27.微觀裂紋:在()下才能發(fā)現(xiàn)。答:顯微鏡28.透照工件時(shí),一般在暗盒后面放張薄鉛板,作用是()。答:防止背散射29.通常,斜角探傷時(shí),探傷面的修整區(qū)域應(yīng)能滿足()。答:二次波的掃查范圍無損探傷工(技師、高級(jí)技師)真題及答30.停顯液的成分是()的冰醋酸。答:1.5%~5%31.調(diào)節(jié)衰減器抑制旋鈕會(huì)影響()。32.探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長的()。它隨頻率的增加、晶片直徑的減小而()。答:函數(shù);增大33.探頭內(nèi)吸收塊的主要作用是()、()、()。答:防止產(chǎn)生雜波;使脈沖變窄;使盲區(qū)變小34.探傷時(shí)有可能進(jìn)入(),而清潔又較困難的孔部位事先最好()。答:磁粉;用塞堵好35.探傷結(jié)束時(shí)可用對比試塊驗(yàn)證()。答:滲透系統(tǒng)靈敏度36.探測鑄件時(shí)因表面粗糙,為確保足夠的靈敏度,采用()較好。答:水洗型熒光法37.所謂"()"就是指膠片從放入定影液到所有AgBr完全溶解的答:通透時(shí)間38.室外照相一般采用(),用計(jì)量檢測儀測定安全距離是簡單易行而又切合實(shí)際的方法。答:距離防護(hù)法39.式樣的缺口形式有()和()兩種。答:夏比U型;夏比V型40.使用與探傷面具有高對比度的顏色的()。答:磁粉42.聲速按不同情況,可分為()和()。答:相速度;群速度43.聲束集中向一個(gè)方向輻射的性質(zhì)叫做()。答:聲束的指向性44.聲強(qiáng)具有()的概念。45.聲場的特征量通常用()、()、()等來描述。答:聲壓;聲強(qiáng);聲阻抗46.滲透檢驗(yàn)時(shí),零件溫度如果過低,則滲透液粘度會(huì)()。答:變高47.射線通過膠片時(shí),能在膠片上激發(fā)出自由電子,這種散亂的自由電子也能使膠片感光,形成不清晰度,這種不清晰度稱為"()答:固有不清晰度48.射線束在透照區(qū)端部斜向最大穿透厚度與該處實(shí)際厚度的比答:透照厚度比K值49.射線膠片中的溴化銀微粒銀的正離子失去電子,使曝光的膠片中形成所謂的"()"。50.射線膠片的組成部分有()。51.射線安全防護(hù)措施一般不作為考慮因素的是()和()。答:輻射源尺寸;比度52.若儀器重復(fù)頻率過高,掃描時(shí)示波屏上將會(huì)出現(xiàn)()。53.如果沒有規(guī)定磁化電流,磁化電流應(yīng)()確定,然后記在()。答:通過實(shí)驗(yàn);技術(shù)卡上54.親水性乳化劑中的水含量能對乳化劑的靈敏度發(fā)生影響,較好的水含量是()。答:10%55.鉛箔增感屏前屏起增感、吸收軟射線作用,后屏主要起()作答:吸收散射線56.拍攝具有厚薄差異的試件時(shí),為了同時(shí)得到不同厚薄處具有相同黑度的底片,一般可采用在暗盒內(nèi)同時(shí)裝兩張具有()。答:不同感光速度的膠片重疊曝光57.目前應(yīng)用于超聲波檢測的超聲波波型有()、()、()、()、答:縱波;橫波;表面波;板波;爬波58.某給定物質(zhì)對連續(xù)X射線而言,其線衰減系數(shù)隨物質(zhì)厚度的答:減小59.盲區(qū)是指探頭的()。答:主要性能指標(biāo)60.漏磁場與材料的()有關(guān)。61.流線這一術(shù)語是用來形容磁化電流過大在試件表面上形成的答:磁粉圖形62.靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片的使用可以了解探傷面上的()和()。答:磁場方向;大小63.兩束頻率相同但行進(jìn)方向相反的聲波疊加可形成()。64.連續(xù)X射線的能量與管電壓有關(guān),與()無關(guān)。65.康普頓效應(yīng)中()未被完全吸收。答:光子66.進(jìn)行γ射線探傷作業(yè)時(shí),必須考慮()和()、()、(),以保證作業(yè)人員的受照劑量低于年劑量限值,并應(yīng)達(dá)到可以合理做到的盡可能低的水平。答:γ射線探傷機(jī);被檢物體的距離;照射方向;時(shí)間和屏蔽條件67.金屬材料的拉伸曲線,縱坐標(biāo)是(),橫坐標(biāo)是()。答:載荷;伸長量68.接觸法探傷中,若一個(gè)斜探頭在鋼中產(chǎn)生(),則該探頭在鋁中產(chǎn)生的切變波角度()。答:45°切變波;小于45°69.膠片曝光的部分越多,耗費(fèi)的顯影液也()。70.將工件加熱到居里點(diǎn)溫度以上能夠()。答:退磁71.機(jī)電耦合系數(shù)Kt較大能獲得較高的()。答:轉(zhuǎn)換效率72.厚工件中的(),即使透照方向適當(dāng),也不能被檢出。答:緊閉裂紋73.橫波是指波的()與()的一種波動(dòng)類型,它只能在固體介質(zhì)中傳播。