先進(jìn)測試標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)體系研究

1、先進(jìn)測試標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)體系研究孟漢城，奚全生(北京航天測控公司, 北京 100037)0 概述測試是測量與試驗(yàn)的簡稱。測量內(nèi)涵：對被檢測對象的物理、化學(xué)、工程技術(shù)等方面的參量做數(shù)值測定工作。試驗(yàn)內(nèi)涵：是指在真實(shí)情況下或模擬情況下對被研究對象的特性、參數(shù)、功能、可靠性、維修性、適應(yīng)性、保障性、反應(yīng)能力等進(jìn)行測量和度量的研究過程。試驗(yàn)與測量技術(shù)是緊密相連，試驗(yàn)離不開測量。在各類試驗(yàn)中，通過測量取得定性定量數(shù)值，以確定試驗(yàn)結(jié)果。而測量是隨著產(chǎn)品試驗(yàn)的階段而劃分的，不同階段的試驗(yàn)內(nèi)容或需求則有相對應(yīng)的測量設(shè)備和系統(tǒng)，用以完成試驗(yàn)數(shù)值、狀態(tài)、特性的獲取、傳輸、分析、處理、顯示、報(bào)警等功能。產(chǎn)品測試是通過試驗(yàn)

2、和測量過程，對被檢測對象的物理、化學(xué)、工程技術(shù)等方面的參量、特性等做數(shù)值測定工作，是取得對試驗(yàn)對象的定性或定量信息的一種基本方法和途徑。測試的基本任務(wù)是獲取信息。因此，測試技術(shù)是信息科學(xué)的源頭和重要組成部分。信息是客觀事物的時(shí)間、空間特性，是無所不在，無時(shí)不存的。但是人們?yōu)榱四承┨囟ǖ哪康?，總是從浩如煙海的信息中把需要的部分取得來，以達(dá)到觀測事物某一本值問題的目的。所需了解的那部分信息以各種技術(shù)手段表達(dá)出來，提供人們觀測和分析，這種對信息的表達(dá)形式稱之為“信號”，所以信號是某一特定信息的載體。信息、信號、測試與測試系統(tǒng)之間的關(guān)系可以表述為：獲取信息是測試的目的，信號是信息的載體，測試是通過測試

3、系統(tǒng)、設(shè)備得到被測參數(shù)信息的技術(shù)手段。同時(shí)，在軍事裝備及產(chǎn)品全壽命周期內(nèi)要進(jìn)行試驗(yàn)測試性設(shè)計(jì)與評價(jià)，并通過研制相應(yīng)的試驗(yàn)檢測設(shè)備、試驗(yàn)測試系統(tǒng)（含軟、硬件）確保軍事裝備和產(chǎn)品達(dá)到規(guī)定動(dòng)作的要求，以提高軍事裝備和產(chǎn)品的完好性、任務(wù)成功性，減少對維修人力和其它資源要求，降低壽命周期費(fèi)用，并為管理提供必要的信息。全壽命過程又稱為全壽命周期，是指產(chǎn)品從論證開始到淘汰退役為止的全過程。產(chǎn)品全壽命過程的劃分，各國有不同的劃分。美國把全壽命過程劃分為6個(gè)階段：初步設(shè)計(jì)、批準(zhǔn)、全面研制、生產(chǎn)、使用淘汰（退役）。我國將全壽命周期劃分為5個(gè)階段：論證、研制、生產(chǎn)、使用、退役。這五個(gè)階段都必須采用試驗(yàn)、測量技術(shù)，并

4、用試驗(yàn)手段，通過測量設(shè)備和測量系統(tǒng)確保研制出高性能、高可靠的產(chǎn)品。因此，測試技術(shù)是具有全局性的關(guān)鍵技術(shù)。尤其在高新技術(shù)領(lǐng)域，測試技術(shù)具有極其重要地位。美軍武器裝備在試驗(yàn)與評定管理中，對試驗(yàn)與評定的類型分為：研制試驗(yàn)與評定、使用試驗(yàn)與評定、多軍種試驗(yàn)與評定、聯(lián)合試驗(yàn)與評定、實(shí)彈試驗(yàn)、核防護(hù)和生存性試驗(yàn)等類。但最主要的和最重要的是研制性試驗(yàn)與評定、使用試驗(yàn)與評定兩種。試驗(yàn)與評定是系統(tǒng)研制期間揭示關(guān)鍵性參數(shù)問題的一系列技術(shù)，這些問題涉及技術(shù)問題（研制試驗(yàn)）；效能、實(shí)用性和生存性問題（使用試驗(yàn)）；對多個(gè)軍種產(chǎn)生影響問題（多軍種聯(lián)合試驗(yàn)）；生存性和殺傷率（實(shí)彈試驗(yàn)）等。但核心是研制性試驗(yàn)與評定及使用性試

5、驗(yàn)與評定，主要解決軍工產(chǎn)品在研制過程中的技術(shù)問題和使用的效能、適應(yīng)性和生存性問題。研制試驗(yàn)與評定是為驗(yàn)證工程設(shè)計(jì)和研制過程是否完備而進(jìn)行的試驗(yàn)與評定，通過研制試驗(yàn)與評定達(dá)到減少風(fēng)險(xiǎn)，驗(yàn)證和確定設(shè)計(jì)并確保產(chǎn)品已做好研制性驗(yàn)收準(zhǔn)備。使用試驗(yàn)與評定的作用是確保武器系統(tǒng)在真實(shí)環(huán)境下能滿足經(jīng)過確認(rèn)的用戶要求。使用試驗(yàn)的重點(diǎn)是使用要求、效能和適應(yīng)用，而不是象研制試驗(yàn)?zāi)菢幼C明工程規(guī)范。從發(fā)達(dá)國家高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)的研究開發(fā)費(fèi)和時(shí)間的統(tǒng)計(jì)分析，得出產(chǎn)品的測試費(fèi)用、測試周期占產(chǎn)品研發(fā)費(fèi)用和周期的40%左右，并保持上升趨勢。因?yàn)?，高新技術(shù)產(chǎn)品與傳統(tǒng)產(chǎn)品的一個(gè)重要區(qū)別在于：高新科技產(chǎn)品越來越先進(jìn)，而錯(cuò)誤的含量也越來越高。

