最新NDT學(xué)習(xí)資料(壓力容器無(wú)損檢測(cè)考級(jí)試題)

1、資料一：超聲波考試二級(jí)資料1. 超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)入另一種介質(zhì)后其聲束與法線所成的夾角稱(chēng)為 :ba. 入射角； b. 折射角； c. 擴(kuò)散角； d. 反射角。2. 用標(biāo)準(zhǔn)來(lái)校正儀器或裝置的過(guò)程稱(chēng)為 :da. 角度調(diào)整； b. 掃描； c. 距離 -幅度變化修正； d. 標(biāo)定。3. 利用陰極發(fā)射的電子束在熒光屏上顯示圖象的電子管叫做 :ca. 放大管； b. 脈沖管； c. 陰極射線管； d. 掃描管。4. 因表面粗糙使超聲波束產(chǎn)生漫射叫做 :ba. 角度調(diào)整； b. 散射； c. 折射； d. 擴(kuò)散。5. 相同波型的超聲波反射角 :aa.等于入射角； b. 與使用的耦合劑有關(guān)； c. 與使用頻

2、率有關(guān)； d.等于折射角。6. 聲束與缺陷主反射面所成的角度叫做 :c a.入射角； b.折射角； c. 缺陷取向； d.上述三種都不對(duì)。7. 持續(xù)時(shí)間很短的沖擊電能叫做 :da. 連續(xù)波； b. 直流峰值電壓； c. 超聲波； d. 電脈沖或脈沖。8. 超聲檢驗(yàn)中 , 脈沖的持續(xù)時(shí)間叫做 :a a.脈沖寬度； b.脈沖振幅； c. 脈沖形狀； d.反射。9. 超聲波射到界面波上 , 在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做 :da. 發(fā)散； b. 擴(kuò)散； c. 角度調(diào)整； d. 反射。10. 超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)入另一種介質(zhì)而改變傳播方向的現(xiàn)象叫做:aa. 折射； b. 擴(kuò)散； c. 角度調(diào)整；

3、d. 反射。11. 在陰極射線管中由電子束沖擊而發(fā)光的內(nèi)涂層面叫做:ca.電子轟擊； b. 電子放大器； c.熒光屏； d. 電子計(jì)算機(jī)。12. 同種固體材料中 ,在給定頻率下產(chǎn)生波長(zhǎng)最短的波動(dòng)型式是:da. 縱波； b. 壓縮波； c. 橫波； d. 表面波。13. 當(dāng)頻率和材料一定時(shí) , 通常橫波對(duì)小缺陷的檢測(cè)靈敏度高于縱波,因?yàn)?aa. 橫波比縱波波長(zhǎng)短； b. 橫波在材料中不易發(fā)散； c. 橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕葺^敏感； d. 橫波比縱波的波長(zhǎng)要長(zhǎng)。14. 一般地說(shuō)如果頻率相同 ,則在粗晶材料中穿透力最強(qiáng)的振動(dòng)型式是 :a a.縱波； b.切變波； c.橫波； d.上述三種的穿透力都

4、相同。15. 晶片與探測(cè)面平行 , 使超聲波垂直于探測(cè)面進(jìn)入被探材料的檢驗(yàn)方法稱(chēng)為 :aa. 直射法； b. 斜射法； c. 表面波法； d. 上述三種都不對(duì)。16. 由發(fā)射探頭發(fā)射的超聲波 ,通過(guò)試件傳遞后再由另一接收探頭接收的檢驗(yàn)方法稱(chēng)為:ca.表面波法； b 斜射法 c. 穿透法 d.直射法。17. 把電能轉(zhuǎn)變成超聲聲能或把超聲聲能變成電能的器件叫做:da.發(fā)射器； b.輻射器； c.分離器； d.換能器。18. 超聲波波形上的某一點(diǎn)到相鄰的同相（ 位） 點(diǎn)之間的距離叫做 :ba.頻率； b.波長(zhǎng)； c.速度； d.脈沖長(zhǎng)度。19. 超聲波通過(guò)材料的傳遞速度就是 :a a.聲能傳遞速度；

5、 b.脈沖的重復(fù)頻率； c.脈沖的恢復(fù)速率； d. 超聲響應(yīng)速度。20. 超聲波探傷中最常用的換能器是利用:ba.磁致伸縮原理； b.壓電原理； c. 波型轉(zhuǎn)換原理； d.上述都不對(duì)。21. 具有機(jī)械性能和電性能穩(wěn)定 , 不被液體溶解且耐老化等優(yōu)點(diǎn)的換能器材料是:ca. 硫酸鋰； b. 鈦酸鋇； c. 石英； d. 酒石酸鈉。22. 公式 Sin 1/C1=Sin 2/C2 叫做 :da. 聲阻抗比例公式； b. 相位變化公式； c. 近場(chǎng)公式； d. 折射定律。23. 公式 Sin 1/C1=Sin 2/C2 用于確定 :aa.角度的相互關(guān)系； b.相速度； c. 缺陷類(lèi)型； d.上述三種都

6、包括。24. 缺陷所反射的聲能大小取決于 :da.缺陷大??； b.缺陷取向； c. 缺陷類(lèi)型； d.上述三種都包括。25. 超聲波通過(guò)二種材料的界面?zhèn)鬟f, 如果第一介質(zhì)聲阻抗較大 ,但聲速與第二介質(zhì)相同 , 折射角 :ca.大于入射角； b. 小于入射角； c. 與入射角相同； d.在臨界角之外。26. 下列頻率中導(dǎo)致衰減損失最大的頻率是 :da.0.5MHz ；b.1.25MHz ； c.2.5MHz ； d.5MHz。27. 材料的聲速與密度的乘積稱(chēng)為 :ba.材料的折射率； b.材料的聲阻抗； c. 材料的彈性常數(shù)； d.材料的泊松比。28. 在聲波到達(dá)底面之前 , 由于聲束擴(kuò)散在試件側(cè)

