TYPE C數(shù)據(jù)線規(guī)格書

1、TYPE C數(shù)據(jù)線規(guī)格書V1.0關(guān)鍵詞：TYPE C、數(shù)據(jù)線摘 要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測(cè)試規(guī)范。 縮略語： 1 范圍標(biāo)準(zhǔn)適用于 TYPE A TO C數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以TYPE C協(xié)會(huì)規(guī)范V1.1為準(zhǔn)。2 編寫依據(jù)序號(hào)No.文件編號(hào)Doc No.文件名稱 Doc Title1GJB1217電連接器試驗(yàn)方法2MIL-STD-202GTest method standard electronic and electrical component parts3GB/T 3048電線電纜電性能試驗(yàn)方法4GB4098射頻電纜試驗(yàn)方法5EIA-364-101Attenuation

2、 Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems6EIA-364-106Standing Wave Ratio (SWR) Test Procedure for Electrical Connectors7EIA-364-108Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR Measured in the Time and Frequency Domain Test Procedure f

3、or Electrical Connectors, Cable Assemblies or Interconnection Systems8GB5441.2工作電容試驗(yàn)-電橋法9EIA-364-103Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems10IEC 68-2-1基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：寒冷11GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法12IEC 68-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)

4、A：干熱13GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法14IEC 68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉0020的15GB/T 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉16ASTM G 21Standard Practice for Determining Resistance of Synthetic Polymeric Materials to Fungi17IEC 61587-1Mechanical structures for electronic equipmentTests for

5、IEC 60917 and IEC 60297Part 1 Climatic mechanical tests and safety aspects for cabinets racks subracks and chassis18GR 487Generic Requirements for Electronic Equipment Cabinets19IEC 68-2-30基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db及導(dǎo)則：交變濕熱（1212h循環(huán)）20GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法21IEC 68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧，

6、交變（氯化鈉溶液）22GB/T 2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）23IEC 529Degrees of protection provided by enclosure(IP code)24GB 4208外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）25EIA-364-38BCable pull-out test procedure for electrical connectors26EIA-364-41CCable flexing test procedure for electrical connectors27IEC 60950Safety of inf

7、ormation technology equipment28EN 60950Safety of information technology equipment29UL 60950Safety of information technology equipment30GB 4943信息技術(shù)設(shè)備的安全31IEC60332Tests on electric cabies under fire conditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗(yàn)33UL1581Reference standard for electical wires,cables,and flexible co

8、rds34GR 1217Generic requirements for separable electrical connectors used in telecommunications hardware35GR 950Generic Requirements for Optical Network Unit (ONU) Closures36USB Type-C Cable and Connector Specification V1.13 數(shù)據(jù)線正常工作和存儲(chǔ)條件3.1 數(shù)據(jù)線應(yīng)能在下列條件下正常工作：3.1.1 工作環(huán)境溫度：-20+55；（僅作單體驗(yàn)證目的，與整機(jī)匹配時(shí)以整機(jī)試驗(yàn)環(huán)境

9、為準(zhǔn)）；3.1.2 相對(duì)濕度：5%95%；3.1.3 大氣壓力：86 kPa106kPa;3.1.4 數(shù)據(jù)線的存儲(chǔ)溫度：-40+85；4 數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1 數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細(xì)尺寸以及工藝要求以3D圖檔為準(zhǔn)1、type C金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不能是折彎成型，不接受接縫；2、金屬插頭部分，要求做不銹鋼原色，表面噴砂處理: 50u”150u” MATT NICKEL PLATING OVER ALL3、 保證至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)格（BOM清單, 包括端子圖紙2D & 可拆解版本的3D）要有確認(rèn)才能認(rèn)可(認(rèn)證時(shí)必須提供以上文件)。4.2 線材主體信息： 4.2.

10、1 外觀5V/3A A plug TO C plug, cover式，白色半霧面,素材細(xì)咬花處理，MT110064.2.2 主體結(jié)構(gòu)項(xiàng)目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold&Cable & Housing &其他輔料NON-PVC無鹵滿足ROSH, 且無如下有害物質(zhì)添加:溴系阻燃劑Brominated Flame Retardants氯系阻燃劑Chlorinated Flame Retardants聚氯乙烯Polyvinyl Chloride (PVC)鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化銻 Antimony Trioxide鈹及其化

