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1、測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試技術(shù)常見(jiàn)參量的測(cè)試技術(shù) 7 7、溫度的測(cè)量、溫度的測(cè)量 5 5、力、力矩和壓力的測(cè)量、力、力矩和壓力的測(cè)量 4 4、速度、轉(zhuǎn)速和加速度的測(cè)量、速度、轉(zhuǎn)速和加速度的測(cè)量 6 6、機(jī)械振動(dòng)的測(cè)試、機(jī)械振動(dòng)的測(cè)試 2 2、長(zhǎng)度及線(xiàn)位移的測(cè)量、長(zhǎng)度及線(xiàn)位移的測(cè)量 8 8、流量的測(cè)量、流量的測(cè)量 9 9、噪聲的測(cè)量、噪聲的測(cè)量 1 1、電參量的測(cè)量、電參量的測(cè)量 3 3、角度及角位移的測(cè)量、角度及角位移的測(cè)量測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章
2、常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試SI制中的七個(gè)基本量:制中的七個(gè)基本量:長(zhǎng)度(長(zhǎng)度(L)、質(zhì)量()、質(zhì)量(M)、時(shí)間()、時(shí)間(T)、電)、電 流(流(I)、溫度()、溫度(Q)、物質(zhì)的量()、物質(zhì)的量(N)、發(fā)光強(qiáng)度()、發(fā)光強(qiáng)度(J)機(jī)械類(lèi):粗糙度、平面度、同軸度、垂直度、硬度、剛度、強(qiáng)度等;機(jī)械類(lèi):粗糙度、平面度、同軸度、垂直度、硬度、剛度、強(qiáng)度等;物理類(lèi):濃度、濕度物理類(lèi):濃度、濕度 、黏度、黏度 、密度、濁度、溶解度、透光度、密度、濁度、溶解度、透光度、 速度、轉(zhuǎn)速、壓力速度、轉(zhuǎn)速、壓力/壓強(qiáng)、壽命、壓強(qiáng)、壽命、 真空度、
3、電離度、酸度、靈敏度、比熱、擴(kuò)散、輻射強(qiáng)度真空度、電離度、酸度、靈敏度、比熱、擴(kuò)散、輻射強(qiáng)度 電壓、電阻電壓、電阻/電導(dǎo)、功率、轉(zhuǎn)換效率、失真系數(shù)等;電導(dǎo)、功率、轉(zhuǎn)換效率、失真系數(shù)等; 化學(xué)元素測(cè)定、有機(jī)成分測(cè)定、化學(xué)結(jié)構(gòu)分析化學(xué)元素測(cè)定、有機(jī)成分測(cè)定、化學(xué)結(jié)構(gòu)分析 水分測(cè)定、碳水化合物測(cè)定、有毒水分測(cè)定、碳水化合物測(cè)定、有毒/爆炸物爆炸物/污染測(cè)定污染測(cè)定 地質(zhì)勘探、能源探測(cè)地質(zhì)勘探、能源探測(cè) 生命跡象探測(cè)生命跡象探測(cè) 、生物生理參數(shù)測(cè)定、生物生理參數(shù)測(cè)定測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試方
4、法的分類(lèi):測(cè)試方法的分類(lèi):v 電測(cè)法與非電測(cè)法電測(cè)法與非電測(cè)法v 直接測(cè)量與間接測(cè)量直接測(cè)量與間接測(cè)量v 單次測(cè)量與多次測(cè)量單次測(cè)量與多次測(cè)量v 等精度測(cè)量與不等精度測(cè)量等精度測(cè)量與不等精度測(cè)量v 偏差測(cè)量與零位測(cè)量偏差測(cè)量與零位測(cè)量v 模擬測(cè)量與數(shù)字測(cè)量模擬測(cè)量與數(shù)字測(cè)量v 手動(dòng)測(cè)量與自動(dòng)測(cè)量手動(dòng)測(cè)量與自動(dòng)測(cè)量測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試一、直流電壓測(cè)量一、直流電壓測(cè)量二、交流電壓測(cè)量二、交流電壓測(cè)量三、直流電流的測(cè)量三、直流電流的測(cè)量四、交流電流的測(cè)量四、交流電流的測(cè)量五、電阻、電容和電感的測(cè)量五、電阻、電容和電感的測(cè)量六、六、 功率的測(cè)量功率的測(cè)量七
5、、七、 頻率的測(cè)量頻率的測(cè)量八、八、 相位的測(cè)量相位的測(cè)量* *測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試數(shù)字萬(wàn)用表臺(tái)式高精度數(shù)字多用表卡鉗式萬(wàn)用表模/數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試兆歐表高壓數(shù)字電壓表微電流計(jì)數(shù)字功率表模擬示波器數(shù)字示波器測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖1.直流電壓表測(cè)量電路AR0RxE直流電壓表 由圖1可知,當(dāng)直流電壓表并接于被測(cè)電路兩端時(shí),由于R0的存在,電壓表所測(cè)得的電壓由原來(lái)的Ux改變?yōu)椋?0001()1/xxxxRUURRRR 01(1)1/xxxUURR 測(cè)試
