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文檔簡介
1、材料表面分析技術(shù)PPT課件材料表面分析技術(shù)材料表面分析技術(shù)外觀檢測外觀檢測成分及組織結(jié)構(gòu)分析成分及組織結(jié)構(gòu)分析物理及力學(xué)性能檢測物理及力學(xué)性能檢測耐蝕性檢測耐蝕性檢測耐磨性檢測耐磨性檢測材料表面分析技術(shù)PPT課件一、外觀檢測(一、外觀檢測(visual examination )含義:肉眼、樣板或放大鏡含義:肉眼、樣板或放大鏡 涂層外觀檢測要求:涂層外觀檢測要求: 涂層表面保持干凈;涂層表面保持干凈; 檢測要全面、細(xì)致;檢測要全面、細(xì)致; 依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(QJ 990.2-1986 )或技術(shù)要求。)或技術(shù)要求。材料表面分析技術(shù)PPT課件不平整、不平整、針孔針孔、氧化、脫皮、氧化、脫
2、皮、飛濺飛濺、表面裂紋、表面裂紋、剝落、剝落、麻點麻點、鼓泡鼓泡、縮孔縮孔、疏松疏松、斑點、斑點、毛刺毛刺、擦擦傷傷等等 表面缺陷的種類及特點:表面缺陷的種類及特點: 涂層表面缺陷(涂層表面缺陷(surface defects )檢測)檢測材料表面分析技術(shù)PPT課件二、表面結(jié)構(gòu)的表征二、表面結(jié)構(gòu)的表征表面成分分析表面成分分析 X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、射線光電子能譜、俄歇電子能譜、低能離子衍射普儀低能離子衍射普儀表面結(jié)構(gòu)測定表面結(jié)構(gòu)測定 X射線衍射、射線衍射、電子衍射、中子衍射等電子衍射、中子衍射等表面形貌觀察表面形貌觀察 光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡等光學(xué)顯微鏡、掃描電子
3、顯微鏡、透射電子顯微鏡等材料表面分析技術(shù)PPT課件X射線衍射(射線衍射(XRD)n各相物質(zhì)均具有其獨具的各相物質(zhì)均具有其獨具的。n在給定波長的在給定波長的X X射線照射下,每種晶體物質(zhì)都形成自己特射線照射下,每種晶體物質(zhì)都形成自己特定的定的。n對于復(fù)相物質(zhì),其衍射花樣是各相物質(zhì)衍射花樣的對于復(fù)相物質(zhì),其衍射花樣是各相物質(zhì)衍射花樣的。n將被測試樣的衍射花樣與一組將被測試樣的衍射花樣與一組的衍射花的衍射花樣逐一對比,從而判斷其相組成。樣逐一對比,從而判斷其相組成。材料表面分析技術(shù)PPT課件X射線衍射分析的應(yīng)用射線衍射分析的應(yīng)用物相定性分析物相定量分析點陣常數(shù)測定應(yīng)力測定晶體取向測定材料表面分析技術(shù)
4、PPT課件獲得衍射花樣獲得衍射花樣計算面間距計算面間距d d 值和測定相對強(qiáng)度值和測定相對強(qiáng)度/1 1檢索檢索PDFPDF卡片和核對卡片和核對PDFPDF卡片卡片分析判定分析判定材料表面分析技術(shù)PPT課件常用的物相定量分析分析方法有三種:常用的物相定量分析分析方法有三種: 它是用分析相的純樣品的某一衍射線為標(biāo)準(zhǔn)它是用分析相的純樣品的某一衍射線為標(biāo)準(zhǔn) 用摻入試樣內(nèi)的某已知物相的衍射線為標(biāo)準(zhǔn)用摻入試樣內(nèi)的某已知物相的衍射線為標(biāo)準(zhǔn) 用試樣中另一相的衍射線為標(biāo)準(zhǔn)用試樣中另一相的衍射線為標(biāo)準(zhǔn)材料表面分析技術(shù)PPT課件TiC涂層的XRD的譜線材料表面分析技術(shù)PPT課件俄歇電子能譜分析(俄歇電子能譜分析(A