7、面可能導(dǎo)致 :ca.多次底面反射； b.多次界面反射； c. 波型轉(zhuǎn)換； d.入射聲能的損失。29. 在檢驗(yàn)大鍛件時(shí) ,通常使用 :ca. 軸向檢驗(yàn)； b. 徑向檢驗(yàn)； c.a 和 b 兩種檢驗(yàn)都用； d. 低頻和高頻檢驗(yàn)。30. 被放大的信號(hào)幅度與缺陷的反射面積成正比地增大 ,放大器的這一非飽和的放大區(qū)域稱(chēng) 為:ba.靈敏度范圍； b. 線性范圍； c.選擇性范圍； d.分辨力范圍。31. 超聲波在水 / 鋁界面（從水中入射）上的反射角 :ca.近似為入射角的 1/2 ； b.近似為入射角的 4倍；c. 等于入射角； d.是入射角的 0.256 倍。32. 傳遞速度略小于橫波 , 不向材料深

8、處傳播的超聲波是 :aa.表面波； b.切變波； c. 爬行波； d.縱波。33. 粗晶探傷通常選用的超聲波頻率為 :ba.2.5MHz ；b.1.25MHz ；c.5MHz；d.10MHz。34. 超聲波探傷用的橫波 , 具有的特性是 :aa. 質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于傳播方向 , 傳播速度約為同材料中縱波速度的 1/2 ；b. 在水中傳播時(shí)因波長(zhǎng)較長(zhǎng) ,衰減小 ,故有很高的靈敏度；c. 因?yàn)闄M波對(duì)表面變化不敏感 , 故從耦合液體傳遞到零件時(shí)有高的效率；d. 上述三種都不適用于橫波。35. 橫波探傷常用于 :aa.焊縫、管材探傷； b.測(cè)定金屬制品的彈性特性； c. 探測(cè)厚板的分層缺陷； d.簿板

9、測(cè)厚。36. 造成超聲測(cè)厚時(shí)有顯著誤差的是 :ba.驗(yàn)頻率以恒定速度變化； b. 實(shí)際傳播速度偏離給定材料所假設(shè)恒定的數(shù)值； c.換能器與測(cè)量零件之間用水作耦合劑； d. 上述三種都不會(huì)引起誤差。37. 一般要探測(cè)板材焊縫中沿熔合線取向的缺陷時(shí) ,最好使用 :da. 表面波的斜射接觸法； b. 垂直縱波接觸法；c. 表面波水浸法； d. 橫波斜射法。38. 超聲波檢驗(yàn)裝置中 , 顯示超聲波信號(hào)反射幅度與聲波傳遞時(shí)間或反射體深度關(guān)系的脈沖 顯示法叫做 :ba. 連續(xù)波顯示法； b.A 掃描顯示； c.B 掃描顯示； d.C 掃描顯示。39. 在水 / 鋼界面上 , 水中入射角為 7°,

10、 在鋼中主要存在的振動(dòng)波型是 :ca. 縱波； b. 橫波； c.a 和 b 兩種波都存在； d. 表面波。40. 液體中能存在的波型是 :aa. 縱波； b. 橫波； c.a 和 b 兩種波都存在； d. 表面波。41. 超聲波探傷儀在單位時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)量叫做 :da.脈沖長(zhǎng)度； b.脈沖恢復(fù)時(shí)間； c. 超聲波頻率； d.脈沖重復(fù)頻率。42. 在超聲波探傷儀中 , 同時(shí)激發(fā)和校準(zhǔn)其它部分工作的電路單元叫做 :d a.顯示裝置或陰極射線管； b. 接收器；c. 標(biāo)志電路或范圍標(biāo)志電路； d. 同步器或計(jì)時(shí)器。43. 超聲波探傷儀中 ,產(chǎn)生高電壓脈沖以激發(fā)探頭工作的電路單元叫做 :c a.

11、放大器； b.接收器； c. 脈沖發(fā)射器； d.同步器。44. 超聲波探傷儀中 ,產(chǎn)生時(shí)間基線的部分叫做 :aa.掃描電路； b.接收器； c.脈沖器； d.同步器。45. 要在陰極射線管熒光屏上顯示零件和缺陷的俯視圖就應(yīng)該采用 :da. 自動(dòng)計(jì)數(shù)裝置； b.A 掃描顯示； c.B 掃描顯示； d.C 掃描顯示。46. 使一種波產(chǎn)生 90°折射的入射角叫做 :ba.垂直入射角； b.臨界角； c.最小反射角； d.上述三種都不對(duì)。47. 用水浸法檢驗(yàn)鋁時(shí) ,（ 縱波入射 ）第一臨界角約為 :ba.8 °； b.14 °； c.26 °； d.32

12、76;。48. 壓縮波或疏密波因?yàn)槠滟|(zhì)點(diǎn)位移平行于傳播方向 ,所以稱(chēng)為 :aa.縱波； b.橫波； c. 蘭姆波； d.表面波。49. 水浸法檢驗(yàn)中衰減最快的波型是 :da.縱波； b.切變波； c.橫波； d.表面波。50. 橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng) :ba.平行于波的傳播方向； b. 垂直于超聲波的傳播方向；c. 限于材料表面并作橢圓運(yùn)動(dòng)； d. 在平面中與波的傳播方向成 45°偏振。51. 鋁中超聲縱波的傳播速度為 635000cm/s, 頻率 1MHz.此超聲波的波長(zhǎng)為 :ca.6.35cm ；b.3.17mm；c.6.35mm；d.31700A（ 埃） 。52. 超聲縱波從水中傾斜入

13、射到金屬材料時(shí) ,折射角主要取決于 :ba. 水與金屬的阻抗比； b. 水與金屬的相對(duì)聲速； c. 超聲波的頻率； d. 水與金屬的密度比。53. 在接觸法探傷時(shí) ,要在被測(cè)材料中激發(fā)出橫波 ,可以:da. 把 X切割石英直接放在材料表面并通過(guò)油膜耦合；利用試件相對(duì)側(cè)面上的兩個(gè)換能器； a.把球面聲透鏡放在換能器表面上； d. 把換能器安裝在塑料斜楔上 ,使聲束以某個(gè)角度進(jìn)入 工件。54. 如果超聲波的頻率增加 ,則一定直徑晶片的指向角將 :aa. 減??； b. 保持不變； c. 增大； d. 隨波長(zhǎng)均勻變化。55. 下列材料中聲速最低的是 :aa.空氣； b.水； c. 鋁；d. 不銹鋼。5