6、技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試數(shù)字萬(wàn)用表均有電流電壓測(cè)量擋。與模擬式萬(wàn)用表相比,主要優(yōu)點(diǎn)是: (1) 輸入阻抗高,一般直流輸入阻抗可達(dá)20 M以上。 (2) 分辨力高,可精確到百分之一,即在10 V擋,可分辨到0.1 V,而指針式的模擬萬(wàn)用表的分辨力為最小刻度間隔所代表的電壓值的一半,量程越大,分辨力越低。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖2.數(shù)字直流電壓表測(cè)量電路框圖 數(shù)字電壓表一般由信號(hào)調(diào)理、模-數(shù)轉(zhuǎn)換、計(jì)數(shù)電路及控制電路幾大部分組成。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 正 弦 波脈 沖 波方
7、 波三 角 波低 頻 噪 聲 波階 梯 波圖3 常見(jiàn)電壓的波形測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 交流電壓幅度值的相對(duì)大小常用峰-峰值、平均值和有效值來(lái)表示。峰-峰值表示信號(hào)的最大值與最小值的差。對(duì)于對(duì)稱(chēng)的正弦信號(hào)來(lái)說(shuō),更常用的是峰值UP,其等于1/2的UP-P。如U(t)=Acosct,則有UP-P=2 A,UP=1 A。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試設(shè)電壓信號(hào)為U(t),其周期為T(mén),則平均值為: 這時(shí)平均值的意義為: UTdttUTU0)(1TdttUTU0)(1測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量
8、的測(cè)試3) 有效值URMS有效值指的是信號(hào)的均方根值(RMS)。電壓信號(hào)的有效值用URMS表示,其數(shù)學(xué)表達(dá)式為對(duì)于正弦波U(t)=Um cosct來(lái)說(shuō): (3-5) TKMSdttUTU02)(1(3-4)PPRMSUUU707. 02測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 (1) 波形因數(shù)KF: 表示電壓的有效值與平均值之比,即 (2) 波峰因數(shù)KP: 表示交流電壓的峰值與有效值之比,即uuKRMSFPPRMSuKu 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試交流電壓測(cè)量最主要的方法是用交-直轉(zhuǎn)換器將交流電壓變換為直流電壓,然后再對(duì)直流電壓
9、測(cè)量。 根據(jù)轉(zhuǎn)換器的性質(zhì)不同,可分為下列三種:、峰值響應(yīng)峰值交流電壓表、平均值響應(yīng)平均值交流電壓表、有效值響應(yīng)有效值交流電壓表測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試A、用模擬電路的技術(shù)和方法測(cè)量交流電壓,最常用的轉(zhuǎn)換器有峰值檢波器、平均值檢波器和有效值直流變換電路工作原理如圖5(a)、(b)、(c)所示。ux12VDCRuoux uo(a)(b)RuxDABEuA(c) 以峰值電壓表為例,其顯示值是將峰值檢波器檢測(cè)到的電壓值除以波峰因數(shù)KP得到的,若顯示讀數(shù)為,則2PPPRMSuKuu測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試解:峰值檢波器的
10、輸出為被測(cè)信號(hào)的最大幅度,由儀表的刻度關(guān)系知,被測(cè)方波的幅度為 。由于方波的有效值與峰值相當(dāng),故方波的有效值為14.1 V。 而對(duì)于有效值轉(zhuǎn)換器,其特性符合如下公式: 由于不同頻率的諧波的乘積在(0,T)上積分為0,公式可以簡(jiǎn)化為: V1 .14102TnTxdttututuTdttuTu022102)(.)()(1)(1TndttututuTu0222221)(.)()(1例:用一峰值電壓表去測(cè)量一個(gè)方波電壓,讀數(shù)為10 V,問(wèn)該方波電壓的有效值是多少? 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試檢波-放大式電壓表直接對(duì)被測(cè)電壓信號(hào)進(jìn)行檢波,然后對(duì)轉(zhuǎn)化成的直流信號(hào)進(jìn)行
11、處理并顯示,具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,輸入阻抗高,適用于高頻測(cè)量(幾百M(fèi)Hz)的特點(diǎn)。缺點(diǎn)是起始測(cè)量信號(hào)較大,非線(xiàn)性誤差亦大。目前多采用斬波式直流放大器,最高靈敏度可為幾十微伏,。其工作原理如圖6所示。圖6 檢波-放大式電壓表原理框圖峰值檢波器步進(jìn)分壓器 斬波式直流放大器微安表測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試放大-檢波式電壓表的工作原理如圖7(a)所示,這種電壓表的頻率范圍主要受放大器的帶寬限制,一般為20Hz-10MHz,而靈敏度受放大器內(nèi)部噪聲限制,一般為毫伏級(jí)。各個(gè)組成單元的基本特性如下阻抗變換器的作用是對(duì)外(輸入)呈現(xiàn)高阻抗,對(duì)內(nèi)(輸出)呈現(xiàn)低阻抗,典型的電路如圖