6、因此，只有通過充分的測試與試驗(yàn)驗(yàn)證，才能有效地降低產(chǎn)品的錯(cuò)誤含量，滿足使用要求。因此，發(fā)達(dá)國家越來越重視試驗(yàn)、測量技術(shù)，并相應(yīng)建立了許多專業(yè)實(shí)驗(yàn)室和工程技術(shù)中心，加大投資力度，賦予重要職責(zé)，帶動(dòng)產(chǎn)品的開發(fā)。由于試驗(yàn)技術(shù)主要針對產(chǎn)品特定要求而進(jìn)行。如：產(chǎn)品的研制性和使用性試驗(yàn)與評定技術(shù)重要區(qū)域是：壽命試驗(yàn)、設(shè)計(jì)評定確認(rèn)試驗(yàn)、設(shè)計(jì)極限試驗(yàn)、可靠性研制試驗(yàn)、可靠性可用性和維修性綜合評估試驗(yàn)、早期使用評估試驗(yàn)、后續(xù)使用試驗(yàn)與評定、合格鑒定使用試驗(yàn)與評定等內(nèi)容。均是針對特定產(chǎn)品在特定試驗(yàn)環(huán)境按一定試驗(yàn)方案，采用測量或度量設(shè)備、系統(tǒng)進(jìn)行研究過程。試驗(yàn)技術(shù)針對性強(qiáng)，范圍廣泛。同時(shí)由于試驗(yàn)與測量技術(shù)緊密相連，

7、一般簡稱為測試技術(shù)，但這里涉及內(nèi)容主要是測量技術(shù)內(nèi)容。1 相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的定義：在一致同意基礎(chǔ)上建立起來的，用來定義接口、服務(wù)、協(xié)議或數(shù)據(jù)格式、規(guī)范等公開可用的文件。不是所有的標(biāo)準(zhǔn)都適用于所有情況，必須是數(shù)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一起工作才滿足應(yīng)用需求。開放原則應(yīng)用中一個(gè)基本的要點(diǎn)是選擇和規(guī)定適合某種環(huán)境和需要的標(biāo)準(zhǔn)體系結(jié)構(gòu)組成部分只有符合標(biāo)準(zhǔn)才會滿足開放系統(tǒng)目標(biāo)。1.1 邊緣掃描技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)由美國IEEE計(jì)算機(jī)協(xié)會測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)委員會制訂。共有四個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)：IEEE1149.12001年標(biāo)準(zhǔn)：測試訪問端口與邊界掃描體系結(jié)構(gòu)IEEE1149.41999年標(biāo)準(zhǔn)：混合信號測試總線IEEE1149.51995年標(biāo)準(zhǔn)：測試

8、與維修總線協(xié)議IEEE1149.62003年標(biāo)準(zhǔn)：先進(jìn)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃描測試邊緣掃描技術(shù)提供了一套新的完整測試技術(shù)，它能夠完成復(fù)雜數(shù)字電路、混合信號電路板測試的技術(shù)障礙。在實(shí)際測試電路及電路板時(shí)不再需要借助復(fù)雜和昂貴的測試儀器和裝置，并且提供了一種獨(dú)立于電路板技術(shù)的測試方法。邊緣掃描測試技術(shù)通過連接器連到PCB板上的所有內(nèi)部測試點(diǎn)上，并能使電路板內(nèi)部連接電路正常工作，并實(shí)現(xiàn)快速測試。采用邊界掃描技術(shù)在減少投資和制造費(fèi)用，提高產(chǎn)品質(zhì)量及在元件和電路板小型化、復(fù)雜的ASIC、VLSI、SOC裝置等測試、診斷等方面具有重要的價(jià)值。此外，邊界掃描測試技術(shù)還提供了快速的樣本檢測及生產(chǎn)測試。邊界掃描技術(shù)現(xiàn)今

9、已被世界上幾乎所有的印制電路板（PCB）生產(chǎn)廠所接受，其主要原因是節(jié)省了PCB電路板不同生產(chǎn)階段的成本。在集成電路，電路板設(shè)計(jì)階段，節(jié)省了設(shè)計(jì)測試驗(yàn)證時(shí)間，在工廠生產(chǎn)階段，由于各個(gè)生產(chǎn)工序測試準(zhǔn)備時(shí)間和故障診斷時(shí)間的節(jié)省，以及可使用更低檔的測試設(shè)備，因使生產(chǎn)測試費(fèi)用極大降低，據(jù)有的資料報(bào)導(dǎo)可減少50%以上，而且提高了生產(chǎn)能力。在現(xiàn)場維修階段，測試設(shè)備的簡化、測試準(zhǔn)備時(shí)間的減少及易于維修、診斷，備用電路板庫存減少等都可節(jié)省大量的開支。邊界掃描測試技術(shù)的采用將導(dǎo)致集成電路、PCB板生產(chǎn)費(fèi)用，包括對IC采取預(yù)防措施的開發(fā)費(fèi)用大量減少，尤其使用維護(hù)費(fèi)用大大減少。邊界掃描技術(shù)現(xiàn)已發(fā)表的標(biāo)準(zhǔn)共有四種。1.

10、1.1 測試訪問端口與邊界掃描體系結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)（IEEE Std 1149.12001）是為數(shù)字集成電路和數(shù)一?；旌霞呻娐返臄?shù)字部分定義了測試訪問端口和邊界掃描體系結(jié)構(gòu)。本標(biāo)準(zhǔn)定義的特征元素致力于為基于高復(fù)雜性數(shù)字集成電路和高密度表面裝配等工藝技術(shù)的印制電路板的測試問題提供解決方案。本標(biāo)準(zhǔn)也提供了訪問和控制置入數(shù)字集成電路內(nèi)部的、專為測試用途而設(shè)計(jì)的特征元素的方法和途徑。這些特征包括內(nèi)部掃描路徑和自測試功能等，以及支持已裝配產(chǎn)品業(yè)務(wù)應(yīng)用的其它特征。邊界掃描技術(shù)就是在靠近每個(gè)組件（component）管腳的位置引入移位寄存器（植入在邊界掃描寄存器單元中），以便根據(jù)邊界掃描理論來控制和監(jiān)視組件邊界的