14、6. 超聲波從水中以 5°角入射到鋼內(nèi) ,此時(shí)的橫波折射角 :aa.小于縱波折射角； b.等于縱波折射角； c. 大于縱波折射角； d.為零。57. 下列材料中聲速最高的是 :ca.水； b.空氣； c. 鋁； d.鋼。58.2.5MHz 探頭所用鋯鈦酸鉛晶片的厚度約為 :ca.1.5mm； b.0.05mm； c.0.8mm ； d. 隨晶片直徑變化。59. 超聲波換能器通常是用壓電材料制作的 ,下述材料哪一種不是壓電材料 :da. 鋯鈦酸鉛； b. 石英； c. 鈦酸鋇； d. 鎳。60. 鋼中聲速最大的波型是 :aa.縱波； b.橫波； c. 表面波； d.在一定材料中聲速與所

15、有波型無(wú)關(guān)。61. 聲阻抗是 :ba. 用于計(jì)算反射角； b. 材料的密度與聲速的乘積； c. 由折射定律得到； d. 用于確定諧振值。62. 檢驗(yàn)簿板時(shí) ,可使超聲波聲束直接垂直于表面 ,而觀察 :ba.界面反射振幅； b.多次反射圖形； c. 所有的界面反射； d.上述三種都不對(duì)。63. 用以簡(jiǎn)要地表達(dá)整個(gè)探傷儀原理或功能, 并由線條或箭頭表示信號(hào)或能量通路的圖形叫做:ca. 電路圖； b. 設(shè)計(jì)圖； c. 方塊圖； d. 上述三種都不對(duì)。64. 在金屬凝固過(guò)程中未逸出的氣體所形成的孔洞叫做:da. 破裂； b. 冷隔； c. 分層； d. 氣孔。65. 在澆注熔融金屬時(shí) ,由飛濺、翻浪

16、,澆注中斷或來(lái)自不同方向的兩個(gè)金屬流相遇而引起的 缺陷叫做 :ba. 破裂； b. 冷隔； c. 分層； d. 氣孔。66. 對(duì)材料施加應(yīng)力并在釋放應(yīng)力后不導(dǎo)致變形的最大單位應(yīng)力叫做:da.材料的彈性介質(zhì)； b. 材料的泊松比； c.材料的楊氏模量； d. 材料的彈性極限。67. 兩種材料的聲速比叫做 :d a.界面的聲阻抗； b.楊氏模量； c. 泊松比； d. 折射率。68. 在彈性極限內(nèi) , 應(yīng)力與拉伸之比稱(chēng)為 :ca. 楊氏模量； b. 彈性模量； c.a 和 b 都對(duì)； d. 折射率。69. 在兩個(gè)不同材料的界面上決定反射量的因素是:da.折射率； b. 超聲波的頻率； c.楊氏模量

17、； d.聲阻抗。70. 用聲速和頻率描述波長(zhǎng)的方程為 :ca.波長(zhǎng)=聲速×頻率； b.波長(zhǎng)=2（頻率×速度 ）；c. 波長(zhǎng)=速度÷頻率； d.波長(zhǎng)=頻率÷速度。71. 超聲波到達(dá)兩個(gè)不同材料的界面上 ,可能發(fā)生 :da.反射； b.折射； c.波型轉(zhuǎn)換； d. 上述三種都有。72. 用水浸法檢驗(yàn)零件時(shí) , 通常用于產(chǎn)生橫波的方法是 :da. 用縱波垂直于界面發(fā)射到零件中去； b. 用兩種不同振動(dòng)頻率的晶片；c. 用 Y 切割石英晶體； d. 適當(dāng)?shù)貎A斜探頭。73. 在超聲波探傷中 . 常用手指沾油摸工件表面 ,觀察信號(hào)是否跳動(dòng) , 作為鑒別缺陷信號(hào)的一

18、種方法 :da.在任何情況下都是正確的； b.僅適用于縱波探傷； c. 僅適用于橫波探傷； d.某些情況下不 適用 ,例如對(duì) IIW 試塊的 R100曲面就是如此。74. 波束指向角是晶片的尺寸和它所通過(guò)的介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù),并且:aa. 頻率或晶片直徑減小時(shí)增大； b. 頻率或晶片直徑減小時(shí)減小；c. 頻率增加而晶片直徑減小時(shí)增大； d. 頻率增加而晶片直徑減小時(shí)減小。75. 超聲波的波長(zhǎng) :b a.與聲速和頻率成正比； b. 與速度成正比而與頻率成反比； c.與速度成反比而與頻率成正比； d. 等于速度和頻率的乘積。76. 常用于探傷的壓電晶體 ,其基頻主要取決于 :c a.施加電壓脈沖

19、的長(zhǎng)度； b. 儀器的脈沖放大器的放大特性； c.壓電晶體的厚度； d. 上述三種都不對(duì)。77. 材料的聲阻抗 :da.與密度成正比 , 與聲速成反比； b.與密度成反比 , 與聲速成正比；c. 與密度和聲速成反比； d. 等于密度和聲速的乘積。78. 聲速主要取決于 :ca.密度； b.彈性； c.a 和 b都是； d.聲阻抗。79. 鑄件往往難以檢驗(yàn) , 因?yàn)?:ba.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密； b.晶粒結(jié)構(gòu)粗大； c. 流線均勻； d.缺陷任意取向。80. 蘭姆波可用于檢驗(yàn) :da. 鍛件； b. 棒坯； c. 鑄錠； d. 簿板。81. 確定波束指向角的公式是 :da.Sin =直徑平方 /4