5、ES) 俄歇電子能譜(俄歇電子能譜(AES)是用具有一定能量是用具有一定能量的電子束的電子束(或或X射線射線)激發(fā)樣品激發(fā)樣品俄歇效應(yīng)俄歇效應(yīng),通,通過檢測俄歇電子的能量和強(qiáng)度,從而獲得過檢測俄歇電子的能量和強(qiáng)度,從而獲得有關(guān)材料表面化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)的信息的方有關(guān)材料表面化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)的信息的方法。法。材料表面分析技術(shù)PPT課件俄歇分析的選擇俄歇分析的選擇 對于對于Z14Z14的元素,采用的元素,采用KLLKLL俄歇電子分析;俄歇電子分析; 14Z4214Z42Z42時,以采用時,以采用MNNMNN和和MNOMNO俄歇電子為佳。俄歇電子為佳。俄歇躍遷幾率及熒光幾率與原子序數(shù)的關(guān)系俄歇躍遷幾率及熒
6、光幾率與原子序數(shù)的關(guān)系 Z15的輕元素的的輕元素的K系俄系俄歇電子以及所有元素的歇電子以及所有元素的L系和系和M系俄歇電子產(chǎn)額都系俄歇電子產(chǎn)額都很高。由此可見,很高。由此可見,俄歇電俄歇電子能譜對輕元素的檢測特子能譜對輕元素的檢測特別敏感和有效。別敏感和有效。材料表面分析技術(shù)PPT課件材料表面分析技術(shù)PPT課件 主要組成部分:主要組成部分:電子槍電子槍、能量分析器能量分析器、二次電二次電子探測器子探測器、(、(樣品)分析室樣品)分析室、濺射離子槍濺射離子槍和和信信號處理與記錄系統(tǒng)號處理與記錄系統(tǒng)等。等。俄歇譜儀示意圖俄歇譜儀示意圖材料表面分析技術(shù)PPT課件直接譜與微分譜直接譜與微分譜 直接譜直
7、接譜:俄歇電子強(qiáng)度:俄歇電子強(qiáng)度密度密度(電子數(shù)電子數(shù))N(E)對其對其能量能量E的分布的分布N(E)E。 微分譜微分譜:由直接譜微分:由直接譜微分而來,是而來,是dN(E)/dE對對E的分布的分布dN(E)/dEE。俄歇電子能譜示例俄歇電子能譜示例(銀原子的銀原子的俄歇能譜俄歇能譜) 材料表面分析技術(shù)PPT課件AES定性分析定性分析 實際分析的俄歇電子譜圖是樣品中各種元素俄歇電子實際分析的俄歇電子譜圖是樣品中各種元素俄歇電子譜的組合,定性分析的方法是將測得的俄歇電子譜與譜的組合,定性分析的方法是將測得的俄歇電子譜與純元素的標(biāo)準(zhǔn)譜圖比較,通過對比峰的位置和形狀來純元素的標(biāo)準(zhǔn)譜圖比較,通過對比峰
8、的位置和形狀來識別元素的種類。識別元素的種類。AES定量分析定量分析 俄歇電子強(qiáng)度與樣品中對應(yīng)原子的濃度有線性關(guān)系,俄歇電子強(qiáng)度與樣品中對應(yīng)原子的濃度有線性關(guān)系,據(jù)此可以進(jìn)行元素的半定量分析。據(jù)此可以進(jìn)行元素的半定量分析。材料表面分析技術(shù)PPT課件成分深度分析成分深度分析 AES的深度分析功能是的深度分析功能是AES最有用的分析功能最有用的分析功能,主要分析元素主要分析元素及含量隨樣品表面深度的變化。及含量隨樣品表面深度的變化。鍍銅鋼深度分析曲線鍍銅鋼深度分析曲線 材料表面分析技術(shù)PPT課件 微區(qū)分析也是俄歇電子能譜分析的一個重要功能,微區(qū)分析也是俄歇電子能譜分析的一個重要功能,可以分為可以分