11、信號。組件component所有管腳的邊界掃描寄存器單元相互連接在一起，從而組成一個(gè)圍繞產(chǎn)品邊界的移位寄存器路徑鏈，而該路徑提供了串行輸入輸出連結(jié)和必要的時(shí)鐘和控制信號。對于由多個(gè)集成電路裝配而成的產(chǎn)品而言，各個(gè)組件相應(yīng)的邊界掃描寄存器串行地連結(jié)在一起，從而形成一條貫穿整個(gè)產(chǎn)品的總路徑，板級產(chǎn)品設(shè)計(jì)也可以包含幾條獨(dú)立的邊界掃描路徑。使用測試訪問端口與邊界掃描體系結(jié)構(gòu)測試邏輯也能夠提供對植入組件內(nèi)部的許多為測試而專門設(shè)計(jì)的特征屬性的訪問，這些特征包括內(nèi)部掃描路徑，自測試功能或其它支持功能。測試邏輯結(jié)構(gòu)：IEEE1149.1邏輯架構(gòu)中必須包含下列硬件單元：測試存取通道（TAP）TAP控制器指令寄存

12、器測試數(shù)據(jù)寄存器組測試數(shù)據(jù)寄存器01G2(可選)邊界掃描寄存器器件標(biāo)志寄存器測試數(shù)據(jù)寄存器測試數(shù)據(jù)寄存器旁路寄存器TDI指令解碼器指令寄存器時(shí)鐘和/或控制TAP控制TMSTCKTRST輸出緩存TDOMUXG1圖1 測試邏輯結(jié)構(gòu)圖而指令寄存器和測試數(shù)據(jù)寄存器必須是由移位寄存器構(gòu)成的單路徑，這些路徑被并行地連接在一起，具有一條公共的串行數(shù)據(jù)輸入和一條公共的串行數(shù)據(jù)輸出，分別連結(jié)到TAP的TDI和TDO信號。而對位于TDI和TDO之間的可供選擇的指令和數(shù)據(jù)寄存器的選擇，是由TAP控制器來進(jìn)行控制的。01G201G1IDC1IDC掃描輸入時(shí)鐘A時(shí)鐘B模式信號輸入移位/加載掃描輸出信號輸出圖2 邊界掃描

13、寄存器單元AT1AT2VHVLVGVHVLVG模擬測試訪問端口(ATAP)TDITDOTMSTCK測試訪問端口(TAP)(同IEEE1149.1)邊界掃描路徑數(shù)字I/O管腳內(nèi)部測試總線(AB1.2)模擬I/O管腳模擬掃描管腳(ABM)數(shù)字掃描模塊(DBM)測試總線接口電路(TBIC)測試控制電路TAP控制器指令寄存器和解碼器圖3 IEEE1149.4構(gòu)件基本結(jié)構(gòu)(最低配置)核心電路1.1.2 混合信號測試總線（IEEE Std 1149.41999）混合信號測試總標(biāo)準(zhǔn)是對IEEE1149.11990標(biāo)準(zhǔn)中描述的數(shù)字電路的可測試性結(jié)構(gòu)進(jìn)行了擴(kuò)展，以便于為混合信號電路提供類似的功能。同時(shí)描述了這種

14、體系結(jié)構(gòu)以及控制和訪問數(shù)模混合測試數(shù)據(jù)的方法，定義、規(guī)范和推動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)混合信號測試總線的使用，將其應(yīng)用于器件和部件的層次級別，提高混合信號電路設(shè)計(jì)的可控性和可觀察性，支持混合信號內(nèi)置測試結(jié)構(gòu)以降低測試開發(fā)時(shí)間和測試成本，提高測試質(zhì)量。它能完成：布線測試：能測試印制電路部件PCA（Printed Circuit Assembly）中布線的短路和斷路；參數(shù)測試：進(jìn)行模擬量參數(shù)測量，同時(shí)也測量PCA中分立組件信號的有無及其具體值；內(nèi)部測試：不管混合信號元器件是否屬于PCA，都要對其內(nèi)部電路進(jìn)行測試。整個(gè)IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)基本結(jié)構(gòu)如圖3。圖中表示了本標(biāo)準(zhǔn)的基本結(jié)構(gòu)和工作內(nèi)容。通過TAP允許測試數(shù)據(jù)通

15、過輸入輸出電路。每個(gè)數(shù)字功能管腳相關(guān)的邊界掃描模塊可以訪問核心電路進(jìn)行數(shù)字測試激勵(lì)并采集數(shù)字測試結(jié)果。每個(gè)模擬功能管腳是可選的，它為模擬測試信號提供訪問端ATAP。它由兩個(gè)管腳（AT1，AT2）測試接口電路（TBIC）和兩條模擬電路測試線路組成，可完成模擬電路測試。1.1.3 模塊化測試與維修總線（MTMBus）協(xié)議IEEE1149.51995標(biāo)準(zhǔn)：模塊化測試與維修總線（MTMBus）協(xié)議。規(guī)范了串行背板測試與維修總線，該總線用于將不同設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)或供應(yīng)商所研制的模塊集成到一個(gè)可測試和維修的子系統(tǒng)中。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范了物理層，鏈路層和命令層。標(biāo)準(zhǔn)接口協(xié)議和命令可用于提供模塊所必需的基本測試與維修特征，同時(shí)

16、用于提供對模塊上的資源（存儲器，外圍設(shè)備等）和IEEE1149.1邊界掃描設(shè)施的訪問。標(biāo)準(zhǔn)命令和功能支持將故障隔離到獨(dú)立模塊，并支持對模塊之間的背板布線測試。MTMBus包括：MTMBus應(yīng)包括MTMBus控制信號MCTL（MTMBus Control Signal）,它由當(dāng)前主模塊向全部連接的從模塊單向傳輸?shù)男盘?。MTMBus應(yīng)該包括一個(gè)總線主模塊數(shù)據(jù)信號MMD（MTMBus Master Data Signal）是從當(dāng)前主模向全部連接的從模塊單向傳輸?shù)男盘枴?MTMBus應(yīng)該包括一個(gè)總線從模塊數(shù)據(jù)信號MSDC（MTMBus Slave Data Signal），是每個(gè)連接的從模塊向當(dāng)前主模