20、 倍波長(zhǎng)； b.Sin ×直徑 =頻率×波長(zhǎng)；c.Sin =頻率×波長(zhǎng)； d.Sin =1.22 波長(zhǎng)/ 直徑。82. 探傷儀的分辨力主要與 :ba.掃描電路有關(guān)； b.頻帶寬度有關(guān)； c. 脈沖振鈴時(shí)間有關(guān)； d.放大倍數(shù)有關(guān)。83. 探頭發(fā)射的聲能聚集而形成聲束線聚焦應(yīng)選用的聲透鏡為 :aa. 圓柱曲面； b. 球面曲面； c. 凸面形； d. 凹面形。84. 熱轉(zhuǎn)換、粘滯、彈性遲滯、散射是四種不同機(jī)械作用,它們導(dǎo)致聲能 :aa. 衰減； b. 折射； c. 波束擴(kuò)散； d. 飽和。85. 鋁中聲速約為 6.25 × 106mm/s,聲束通過(guò) 25m

21、m鋁的時(shí)間約為 :ba.1/8s ； b.4 s； c.4ms； d.0.25 × 10-4s 。86. 與表面光滑的零件相比 ,檢驗(yàn)粗糙零件時(shí)一般應(yīng)采用 :aa. 較低頻率探頭和較粘的耦合劑； b. 較高頻率探頭和較粘的耦合劑；c. 較高頻率探頭和粘度較小的耦合劑； d. 較低頻率探頭和粘度較小的耦合劑。87. 用斜射法檢驗(yàn)焊接區(qū)域時(shí) ,一旦有反射信號(hào)時(shí) , 則表明焊縫可能有 :da.夾渣； b.裂紋； c. 未焊透； d.上述三種都可能。88. 在 A型掃描顯示中 ,電子束在陰極射線管熒光屏上均勻重復(fù)移動(dòng)所形成的水平線叫做 :b a.方波圖形； b.掃描線； c. 標(biāo)志圖形； d

22、.上述三種都不對(duì)。89. 能沿圓滑過(guò)渡的邊角傳播而幾乎不造成反射的超聲波為 :ba.橫波； b.表面波； c.切變波； d.縱波。90. 一個(gè)經(jīng)校正的超聲探測(cè)系統(tǒng) , 從鋁試塊中深度為 75mm,直徑為 4mm平底孔上得到 50mm的 波高顯示 ,在檢驗(yàn)鋁鍛件時(shí) ,表面狀態(tài)和材質(zhì)都與試塊相同 , 若從深度為 75mm處得到 50mm波 高顯示 , 則缺陷的面積可能是 :ba. 與直徑 4mm平底孔的面積相同； b. 大于直徑 4mm平底孔的面積；c. 稍小于直徑 4mm平底孔的面積； d. 約為直徑 4mm平底孔的面積。91. 超聲換能器發(fā)射的超聲波在整個(gè)傳播距離上實(shí)際上是 :ca. 幾乎沒(méi)有

23、能量峰值起伏的平面波；b. 有能量峰值起伏的活塞波 , 其強(qiáng)度隨傳播距離一直保持恒定；c. 有能量峰值起伏 ,但在一定的峰值后其強(qiáng)度隨傳播距離而減?。籨.上述三種都不對(duì)。92. 超聲波從材料 1進(jìn)入材料 2,隨聲阻抗比 Z1/Z2 的增大而透過(guò)的聲壓 :aa. 減??； b. 增大； c. 不變； d. 可增大或減小。93. 一般不用低頻聲波檢測(cè)簿板 ,因?yàn)?:ca.低頻聲波衰減?。?b.波長(zhǎng)不適合； c.近表面分辨力不夠； d.上述三種實(shí)際上都不會(huì)限制這 樣的檢驗(yàn)。94. 在水浸檢驗(yàn)中 , 探頭與試件間水距 :ca. 應(yīng)盡可能的小； b. 使二次界面波在底面回波之前； c. 使二次界面波在底面

24、回波之后； d.應(yīng)盡可能的大。95. 傳導(dǎo)超聲能量最好的是 :aa.鋁鍛件； b.鋼錠； c. 鋁鑄件； d. 鋁錠。96. 開(kāi)槽的超聲參考試塊可用于 :ca.確定缺陷深度； b.評(píng)定表面缺陷； c. 作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)； d.作評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo) 準(zhǔn)。97. 在檢驗(yàn)零件時(shí) , 若無(wú)缺陷顯示 ,則操作者應(yīng)注意底面回波高度的劇烈下降 ,引起這種情況 的原因可能是 :da.大而平的缺陷與入射聲束取向不良； b. 疏松；c.大晶粒； d.上述三種都可能引起這種情況。98. 鍛件中缺陷的取向通常為 :ba.雜亂； b.平行于晶粒流向； c.垂直線于晶粒流向； d. 與晶粒流向成 45°角

25、。99. 容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于 :da.波長(zhǎng)的一半； b.1 個(gè)波長(zhǎng)； c.1/4 波長(zhǎng)； d.若干波長(zhǎng)。100. 靠近探頭的長(zhǎng)條形缺陷并不一定都能探測(cè)到, 因?yàn)?:ca. 聲束擴(kuò)散； b. 材質(zhì)衰減； c. 儀器阻塞效應(yīng)； d. 折射。101. 自動(dòng)探傷中可能的最大掃查速度主要決定于 :ca.探頭效率； b.聲耦合問(wèn)題； c. 檢驗(yàn)裝置的脈沖重復(fù)頻率； d.陰極射線管熒光屏的余輝時(shí)間。102. 把某些材料所具有的能使電能與機(jī)械能相互轉(zhuǎn)換的特性稱(chēng)為 :ba.波型轉(zhuǎn)換； b.壓電效應(yīng)； c. 折射； d.阻抗匹配。103. 管子的槽形參考標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)把槽加工在 :aa. 內(nèi)外表面； b. 只

26、在內(nèi)表面； c. 只在外表面； d. 從內(nèi)表面到壁厚 1/2 深度。104. 表面波能檢查的深度一般不大于 :ca.10mm； b.4mm； c.1 個(gè)波長(zhǎng)； d.4 倍波長(zhǎng)。105. 用縱波水浸法檢驗(yàn)鋼材時(shí) , 為了防止在第一次底面回波前出現(xiàn)二次界面回波, 在 25mm水距時(shí)能探測(cè)最大厚度 :ba.50mm的鋼； b.100mm的鋼； c.150mm 的鋼； d.200mm的鋼。106. 探測(cè)面與工件底面不平行時(shí) :aa.導(dǎo)致熒光屏圖象中失去底面回波； b. 難以對(duì)平行于入射面的缺陷進(jìn)行定位；c. 通常表示在金屬中存在疏松狀態(tài)； d. 減小試驗(yàn)的穿透力。107. 凹面缺陷將 :ba. 引起聲