11、合物 Beryllium (Be) and its compounds接口USBB receptacle to TYPE C plug滿足5V 3A其他應(yīng)符合5.2節(jié)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)Voltage Rating:30VAC/DC導(dǎo)體材質(zhì)規(guī)格如下：材質(zhì)：鍍錫銅Signal Name Wire Gauge (AWG) VBUS /GND端到端阻抗不大于80m絕緣材質(zhì)NON-PVC，須滿足5.2章節(jié)測(cè)試性能要求 4.2.3 關(guān)鍵尺寸4.2.3.1 USB2.0 B plug參考協(xié)會(huì)規(guī)范4.2.3.2 TYPE C plug1. 紅圈標(biāo)示尺寸為重點(diǎn)尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會(huì)規(guī)范要求 2. 各組件BOM LIST原

12、材料信息需明確到具體牌號(hào) 3. 應(yīng)滿足TYPE C 2.0規(guī)格4.2.3.3 鍍層厚度測(cè)試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測(cè)試區(qū)域和方法：TYPE C/A：TYPE C/A 產(chǎn)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域?yàn)镻IN針頭部觸點(diǎn)，因此鍍層工藝為考慮成本一般只覆蓋PIN針觸點(diǎn)位置，其他區(qū)域?yàn)閒lash Au,所以鍍層的量測(cè)范圍定義在PIN針觸點(diǎn)弧頂?shù)淖罡咛庡儗雍穸葹樵谟|點(diǎn)弧頂最高點(diǎn)0.5mm的范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，同一觸點(diǎn)在0.5mm范圍內(nèi)測(cè)量三次取平均值0.5mm0.5mm 4.2.4 線序Table 3-20 USB Type-C to USB 2.0 AM Wiring USB Type-C Plug USB 2.0 AMPin

13、 Signal Name Pin Signal Name A1, B1, A12, B12 GND 4GND A4, B4, A9, B9 VBUS 1 VBUS A5 CC A6 Dp1 3 D+ A7 Dn1 2 D Shell Shield Shell Shield Notes: 1. Pin A5 (CC) of the USB Type-C plug shall be connected to VBUS through a resistor Rp. See Section 4.5.3.2.2 and Table 4-13 for the functional description

14、and value of Rp. 2. Contacts B6 and B7 should not be present in the USB Type-C plug. 3. All VBUS pins shall be connected together within the USB Type-C plug. Bypass capacitors are not required for the VBUS pins at this cable. 4. All Ground return pins shall be connected together within the USB Type-

15、C plug. 5. All USB Type-C plug pins that are not listed in this table shall be open (not connected). Table 4-13 DFP CC Termination (Rp) Requirements DFP Advertisement Current Source to 1.7 5.5 V Resistor pull-up to 4.75 5.5 V Resistor pull-up to 3.3 V ± 5% Default USB Power 80 A ± 20% 56 k

16、 ± 20% (Note 1) 36 k ± 20% 1.5 A 5 V 180 A ± 8% 22 k ± 5% 12 k ± 5% 3.0 A 5 V 330 A ± 8% 10 k ± 5% 4.7 k ± 5% Notes: 1. For Rp when implemented in the USB Type-C plug on a USB Type-C to USB 3.1 Standard-A Cable Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Standard-A Cabl

17、e Assembly, a USB Type-C to USB 2.0 Micro-B Receptacle Adapter Assembly or a USB Type-C captive cable connected to a USB host, a value of 56 k ± 5% shall be used, in order to provide tolerance to IR drop on VBUS and GND in the cable assembly. 5 技術(shù)要求5.1 線材外觀要求5.1.1 線材外觀要求如下：外觀金屬插頭/pin腳檢查1、 參照樣品和

18、PDM圖紙檢驗(yàn)，線纜兩端插頭的結(jié)構(gòu)外型（型號(hào)）要求與樣品一致；2、 插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形；3、 用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不能擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超出1%（不良數(shù)/樣本數(shù)）時(shí)，提交不合格電子流確認(rèn)】4、 插頭上不允許有油漬；5、劃痕L2mm,W0.1mm,用手觸摸無深度感，允收一條；6、USB A公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、USB A公插頭內(nèi)的連接器PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良；8、金屬插頭（USBA公以及TYPE C公）與注塑部分匹配正常，不允許歪斜，夾角90o±2.5o標(biāo)簽檢查1、參照

19、樣品和PDM圖紙檢驗(yàn)，標(biāo)簽上的印刷圖案和字體要求一致；2、標(biāo)簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位（USB A公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許缺膠、破損；2、合模線(毛邊)H0.2mm；3、水口位（毛邊）在不刺手的前提下， H1mm，可接收；4、壓痕L5mm，W0.2mm，USB A公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；5、點(diǎn)狀壓痕D1.5mm，USB A公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；線材外觀1、 線材不允許有破損、漏銅；2、 線材上不允許有臟污；3、 點(diǎn)狀壓痕D2.5mm，DS25mm，允收6個(gè)；4、 線狀壓痕L5mm，W1mm，DS25mm，允收3條；扎帶下的壓痕允許；5、