12、7(b)所示。其中,V1是高頻場(chǎng)效應(yīng)管,輸入電阻極大,輸入電容小于2 pF; V2為高頻晶體三極管,輸出電阻為R4,一般為100 ,該電路傳輸衰減系數(shù)較小,且能驅(qū)動(dòng)75 電纜。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 圖7 放大-檢波式模擬電壓表原理框圖(a) 放大-檢波式電壓表組成原理; (b) 阻抗變換器;(c) 衰減器; (d) 檢波器AC阻 抗 變 換 器衰 減 器檢 波 器寬 帶 放 大 器指 示 器峰值檢波器倍壓檢波器(a)VV2UoVR4R3V1R2R1UiR1R2UiC1C2Uo(b)(c)UiVDCRUiVD2C2RVD1C1Uo(d)Uo測(cè)試技術(shù)測(cè)
13、試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 2) 衰減器 衰減器的作用是在測(cè)量大信號(hào)時(shí)對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行衰減以擴(kuò)大測(cè)量量程。衰減器亦要求有寬帶的特性,在高頻時(shí)要考慮電路與元件的分布電容效應(yīng),采用復(fù)合阻容結(jié)構(gòu),典型的衰減器如圖7(c)所示。當(dāng)R1C1=R2C2時(shí),衰減比與頻率無(wú)關(guān)。 3) 寬帶放大器 寬帶放大器一般選用寬帶線(xiàn)性集成放大器,如LM733,可工作在直流到50 MHz的頻率范圍。 4) 檢波器 常用的檢波器有峰值檢波器和倍壓檢波器,如圖6(d) 所示。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試3 熱電偶式電壓表(有效值響應(yīng)法)熱電偶不僅可以用于電流測(cè)
14、量,而且可以作為電壓測(cè)量的核心部件。 4 外差式電壓表 由于頻響和靈敏度的限制,放大-檢波式電壓表、檢波-放大式電壓表和熱偶式電壓表均不可以用于高頻微伏級(jí)電壓檢測(cè)。這時(shí)可采用外差式電壓表,它的測(cè)量頻率可達(dá)幾百兆赫,靈敏度一般都是微伏級(jí)。其工作原理如圖8所示。探 頭混 頻 器中 頻 放 大檢 波 器指 示 電 表圖8 外差式電壓表原理框圖微安表測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試B、 交流數(shù)字電壓表低頻數(shù)字電壓表一般是在直流數(shù)字電壓表的基礎(chǔ)上增加放大器、交直流變換器而組成的,如圖9所示。高頻數(shù)字電壓表的一般組成如圖9(b)所示。它的檢波器探頭高頻特性較好。寬帶數(shù)字電
15、壓表的一般組成如圖9(c)所示。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 圖9 交流數(shù)字電壓表組成框圖(a)低頻數(shù)字電壓表組成框圖; (b)高頻數(shù)字電壓表組成框圖; (c)寬帶數(shù)字電壓表組成框圖; (d) 智能型電子電壓表組成框圖寬 帶 放 大 器輸 入檢 波 器直 流 數(shù) 字 電 壓 表輸 出高 阻 輸 入 探 頭(a)放 大 器輸 入檢 波 器直 流 數(shù) 字 電 壓 表輸 出(b)(c)檢 波 器 探 頭輸 入直 流 放 大 器直 流 數(shù) 字 電 壓 表輸 出寬 帶 放 大 器輸 入高 速 采 樣計(jì) 算 顯 示輸 出高 阻 輸 入 電 路(d)測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)
16、電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試C、 交流電壓測(cè)量的其他應(yīng)用1.脈沖電壓測(cè)量脈沖電壓的特點(diǎn)是幅度較大,持續(xù)時(shí)間短。如果用峰值檢波器檢測(cè)已知占空比的脈沖電壓,可以由數(shù)學(xué)的方法或根據(jù)經(jīng)驗(yàn)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行合適的修正。 2.噪聲電壓測(cè)量在電子學(xué)領(lǐng)域,噪聲電壓是一種普遍存在的隨機(jī)信號(hào)。典型的有電阻的熱噪聲、晶體三極管的內(nèi)部噪聲、電子放大器的輸出噪聲等等。在設(shè)計(jì)電子電路時(shí),免不了要對(duì)噪聲,特別是高斯白噪聲進(jìn)行測(cè)量。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試rRRErRRErrREREI/11)(圖10 直流電流測(cè)量 設(shè)電流表的內(nèi)阻為r,在圖10(a)所示測(cè)量電路中,
17、原電路中電流I=E/R,而在圖10(b)所示的電路中,電流改變?yōu)镮=E/(R+r) ,兩者的誤差為:IER(a)EAR(b)I測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試0UIR 一般電流小電流0RiRiRUUURIURI 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試02121HHUKIRK K KI IR 12Rn RUIn KH 霍爾元件的靈敏度大電流小電流測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 直流電流表多數(shù)為磁電式儀表,磁電式儀表一般由可動(dòng)線(xiàn)圈、游絲和永久磁鐵組成。線(xiàn)圈框架的轉(zhuǎn)軸上固定一個(gè)讀數(shù)指針,當(dāng)線(xiàn)圈流過(guò)電流時(shí)