27、能擴(kuò)散； b.引起反射波束聚焦 ,焦點(diǎn)決定于缺陷的曲率； c.引起超聲波波長(zhǎng)改變； d. 上述三種都不對(duì)。108. 用水浸法檢驗(yàn)厚度逐漸變化的工件時(shí)應(yīng) :a a.在整個(gè)探測(cè)表面上保持水距一致； b. 保證最大水距；c. 保證聲束的入射角恒定為 15°； d. 保證聲束對(duì)探測(cè)面的角度為 5°。109. 對(duì)板材作斜射法檢驗(yàn)時(shí) , 常常會(huì)漏掉 :ca.垂直線于聲波的裂紋； b.任意取向的夾雜物； c. 平行于表面的裂紋； d.一系列小缺陷。110. 用單斜探頭檢查厚焊縫常易漏掉 :ba. 線狀?yuàn)A渣； b. 與探測(cè)面垂直的大而平的缺陷； c. 密集氣孔； d. 未焊透。111. 用

28、超聲波檢驗(yàn)復(fù)層材料時(shí) , 容易探出脫粘的條件是兩種材料的 :ba.聲阻抗相差大； b.聲阻抗相差小； c. 衰減??； d.聲速相差小。112. 用 =Sin-1(1.22 /D) 算出的指向角 ,適用于聲軸聲壓 Po 與邊緣聲壓 PB的比 (PB/Po) 為:ca.50%；b.90%；c.0 ；d.1%；e. 一切情況。113. 縱波聲束斜射到兩種固體界面上發(fā)生反射（或折射）時(shí) , 反射橫波的反射角（或折射橫 波的折射角）比反射縱波的反射角（或折射縱波的折射角） ：b a較大； b. 較?。?c. 有時(shí)大有時(shí)小。114. 要聲束在介質(zhì) 2 中聚焦能把聚焦探頭的透鏡 （透鏡材料為 1） 制成凹面

29、的條件是 :b a.C1<C2；b.C1>C2；c.Z1 >Z2； d.Z1 < Z2。115. 聚焦探頭的焦距 f, 相對(duì)于其不聚焦來(lái)說(shuō)一定是 :ba.f 大于近場(chǎng)長(zhǎng)度； b.f 小于近場(chǎng)長(zhǎng)度； c.f 等于近場(chǎng)長(zhǎng)度； d.f 任選。116. 檢驗(yàn)近表面缺陷 , 最有效的方法是 :d a.可變角探頭； b.直探頭； c.斜探頭； d.收/發(fā)聯(lián)合雙晶探頭。117. 一個(gè)垂直線性好的探傷儀 ,熒光屏上的波幅從 80%處降至 5%時(shí),應(yīng)衰減 :d a.6dB ； b.18dB ；c.32dB ； d.24dB 。118. 一般地說(shuō) , 在遠(yuǎn)場(chǎng)同一深度的平底孔直徑增大一倍 ,

30、 其回波聲壓提高 :ca. 一倍； b.9dB ； c.12dB ； d.24dB 。119. 在遠(yuǎn)場(chǎng) , 同直徑平底孔聲程從 100mm增大到 300mm,若不計(jì)材質(zhì)衰減 , 則聲壓減少 :d a.三倍； b.12dB ； c.24dB ； d. 以上三個(gè)答案都不對(duì)。120. 在遠(yuǎn)場(chǎng) , 同聲程的橫孔從 2mm增大到 8mm,其回波聲壓提高 :ba. 四倍； b.6dB ； c.12dB ； d.9dB 。121. 在遠(yuǎn)場(chǎng) , 同直徑橫孔聲程增大 1 倍, 不計(jì)材質(zhì)衰減 , 則聲壓減少 :ba.6dB ； b.9dB ； c.3dB ； d.12dB 。122. 用直探頭在工件端面探測(cè)離側(cè)壁

31、極近的小缺陷時(shí) , 探頭最不利的探測(cè)位置是 :aa. 盡可能靠近側(cè)壁； b. 離側(cè)壁 10mm； c. 離側(cè)壁一個(gè)探頭直徑的距離處；d. 離側(cè)壁二個(gè)探頭直徑的距離處。123. 探測(cè)厚焊縫中垂直于表面的缺陷最適用的方法是 :d a.聚焦探頭； b.直探頭； c.斜探頭； d.串列雙斜探頭。124. 用單探頭法探測(cè)二個(gè)表面平整 , 但與入射聲束取向不良的缺陷 （ 二缺陷的取向相同且無(wú) 工件界面的影響 ）, 它們的當(dāng)量 :ca. 面積大的 , 當(dāng)量也一定大； b. 面積大的 , 當(dāng)量不一定比面積小的為大； c.面積大的 ,當(dāng)量反而比面積小的要小； d. 它們的當(dāng)量相等。125. 用單探頭法為要發(fā)現(xiàn)與

32、聲束取向不良的缺陷 , 應(yīng)該采用的頻率 :c a.愈高愈好； b.愈低愈好； c. 不太高的頻率； d.較尋常為高的頻率。126. 如果探測(cè)面毛糙 , 應(yīng)該采用 :a a.不太高頻率的探頭； b.較高頻率的探頭； c. 硬保護(hù)膜探頭； d.上述三種均無(wú)需考慮。127. 直探頭探測(cè)厚 250mm及 500mm兩餅形鍛件 , 若后者探測(cè)面毛糙 , 與前者耦合差 4dB,材質(zhì) 衰減均為 0.004dB/mm, 前者的底面回波調(diào)至示波屏滿幅度的80%,則后者的底面回波應(yīng)為滿幅度的 :ca.5%；b.10%；c.20%；d.40%.a2128. 探頭的近場(chǎng)長(zhǎng)度由下式?jīng)Q定 ,（ 式中波長(zhǎng) ,f 頻率,D晶