20、 有感刮傷：L5mm,W1mm，DS25mm，允收2條；無感刮傷：L30mm,W1mm，DS30mm，允收3條；未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線檢驗(yàn)通用操作指導(dǎo)書5.2 線材性能要求Test conditionTemperature：15 to 35Air pressure ：86 to106 kPaRelative humidity：25% to 85%NOTest descriptionTest procedurePerformanceRelated standard1插拔耐久測(cè)試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能正常。測(cè)試前，測(cè)試后插拔力應(yīng)滿足要求，樣品外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣

21、性能應(yīng)正常，允許端子接觸點(diǎn)表面有正常磨損，但不允許有物理損壞測(cè)試速度為12.5mm/分鐘l 以插入力和拔出力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，測(cè)試TYPE C端子插拔次數(shù)10000次（正反方向各5000次，每2500次換一個(gè)方向）l 做完25次插拔之后，插拔力變化不能超過33%l A公插拔1500次l 測(cè)試結(jié)束后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求EIA364-092插入力EIA364-131.插拔力測(cè)試儀器2.測(cè)試速度為12.5mm/分鐘3.單位為Nl 插拔耐久測(cè)試前后：l Type C:插入力520N ；l USB AM: 35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131.插拔力測(cè)試儀器2.測(cè)試

22、速度為12.5mm/分鐘3.單位為Nl 插拔耐久測(cè)試前后：l Type C:拔出力820N l USB AM: 10N(Min)EIA364-134滾筒測(cè)試跌落高度1米，跌落次數(shù)150次，每50檢查一次，跌落速度參考值10-12次/分次（以跌落在滾筒鐵板中心位置為準(zhǔn)）l 測(cè)試后，樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能正應(yīng)常的5端子強(qiáng)度測(cè)試1.F1/F2(+/-Y) =50N，做到75N觀察損壞情況F3,F4(+/-X) =50NF5(+Z) =100NF1和F2方向的測(cè)試均采用新樣品測(cè)試，F(xiàn)3-F5方向視情況進(jìn)行互用施力點(diǎn)為接口到SR處15mm（從外殼平面量起15mm；如SR不足15mm，以

23、SR的末端為施力位置，如SR末端剛性不足以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置）測(cè)試速度：5mm/minl 上下左右4個(gè)方向力量要求大于5.0Kg，插入方向要求大于10Kg，連接器不允許有失效，接口允許有可恢復(fù)的變形，數(shù)據(jù)線電氣性能正常；結(jié)構(gòu)無松脫，無斷裂l6殼體抗拉脫器件選型標(biāo)準(zhǔn):公頭鐵殼上掛重10kgf，持續(xù)時(shí)間 1分鐘進(jìn)料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): 公頭鐵殼上掛重6kgf，持續(xù)時(shí)間 1分鐘l 兩端殼體都需要測(cè)試抗拉脫力，測(cè)試后兩端殼體不應(yīng)有脫落現(xiàn)象7端子強(qiáng)度耐久測(cè)試測(cè)試力：F1=F2=2kgf測(cè)試次數(shù)：2000次/方向；施力點(diǎn)為接口到SR處15mm（從靠近金屬頭尾部量起15mm。如SR不足15mm，以S

24、R的末端為施力位置，如SR末端剛性不足以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置）；測(cè)試速度：10-15次/minl 數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應(yīng)正常，端子不應(yīng)有損壞或嚴(yán)重變形8端子鍍層膜厚膜厚測(cè)試儀。Type C端/ uB母座。最少樣品數(shù)量：每個(gè)端子3pcsl Type C /B plug Plating gold Au 不小于30µ,Plating Ni 不小于 80µ9成品電阻測(cè)試1、C TO A測(cè)試2、屏蔽層測(cè)試 殼對(duì)殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會(huì)規(guī)范1.1要求25時(shí)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：Vbus: 0.135最大 GND：0.135最大線材規(guī)格1M,電源22

25、AWG10溫升測(cè)試TYPE C Vbus/GND通電5A(4對(duì)pin)，USB AM單VBUS/GND通電3A TYPE C/USB AM非電源pin腳通流0.25A；利用shield/GND回流，通流不低于3Al 25時(shí)測(cè)試l 溫度穩(wěn)定30分鐘后測(cè)試l 針對(duì)plug單體和cable組件整體的兩項(xiàng)測(cè)試均需滿足l 任意點(diǎn)溫升不允許超過30度USB Type-C Cable and Connector Specification11接觸阻抗LLCR 是從REC 焊接點(diǎn)的尾部到Plug焊點(diǎn),包括Plug端和Rec所有內(nèi)部的端子和Paddle Cards* 使用四線測(cè)試法* 測(cè)試電壓20mV最大,電流

