基于TLC5510的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)_第1頁
基于TLC5510的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)_第2頁
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文檔簡(jiǎn)介

1、    1 tlc5510簡(jiǎn)介    tlc5510是美國德州儀器(ti)公司的8位半閃速架構(gòu)a/d轉(zhuǎn)換器,采用cmos工藝,大大減少比較器數(shù)tlc5510最大可提供20 mss的采樣率,可廣泛應(yīng)用于高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、數(shù)字tv、醫(yī)學(xué)圖像、視頻會(huì)議以及qam解調(diào)器等領(lǐng)域tlc5510的工作電源為5 v,功耗為100 mw(典型值)內(nèi)置采樣保持電路,可簡(jiǎn)化外圍電路設(shè)計(jì)tlc5510具有高阻抗并行接口和內(nèi)部基準(zhǔn)電阻,模擬輸入范圍為06 v26 v11 引腳功能描述    tlc5510采用24引腳的貼片封裝,其引腳

2、配置如圖1所示各引腳功能描述如下:    agnd:模擬信號(hào)地;    anglog in:模擬信號(hào)輸入端;    clk:時(shí)鐘輸入端;    dgnd:數(shù)字信號(hào)地;    d1d8:數(shù)據(jù)輸出端d1為數(shù)據(jù)低位,d8為數(shù)據(jù)高位;    oe:輸出使能端oe為低電平時(shí)數(shù)據(jù)端有效,否則數(shù)據(jù)端為高阻態(tài);    vdda:模擬電路工作電壓;    vddd:數(shù)字電路工

3、作電壓;    refts:內(nèi)部參考電壓當(dāng)內(nèi)部分壓器輸出額定2 v基準(zhǔn)電壓時(shí),該端短路至reft;    reft:參考電壓(t代表top為26 v);    refb:參考電壓(b代表bottom為06 v);    refbs:參考電壓當(dāng)內(nèi)部分壓器產(chǎn)生2 v的額定基準(zhǔn)電壓時(shí)該端短路至refb 12 典型應(yīng)用電路    tlc5510的基準(zhǔn)電源有多種接法,根據(jù)不同場(chǎng)合選擇適當(dāng)基準(zhǔn)電源,利用內(nèi)部基準(zhǔn)源,tlc5510典型應(yīng)用電路如圖2所示由于其測(cè)

4、量范圍為06 v26 v(即:tlc5510在轉(zhuǎn)換時(shí)模擬輸入06 v時(shí)對(duì)應(yīng)數(shù)字輸出00 000 000,26 v對(duì)應(yīng)的數(shù)字輸出11111 111),因此輸入信號(hào)在進(jìn)入tlc5510之前要對(duì)其處理,要使該輸入信號(hào)處于量程內(nèi),應(yīng)加入一個(gè)16 v的直流分量2 基于tlc5510的數(shù)據(jù)采集設(shè)計(jì)21 兩級(jí)采樣    tlc5510雖采樣率高,但受干擾嚴(yán)重基于上述特點(diǎn),將tlc5510運(yùn)用于寬頻數(shù)字示波器的數(shù)據(jù)采集為了提高抗干擾能力,專門設(shè)計(jì)一個(gè)有源晶振模塊為tlc5510提供采樣時(shí)鐘,但導(dǎo)致采樣率不可調(diào)為了解決這個(gè)問題,采用兩級(jí)采樣第一級(jí)采樣為控制ad轉(zhuǎn)換器對(duì)外圍的電信號(hào)高

5、速采樣,并將其采樣保存到fpga內(nèi)部寄存器,該級(jí)采樣率恒定不變,并由硬件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn);第二級(jí)采樣為軟件采樣,即由fpga采樣控制模塊從寄存器中提取第一級(jí)采集結(jié)果,該級(jí)采樣率是可調(diào)的22 等效采樣    根據(jù)奈奎斯特定律,采樣頻率高于信號(hào)頻率的兩倍就可恢復(fù)原波形當(dāng)采樣頻率等于或小于信號(hào)頻率可采用等效采樣,在不同周期獲取不同相位的幅值,根據(jù)相位將幅值連續(xù)排列即可復(fù)原波形    采用內(nèi)觸發(fā)采樣,即由被測(cè)信號(hào)的某相位點(diǎn)位為觸發(fā),然后存儲(chǔ)其實(shí)現(xiàn)過程:每一個(gè)完整的采樣需采集256個(gè)點(diǎn),每一個(gè)采樣點(diǎn)都是由相同電平觸發(fā),觸發(fā)后啟動(dòng)fpga內(nèi)部的計(jì)數(shù)器,對(duì)