33、片直徑 ,a 晶片半徑 ）：cD2fa.N=1.22 D ；b.N= 4 ；c.N= ；d. 都不對(duì)。129. 超聲波垂直于界面入射時(shí), 其反射聲壓系數(shù)為 :arpa.Z 2 Z1Z 2 Z1rp b.2Z1Z 2 Z1rp；c.4Z1Z2(Z2Z1130. 一般認(rèn)為超聲波探傷用活塞探頭 , 其聲場(chǎng)的不擴(kuò)散區(qū)域長(zhǎng)度等于 :b a.一倍近場(chǎng) N；b.1.6N ； c.3N 。 附: 參考答案1. b21. c41. d61. b81. d101. c121. b2. d22. d42. d62. b82. b102. b122. a3. c23. a43. c63. c83. a103. a12

34、3. d4. b24. d44. a64. d84. a104. c124. c5. a25. c45. d65. b85. b105. b125. c6. c26. d46. b66. d86. a106. a126 a7. d27. b47. b67. d87. d107. b127. c8. a28. c48. a68. c88. b108. a128. c9. d29. c49. d69. d89. b109. c129. a10. a30. b50. b70. c90. b110. b130.11. c31. c51. c71. d91. c111. b12. d32. a52. b

35、72. d92. a112. c13. a33. b53. d73. d93. c113. b14. a34. a54. a74. a94. c114. b15. a35. a55. a75. b95. a115. b16. c36. b56. a76. c96. c116. d17. d37. d57. c77. d97. d117. d18. b38. b58. c78. c98. b118. c19. a39. c59. d79. b99. d119. d20. b40. a60. a80. d100. c120. b資料二： 射線檢測(cè)的原理介紹1898年 11月 8日,倫琴發(fā)現(xiàn)了 X射

36、線,從此無(wú)損檢測(cè)技術(shù)開(kāi)始發(fā)生了質(zhì)的變革。 它使固 體內(nèi)部 的缺陷得以直觀地顯現(xiàn)出來(lái)。 X 射線是一束光子流。在真空中 , 它以光速直線傳播 , 本身不帶電 , 故不受電磁場(chǎng)的影響。 具有波粒二象性。 從物理學(xué)中 , 我們知道 , 凡具有加速度 的帶電粒子都會(huì)產(chǎn)生電磁輻射。因此當(dāng)電子在高壓電場(chǎng)的作用下, 高速運(yùn)動(dòng)時(shí) , 突然撞擊到靶面 , （會(huì)產(chǎn)生很大的負(fù)加速度）從而形成了所謂的韌致輻射。簡(jiǎn)單地說(shuō),它是由高速 運(yùn)動(dòng)的電子撞擊靶面而產(chǎn)生的。 另一方面 , 當(dāng)電子的動(dòng)能足夠大時(shí) , 將會(huì)把靶面原子的內(nèi)層電子轟 擊出來(lái) ,在原位置 形成孔穴 ,而此刻,外層的電子 （位于高能級(jí)） 產(chǎn)生躍遷以填補(bǔ)該孔穴。

37、 同 時(shí), 它將多余的能量以 X 射線的形式放出 , 形成所謂的標(biāo)識(shí) X射線。標(biāo)識(shí)射線的波長(zhǎng)是不連 續(xù)的。它取決于靶面的材料。它通常用于對(duì)材料的化學(xué)成分進(jìn)行定性分 析。在無(wú)損檢測(cè)探 傷中 ,一般用前者。X射線具有很強(qiáng)的穿透能力。在媒體的界面, 它的折射率很小 , 幾乎為 1。從而使我們可以按幾何方式來(lái)計(jì)算成像的比例。由韌致輻射產(chǎn)生的 X射線, 具有連續(xù)譜線。它的波長(zhǎng)取決于電場(chǎng)的電壓和場(chǎng)內(nèi)的電子流。其 強(qiáng)度表示為：I= 其中,K 系數(shù)； i 管電流； U 管電壓； Z 靶的原子序數(shù)。穿透物體后 , 射線的強(qiáng)度為： I1=Io X exp（-ud）, 射線入射強(qiáng)度減弱一半的吸收物質(zhì)厚度稱(chēng)為 半價(jià)層

38、。寬容度（ L）指膠片有效密度范圍對(duì)應(yīng)的曝光范圍。在膠片特性曲線上, 就用接近在線部分的起點(diǎn)和終點(diǎn)在橫坐標(biāo)上相對(duì)應(yīng)的曝光量對(duì)數(shù)表示, 顯然梯度大的膠片其寬容度必然小。線型象質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件表面上被檢焊縫區(qū)一端（被檢區(qū)長(zhǎng)度的 l 4 部 位）。金屬絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直 , 鋼絲置于外側(cè)。 當(dāng)射線源一側(cè)無(wú)法放置象質(zhì)計(jì)時(shí) , 也可放在膠片一側(cè)的工件表面上 ,但象質(zhì)指數(shù)應(yīng)提高一級(jí) , 或通過(guò)對(duì)比試驗(yàn) ,使實(shí)際象質(zhì)指數(shù) 達(dá)到規(guī)定的要求。 象質(zhì)計(jì)放在膠片一側(cè)工件表面上時(shí) , 應(yīng)附加“ F”標(biāo)記以示區(qū)別。 中心透照 環(huán)焊縫時(shí) ,每隔如”放置一個(gè)象質(zhì)計(jì)。 多個(gè)管子接頭在一張底片上同時(shí)顯示時(shí)

39、, 至少應(yīng)放一個(gè) 象質(zhì)計(jì) , 且置于最邊緣的那根管子上。象質(zhì)計(jì)的線徑 d 與線號(hào)象質(zhì)指數(shù)之間的關(guān)系：d de,z 6 10lgd 金屬絲象質(zhì)計(jì)的相對(duì)靈敏度： S = A X 10O , 如一底片上可識(shí)別的最小線徑 ,照厚度。射線照相對(duì)比度公式： 射線照相對(duì)比度（底片對(duì)比度） D 是主因?qū)Ρ榷?tri 和膠片對(duì)比度 r 共同作用 工件表面距離 ,Q I 件表面至膠片距離。為保證射線照相的清晰度 ,標(biāo)準(zhǔn)對(duì)透照距離的最 J 前防限制： 象質(zhì)等級(jí)透照距離（焦點(diǎn)至工件表面距離）入K 值為了評(píng)價(jià) X射線在膠片上的成像質(zhì)量 , 人們通常用像質(zhì)計(jì)作為檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。 線型像質(zhì)計(jì)的擺放 , 應(yīng)在射線源一邊。靈敏度的計(jì)

