常見(jiàn)軟件項(xiàng)目度量指標(biāo)介紹

1、常見(jiàn)軟件項(xiàng)目度量指標(biāo)介紹基本度量項(xiàng)持續(xù)時(shí)間偏差(%)(實(shí)際持續(xù)時(shí)間-計(jì)劃持續(xù)時(shí)間)/計(jì)劃持續(xù)時(shí)間)*100 (持續(xù)時(shí)間不包含非工作日)進(jìn)度偏差(%)(實(shí)際結(jié)束時(shí)間-計(jì)劃結(jié)束時(shí)間)/計(jì)劃持續(xù)時(shí)間)*100工作量偏差(%)(實(shí)際工作量-計(jì)劃工作量)/計(jì)劃工作量規(guī)模偏差(%)(實(shí)際規(guī)模-計(jì)劃規(guī)劃)/計(jì)劃規(guī)模)*100分配需求穩(wěn)定性指數(shù)(%)(1-(修改、增加或刪除的分配需求數(shù)/初始的分配需求數(shù))*100軟件需求穩(wěn)定性指數(shù)(%)(1-(修改、增加或刪除的軟件需求數(shù)/初始的軟件需求數(shù))*100發(fā)布前缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)(發(fā)布后缺陷發(fā)現(xiàn)總數(shù)-(發(fā)布后前測(cè)試計(jì)劃本身缺陷數(shù))/規(guī)模(KLOC)(這里的

2、發(fā)布指開(kāi)發(fā)向測(cè)試部發(fā)布)遺留缺陷密度(個(gè)/KLOC)(遺留缺陷：測(cè)試部發(fā)現(xiàn)的缺陷)(測(cè)試部發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)-測(cè)試部測(cè)試計(jì)劃本身缺陷數(shù))/規(guī)模(KLOC)生產(chǎn)率(LOC/人天)軟件規(guī)模(LOC)/總工作(人天)質(zhì)量控制活動(dòng)缺陷發(fā)現(xiàn)密度 (度量目的：建立基線，評(píng)估評(píng)審、測(cè)試是否充分提供參考)SRS評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/頁(yè))SRS評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/SRS文檔頁(yè)數(shù)STP評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/用例)STP評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/ST用例數(shù)HLD評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/頁(yè))HLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/HLD文檔頁(yè)數(shù)ITP評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/用例)ITP評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/IT用例數(shù)LLD評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/頁(yè))LLD評(píng)審

3、發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/LLD文檔頁(yè)數(shù)UTP評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/用例)UTP計(jì)劃評(píng)審發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT用例數(shù)CODE評(píng)審缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)CODE評(píng)審發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/編碼階段代碼規(guī)模UT缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)UT發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/UT階段代碼規(guī)模IT缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)IT發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/IT階段代碼規(guī)模ST缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)ST發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)/ST階段代碼規(guī)模缺陷類(lèi)型引入密度：(度量目的：建立基線，為分析能力水平薄弱環(huán)節(jié)及交付件質(zhì)量提供參考)SR缺陷引入密度(個(gè)/頁(yè))SRS類(lèi)型缺陷數(shù)/SRS文檔頁(yè)數(shù)HLD缺陷引入密度(個(gè)/頁(yè))HLD類(lèi)型缺陷數(shù)/HLD文檔頁(yè)數(shù)LLD缺陷引入密度(個(gè)/頁(yè)

4、)LLD類(lèi)型缺陷數(shù)/LLD文檔頁(yè)數(shù)Code缺陷引入密度(個(gè)/KLOC)CODE類(lèi)缺陷數(shù)/代碼規(guī)模評(píng)審活動(dòng)的有效性 (度量目的：建立基線，對(duì)相關(guān)評(píng)審是否充分提供參考)SRS評(píng)審有效性(%)SRS評(píng)審發(fā)現(xiàn)的SRS類(lèi)缺陷數(shù)/SRS類(lèi)缺陷總數(shù)HLD評(píng)審有效性(%)HLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的HLD類(lèi)缺陷數(shù)/HLD類(lèi)缺陷總數(shù)LLD評(píng)審有效性(%)LLD評(píng)審發(fā)現(xiàn)的LLD類(lèi)缺陷數(shù)/LLD類(lèi)缺陷總數(shù)代碼評(píng)審有效性(%)代碼評(píng)審發(fā)現(xiàn)的Code類(lèi)缺陷數(shù)/Code類(lèi)缺陷總數(shù)每千行代碼的文檔規(guī)模(度量目的：建立基線，為評(píng)估交付件的質(zhì)量從設(shè)計(jì)是否充分、粒度是否合理角度提供參考)每千行代碼SRS文檔規(guī)模(pages/KLOC)SRS