18、,在磁場(chǎng)的作用下,可動(dòng)線(xiàn)圈發(fā)生偏轉(zhuǎn),帶動(dòng)上面固定的讀數(shù)指針偏轉(zhuǎn),偏轉(zhuǎn)的角度與通過(guò)可動(dòng)線(xiàn)圈的電流成正比。模擬直流電流表具有不需電池驅(qū)動(dòng)、顯示穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn),同時(shí)亦存在非線(xiàn)性誤差大、容易損壞等缺點(diǎn)。 3數(shù)字萬(wàn)用表是用電子技術(shù)來(lái)檢測(cè)直流電流的。通常在直流電流檔,對(duì)外電路來(lái)說(shuō),數(shù)字萬(wàn)用表僅相當(dāng)于一個(gè)取樣電阻RN(不同的量程RN的值不同),測(cè)量時(shí)RN上有電壓信號(hào)Ui=IRN,其測(cè)量過(guò)程如圖所示。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖11 交-直流轉(zhuǎn)換電路A 圖11所示的交直流轉(zhuǎn)換電路。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試我們可以通過(guò)測(cè)量這種與高頻
19、電流密切相關(guān)的直流電流的大小,間接地檢測(cè)出高頻電流的大小,具體原理如圖12所示。圖12 熱電偶電表原理GAECDB測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試微弱電信號(hào)是指電流/電壓10-6A/V的信號(hào).適用于直流或低頻弱電流信號(hào)的檢測(cè).適用于微弱音頻、微波、或短脈沖電信號(hào)的放大檢測(cè).測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試(一)恒流源式測(cè)量電阻(二)
20、恒流源式測(cè)量電阻2jxxwUURRR 230142xR RRUR RR 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試?yán)秒娮枳兓M(jìn)行參量測(cè)量的敏感元件有: 壓敏電阻電阻應(yīng)變片 熱敏電阻金屬/半導(dǎo)體熱敏元件 光敏電阻光導(dǎo)管 磁敏電阻半導(dǎo)體磁阻元件測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試140322xCR RUR RC 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試140322xLR RUR RL 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試一、 直流低頻功率的測(cè)量由電工學(xué)可知,功率即為單位時(shí)間內(nèi)所做的功。具
21、體表達(dá)式為: tWP時(shí)間功功率( )在電阻電路中,還可導(dǎo)出:RUPRIP22,測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試2、 交流電路功率的測(cè)量對(duì)于純電感電路,電流滯后電壓90,如圖19(a)所示; 對(duì)于純電容電路,電流超前于電壓90,如圖12(b)所示。 圖19 U與I的相位關(guān)系UIUUIOtttOO(a)(b)(c)I測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試設(shè) ,則平均功率為:視在功率、無(wú)功功率與有效平均功率的關(guān)系為: )cos(2),cos(2tIitUucCcos)cos)2(cos()cos(cos)cos(211000UIdttTU
22、IdtttUITdtuiTPCTCTCT22RTAPPP測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖20為交直流功率表的工作原理與電路中單個(gè)負(fù)載的連接情況。 圖20 功率測(cè)量原理負(fù)載功 率 表線(xiàn) 路 電 壓C1C2V1V2測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖21中,兩個(gè)電壓線(xiàn)圈互相垂直安裝,一個(gè)與無(wú)感電阻相串聯(lián),一個(gè)與電感器相串聯(lián),所以可以近似地認(rèn)為兩線(xiàn)圈中的電流相位之差為90。電流線(xiàn)圈是與電路相串聯(lián)的,與被測(cè)線(xiàn)路電流同相。 圖21 功率因數(shù)連接電路電流線(xiàn)圈RR負(fù)載電壓垂直活動(dòng)線(xiàn)圈輸入測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常
23、見(jiàn)參量的測(cè)試圖22 經(jīng)典型電度表的結(jié)構(gòu)S1線(xiàn) 電 壓S2DMM永 久 磁 鐵鋁 盤(pán)負(fù) 載RFFBFFF到 指 示 度 盤(pán)(A)電 樞 感應(yīng)式電度表是利用電壓和電流線(xiàn)圈在鋁盤(pán)上產(chǎn)生的渦流與交變磁通相互作用產(chǎn)生電磁力,使鋁盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng),同時(shí)引入制動(dòng)力矩,使鋁盤(pán)轉(zhuǎn)速與負(fù)載功率成正比,通過(guò)軸向齒輪傳動(dòng),由計(jì)度器積算出轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)數(shù)而測(cè)定出電能。故電度表主要結(jié)構(gòu)是由電壓線(xiàn)圈、電流線(xiàn)圈、轉(zhuǎn)盤(pán)、轉(zhuǎn)軸、制動(dòng)磁鐵、齒輪、計(jì)度器等組成。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試3、 高頻和微波功率的測(cè)量 在高頻和微波頻段的各項(xiàng)電子測(cè)量項(xiàng)目中,功率測(cè)量是主要項(xiàng)目之一。接收機(jī)的靈敏度是以能接收的最小功率