26、100mA.VBUS/GND 初始接觸阻抗30m,其他pin初始接觸阻抗40m Max 最大,所有Pin環(huán)境測(cè)試后LCCR最大增量為10 m連接器13耐壓測(cè)試兩兩pin之間打（含外殼）l 認(rèn)證測(cè)試：100VAC/60s/0.5mAl 產(chǎn)線測(cè)試：100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩pin之間打（含外殼）l 認(rèn)證測(cè)試： 300VDC 60s 100Ml 產(chǎn)線測(cè)試：300VDC/0.1s/10M15高溫存儲(chǔ)轉(zhuǎn)接頭：（70±2）,24H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上,進(jìn)行測(cè)試連接器：（105±2）,120H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上,進(jìn)行測(cè)試l 部品外觀無損壞;l

27、 線纜電氣性能正常16低溫存儲(chǔ)（-40±2）,120H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上,進(jìn)行測(cè)試l 樣品外觀無損壞;l 線纜電氣性能正常17溫度沖擊采用兩箱法，低溫-40，高溫70，高低溫各停留不少于20分鐘，最大轉(zhuǎn)換時(shí)間為20秒，10個(gè)循環(huán)。l 測(cè)試后，樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常18鹽霧測(cè)試5% NaCl,35, 連續(xù)噴霧48小時(shí)（針對(duì)pin針，uB鐵殼部分應(yīng)可承受至少24H連續(xù)噴霧），噴霧時(shí)接口需斜向下放置，確保鹽霧能進(jìn)入，但同時(shí)不能在接口中形成積水。然后移出進(jìn)行2小時(shí)晾干。l 試驗(yàn)后，樣品外觀應(yīng)無明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。l VBUS/GND 初始接觸

28、阻抗30m,其他pin初始接觸阻抗40m Max 最大,所有Pin環(huán)境測(cè)試后LCCR最大增量為10 m(僅針對(duì)連接器)EIA 36419高溫高濕試驗(yàn)溫度（70±2） ，濕度(85±3)%RH，進(jìn)行168小時(shí)l 樣品外觀無損壞;主要考察膠料和線料20交變濕熱2555，相對(duì)濕度（95±3），168小時(shí)l 測(cè)試后，樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測(cè)試測(cè)試時(shí)間：7天,產(chǎn)品狀態(tài)：5天非配插，5天配插，溫濕度：70%RH， 30,氣體種類：Cl2：10+/-3 ppb, NO2: 200+/-50 ppb, H2S: 10+/-5 p

29、pb, SO2: 100+/-20 ppbl 試驗(yàn)后，樣品外觀應(yīng)無明顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象，功能應(yīng)正常。l VBUS/GND 初始接觸阻抗30m,其他pin初始接觸阻抗40m Max 最大,所有Pin環(huán)境測(cè)試后LCCR最大增量為10 m(僅針對(duì)連接器)連接器22耐化學(xué)溶劑測(cè)試將家用化學(xué)物品（1.護(hù)手霜；2.防曬乳液；3.口紅；4.化妝粉底；5.驅(qū)蟲凍膠；6.食用油，所用化學(xué)用品型號(hào)或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(shí)后用水清洗掉家用化學(xué)品再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查2.將以下溶劑（1.汽油；2.酒精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用化學(xué)用品型號(hào)或配方為我司終端現(xiàn)有用

30、品）涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(shí)（汽油放置24小時(shí)）后用水清洗掉溶劑再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查l 線纜、SR、殼體不會(huì)有明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測(cè)試耐UV輻照進(jìn)行1個(gè)循環(huán)為24小時(shí)的測(cè)試，具體為在干熱40下，太陽輻射強(qiáng)度為1120W/，保持20小時(shí)，再關(guān)閉太陽輻射源4小時(shí)，試驗(yàn)持續(xù)循環(huán)96小時(shí)24EMC參考終端產(chǎn)品USB數(shù)據(jù)線充電線可靠性測(cè)試規(guī)范V1.2l EMC class A標(biāo)準(zhǔn)l CE/FCC25Differential Impedance This test ensures that the D+/D lines of the cable assembly have the pr

31、oper impedance. For the entire cable assembly. 75 ohms min and 105 ohms max. 400 ps rise time (20%-80%). EIA 364-108 26Propagation Delay The purpose of the test is to verify the end-to-end propagation of the D+/D lines of the cable assembly. 20 ns max. 400 ps rise time (20%-80%). EIA 364-103 27Intra-pair Skew This test ensures that the signal on both the D+ and D lines of cable assembly arrive at the receiver at the same time. 100 ps max. 400 ps rise time (20%-80%). EIA 364 103 D+/D Pair At