40、算為： m=di/DpX100% 射線照相影響質(zhì)量的基本因素有：黑度 , 黑度與照相靈敏度 S 三大要素（照相對(duì)比度面 D, 不清晰度 U 和顆粒度 Gr）的關(guān)系。照相對(duì)比度 照相不清晰度 Un,m,u 照相顆粒度 r 膠片種類(lèi) ,V, 顯影 膠片固有不清晰度產(chǎn)生的主要原因：由于照射到膠片上的射線在乳劑層科 發(fā)出的電子的散射而產(chǎn)生的。固有不清晰主發(fā)取決于射線的能過(guò), 其次取決于膠片路和顯影條件。射線底片上細(xì)節(jié)影象的可識(shí)別性與圖象的大小、膠片的粘度、底片黑皮、觀 條件及觀片者等因素有關(guān)。底片黑度增大時(shí) ,4hat 增大 , 膠片的粒度越小 ,散射線是射線與物質(zhì)作用產(chǎn)生。 物質(zhì)的厚度越大 , 射線

41、的照射面積越大 , 試件內(nèi)部產(chǎn)生散 射線越大 ,n 值越大 ,底片對(duì)比度 D 便減小。凡是被射線照射到的物體 ,例如試件、暗袋、桌 面、墻壁、地面 , 甚至空氣都成為散射源。其中最大的散射源往往是試件本身。要想完全排 除散射線的影響是不可能的 , 只能在實(shí)際透照過(guò)程中根據(jù)具體情況加以限制, 一般可采取下列措施： 限制輻射場(chǎng)：將輻射場(chǎng)縮小到所進(jìn)行的射線透照工作所必需的程度 , 可以有效地限散射線 的控制措施： 選擇合適的射線能量 ,使用鋁箔增感屏 ,其次還有： 背防護(hù)板； 錯(cuò)罩和光柵； 厚度）悄物；濾板；遮蔽物；修磨試件。一次透照范圍內(nèi)試件的最大厚度與最小厚度之比民 1.4, 屬于大厚度比工件

42、, 即變截 面工件 , 對(duì)射線照相質(zhì)量的不利影響主要表現(xiàn)在兩個(gè)方面：因厚度差較大導(dǎo)致底片黑度差 較大,而底片黑度過(guò)低或過(guò)高都會(huì)影響用相靈敏度； 厚度變化導(dǎo)致散射 I 增大, 產(chǎn)生邊蝕效 應(yīng)。為此 ,可采用特殊技術(shù)措施； 適當(dāng)提高管電壓技術(shù) ,雙膠片技術(shù)補(bǔ)償技術(shù)。 適當(dāng)提高管電 壓技術(shù)是透照變截工件最常采用的 , 也是最簡(jiǎn)便的方法。可獲得更； mn在 X 射線照相中 , 在能穿透工件的前提下 , 盡可能選擇較低管電壓 , 從而得到較大的衰減 系數(shù)和較小的散射比 , 即 14rtl 值盡可能大 , 以便提高射線照相靈敏度。一般說(shuō)來(lái) ,射線源都有一定的幾何尺寸 ,當(dāng)缺陷尺寸比焦點(diǎn)尺寸 d大得多時(shí) ,

43、焦點(diǎn)對(duì)透 照底片對(duì)比度 D 的影響可忽略不計(jì)。 當(dāng)缺陷尺寸 f （小于焦點(diǎn)尺寸）時(shí) , 就會(huì)出現(xiàn)由焦點(diǎn)尺寸 f 引起的透照幾何條件的影 響, 此時(shí)底片對(duì)對(duì)比度必須進(jìn)行修正。 當(dāng)金屬絲（缺陷）直徑 d 減少時(shí) ,會(huì)使 d'用變大 , （d>1）,形狀修正系數(shù)。急劇減 小。因此 ,要考慮修正系數(shù)。 對(duì)凸 D的影響。當(dāng) d'大時(shí) ,金屬絲的“幾何因素修正系數(shù)。 ” 隨幾何間距與金屬絲直徑比值d'用的急劇增大而減小。對(duì)細(xì)小缺陷（或細(xì)金屬絲）來(lái)說(shuō),由于的較小 ,D 也較少 , 所以在底片上較難識(shí)辯其影象。問(wèn)題：A ：正在工作的一臺(tái) X 射線機(jī)窗口的輻射場(chǎng)內(nèi)的射線劑量率為40

44、R min· M,無(wú)遮擋 , 不計(jì)空氣吸收和散射線的情況下 , 距焦點(diǎn) 20 米處的射線照射劑量率為多少 Rmin？以 19ImR 為射線工作人員一天的安全劑量限度 ,距焦點(diǎn) 20米處 ,一分鐘內(nèi)的射線劑量是安全劑量的多 少倍？在該處停留的時(shí)間為多少秒下 , 才能保證不超過(guò)射線工作人員一天的安全劑量？（兩 位有效數(shù)字） 。解： P140Rmin,R1=1M,R220M,由距離平方反比公式： P1：P2 = （R2：R1）2 得： P2=0.1（R/min ）2：100/19 = 5.33：t = 19/100/60 = 11.4秒B ： 對(duì)某射線源鉛的半價(jià)層為 lmm,若采用鉛做防護(hù)