24、來(lái)表征的。 高頻和微波頻段的功率測(cè)量都是基于將高頻和微波的能量轉(zhuǎn)換成熱、力、直流或低頻電量等能量形式來(lái)測(cè)量的。 按照測(cè)量的原理可以分為: (1)測(cè)輻射熱器功率計(jì)受熱元件有熱敏電阻、鎮(zhèn)流電阻和薄膜測(cè)熱電阻等(2)熱電偶式功率計(jì)(3)量熱式功率計(jì)測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試微波功率計(jì)測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試4、 功率測(cè)量與電壓測(cè)量的電平表示(1) 絕對(duì)功率電平LP。以600 電阻上消耗1 mW的功率作為基準(zhǔn)功率,任意功率與之相比的對(duì)數(shù)稱(chēng)為絕對(duì)功率電平,其值為 (2) 相對(duì)功率電平L dBmPPLxP0lg10dBPPL
25、BAPlg10 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試由于600 電阻上消耗的功率為1 mW,其上的電壓為0.775 V,以此作為基準(zhǔn)電壓,可以確定電壓的絕對(duì)電平Lu和相對(duì)電平Lu分別為 要注意的是量程問(wèn)題。電壓表的量程是乘數(shù)關(guān)系,電平表則是加法關(guān)系。因此在擴(kuò)大N倍量程的情況下,有dBuuLdBVuLBxuxulg20775. 0lg20NuNuLxxulg20775. 0lg20775. 0lg20測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試?yán)河肕F-20電子多用表的30 V量程測(cè)量電壓,當(dāng)該量程的讀數(shù)為27.5 V時(shí),問(wèn)該電壓信號(hào)對(duì)應(yīng)的分
26、貝值是多少?解:因?yàn)镸F-20多用表將1.5 V量程刻度線(xiàn)上的0.775 V定義為0 dB,30V量程是1.5 V的20倍擴(kuò)展,27.5 V示值位置對(duì)應(yīng)在1.5 V量程上的讀數(shù)為1.38 V,所以有dBVLu31775. 038. 1lg2026測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 (一)頻率與時(shí)間測(cè)量的特點(diǎn)與其他各種物理測(cè)量相比,頻率與時(shí)間測(cè)量具有如下特點(diǎn): (1) 時(shí)頻測(cè)量具有動(dòng)態(tài)性質(zhì)。 (2) 測(cè)量精度高。(3) 測(cè)量范圍廣。(4) 頻率信息的傳輸和處理比較容易。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第
27、六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試出現(xiàn)并得到過(guò)應(yīng)用的測(cè)頻方法與儀器主要有以下幾種: (1)諧振法: 利用LC回路的諧振特性進(jìn)行測(cè)頻(如諧振式波長(zhǎng)表可測(cè)無(wú)源LC回路的固有諧振頻率), 測(cè)頻范圍為0.51500 MHz。(2)外差法: 改變標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)頻率,使它與被測(cè)信號(hào)混合,取其差頻,當(dāng)差頻為零時(shí)讀取頻率。這種外差式頻率計(jì)可測(cè)高達(dá)3000 MHz的微弱信號(hào)的頻率,測(cè)頻精確度為10-6左右。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試(3)示波法: 在示波器上根據(jù)李沙育圖形或信號(hào)波形的周期個(gè)數(shù)進(jìn)行測(cè)頻。這種方法的測(cè)量頻率范圍從音頻到高頻信號(hào)皆可。(4)電子計(jì)數(shù)器法: 直接計(jì)
28、數(shù)單位時(shí)間內(nèi)被測(cè)信號(hào)的脈沖數(shù),然后以數(shù)字形式顯示頻率值。這種方法測(cè)量精確度高、快速,適合不同頻率、不同精確度測(cè)頻的需要。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試計(jì)數(shù)是電子計(jì)數(shù)器最基本的功能。因此,盡管電子計(jì)數(shù)器的種類(lèi)很多,但其基本的工作原理可用圖22所示的簡(jiǎn)化方框圖加以說(shuō)明。 圖22 電子計(jì)數(shù)器簡(jiǎn)化方框圖主 門(mén)計(jì) 數(shù) 顯 示 電 路21TBTA被測(cè)信號(hào)被測(cè)信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)脈沖信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)脈沖信號(hào)測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 當(dāng)把周期為T(mén)A的脈沖信號(hào)由“1”端加入后,假設(shè)在閘門(mén)信號(hào)的上升沿主門(mén)打開(kāi),計(jì)數(shù)器對(duì)輸入脈沖信號(hào)進(jìn)行累加計(jì)數(shù),在閘門(mén)信號(hào)的