9、為選點分析,線掃描分析和面掃描分析選點分析,線掃描分析和面掃描分析三個三個方面。方面。材料表面分析技術(shù)PPT課件X射線光電子能譜射線光電子能譜(XPS) X射線光電子能譜(射線光電子能譜(XPS):):激發(fā)源為激發(fā)源為X射射線線,用,用X射線作用于樣品表面,產(chǎn)生光電子。射線作用于樣品表面,產(chǎn)生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結(jié)構(gòu)。譜。用于研究樣品表面組成和結(jié)構(gòu)。材料表面分析技術(shù)PPT課件 XPS圖譜圖譜 如圖以如圖以Mg 為激發(fā)源得到為激發(fā)源得到 的的Ag片的片的XPS 譜圖。圖中有譜圖。圖中有 Ag3d3/2和和Ag
10、3d5/2光電子兩光電子兩 個強(qiáng)特征峰。個強(qiáng)特征峰。 用于鑒別銀。用于鑒別銀。材料表面分析技術(shù)PPT課件X射線光電子能譜儀射線光電子能譜儀 XPS儀由儀由X射線激發(fā)源、樣品臺、電子能量分析器、射線激發(fā)源、樣品臺、電子能量分析器、檢測器系統(tǒng)、超高真空系統(tǒng)等部分組成。檢測器系統(tǒng)、超高真空系統(tǒng)等部分組成。材料表面分析技術(shù)PPT課件X射線光電子能譜儀射線光電子能譜儀材料表面分析技術(shù)PPT課件 定性分析定性分析 不同元素的原子不同元素的原子,其,其電子結(jié)合能不同電子結(jié)合能不同,電子結(jié)合能是,電子結(jié)合能是特征性特征性的。因此,我們可以根據(jù)電子的結(jié)合能對物質(zhì)的元素種類進(jìn)的。因此,我們可以根據(jù)電子的結(jié)合能對物
11、質(zhì)的元素種類進(jìn)行行定性分析定性分析。 半定量分析半定量分析 經(jīng)經(jīng)X射線照射后,從樣品表面某原子出射的射線照射后,從樣品表面某原子出射的光電子的強(qiáng)度光電子的強(qiáng)度是是與樣品中該與樣品中該原子的濃度原子的濃度有線性關(guān)系,因此,可以利用它進(jìn)行有線性關(guān)系,因此,可以利用它進(jìn)行元素的元素的半定量分析半定量分析。X射線光電子能譜定性、定量分析射線光電子能譜定性、定量分析材料表面分析技術(shù)PPT課件硅晶體表面薄膜的物相分析硅晶體表面薄膜的物相分析 對薄膜全掃描分析得下圖,含有對薄膜全掃描分析得下圖,含有Zn和和S元素但元素但化學(xué)態(tài)未知?;瘜W(xué)態(tài)未知。材料表面分析技術(shù)PPT課件為得知為得知Zn和和S的存在形態(tài),對的
12、存在形態(tài),對Zn的最強(qiáng)峰進(jìn)行窄掃描,其峰位的最強(qiáng)峰進(jìn)行窄掃描,其峰位1022eV比純比純Zn峰峰1021.4eV更高,說明更高,說明Zn內(nèi)層電子的結(jié)合能內(nèi)層電子的結(jié)合能增加了,即增加了,即Zn的價態(tài)變正,根據(jù)含有的價態(tài)變正,根據(jù)含有S元素并查文獻(xiàn)中元素并查文獻(xiàn)中Zn的的標(biāo)準(zhǔn)譜圖,確定薄膜中標(biāo)準(zhǔn)譜圖,確定薄膜中Zn是以是以ZnS的形式存在的。的形式存在的。 材料表面分析技術(shù)PPT課件l 宏觀形貌:宏觀形貌:體視顯微鏡、(數(shù)碼)照相機(jī)體視顯微鏡、(數(shù)碼)照相機(jī)材料表面分析技術(shù)PPT課件手段:手段:光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡(光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡(SEMSEM、TEMTEM)目的:目的:涂層微觀涂層微