5、文檔頁(yè)數(shù)/代碼規(guī)模每千行代碼HLD文檔規(guī)模(pages/KLOC)HLD文檔頁(yè)數(shù)/代碼規(guī)模每千行代碼LLD文檔規(guī)模(pages/KLOC)LLD文檔頁(yè)數(shù)/代碼規(guī)模質(zhì)量成本質(zhì)量成本(%)(評(píng)審工作量+返工工作量+缺陷修改工作量+測(cè)試計(jì)劃準(zhǔn)備工作量+測(cè)試執(zhí)行工作量培訓(xùn)工作量質(zhì)量保證工作量)/實(shí)際總工作量返工成本指數(shù)(%)(返工工作量+缺陷修改工作量)/實(shí)際總工作量交付件生產(chǎn)率 SRS文檔生產(chǎn)率(頁(yè)/人天)SRS文檔頁(yè)數(shù)/(SRS文檔準(zhǔn)備工作量+SRS評(píng)審工作量+SRS修改工作量)STP用例生產(chǎn)率(用例/人天)ST用例數(shù)/(STP準(zhǔn)備工作量+STP評(píng)審工作量+STP修改工作量)HLD用例生產(chǎn)率(頁(yè)/

6、人天)HLD文檔頁(yè)數(shù)/(HLD文檔準(zhǔn)備工作量+HLD評(píng)審工作量+HLD修改工作量)ITP用例生產(chǎn)率(頁(yè)/人天)ITP用例數(shù)/(ITP準(zhǔn)備工作量+ITP評(píng)審工作量+ITP修改工作量)UTP用例生產(chǎn)率(頁(yè)/人天)UTP用例數(shù)/(UTP準(zhǔn)備工作量+UTP評(píng)審工作量+UTP修改工作量)編碼階段代碼生產(chǎn)率(LOC/人天)編碼階段實(shí)際代碼規(guī)模/(編碼工作量+代碼評(píng)審工作量+代碼修改工作量)測(cè)試執(zhí)行效率UT用例執(zhí)行效率(用例/人天)UT用例數(shù)/(UT準(zhǔn)備工作量+UT用例執(zhí)行工作量+UT缺陷修改工作量)IT用例執(zhí)行效率(用例/人天)IT用例數(shù)/(IT準(zhǔn)備工作量+IT用例執(zhí)行工作量+IT缺陷修改工作量)ST用例

7、執(zhí)行效率(用例/人天)ST用例數(shù)/(ST準(zhǔn)備工作量+ST用例執(zhí)行工作量+ST缺陷修改工作量)每千行代碼測(cè)試用例規(guī)模(度量目的：建立基線，為評(píng)估交付件的質(zhì)量從設(shè)計(jì)是否充分、粒度角度提供一個(gè)參考)每千行代碼ST用例規(guī)模(用例/KLOC)ST用例數(shù)/代碼規(guī)模每千行代碼IT用例規(guī)模(用例/KLOC)IT用例數(shù)/代碼規(guī)模每千行代碼UT用例規(guī)模(用例/KLOC)UT用例數(shù)/代碼規(guī)模實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度 (度量目的：建立基線，為評(píng)估測(cè)試用例的質(zhì)量提供一個(gè)參考)UT實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)UT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT活動(dòng)實(shí)際測(cè)試代碼規(guī)模IT實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)IT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT活動(dòng)實(shí)

8、際測(cè)試代碼規(guī)模ST實(shí)測(cè)規(guī)模缺陷發(fā)現(xiàn)密度(個(gè)/KLOC)ST發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)/UT活動(dòng)實(shí)際測(cè)試代碼規(guī)?？偨Y(jié):開(kāi)展度量活動(dòng)的一個(gè)最關(guān)鍵的因素是要保證度量基礎(chǔ)數(shù)據(jù)的有效、準(zhǔn)確性,否則度量結(jié)果將是垃圾,反而會(huì)起誤導(dǎo)作用.搜集準(zhǔn)確有效的度量數(shù)據(jù)工作量并不小，所以決定采用哪些度量項(xiàng)需要從投入和產(chǎn)出來(lái)衡量。測(cè)試過(guò)程中的常用度量元序號(hào)優(yōu)先級(jí)度量對(duì)象度量元度量單位采集周期采集/計(jì)算方法分析方法作用11用戶發(fā)現(xiàn)的各類(lèi)型的缺陷缺陷個(gè)數(shù)個(gè)交付階段直接統(tǒng)計(jì)80-20分析：對(duì)缺陷類(lèi)型按缺陷個(gè)數(shù)排序，找出客戶發(fā)現(xiàn)的最多的20%的缺陷類(lèi)型分析客戶的關(guān)注點(diǎn)是什么？為什么客戶能發(fā)現(xiàn)這些類(lèi)型的缺陷，為什么我們沒(méi)有測(cè)試出來(lái)？定義改進(jìn)措施