29、下降沿主門(mén)關(guān)閉,計(jì)數(shù)器停止計(jì)數(shù),顯然計(jì)數(shù)器所計(jì)之?dāng)?shù)N為:BABAABffTfTTN測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試(二) 通用電子計(jì)數(shù)器1、 通用電子計(jì)數(shù)器的主要技術(shù)性能 用于測(cè)頻的通用電子計(jì)數(shù)器其主要技術(shù)性能包括: (1 1) 測(cè)試性能:測(cè)試性能:儀器所具備的測(cè)試功能,如測(cè)量頻率、周期、頻率比等。 (2 2) 測(cè)量范圍:測(cè)量范圍:儀器的有效測(cè)量范圍。在測(cè)頻和測(cè)周期時(shí),測(cè)量范圍不同。測(cè)頻時(shí)要指明頻率的上限和下限; 測(cè)周期時(shí)要指明周期的最大值和最小值。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試(3 3) 輸入特性輸入特性:通用電子計(jì)數(shù)器一
30、般由23個(gè)輸入通道組成,需分別指出各個(gè)通道的特性,包括:輸入耦合方式: 有AC和DC兩種耦合方式。在低頻和脈沖信號(hào)計(jì)數(shù)時(shí)宜采用DC耦合方式。(4 4) 測(cè)量準(zhǔn)確度:測(cè)量準(zhǔn)確度:常用測(cè)量誤差來(lái)表示,主要由時(shí)基誤差和計(jì)數(shù)誤差決定,時(shí)基誤差由內(nèi)部晶體振蕩器的穩(wěn)定度確定。表1概括了以上三類(lèi)振蕩器的頻率穩(wěn)定度。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試 (5 5) 閘門(mén)時(shí)間和時(shí)標(biāo):閘門(mén)時(shí)間和時(shí)標(biāo): 由機(jī)內(nèi)時(shí)標(biāo)信號(hào)源所能提供的時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)決定。根據(jù)測(cè)頻和測(cè)周期的范圍不同,可提供的閘門(mén)時(shí)間和時(shí)標(biāo)信號(hào)有多種供選擇,如通常的0.01 s、0.1 s、1 s、10 s等。 (6 6) 顯
31、示及工作方式顯示及工作方式: 包括顯示位數(shù)、顯示時(shí)間、顯示方式等。 顯示位數(shù): 可顯示的數(shù)字位數(shù),如常見(jiàn)的8位。 顯示時(shí)間: 兩次測(cè)量之間顯示結(jié)果的時(shí)間,一般是可調(diào)的。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試顯示方式: 有記憶和不記憶兩種顯示方式。記憶顯示方式只顯示最終計(jì)數(shù)的結(jié)果,不顯示正在計(jì)數(shù)的過(guò)程。實(shí)際上顯示的數(shù)字是剛結(jié)束的一次測(cè)量結(jié)果,顯示的數(shù)字保留至下一次計(jì)數(shù)過(guò)程結(jié)束時(shí)再刷新。不記憶顯示方式可顯示正在計(jì)數(shù)的過(guò)程。但多數(shù)計(jì)數(shù)器沒(méi)有這種顯示方式。 (7 7) 輸出:輸出: 包括儀器可輸出的時(shí)標(biāo)信號(hào)種類(lèi)、輸出數(shù)據(jù)的編碼方式及輸出電平等。、 頻率測(cè)量頻率的測(cè)量實(shí)際上就
32、是在單位時(shí)間內(nèi)對(duì)被測(cè)信號(hào)的變化次數(shù)進(jìn)行累加計(jì)數(shù)。其原理框圖如圖23所示。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖23 頻率測(cè)量的原理框圖A通 道主 門(mén)計(jì) 數(shù) 顯 示門(mén) 控 雙 穩(wěn)時(shí) 基 選 擇分 頻 器晶 振T2fx1BAABABTfNf TTf N測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖24 周期測(cè)量的原理框圖倍 頻 器時(shí) 標(biāo) 選 擇晶 振分 頻 器主 門(mén)門(mén) 控 雙 穩(wěn)計(jì) 數(shù) 顯 示閘 門(mén) 選 擇分 頻 器B通 道1ToTxTx2. 周期測(cè)量周期是頻率的倒數(shù),因此周期的測(cè)量和頻率的測(cè)量正好相反。其原理框圖如圖24所示。0 xTN T 測(cè)
33、試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試3. 時(shí)間間隔測(cè)量時(shí)間間隔測(cè)量和周期的測(cè)量都是測(cè)量信號(hào)的時(shí)間,因此測(cè)量電路大體相同,所不同的是測(cè)量時(shí)間間隔需要B、C兩個(gè)通道分別送出起始和停止信號(hào)去控制門(mén)控雙穩(wěn)電路以形成閘門(mén)信號(hào),其工作原理如圖25所示。 圖25 時(shí)間間隔測(cè)量的原理框圖 倍頻器時(shí)標(biāo)選擇主門(mén)計(jì)數(shù)顯示To12門(mén)控雙穩(wěn)分頻器晶振tBCtBtCB通道C通道tBtCB信號(hào)C信號(hào)NTtCB測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖25 輸入信號(hào)任意兩點(diǎn)間的時(shí)間間隔測(cè)量示意圖起始脈沖起始脈沖終止脈沖開(kāi)門(mén)信號(hào)開(kāi)門(mén)信號(hào)(50%)(50%)(50%)uB終止