13、觀組織結(jié)構(gòu)組織結(jié)構(gòu)過程:過程:取樣取樣鑲嵌鑲嵌磨制磨制拋光拋光腐蝕腐蝕金相試樣金相試樣觀察(觀察(OMOM、SEMSEM或或TEMTEM)l 顯微組織結(jié)構(gòu)分析顯微組織結(jié)構(gòu)分析材料表面分析技術(shù)PPT課件SEM SEMSEM成像原理:成像原理: 利用掃描電子束從樣品表面激發(fā)出各種利用掃描電子束從樣品表面激發(fā)出各種物理信號物理信號來來調(diào)制成象調(diào)制成象的。的。 物理信號:二次電子、背散射電子物理信號:二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征、俄歇電子、特征X射線等射線等 SEM的特點的特點 分辨本領(lǐng)高、放大倍率可連續(xù)變化、景深長、視野大、成像富分辨本領(lǐng)高、放大倍率可連續(xù)變化、景深長、視野大、成像富有立體感
14、、試樣制備簡單有立體感、試樣制備簡單材料表面分析技術(shù)PPT課件掃描電鏡的構(gòu)造掃描電鏡的構(gòu)造電子光學(xué)系統(tǒng)電子光學(xué)系統(tǒng)信號的收集和圖像顯示系信號的收集和圖像顯示系統(tǒng)統(tǒng)真空系統(tǒng)真空系統(tǒng)材料表面分析技術(shù)PPT課件SEM試樣的制備一般固體材料的試樣制備都比較簡單對于導(dǎo)電材料,只有幾何尺寸和重量的要求,具體大小因掃描電鏡的型號不同而有所差異對于導(dǎo)電性差的材料或絕緣材料,通常要蒸鍍一層薄的導(dǎo)電材料,如金、銀、碳等材料表面分析技術(shù)PPT課件SEM的應(yīng)用二次電子形貌襯度應(yīng)用斷口形貌分析材料表面分析技術(shù)PPT課件背散射電子原子序數(shù)襯度應(yīng)用背散射電子的信號即可以用來進(jìn)行成分分析,也可以用于形貌分析,但是他進(jìn)行形貌分
15、析的分辨率遠(yuǎn)比二次電子低利用原子序數(shù)造成的襯度變化對金屬和合金進(jìn)行定性的成分分析,試樣中重元素對應(yīng)于圖像上的亮區(qū),輕元素對應(yīng)暗區(qū)材料表面分析技術(shù)PPT課件材料表面分析技術(shù)PPT課件TEM TEM工作原理:工作原理: 在一個高真空系統(tǒng)中,由電子槍發(fā)射電子束,穿過被研究的樣品,經(jīng)電子透鏡聚焦放大,在熒光屏上顯示出高度放大的物像,還可作攝片記錄的一類最常見的電子顯微鏡。 成像原理:成像原理: 成像原理與光學(xué)顯微鏡相同,透視通過透鏡聚焦成像。 但也有區(qū)別:照明光源不同;聚焦透鏡不同;透射電鏡可形成電子衍射圖像;圖像顯示方式不同 材料表面分析技術(shù)PPT課件材料表面分析技術(shù)PPT課件TEM試樣制備影響因素
16、:真空的影響、電子損傷的影響、電子束透射能力的影響制備方法:直接透射法、復(fù)型法、切片法、離子刻蝕減薄法TEM的應(yīng)用相分布表面形貌位錯、層錯、晶界、孿晶界等材料表面分析技術(shù)PPT課件TiC顆粒TEM形貌材料表面分析技術(shù)PPT課件透射電鏡下觀察到的雙相鋼中的位錯線材料表面分析技術(shù)PPT課件三、物理及力學(xué)性能檢測三、物理及力學(xué)性能檢測1.1.厚度的測定厚度的測定l 局部厚度和平均厚度檢測局部厚度和平均厚度檢測l 非破壞性檢測非破壞性檢測(無損檢測):(無損檢測):厚度測試儀厚度測試儀l 破壞性檢測方法:破壞性檢測方法:金相顯微鏡金相顯微鏡材料表面分析技術(shù)PPT課件l 厚度測試儀厚度測試儀材料表面分析
17、技術(shù)PPT課件過程:過程:制備涂層斷面試樣,用帶有測微目鏡的金相顯制備涂層斷面試樣,用帶有測微目鏡的金相顯微鏡觀察微鏡觀察特點:特點:準(zhǔn)確度高,判別直觀準(zhǔn)確度高,判別直觀l 金相顯微鏡法金相顯微鏡法材料表面分析技術(shù)PPT課件2.2.硬度試驗硬度試驗l 關(guān)系到涂層的關(guān)系到涂層的耐磨性耐磨性、強(qiáng)度及壽命等、強(qiáng)度及壽命等l 宏觀硬度宏觀硬度與與顯微硬度顯微硬度 宏觀硬度(平均硬度):布氏、洛氏和維氏硬度宏觀硬度(平均硬度):布氏、洛氏和維氏硬度計,以涂層整體大范圍壓痕為測定對象計,以涂層整體大范圍壓痕為測定對象 顯微硬度(相或顆粒的硬度):顯微硬度計,以涂顯微硬度(相或顆粒的硬度):顯微硬度計,以涂