17、塊單向傳輸?shù)男盘枴?MTMBus還包括一個(gè)總線時(shí)鐘信號MCTL（MTMBus Clock Signal），它是從總線時(shí)鐘源向主模塊和連接的從模塊單向傳輸?shù)男盘?。MTMBus模塊上所有信號的輸入和輸出應(yīng)該是專用聯(lián)結(jié)，而這些模塊引腳不得用于其它用途。當(dāng)前主模塊從模塊1從模塊2從模塊3從模塊250圖5 MTM-bus拓樸結(jié)構(gòu)主模塊從模塊從模塊主數(shù)據(jù)(MMD)從數(shù)據(jù)(MSD)中斷請求(MPR)控制(MCTL)時(shí)鐘(MCLK)時(shí)鐘源圖4 背板總線信號圖MMD、MSD、MPR和MCTL信號在多點(diǎn)結(jié)構(gòu)中應(yīng)該連接到所有模塊，即這四個(gè)信號的所有驅(qū)動(dòng)器/接收器都應(yīng)該共用一個(gè)物理連接。1.1.4 先進(jìn)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃

18、描測試IEEE1149.62003標(biāo)準(zhǔn)：先進(jìn)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃描測試擴(kuò)展了IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)，定義了高級數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃描結(jié)構(gòu)和方法。本標(biāo)準(zhǔn)定義的測試同時(shí)適用于IEEE1149.1傳統(tǒng)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)測試和IEEE1149.4傳統(tǒng)模擬網(wǎng)絡(luò)測試。本標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)確定軟件和邊界掃描的描述語言(BSDL)對IEEE1149.1進(jìn)行了擴(kuò)充，以支持新的測試端口。本標(biāo)準(zhǔn)制訂的目標(biāo)是為了給IC的可測試性電路提供設(shè)計(jì)指南，這些電路是在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)確定的可測試性配置的基礎(chǔ)上加入的。當(dāng)這些IC包含差分信號，具有AC耦合時(shí)，可以方便準(zhǔn)確地以更高的故障覆蓋率對其進(jìn)行板級和系統(tǒng)級測試。1.2 模塊化儀器和數(shù)字接口系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)

19、1.2.1 計(jì)算機(jī)自動(dòng)測量和控制系統(tǒng)（CAMAC）標(biāo)準(zhǔn)該標(biāo)準(zhǔn)由IEEE5831981標(biāo)準(zhǔn)定名為“模塊化儀器和數(shù)字接口系統(tǒng)”共有七個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)。即有串行公路接口系統(tǒng)、并行公路接口系統(tǒng)、多控制器、數(shù)據(jù)塊傳輸、子程序標(biāo)準(zhǔn)、術(shù)語定義、實(shí)時(shí)語言七個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。該系列標(biāo)準(zhǔn)開創(chuàng)了測試系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)先河，首次提出模塊化設(shè)計(jì)思想，并開創(chuàng)性地把數(shù)字接口系統(tǒng)和儀器系統(tǒng)有機(jī)結(jié)合起來，組建成由計(jì)算機(jī)主控加上IEEE488程控儀器相結(jié)合的插卡或模塊化自動(dòng)測控系統(tǒng)。該系統(tǒng)在美國，歐洲核工業(yè)，工業(yè)自動(dòng)控制領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，在中國高能物理核工業(yè)、航天工業(yè)等領(lǐng)域也得到了廣泛應(yīng)用。1.2.2 VXI、PXI總線系統(tǒng)隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展出現(xiàn)了

20、VXI（VMEbus Extensions for Instrumentation）、PXI（PCI Extensions for Instrumentation）總線技術(shù)。VXI、PXI技術(shù)把計(jì)算機(jī)技術(shù)、數(shù)字接口技術(shù)和儀器測量技術(shù)有機(jī)結(jié)合起來，它集中了智能儀器、計(jì)算機(jī)I/O數(shù)字接口技術(shù)和程控儀器易于組合的優(yōu)點(diǎn)。具有模塊化結(jié)構(gòu)組建和使用靈活，并采用了IEEE488.2和可編程儀器的標(biāo)準(zhǔn)命令、plug and play(即插即用、IVI等標(biāo)準(zhǔn))，解決了系統(tǒng)級兼容問題。由于系統(tǒng)設(shè)計(jì)是不依賴計(jì)算機(jī)而完全按“總線制”進(jìn)行設(shè)計(jì)的，作為主控設(shè)備的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)通過“接口轉(zhuǎn)換裝置”與測量控制系統(tǒng)通道、儀器部分相

21、連，組成一個(gè)完整的系統(tǒng)級聯(lián)裝置。因此，測量、控制系統(tǒng)可使用任何先進(jìn)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)作為自己的主控設(shè)備，而通道裝置不受影響，使自動(dòng)測試系統(tǒng)始終能采用計(jì)算機(jī)技術(shù)、集成技術(shù)的最新成果，保持系統(tǒng)的先進(jìn)性和兼容性。VXI、PXI技術(shù)是目前測試系統(tǒng)的主流技術(shù)。1.2.3 IEEE12261998、IEEE12322002系列標(biāo)準(zhǔn)IEEE12261998標(biāo)準(zhǔn)即IEEE Trial-use Standard for A Broad-Based Environment for Test(ABBET)。ABBET是用于產(chǎn)品測試領(lǐng)域的軟件接口標(biāo)準(zhǔn)的集合，為集成各種設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)、測試策略與需求、測試過程、測試結(jié)果管理及測試系

22、統(tǒng)實(shí)現(xiàn)而規(guī)范了一個(gè)復(fù)合環(huán)境。ABBET的主要目的是為伴隨產(chǎn)品整個(gè)生命周期的測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。其目的是規(guī)范用于測試的標(biāo)準(zhǔn)信息接口，使得從測試信息到測試實(shí)現(xiàn)的過渡更方便。ApplicationDevelopment ToolsExtension FrameworkFoundation FrameworkTest Application Framework Test Foundation InfrastructureFoundation ClassesDesignDataTestProcedureTestStrategyRuntimesServicesTestResourceInformationTes