答:傳播方向;質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直74.橫波入射時(shí)使同介質(zhì)中的縱波反射角等于()時(shí)的橫波入射角答:90°;第三臨界角75.焊縫探傷中若條件允許,應(yīng)盡量選擇()的斜探頭。答:K值較大76.光子能量大于1.02MeV時(shí),生成()。答:電子對效應(yīng)77.固體介質(zhì)中脈沖波聲場的近場區(qū)其聲壓極值點(diǎn)數(shù)量較理想聲場(),且極大極小值幅度()。答:減少;差異縮小78.鈷60的半衰期為5.3年,如該放射源已存放(),則透照時(shí)的曝光時(shí)間應(yīng)增加約()。答:三年;49%79.工件對比度受試件厚度差影響()。答:最大80.鋼管水浸探傷時(shí)水中加入適量潤濕劑的主要作用是()。答:消除水中的空氣81.鋼板水浸探傷中,如果入射角為(),在板中將會(huì)產(chǎn)生()。答:33°;橫波82.放射性同位素衰變時(shí),同位素的原子核是以()和()蛻變的。答:粒子發(fā)射;K俘獲方式83.放射性同位素的放射性活度是指其在單位時(shí)間內(nèi)的()。答:原子衰變數(shù)84.對于相同物體,易于透過的X射線其線質(zhì)硬,硬X射線比軟答:波長短;衰減系數(shù)?。话雰r(jià)層厚85.對于射線檢驗(yàn)的防護(hù)而言,應(yīng)著重考慮的是全身均勻照射的答:隨機(jī)效應(yīng)86.對于γ、X射線,其劑量當(dāng)量中的線質(zhì)系數(shù)值為()。87.對小口徑薄壁管采用雙壁透照雙面成像時(shí),有效透照長度與()基本無關(guān)。答:焦距88.對滲透后的清洗要求為清洗到零件表面上多余的滲透劑()的程度。答:剛好除掉89.對某一曝光曲線的使用,應(yīng)按照與曝光曲線相同的條件實(shí)施,答:同一類型的膠片;相同的X射線機(jī)90.對稱型蘭姆波的特點(diǎn)是薄板中心質(zhì)點(diǎn)作(),上下表面質(zhì)點(diǎn)作(),振動(dòng)相位相反并對稱于中心。答:縱向振動(dòng);橢圓運(yùn)動(dòng)91.鍛件中非金屬夾雜物的取向一般是()時(shí)的變形方向。答:平行于鍛造92.鍛件探傷中,熒光屏上出現(xiàn)"淋狀波"是由于工件材料晶粒()。93.電子與質(zhì)子的電荷基本(),符號(hào)()。答:相等;相反94.電磁波波長的數(shù)字計(jì)算式為()。95.底片的黑度取決于射線強(qiáng)度與曝光時(shí)間的乘積,即當(dāng)采用熒光或金屬熒光增感屏?xí)r,()與()不成反比關(guān)系。答:射線強(qiáng)度;曝光時(shí)間96.當(dāng)需要最快的速度時(shí)要求選用()。答:大顆粒的X射線底片97.當(dāng)光子經(jīng)過康普頓效應(yīng)后,通常要產(chǎn)生()。答:二次射線98.當(dāng)固有不清晰度不大于幾何不清晰度時(shí),只要改善(),仍可得到高清晰度的底片。答:幾何不清晰度99.當(dāng)S≤1.64N的區(qū)域?qū)儆诔暡ǖ?)。100.單位時(shí)間內(nèi)垂直通過單位面積的超聲能量稱為()。101.搭接接頭的焊縫屬于()。答:角焊縫102.磁極處磁力線()。103.磁化的磁場強(qiáng)度與材料的()有關(guān)。104.磁粉的磁導(dǎo)率越高越()。答:好105.垂直入射時(shí),超聲波的聲速一般只與()和()有關(guān),而與()無關(guān)。答:介質(zhì)彈性模量;密度;頻率106.超聲波只有在斜射時(shí)才能在()發(fā)生波型轉(zhuǎn)換,并且至少一答:異質(zhì)界面;固體107.超聲波在某一角度范圍內(nèi)集中輻射的性質(zhì)稱為()。答:指向性108.超聲波通過異質(zhì)薄層時(shí),聲壓反射率和透過率不僅與()和()有關(guān),而且與()與()有關(guān)。答:介質(zhì)聲阻抗;薄層聲阻抗;薄層厚度;波長之比109.超聲波探傷儀的()與()不是一回事。答:脈沖重復(fù)頻率;探傷頻率110.超聲波探測氣孔時(shí),反射波不變,這是因?yàn)闅饪淄ǔJ?)的,其反射波是()的。111.超聲波檢測中,橫波探傷常用于()和()探傷。答:焊縫;管材112.超聲波的衰減主要取決于()、()、()等。答:聲程傳播的距離;材料的晶粒度;材料的粘滯性113.超聲波從一種介質(zhì),傾斜入射到平界面時(shí),將產(chǎn)生反射(),由于波形轉(zhuǎn)換,又產(chǎn)生反射()。答:縱波;橫波114.超聲波垂直入射到某界面,如第一介質(zhì)聲阻抗
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