18、層中相或微粒為測定對象層中相或微粒為測定對象材料表面分析技術(shù)PPT課件 Ni60熔覆層硬度隨熔覆溫度的變化曲線熔覆層硬度隨熔覆溫度的變化曲線 材料表面分析技術(shù)PPT課件3.3.結(jié)合強(qiáng)度(附著力)試驗結(jié)合強(qiáng)度(附著力)試驗l 定義:定義:單位表面積的涂層從基體或中間涂層上剝落單位表面積的涂層從基體或中間涂層上剝落下來所需要的力。下來所需要的力。 結(jié)合力不符合要求,涂層的使用壽命會降低結(jié)合力不符合要求,涂層的使用壽命會降低l 測量方法:測量方法: 定性檢測定性檢測,柵格試驗、彎曲試驗、沖擊試驗、,柵格試驗、彎曲試驗、沖擊試驗、杯突試驗杯突試驗 定量檢測定量檢測,抗拉強(qiáng)度試驗、剪切強(qiáng)度試驗,抗拉強(qiáng)度
19、試驗、剪切強(qiáng)度試驗材料表面分析技術(shù)PPT課件l 柵格試驗柵格試驗原理:用硬質(zhì)鋼針或刀片將涂層切斷至基體,使之形成原理:用硬質(zhì)鋼針或刀片將涂層切斷至基體,使之形成一定尺寸的方形格子,涂層不應(yīng)產(chǎn)生剝離一定尺寸的方形格子,涂層不應(yīng)產(chǎn)生剝離材料表面分析技術(shù)PPT課件l 彎曲試驗彎曲試驗原理:矩形試樣,在萬能實驗機(jī)上三點或四點彎曲使其原理:矩形試樣,在萬能實驗機(jī)上三點或四點彎曲使其形成一定撓度(形成一定撓度(0.1%0.1%)材料表面分析技術(shù)PPT課件l 沖擊試驗沖擊試驗過程:過程:用用錘擊錘擊或或落球落球?qū)υ嚇颖砻娴耐繉臃磸?fù)沖擊,涂層對試樣表面的涂層反復(fù)沖擊,涂層在沖擊力作用下局部變形、振動、疲勞以至
20、最終剝落在沖擊力作用下局部變形、振動、疲勞以至最終剝落評價:評價:以以錘擊(或落球)次數(shù)錘擊(或落球)次數(shù)評價涂層與基體結(jié)合強(qiáng)度評價涂層與基體結(jié)合強(qiáng)度錘擊試驗:錘擊試驗:專用振動器,扁平?jīng)_擊錘專用振動器,扁平?jīng)_擊錘落球試驗:落球試驗:5-50mm5-50mm鋼球,一定高度、傾斜角鋼球,一定高度、傾斜角材料表面分析技術(shù)PPT課件l 抗拉結(jié)合強(qiáng)度試驗抗拉結(jié)合強(qiáng)度試驗定義:定義:涂層與基體結(jié)合面承受法涂層與基體結(jié)合面承受法線方向拉伸應(yīng)力的極限能力線方向拉伸應(yīng)力的極限能力國標(biāo):國標(biāo):GB/T 8642-2002 GB/T 8642-2002 熱噴涂抗拉結(jié)熱噴涂抗拉結(jié)合強(qiáng)度測定合強(qiáng)度測定材料表面分析技術(shù)
21、PPT課件l 涂層剪切強(qiáng)度試驗涂層剪切強(qiáng)度試驗定義:定義:涂層與基體結(jié)合面承受切線方向剪切應(yīng)力的極限涂層與基體結(jié)合面承受切線方向剪切應(yīng)力的極限能力能力國標(biāo):國標(biāo):GB / T 1 3 2 2 2 一一91金屬熱噴涂剪切強(qiáng)度測試金屬熱噴涂剪切強(qiáng)度測試材料表面分析技術(shù)PPT課件四、耐蝕性檢測四、耐蝕性檢測l目的:目的:檢查涂層抵抗環(huán)境腐蝕的能力,考察其防護(hù)基檢查涂層抵抗環(huán)境腐蝕的能力,考察其防護(hù)基體的壽命。體的壽命。大氣暴露(即戶內(nèi)外曝曬)試驗大氣暴露(即戶內(nèi)外曝曬)試驗 目的:目的:評定涂層在大氣環(huán)境下的耐蝕性評定涂層在大氣環(huán)境下的耐蝕性使用環(huán)境試驗使用環(huán)境試驗 目的:目的:評定涂層在使用環(huán)境中