23、t andMaintenanceInformationResourceMgmt圖6 ABBET結(jié)構(gòu)框圖ABBET支持一種普遍適用的測試技術(shù)，可應(yīng)用于各種類型的產(chǎn)品，各種層次的集成級別以及各種測試應(yīng)用。其適用范圍包括整個(gè)產(chǎn)品生命周期內(nèi)各種與測試有關(guān)的活動(dòng)，以及這些活動(dòng)所產(chǎn)生和使用的關(guān)鍵信息。它以信息模型對測試信息進(jìn)行規(guī)范化描述，消除了層次間測試信息移植，共享和應(yīng)用的障礙。ABBET結(jié)構(gòu)圖如圖6所示，產(chǎn)品生命周期和測試信息流程如圖7所示。對測試軟件采用接口描述語言(IDL語言),由于IDL語言與具體語言實(shí)現(xiàn)無關(guān)性，確保了實(shí)現(xiàn)ABBET標(biāo)準(zhǔn)的測試語言多元化。 IEEE12322002標(biāo)準(zhǔn)，即IEEE

24、 Standard for Artificial Intelligence Exchange and Service Tie to All Test Environments(AI-ESTATE).AIESTATE是關(guān)于在測試診斷系統(tǒng)之間應(yīng)用人工智能的數(shù)據(jù)交換和服務(wù)的規(guī)范。主要目的是在系統(tǒng)測試和診斷領(lǐng)域內(nèi)為推理系統(tǒng)提供一套數(shù)據(jù)交換和軟件服務(wù)的標(biāo)準(zhǔn)。該交換和服務(wù)是建立在測試環(huán)境的信息模型上，可用提供的標(biāo)準(zhǔn)框架來識別診斷所必需的信息，并且以機(jī)器可處理的方式定義診斷信息。同時(shí)，因?yàn)樗?guī)范了軟件接口，就保證了診斷工具的兼容性和可靠性。它描述的是在測試系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)和知識表示的規(guī)范集，是一種中立的（數(shù)據(jù)和

25、知識）交換格式，同時(shí)提供診斷信息的形式化模型，所以診斷推理機(jī)之間的模型信息互換成為可能。服務(wù)在本標(biāo)準(zhǔn)中是指推理機(jī)向測試系統(tǒng)、用戶表示系統(tǒng)、維修數(shù)據(jù)/知識搜集系統(tǒng)和被測系統(tǒng)等提供的服務(wù)。這里所說服務(wù)相對于具體的編程開發(fā)語言而言，即是提供某種功能的函數(shù)。交換即指數(shù)據(jù)（或知識）的互換，之所以規(guī)范數(shù)據(jù)互換格式，是為了在不使用信息管理系統(tǒng)的前提下，提供在相容系統(tǒng)間交換知識庫的方法。AIESTATE是以知識處理為基礎(chǔ)的人工智能技術(shù)應(yīng)用到武器系統(tǒng)的測試診斷，使診斷系統(tǒng)能相互兼容和獨(dú)立于診斷過程，達(dá)到測試診斷知識可移植、重用、共享，構(gòu)建綜合診斷的開放式體系結(jié)構(gòu)。Communications BackboneD

26、iagnosticReasonerTestSystemDatabaseSystemSystemUnder TestApplicationExecutive其結(jié)構(gòu)概念和模型體系結(jié)構(gòu)分別如圖8和圖9。DynamicContextModelCommonElementModelFaultTreeModelDiagnosticInferenceModelEnhanced DiagnosticInferenceModel圖9 模型體系結(jié)構(gòu)圖 圖8 AI-ESTATE 結(jié)構(gòu)概念圖IEEE12261998標(biāo)準(zhǔn)和IEEE12322002標(biāo)準(zhǔn)涉及到的標(biāo)準(zhǔn)包括：IEEE1226.31998測試泛環(huán)境資源管理軟件接口

27、、IEEE 15451999參量數(shù)據(jù)日志格式，IEEE 14551999飛行器/通路通信消息集等系列標(biāo)準(zhǔn)。2 LXI（LAN extensions for InstrumentationLAN在儀器領(lǐng)域的擴(kuò)展）系列標(biāo)準(zhǔn)。LXI是LAN extensions for Instrumentation 的縮寫，是LAN是儀器領(lǐng)域的擴(kuò)展，LXI規(guī)范詳述利用以太網(wǎng)作為設(shè)備主要通信總線的LXI設(shè)備的技術(shù)要求。LXI技術(shù)可借助當(dāng)前和未來LAN技術(shù)優(yōu)勢而發(fā)展。LXI標(biāo)準(zhǔn)提供一種超出傳統(tǒng)測試連接方案的能力，與傳統(tǒng)方案相比，它為用戶提供一種緊湊、小型、快速組建和廉價(jià)的系統(tǒng)方案。2.1 LXI標(biāo)準(zhǔn)具有三種主要功能屬

28、性標(biāo)準(zhǔn)化的LAN接口，它可提供Web的接口和編程控制。LAN接口可以是無線或有線物理連接的接口。接口支持對等操作及主從操作。基于IEEE1588標(biāo)準(zhǔn)的觸發(fā)設(shè)備，使模塊具有準(zhǔn)確動(dòng)作時(shí)間，且能經(jīng)LAN接口發(fā)出觸發(fā)事件。基于低壓差分信號（LVDS）電氣接口的物理線觸發(fā)系統(tǒng)，它允許通過有線接口互連模塊。LXI設(shè)備可廣泛應(yīng)用在各種系統(tǒng)中，通常系統(tǒng)中包含非LXI標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，例如GPIB、PXI、VXI和具有轉(zhuǎn)換接口的LAN儀器。2.2 為了滿足不同的應(yīng)用要求，LXI標(biāo)準(zhǔn)定義了三種儀器功能類2.2.1 功能類C 這種設(shè)備提供符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的LAN和Web瀏覽器接口。它們既不需要支持物理觸發(fā)，也不需要支持IEE