34、脈沖uC(a)uB(b)(50%)uC測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試4. 相位差測(cè)量相位差測(cè)量通常是指兩個(gè)同頻率的信號(hào)之間的相位差的測(cè)量。相位差測(cè)量的主要方法有示波器法、比較器法、直讀法等。利用電子計(jì)數(shù)器也可進(jìn)行相位差的測(cè)量,它是時(shí)間間隔測(cè)量的一個(gè)應(yīng)用。瞬時(shí)值數(shù)字相位差測(cè)量原理框圖如圖26所示,通過(guò)測(cè)量?jī)蓚€(gè)正弦波上兩個(gè)相應(yīng)點(diǎn)之間的時(shí)間間隔,可換算出它們之間的相位差。B通道C通道門(mén)控電路計(jì)數(shù)門(mén)計(jì)數(shù)顯示時(shí)標(biāo)信號(hào)置零u1u2u3u41u2u圖26 瞬時(shí)值數(shù)字相位差測(cè)量原理框圖測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖27 瞬時(shí)值數(shù)字相位差
35、測(cè)量工作波形u(t)Ou1u2Tx1uO2uOu3Ou4Ottttttt測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試設(shè)被測(cè)信號(hào)周期為T(mén)x,門(mén)控信號(hào)u3的寬度,亦即兩個(gè)信號(hào)相位差對(duì)應(yīng)的時(shí)間為t,則 式中,Ts為時(shí)標(biāo)信號(hào)周期。 由以上兩式可得: sxNTtTt360360360sxxsffNTNT測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試兩次測(cè)量結(jié)果取平均值: 再利用式(6-7)可得相位差。 5. 頻率比f(wàn)B/fA測(cè)量頻率比是指兩路信號(hào)源的頻率的比值。其測(cè)量原理與頻率、周期測(cè)量的原理類(lèi)似,如圖28所示。 221tttA通 道主 門(mén)B通 道門(mén) 控 信 號(hào)
36、fAfB計(jì) 數(shù)TBTA譯 碼 顯 示圖28 頻率比測(cè)量原理框圖測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖29 累加計(jì)數(shù)和計(jì)時(shí)的原理框圖放大整形主門(mén)門(mén)控信號(hào)被測(cè)信號(hào)計(jì)數(shù)Tc譯碼顯示開(kāi)始停止Tx 6. 累加計(jì)數(shù)和計(jì)時(shí)累加計(jì)數(shù)是電子計(jì)數(shù)器最基本的功能,是指在一段較長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)累加被測(cè)信號(hào)的脈沖個(gè)數(shù),測(cè)量原理框圖如圖29所示。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖30 電子計(jì)數(shù)器的自校原理框圖晶 體 振 蕩倍 頻 電 路時(shí) 標(biāo) 選 擇主 門(mén)Tc計(jì) 數(shù)譯 碼 顯 示門(mén) 控 信 號(hào)時(shí) 基 選 擇分 頻 電 路Ts7. 自校在使用電子計(jì)數(shù)器測(cè)量之前,應(yīng)對(duì)
37、電子計(jì)數(shù)器進(jìn)行自校,一是檢驗(yàn)電子計(jì)數(shù)器的邏輯關(guān)系是否正常,二是檢驗(yàn)電子計(jì)數(shù)器能否準(zhǔn)確地進(jìn)行定量測(cè)量。自校的原理框圖如圖30所示。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖31 通用電子計(jì)數(shù)器的基本組成框圖A通 道控 制 電 路B通 道主 門(mén)倍 頻 器計(jì) 數(shù) 器顯 示 器晶 振時(shí) 標(biāo) 選 擇分 頻 器閘 門(mén) 選 擇分 頻 器電 源S3514126 (三)通用電子計(jì)數(shù)器的基本組成通用電子計(jì)數(shù)器一般由六大部分組成,如圖3 1所示測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試1. 輸入通道部分通用計(jì)數(shù)器的輸入電路一般包含A、B、C三個(gè)輸入通道(圖6.11中
38、只畫(huà)出A、B兩個(gè)通道,因此在測(cè)量時(shí)間間隔時(shí)需配時(shí)間間隔測(cè)量插件通道C),其中A為主通道,頻帶較寬; B、C主要在測(cè)量周期、頻率比以及時(shí)間間隔時(shí)使用,稱(chēng)為輔助通道。三個(gè)輸入通道都由放大器、衰減器及整形電路等組成。2. 計(jì)數(shù)器 計(jì)數(shù)器由觸發(fā)器構(gòu)成, 對(duì)來(lái)自主門(mén)的脈沖信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)。在數(shù)字儀表中,最常用的是按8421碼進(jìn)行編碼的十進(jìn)制計(jì)數(shù)器。計(jì)數(shù)器的最高工作頻率決定了儀器的最高測(cè)量頻率。目前計(jì)數(shù)器都已集成化,在使用時(shí)可當(dāng)做一個(gè)邏輯部件使用。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試3. 顯示部分顯示部分將累計(jì)的結(jié)果以十進(jìn)制數(shù)字的形式顯示出來(lái)。它包括譯碼和顯示電路。電子計(jì)數(shù)器以數(shù)