6、高頻脈沖記數(shù),脈沖數(shù)不同,代表相位也不相同經(jīng)過256個(gè)周期,就可采集256個(gè)不同的相位點(diǎn)3  基于fpga的等效采樣31  實(shí)現(xiàn)方案    該系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用延遲法來實(shí)現(xiàn)等效采樣如圖3所示,設(shè)輸入信號(hào)f(t)的周期為t(頻率為f),若將f(t)的一個(gè)周期t以t等分,在時(shí)間t1進(jìn)行第一次取樣,為了采集到下一個(gè)相位點(diǎn),在時(shí)間t2進(jìn)行第二次采樣,t1t2可相隔多個(gè)信號(hào)周期假設(shè)m個(gè),則相鄰兩個(gè)采樣脈沖的時(shí)間間隔為(mt+t)如此類推,以下3個(gè)采樣點(diǎn)則分別在t3,t4,t5時(shí)刻采樣在每個(gè)觸發(fā)位置延時(shí)nt(n=0,1,2,3)后存儲(chǔ)采樣,即可合成一個(gè)完整波形這

7、種方法控制方便,通過fpga完成整個(gè)觸發(fā)、延時(shí)、采樣和存儲(chǔ)功能,但對(duì)觸發(fā)電路和延時(shí)電路要求很高32 硬件電路設(shè)計(jì)321 整形觸發(fā)電路    由于每一次采樣都要由某一事件觸發(fā),所以該系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用內(nèi)觸發(fā),即觸發(fā)源為被采樣信號(hào),并由硬件觸發(fā)電路實(shí)現(xiàn)該電路可把各種波形的周期信號(hào)整形為與原信號(hào)周期相同的方波信號(hào)    由于采用等效采樣技術(shù),其被測(cè)信號(hào)頻率較高假設(shè)被采樣信號(hào)的最高頻率約為10 mhz,則整形器件選用maxim公司的電壓比較器max912當(dāng)輸入信號(hào)電壓高于預(yù)置的觸發(fā)電平時(shí),輸出高電平;反之輸出低電平圖4所示為整形觸發(fā)電路322 采樣

8、保持電路    每次采樣是比觸發(fā)時(shí)刻延遲nt的數(shù)據(jù)點(diǎn),但由于被采樣信號(hào)頻率很高,要準(zhǔn)確采樣到該點(diǎn)基本無法實(shí)現(xiàn)為此需要引入采樣保持電路    采樣保持電路的功能:在采樣時(shí)刻到來之前,該模塊的輸出電壓隨輸入電壓變化當(dāng)?shù)竭_(dá)采樣時(shí)刻時(shí),輸出電壓保持不變以供tlc5510采樣其具體電路如圖5所示    該采樣保持電路由兩片運(yùn)算放大器a1,a2和模擬開關(guān)a3構(gòu)成,采樣時(shí)通過fpga控制時(shí)鐘使a3的通道s1導(dǎo)通a1,a2為單位增益的電壓跟隨器,故uo=uc=uo,此時(shí)電容充電至uc因電壓跟隨器的輸出電阻很小,故電容快速

9、充電斷開s1,由于uc無放電通路,其電壓基本不變,故uo保持不變,即保存采樣結(jié)果33 軟件編程控制    等效采樣的軟件控制實(shí)際上是指對(duì)采樣時(shí)刻的控制和對(duì)外同采樣保持電路時(shí)序的控制,該控制可以在fpga內(nèi)部編程實(shí)現(xiàn),對(duì)應(yīng)的實(shí)現(xiàn)模塊如圖6所示,主要由兩部分組成其一為數(shù)字鎖相環(huán)(pll),用于產(chǎn)生頻率足夠高的脈沖信號(hào)由于采樣率與t有關(guān),因此將原來fpga自帶的40 mhz時(shí)鐘信號(hào)送入數(shù)字鎖相環(huán)使之5倍頻,進(jìn)而提高至200 mhz其二為控制模塊,采用同步開啟異步復(fù)位的編程思想它有兩個(gè)時(shí)鐘輸入端:clkce2是被測(cè)信號(hào)經(jīng)整形電路后的脈沖信號(hào),該信號(hào)為同步信號(hào),也為觸發(fā)源每次采樣都由該信號(hào)觸發(fā)開始計(jì)數(shù);clk200是數(shù)字鎖相環(huán)產(chǎn)生的高頻采樣脈沖,計(jì)數(shù)開始后內(nèi)部計(jì)數(shù)器對(duì)clk200計(jì)數(shù),當(dāng)計(jì)數(shù)到m后(即mt時(shí)間),計(jì)數(shù)完畢,馬上控制采樣保持電路進(jìn)入保持狀態(tài),然后在經(jīng)過若干個(gè)clk200時(shí)鐘周期后(為了使信號(hào)完全進(jìn)入保持狀態(tài)電平達(dá)到穩(wěn)定),采樣該數(shù)據(jù)點(diǎn)(每一數(shù)據(jù)點(diǎn)代表一個(gè)相位的數(shù)據(jù)值)若每一個(gè)采樣周期需要采樣256個(gè)點(diǎn),則最大延時(shí)為256t=256200=128s,而被測(cè)信

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