29、E1588定時(shí)要求。它適合不需要提供觸發(fā)或定時(shí)功能的應(yīng)用場合。2.2.2 功能類B 這類設(shè)備提供標(biāo)準(zhǔn)的LAN接口，并支持IEEE1588定時(shí)要求。IEEE1588接口允許設(shè)備執(zhí)行與GPIB等效的觸發(fā)功能，并且可以得到同樣或更高的定時(shí)精度。2.2.3 功能A類這類設(shè)備可提供標(biāo)準(zhǔn)的LAN接口、IEEE1588操作接口和物理線觸發(fā)接口。線觸發(fā)提供支持設(shè)備間觸發(fā)事件的標(biāo)準(zhǔn)能力，其定時(shí)精度只受電纜和儀器設(shè)計(jì)的物理限制。這種觸發(fā)功能完全等效于機(jī)箱中模塊儀器的背板觸發(fā)，盡管其電纜長度通常大于背板的觸發(fā)線長度。標(biāo)準(zhǔn)不允許在C類設(shè)備上提供線觸發(fā)。同時(shí)功能類并不意味著LXI設(shè)備的任何特殊物理尺寸。2.3 LXI觸

30、發(fā)接口 LXI提供了三種觸發(fā)機(jī)構(gòu)，一是經(jīng)LAN觸發(fā)，二是經(jīng)LAN接口運(yùn)行的IEEE1588精度時(shí)間協(xié)議，三是線觸發(fā)接口（LXI觸發(fā)總線）。LXN觸發(fā)能通過控制器至LXI設(shè)備或者通過LXI設(shè)備間交換消息的驅(qū)動(dòng)程序命令提供一種程序產(chǎn)生觸發(fā)事件的方法。在所有需要觸發(fā)操作的LXI設(shè)備的功能類上均提供LAN觸發(fā)。這種觸發(fā)方式實(shí)現(xiàn)起來是最簡單的，但性能低，因?yàn)樵贚AN通信時(shí)有潛在的等待時(shí)間問題。IEEE精密時(shí)間協(xié)議在A類和B類功能設(shè)備上都是可用的，且提供了一種多個(gè)LXI設(shè)備同步時(shí)鐘的方法，這就給系統(tǒng)一個(gè)一致的時(shí)間基準(zhǔn)根據(jù)系統(tǒng)時(shí)間產(chǎn)生觸發(fā)事件。IEEE1588觸發(fā)即可完全用軟件實(shí)現(xiàn)也可用專門的硬件實(shí)現(xiàn)以給出

31、更精確的定時(shí)同步。定時(shí)準(zhǔn)確度和不確定度與模塊和IEEE1588實(shí)現(xiàn)方案有關(guān)，但希望在10s和10ns之間。觸發(fā)或事件測量可在指定的時(shí)間上發(fā)生，或在收到指令后立即產(chǎn)生，但在這種情況下由于控制系統(tǒng)等待時(shí)間的影響存在較大的定時(shí)誤差。功能A類設(shè)備上可用的LXI觸發(fā)總線利用物理的菊花鏈方式連接設(shè)備，或用星形結(jié)構(gòu)連接設(shè)備以提供更確定的觸發(fā)接口，它可以是事件驅(qū)動(dòng)的（例如模塊驅(qū)動(dòng)）或是IEEE1588定時(shí)的（產(chǎn)生一個(gè)觸發(fā)信號送入線觸發(fā)系統(tǒng)）。接口是以8通道多點(diǎn)（MLVDS）信號系統(tǒng)為基礎(chǔ)的，允許將LXI設(shè)備配置成觸發(fā)信號源和/或接收器。接口也可配置成線或邏輯結(jié)構(gòu)，允許LXI設(shè)備響應(yīng)多個(gè)設(shè)備中任何一個(gè)設(shè)備或準(zhǔn)備

32、好的最后一個(gè)設(shè)備發(fā)出的觸發(fā)事件。LXI觸發(fā)總線有一個(gè)輸入和輸出連接器，易使LXI設(shè)備連成菊花鏈路。該鏈路中的最后一個(gè)設(shè)備的輸出連接器必須端接一個(gè)特定負(fù)載，以保證傳輸線的正確端接。LXI觸發(fā)總線提供了比IEEE1588更精確的模塊間觸發(fā)，且更逼近地模仿物理連接器連接的儀器所提供的觸發(fā)信號。利用觸發(fā)適配器可將來自觸發(fā)總線的觸發(fā)信號電平轉(zhuǎn)換成其它觸發(fā)電平，或?qū)碜粤硗庖粋€(gè)觸發(fā)系統(tǒng)的觸發(fā)命令轉(zhuǎn)換成LXI的線觸發(fā)事件。LXI觸發(fā)總線可被星形集線器支持，該集線器支持許多單一緩沖集線器的LXI設(shè)備菊花鏈路。LXI設(shè)備按簡單的星形網(wǎng)連接到星形集線器上，或按星形和菊花鏈的混合系統(tǒng)連接。LXI觸發(fā)總線也允許通過8

33、個(gè)通道中的一個(gè)或多個(gè)可用通道傳輸時(shí)鐘信號。三種觸發(fā)機(jī)構(gòu)可完成五種觸發(fā)模式：基于驅(qū)動(dòng)程序命令觸發(fā)模式：利用計(jì)算機(jī)上驅(qū)動(dòng)程序接口直接將命令傳遞給模塊（A、B和C類）。直接LAN消息觸發(fā)模式：通過LAN直接從一個(gè)模塊向另一個(gè)模塊發(fā)送包含觸發(fā)信號的數(shù)據(jù)包（A類和B類要支持）?；跁r(shí)間事件觸發(fā)模式：在模塊內(nèi)設(shè)置并執(zhí)行基于IEEE 1588時(shí)間的觸發(fā)（A類和B類要支持）。基于LXI觸發(fā)總線觸發(fā)模式：利用LXI觸發(fā)總線上的電壓觸發(fā)一個(gè)模塊功能（僅要求A類支持）?？蛇x用的供應(yīng)商特定的硬件觸發(fā)模式（A、B、C類均可用）。2.4 LXI編程LXI標(biāo)準(zhǔn)要求LXI設(shè)備配有IVI驅(qū)動(dòng)程序，且要求在可用的場合使用有關(guān)的I