9、維護(hù)階段21軟件模塊缺陷密度個(gè)/KLOC系統(tǒng)測(cè)試階段缺陷個(gè)數(shù)/代碼規(guī)模80-20分析：對(duì)所有模塊的缺陷密度進(jìn)行排序比較，找出缺陷密度最大的20%模塊找出質(zhì)量最差的模塊，采取改進(jìn)措施31遺留的缺陷缺陷個(gè)數(shù)個(gè)系統(tǒng)測(cè)試階段上階段遺留的缺陷個(gè)數(shù)+本階段發(fā)現(xiàn)的缺陷個(gè)數(shù)-本階段解決的缺陷個(gè)數(shù)和階段出口準(zhǔn)則對(duì)比里程碑評(píng)審決策的依據(jù)41各級(jí)別嚴(yán)重程度的缺陷缺陷個(gè)數(shù)個(gè)系統(tǒng)測(cè)試階段直接統(tǒng)計(jì)和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比判斷是否達(dá)到測(cè)試結(jié)束與產(chǎn)品發(fā)布準(zhǔn)則51回歸測(cè)試活動(dòng)缺陷個(gè)數(shù)個(gè)系統(tǒng)測(cè)試階段直接統(tǒng)計(jì)趨勢(shì)線分析：橫坐標(biāo)為某次回歸測(cè)試，縱坐標(biāo)為缺陷個(gè)數(shù)，建立擬合曲線，判斷收斂性針對(duì)每次回歸測(cè)試活動(dòng)，進(jìn)行收斂分析，作為發(fā)布決策的依據(jù)62

10、代碼走查代碼走查的效率個(gè)/小時(shí)編碼階段代碼走查發(fā)現(xiàn)的缺陷個(gè)數(shù)/代碼走查的工作量和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比比較評(píng)審與測(cè)試的效率，以確定二者投入工作量的比例72單元測(cè)試測(cè)試效率個(gè)/小時(shí)編碼階段單元測(cè)試發(fā)現(xiàn)的缺陷個(gè)數(shù)/單元測(cè)試的工作量和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比建立單元測(cè)試的性能基線，預(yù)測(cè)單元測(cè)試投入的工作量82系統(tǒng)測(cè)試測(cè)試效率個(gè)/小時(shí)系統(tǒng)測(cè)試階段缺陷個(gè)數(shù)/測(cè)試工作量和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比建立測(cè)試活動(dòng)的投入產(chǎn)出模型，用以估計(jì)為了達(dá)到項(xiàng)目的質(zhì)量目標(biāo)而需要的測(cè)試工作量92系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試用例相對(duì)邏輯規(guī)模的密度個(gè)/功能點(diǎn)系統(tǒng)測(cè)試階段系統(tǒng)測(cè)試用例個(gè)數(shù)/需求的規(guī)模和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比判斷系統(tǒng)測(cè)試的充分性102系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試用例相對(duì)物理規(guī)模的密度個(gè)/KLOC系統(tǒng)測(cè)試階段系統(tǒng)測(cè)試用例個(gè)數(shù)/代碼規(guī)模和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比判斷系統(tǒng)測(cè)試的充分性113測(cè)試發(fā)現(xiàn)各類(lèi)型的缺陷缺陷個(gè)數(shù)個(gè)編碼階段直接統(tǒng)計(jì)80-20分析：對(duì)缺陷類(lèi)型按缺陷個(gè)數(shù)排序，找出最多的20%的缺陷類(lèi)型根據(jù)類(lèi)型的分布，查找錯(cuò)誤的原因，定義編碼或設(shè)計(jì)的改進(jìn)措施系統(tǒng)測(cè)試階段123單元測(cè)試缺陷密度個(gè)/KLOC編碼階段單元測(cè)試發(fā)現(xiàn)的缺陷個(gè)數(shù)/代碼規(guī)模和項(xiàng)目目標(biāo)對(duì)比建立單元測(cè)試的性能基線，用以制定項(xiàng)目的質(zhì)量目標(biāo)133單元測(cè)試單元測(cè)試用例相對(duì)物理規(guī)模的密度個(gè)/KLOC編碼階段單元測(cè)試用例個(gè)數(shù)