22、的耐蝕性評定涂層在使用環(huán)境中的耐蝕性人工模擬和加速腐蝕試驗人工模擬和加速腐蝕試驗 目的:目的:評定涂層耐蝕的性能評定涂層耐蝕的性能材料表面分析技術(shù)PPT課件1.1.耐腐蝕性能的評定方法耐腐蝕性能的評定方法重量法(重量法(增重法和失重法增重法和失重法 ) 以試樣腐蝕前后的重量差來表征腐蝕速度以試樣腐蝕前后的重量差來表征腐蝕速度 表面觀察法(宏觀觀測和顯微觀測)表面觀察法(宏觀觀測和顯微觀測) 宏觀觀測:就是對材料在腐蝕前后及去除腐蝕產(chǎn)物前后的宏觀觀測:就是對材料在腐蝕前后及去除腐蝕產(chǎn)物前后的形態(tài)做肉眼分析形態(tài)做肉眼分析 顯微觀測:就是對受腐蝕的試樣進(jìn)行金相檢查或斷口分析,顯微觀測:就是對受腐蝕的
23、試樣進(jìn)行金相檢查或斷口分析,或者用掃描電鏡、透射電鏡、電子探針等做微觀組織結(jié)構(gòu)和相或者用掃描電鏡、透射電鏡、電子探針等做微觀組織結(jié)構(gòu)和相成分的分析成分的分析 電化學(xué)測試法。電化學(xué)測試法。材料表面分析技術(shù)PPT課件通過通過SEM背散射模式觀察腐蝕試樣背散射模式觀察腐蝕試樣氧化膜界面的形貌氧化膜界面的形貌 A890雙相不銹鋼的極雙相不銹鋼的極化曲線化曲線材料表面分析技術(shù)PPT課件天然環(huán)境暴露試驗天然環(huán)境暴露試驗 人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗 中性鹽霧(中性鹽霧(NSS)試驗:)試驗:83000h,PH6.57.5,5%NaCl 水溶液,水溶液,35.01.1或或35.01.7
24、醋酸鹽霧(醋酸鹽霧(AASS)試驗:)試驗:140240h, 5%NaCl, 乙酸乙酸調(diào)整調(diào)整PH3.13.3,溫度同上,溫度同上 銅鹽加速醋酸鹽霧(銅鹽加速醋酸鹽霧(CASS)試驗:)試驗:6720h,3.8L 5%NaCl水溶液加水溶液加CuCl2H2O,PH6.57.5, 49.01.1或或49.01.7 交變鹽霧試驗交變鹽霧試驗 :實際上是中性鹽霧試驗加恒定濕熱試驗實際上是中性鹽霧試驗加恒定濕熱試驗 。2.2.鹽霧試驗鹽霧試驗l目的:目的:用于考核產(chǎn)品、材料及其防護(hù)層抗鹽霧腐蝕能力用于考核產(chǎn)品、材料及其防護(hù)層抗鹽霧腐蝕能力 材料表面分析技術(shù)PPT課件l 腐蝕膏:腐蝕膏:高嶺土中加入高嶺
25、土中加入銅、鐵等腐蝕鹽類銅、鐵等腐蝕鹽類 三價鐵使涂層引起應(yīng)力腐蝕三價鐵使涂層引起應(yīng)力腐蝕 銅鹽使涂層產(chǎn)生點蝕、裂紋和剝落、碎裂等銅鹽使涂層產(chǎn)生點蝕、裂紋和剝落、碎裂等 氯化物的存在使涂層腐蝕加速氯化物的存在使涂層腐蝕加速 3. 3.腐蝕膏腐蝕試驗(腐蝕膏腐蝕試驗(CORRCORR)l 國標(biāo):國標(biāo):GB/T 6465-2008GB/T 6465-2008l 過程:過程:涂覆涂覆自然干燥自然干燥潮濕箱潮濕箱清洗清洗評定評定l 特點:特點:測試簡便、試驗周期短、重現(xiàn)性好測試簡便、試驗周期短、重現(xiàn)性好材料表面分析技術(shù)PPT課件4. SO2工業(yè)氣體腐蝕試驗工業(yè)氣體腐蝕試驗l 以一定濃度的以一定濃度的SOSO2 2氣體氣體,在一定溫度和一定相對濕度,在一定溫度和一定相對濕度下對涂層做腐蝕試驗下對涂層做腐蝕試驗材料表面分析技術(shù)PPT課件5.5.電化學(xué)測試電化學(xué)測試M398M398電化學(xué)綜合測試系統(tǒng)電化學(xué)綜合測試系統(tǒng)組成:組成:M283M283恒電位恒電位/ /恒電流儀、恒電流儀、M1025M1025
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