34、VI類定義。LXI設(shè)備允許配備其它驅(qū)動(dòng)程序以便支持其它運(yùn)行環(huán)境。要求IVI驅(qū)動(dòng)程序使用VISA資源名。LXI設(shè)備應(yīng)使用VXIII提供設(shè)備查找機(jī)制，其它附加設(shè)備的查找機(jī)制也是允許的。程序設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了A、B、C類LXI設(shè)備觸發(fā)功能（LAN、IEEE1588、LXI總線觸發(fā)）的管理和運(yùn)行方法。它給出理解全部觸發(fā)功能的狀態(tài)機(jī)和結(jié)構(gòu)范例。LXI標(biāo)準(zhǔn)要求的所有源于IEEE1588的時(shí)間表示應(yīng)使用統(tǒng)一的方法，以保證信息解釋的一致性。2.5 LXI系統(tǒng)結(jié)構(gòu)有兩種應(yīng)用LXI設(shè)備系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。在測試系統(tǒng)機(jī)架內(nèi)，所有模塊連線都在一個(gè)機(jī)箱內(nèi)，這種應(yīng)用情況最易保證安全。因?yàn)槔孟拗仆獠吭L問的路由器確保機(jī)箱內(nèi)設(shè)備不受外界不

35、干擾。 單獨(dú)LXI模塊接到網(wǎng)上。在這種情況下，要求較多的模塊內(nèi)部保護(hù)，包括可能的防火墻、病毒掃描器、端口關(guān)閉和虛擬專用網(wǎng)連接等。利用LXI觸發(fā)總線結(jié)構(gòu)構(gòu)建LXI系統(tǒng)星形結(jié)構(gòu)，菊花鏈結(jié)構(gòu)，星形/菊花鏈混合結(jié)構(gòu)。混合系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖10 LXI系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖計(jì)算機(jī)LAN/GPIB轉(zhuǎn)換器GPIBGPIB帶集成端接器的星形集線器帶LAN控制器或嵌入式PC機(jī)“0”槽、LAN端接器菊花鏈接端接器端接器星形鏈接混合系統(tǒng) 由LXI設(shè)備和其它儀器組成的系統(tǒng)稱為LXI混合系統(tǒng)。LXI系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖10所示。由上圖可組成各類LXI系統(tǒng)，包括菊花鏈系統(tǒng)、星形系統(tǒng)、菊花鏈星形混合系統(tǒng)、LXI與非LXI設(shè)備混合系統(tǒng)等各種系統(tǒng)拓樸結(jié)構(gòu)

36、。2.6 建議2.6.1 LXI標(biāo)準(zhǔn)中，1.11混合系統(tǒng)定義成三類系統(tǒng)，即：混合型系統(tǒng)、符合型系統(tǒng)、集成型系統(tǒng)。但實(shí)際是二類系統(tǒng)，即混合型系統(tǒng)和符合型系統(tǒng)。標(biāo)準(zhǔn)文本敘述概念上有混淆。集成型系統(tǒng)架構(gòu)就是混合系統(tǒng)的架構(gòu)。2.6.2 LXI物理規(guī)范文本2.2 IEC全寬度機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容中只有符合IEC標(biāo)準(zhǔn)全寬度設(shè)備機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則，規(guī)則即強(qiáng)制性執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)。而事實(shí)上的半寬度機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用最多，但只有推薦標(biāo)準(zhǔn)，為了達(dá)到機(jī)械上的互換性應(yīng)把2.4.1.1推薦：LXI單元半寬度設(shè)備最大尺寸，改成規(guī)則：LXI單元半寬度設(shè)備尺寸。即變成強(qiáng)制性執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)。2.6.3 文本2.7.9節(jié)連接器規(guī)范中，應(yīng)增加推薦IEEE802.11

37、無線LAN連接器內(nèi)容，給出推薦的發(fā)射器/接收器的類型。2.6.4 安全性應(yīng)進(jìn)一步充實(shí)11章LXI安全性內(nèi)容，即明確單獨(dú)模塊接到網(wǎng)上時(shí)，LXI模塊需要確定哪種能保護(hù)。是采用防火墻、端口關(guān)閉、虛擬專用網(wǎng)連接、病毒掃描器等某類技術(shù)進(jìn)行模塊內(nèi)部保護(hù)。涉及LXI技術(shù)應(yīng)用還有許多標(biāo)準(zhǔn)。如LXISyC LXI同步接口規(guī)范，本規(guī)范定義了用來控制LXI設(shè)備等待，觸發(fā)和事件功能特性的API。此規(guī)范把LXI設(shè)備假定為“聽”儀器，它能“聽”到LXI觸發(fā)總線事件或基于LXI LAN 的事件，并能激發(fā)這些事件。輸入事件控制設(shè)備的等待和觸發(fā)子系統(tǒng)以完成測量和其它操作。還有其它標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范配合使用。如IVI可互換虛擬儀器規(guī)范、多

38、點(diǎn)低壓差分信號裝置（M-LVDS）的電氣特性標(biāo)準(zhǔn)、網(wǎng)絡(luò)化測量與控制系統(tǒng)精密時(shí)鐘同步協(xié)議等內(nèi)容。詳情請查閱相應(yīng)文本資料。3 新型總線標(biāo)準(zhǔn)3.1 PCI Express標(biāo)準(zhǔn)2003年4月PCI Express Base Specification Revision 1.0標(biāo)準(zhǔn)出版，該標(biāo)準(zhǔn)是新一代計(jì)算機(jī)接口技術(shù)，它向下兼容PCI、CPCI總線，代表了新一代數(shù)字接口技術(shù)的發(fā)展方向。隨著測試技術(shù)發(fā)展，接口帶寬已成為高速、高精度測試設(shè)備的主要瓶頸，而PCI Express標(biāo)準(zhǔn)出現(xiàn)解決了這個(gè)瓶頸，成為未來測試系統(tǒng)I/O發(fā)展的主要趨勢。3.2 ATCA 標(biāo)準(zhǔn)2002年12月出版了Advanced TCA標(biāo)準(zhǔn)。