39、字方式顯示出被測(cè)量,目前常用的有LED顯示器和LCD顯示器。LED為數(shù)碼顯示,其優(yōu)點(diǎn)是工作電壓低,能與COMS/TTL電路兼容,發(fā)光亮度高,響應(yīng)快,壽命長(zhǎng)。LCD為液晶顯示,其突出優(yōu)點(diǎn)是供電電壓低和微功耗,它是各類(lèi)顯示器中功耗最低的。同時(shí),LCD制造工藝簡(jiǎn)單,體積小而薄,特別適用于小型數(shù)字儀表。特別是近年來(lái)圖形點(diǎn)陣LCD的大量應(yīng)用,為儀器帶來(lái)了更加豐富、直觀、智能的操作界面。測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試4. 時(shí)間基準(zhǔn)部分時(shí)間基準(zhǔn)電路包括晶體振蕩器、分頻器、倍頻器以及時(shí)基選擇電路。5. 主門(mén)及控制部分控制電路一般由雙穩(wěn)電路、單穩(wěn)電路等構(gòu)成,它包括門(mén)控電路,工
40、作方式選擇電路,記憶、顯示時(shí)間和復(fù)原控制電路等??刂齐娐返淖饔檬钱a(chǎn)生各種指令信號(hào),如閘門(mén)脈沖、閉鎖脈沖、顯示脈沖、復(fù)零脈沖、記憶脈沖等,控制和協(xié)調(diào)各單元電路的工作,使整機(jī)按一定的工作程序完成測(cè)量任務(wù)。 6. 電源部分這部分電路包括整機(jī)電源電路、晶體振蕩器和恒溫槽電源電路。 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖32 量化誤差的形成計(jì) 數(shù) 脈 沖閘 門(mén) 開(kāi) 啟 時(shí) 間 T脈 沖 數(shù)N 9閘 門(mén) 開(kāi) 啟 時(shí) 間 T脈 沖 數(shù)N 81 1) 量化誤差量化誤差如圖32所示,雖然閘門(mén)開(kāi)啟時(shí)間都為T(mén),但因?yàn)殚l門(mén)開(kāi)啟時(shí)刻不一樣,計(jì)數(shù)值一個(gè)為9,另一個(gè)卻為8,兩個(gè)計(jì)數(shù)值相差1。測(cè)
41、試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試圖33 噪聲和干擾產(chǎn)生的觸發(fā)誤差(a)(b)(c)E1E2量化誤差的相對(duì)誤差為: 2 2) 觸發(fā)誤差觸發(fā)誤差 施密特電路輸出規(guī)則的矩形波,如圖33(a)所示。 %1001%1001%100 xCNTfNNN測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試3 3) 標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差電子計(jì)數(shù)器在測(cè)量頻率和時(shí)間時(shí)是以晶振產(chǎn)生的各種時(shí)標(biāo)信號(hào)作為基準(zhǔn)的。顯然,如果時(shí)標(biāo)信號(hào)不穩(wěn)定,則會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差,這種誤差稱(chēng)為標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差。 1) 測(cè)頻誤差測(cè)頻誤差通過(guò)前面的介紹,測(cè)頻量化誤差可用下式表示: %1001%1001%10
42、0sNNTfNNN(6-9) 測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試2 2) 測(cè)周誤差測(cè)周誤差測(cè)周誤差包括測(cè)周量化誤差和觸發(fā)誤差。(1) 測(cè)周量化誤差。參照?qǐng)D6.3,以及對(duì)測(cè)頻量化誤差的分析,測(cè)周量化誤差為%1001%1001%100 xCxTfNNNTT測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試(2) 測(cè)周觸發(fā)誤差因?yàn)橐话汩T(mén)電路采用過(guò)零觸發(fā),可以證明觸發(fā)誤差可按下式近似表示: 3) 中界頻率的確定忽略隨機(jī)誤差,根據(jù)中界頻率的定義,可得到中界頻率的計(jì)算公式: (6-12) mMTTxn21(6-11) ScTmff 0測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試?yán)?,用電子?jì)數(shù)器測(cè)量fx=2 kHz信號(hào)的頻率,分別采用測(cè)頻(閘門(mén)時(shí)間為1s)和測(cè)周(晶振頻率fc=10 MHz)兩種測(cè)量方法,由于量化誤差所引起的相對(duì)誤差如下: 測(cè)頻率時(shí),量化誤差為測(cè)周期時(shí),量化誤差為 43105110211sxTfNN473102101021xcxxTfTT測(cè)試技術(shù)測(cè)試技術(shù)機(jī)電機(jī)電第六章第六章 常見(jiàn)參量的測(cè)試常見(jiàn)參量的測(cè)試中界頻率為4 4) 多周期測(cè)量多周期測(cè)量除采取以上措施外,測(cè)量時(shí)還應(yīng)注意以下事項(xiàng): (1) 每次測(cè)試前應(yīng)先對(duì)儀器進(jìn)行自校檢查,當(dāng)顯示正常時(shí)再進(jìn)行測(cè)試。(2)
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