39、該標(biāo)準(zhǔn)是為融合通信及數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用提供一個(gè)高性價(jià)比，且基于模塊化結(jié)構(gòu)的、兼容的、并可擴(kuò)展的硬件構(gòu)架。核心標(biāo)準(zhǔn)中定義機(jī)械結(jié)構(gòu)、散熱管理、電源分配和系統(tǒng)管理等內(nèi)容。該規(guī)范特點(diǎn)是專注于電信運(yùn)營級需求“可靠性、可用性、適用性”的應(yīng)用。此規(guī)范目的是要取代CPCI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，或者是針對那些未能被現(xiàn)存CPCI標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范或?qū)偌軜?gòu)滿足的應(yīng)用。ATCA除了核心規(guī)范外，還有輔助規(guī)范。輔助規(guī)范內(nèi)容則定義了在核心規(guī)范中互聯(lián)的傳輸方式。它們是以太和光纖傳輸； infiniBand傳輸；星形傳輸；PCI Express傳輸。另外還有高級結(jié)構(gòu)互聯(lián)/串行I/O傳輸正在制訂中。目前ATCA系列規(guī)范已經(jīng)得到眾多廠家的支持并推出了許多高

40、端產(chǎn)品，國內(nèi)一些高端電信設(shè)備制造商，測試設(shè)備制造商正積極使用該技術(shù)，原來的數(shù)據(jù)傳輸瓶頸、兼容障礙等問題將得到徹底解決，勢必在通信、測試等領(lǐng)域引發(fā)廣泛變革。4 虛擬測試技術(shù)通過虛擬測試系統(tǒng)，可以使產(chǎn)品歷經(jīng)虛擬設(shè)計(jì)、虛擬加工、虛擬裝配、產(chǎn)品性能虛擬測試和虛擬使用全過程。虛擬測試的結(jié)果信息可用于優(yōu)化、改進(jìn)虛擬制造技術(shù)中有關(guān)的設(shè)計(jì)和過程參數(shù)。由于虛擬測試在虛擬制造技術(shù)中應(yīng)用的普遍性，能促進(jìn)整個(gè)虛擬制造技術(shù)體系更為完備和工程實(shí)用化。因此，開展虛擬制造環(huán)境的虛擬測試技術(shù)研究和應(yīng)用具有重要而深遠(yuǎn)的意義，而計(jì)算機(jī)技術(shù)、虛擬技術(shù)和測試技術(shù)的發(fā)展，以及大量工程實(shí)用數(shù)據(jù)的積累，也使得建立虛擬測試系統(tǒng)具備了現(xiàn)實(shí)的可能

41、性。我們開展虛擬測試技術(shù)研究，就是用虛擬工程概念解決型號研究中的實(shí)際測試問題。通過構(gòu)造型號虛擬測試環(huán)境解決型號研制過程中的測試具體問題，包括參數(shù)精度測試，各種物理參數(shù)的虛擬產(chǎn)生，過程測試方法的模擬、測試程序的執(zhí)行檢測，對象模擬，以及虛擬模發(fā)、模飛等。通過構(gòu)建軍事裝備或大型工程的虛擬測試環(huán)境，建造一個(gè)通用的虛擬測試平臺，可以適應(yīng)各種型號模擬測試試驗(yàn)，對每種型號的測試需求均可在此通用的虛擬測試平臺進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證測試，通過虛擬測試驗(yàn)證，修正、完善軍事裝備的設(shè)計(jì)、提高研制質(zhì)量；同時(shí)在明確軍事裝備和大型工程需求情況下通過虛擬測試環(huán)境可對需要設(shè)計(jì)的測試發(fā)射控制系統(tǒng)和各類測試分系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)（分布式多總線復(fù)合結(jié)

42、構(gòu)或嵌入式單機(jī)箱系統(tǒng)）、系統(tǒng)組成、配置、功能模塊要求、實(shí)時(shí)性、傳輸性、可靠性、維護(hù)性均可在通用的虛擬測試平臺上完成演示驗(yàn)證，進(jìn)行完善設(shè)計(jì)和研制。當(dāng)前，虛擬測試的研究和應(yīng)用主要集中在兩方面：一是基于虛擬儀器技術(shù)的虛擬測試，基于虛擬儀器技術(shù)的虛擬測試的核心思想是“軟件就是儀器”。其實(shí)現(xiàn)途徑是在一定硬件基礎(chǔ)上，利用計(jì)算機(jī)和軟件及相應(yīng)算法來替代傳統(tǒng)測量儀表和裝置，如：信號調(diào)理與傳輸儀表，信號顯示記錄儀、存儲儀表、信號分析與處理儀表，以及有關(guān)控制、監(jiān)控環(huán)節(jié)。另外，就是基于虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)的虛擬測試?；谔摂M現(xiàn)實(shí)技術(shù)的虛擬測量，則是在虛擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境下，借助多種傳感器和必要的硬件裝備，根據(jù)具體需求，完成有關(guān)的測量

43、任務(wù)。在虛擬環(huán)境下可以設(shè)計(jì)、構(gòu)建所需要的虛擬測試系統(tǒng)，進(jìn)行虛擬測試、虛擬測量操作、測量過程仿真及虛擬制造中的虛擬測試等。在虛擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境下進(jìn)行虛擬測試，能夠?qū)⑷恕y量設(shè)備、測量系統(tǒng)模型和測量仿真軟件集成于一體，提供良好的人機(jī)交互和反饋手段，產(chǎn)生逼真效果。然而目前虛擬現(xiàn)實(shí)的硬件設(shè)備和工具價(jià)格昂貴，VR技術(shù)在測量領(lǐng)域的應(yīng)用應(yīng)注重技術(shù)功能的實(shí)現(xiàn)，不必追求高檔的、完全的VR環(huán)境。上述兩類虛擬測試最大區(qū)別是：基于虛擬儀器技術(shù)（VI）的虛擬測試盡管也被稱做“虛擬”，但是，它不可能完全虛擬，其中，被測量對象模擬化不虛，傳感器不虛，數(shù)采不虛，測量操作不虛，測量結(jié)果不虛。而基于虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)的虛擬測試，一般強(qiáng)調(diào)交互和沉浸，首先要使參與者有“真實(shí)”的體驗(yàn)，為了達(dá)到這個(gè)目的，就必須提供多感知的能力。目前基于虛擬儀器技術(shù)的虛擬測試和基于虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)的虛擬測試日趨走向集成和融合。航空 航天 兵器 船舶 核工業(yè) 電子測試信息集成系統(tǒng)平臺機(jī)內(nèi)測試系統(tǒng) 網(wǎng)絡(luò)化綜合 基于信息的