45、層 ,已知該防護(hù)層兩側(cè)射線劑量率分 別為 3.62R/h 及 10mR/h, 求此防護(hù)層的厚度？解： D=0.693/u（D半價(jià)層） 得：u = 0.693mm-1I = I0 X e-udd = Ln（ 3620/10 ）/ 0.693 = 8.5mmC ：有一混凝土防護(hù)墻的探傷室 ,裝一臺(tái) Ir192 r 射線機(jī) ,經(jīng)測(cè)試 ,操作室內(nèi)最大劑量率為 0.066Rem/h, 要使劑量率降至 2.1mRem/h, 求還需加襯多少 mm厚的鉛板（ u=1.386cm-1 ）？ 解： P = P0 X e-ud得： d = Ln （ P0/P） / u = Ln （66/2.1 ）/ 0.1386

46、= 25mmX射線數(shù)字成像概述： 實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)及工業(yè) CT 數(shù)字射線照相系統(tǒng)是在普通的工業(yè)電視系統(tǒng)上 , 增加了計(jì)算機(jī)圖象處理的結(jié)果。 通常它由如下部分組成： （ 見(jiàn)下圖） X 射線機(jī)頭及高壓發(fā)生器 ; 高壓控制柜 圖象增強(qiáng)器 - 模擬或數(shù)字式 工作平臺(tái) ; 信號(hào)采集卡 ; 計(jì)算機(jī) ; 圖象處理軟件 閉路監(jiān)視系統(tǒng) ; 環(huán)境監(jiān)視器系統(tǒng) ; 報(bào)警式自動(dòng)門(mén)等組成 .像采集基本知識(shí) : 視頻采集 , 即將視頻轉(zhuǎn)換成 PC機(jī)可使用的數(shù)字格式。 專(zhuān)業(yè)圖象采集卡是將視頻信號(hào)經(jīng)過(guò)AD轉(zhuǎn)換后 ,經(jīng)過(guò) PCI 總線實(shí)時(shí)傳到內(nèi)存和顯存。在采集過(guò)程中 , 由于采集卡傳送數(shù)據(jù)采用 PCI Master Burst 方式

47、 , 圖象傳送速度高達(dá) 33MB/S, 可實(shí)現(xiàn)攝像機(jī)圖像到計(jì)算機(jī)內(nèi)存的 可靠實(shí)時(shí)傳送 , 并且?guī)缀醪徽加?CPU時(shí)間 , 留給 CPU更多的時(shí)間去做圖像的運(yùn)算與處理。圖象速率及采集的計(jì)算公式幀圖像大小 （Image Size） W× H（長(zhǎng)×寬 ）- 您必須首先了解需要采集多大的圖象尺寸 ? 顏色深度 d（ 比特?cái)?shù) ）- 希望采集到的圖象顏色 （8Bit 灰度圖象 ?還是 16/24/32Bit 真彩 色?）幀 速 f- 標(biāo)準(zhǔn) PAL制當(dāng)然就是 25 幀 , 非標(biāo)準(zhǔn)就沒(méi)準(zhǔn)了！ 500-1000 幀都有可能數(shù) 據(jù) 量 Q（MB）- 圖象信號(hào)的數(shù)據(jù)量采 樣 率 A（MB）- 采

48、集卡的采樣率 ,通過(guò)其產(chǎn)品手冊(cè)可知計(jì)算公式 Q=W× H× f ×d/8 判斷標(biāo)準(zhǔn)如果 A>Q× 1.2, 則該采集卡能夠勝任采集工作。視頻源使用各種圖象采集卡 , 首先需要您提供采集或壓縮用的視頻源。視頻源可以是 VCD影碟機(jī)、已有的錄像帶、攝錄機(jī)、LD視盤(pán)、 CCD攝像頭、監(jiān)視器的視頻輸出等等。 一臺(tái)攝錄機(jī)和使用攝錄機(jī)錄制的錄像帶 . 一臺(tái)盒式錄像機(jī)或磁帶錄像機(jī)和已錄制的錄像帶 . LD 光盤(pán)播放機(jī) LD 光盤(pán)或 VideoCD 播放機(jī)和 VCD 攝錄機(jī)或 CCD攝像機(jī) 在工業(yè)影像中 , 視頻源常常是 CT、X 光機(jī)、超聲、內(nèi)窺鏡、甚至 MRI

49、核磁共振等等。 各種工業(yè)、軍事上的高速非標(biāo)準(zhǔn)視頻信號(hào) , 如每秒 200 幀、 500 幀、甚至上千幀（ 如用 DALSA、PULNIX等高檔數(shù)字像機(jī)作為視頻源 ）其它標(biāo)準(zhǔn)圖像源設(shè)備必須使用 NTSC或 PAL格式 , 有復(fù)合視頻或 S-Video, 甚至 RGB輸出接口； 非標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)需要得到其行頻、場(chǎng)頻等信息 , 可用示波器或微視測(cè)試卡。如需聲音采集則還需要單聲道或立體聲的RCA音頻輸出接口。您可使用我們提供的視頻信號(hào)線將視頻源設(shè)備與PC機(jī)的圖象采集卡相應(yīng)端口相連。資料三：射線檢測(cè)技術(shù) （級(jí)） 屠耀元華東理工大學(xué)無(wú)損檢測(cè)教研室1997.1-2005.1第一章 射線檢測(cè)原理一、原子 1原子的概

50、念 :* 定義：組成單質(zhì)和化合物分子的最小微粒, 由原子核和核外電子構(gòu)成。2、原子的構(gòu)成 :* 原子是由原子核和核外電子所構(gòu)成。* 電子圍繞原子核作行星運(yùn)動(dòng)；電子在一定軌道上饒核運(yùn)動(dòng)。 圖 113 、原子的的主要參數(shù)a 、質(zhì)量：幾乎集中在原子核內(nèi) , 核的密度非常大！ （大的難以想象） 如果：把核集中在 1cm3 的體積內(nèi) , 那么： 這 1cm3 的體積內(nèi)核的總重量為一億噸！ （ 108 噸：一萬(wàn)萬(wàn)噸！ ） b 、大小：原子半徑 10 -8 cm 數(shù)量級(jí)。 原子核半徑 10-13 cm數(shù)量級(jí)。 原子核的半徑為 原子半徑的十萬(wàn)分之一小。c 、電荷：原子核帶正電；電子帶負(fù)電；原子為中性。d、原子

51、的構(gòu)成： 原子核（質(zhì)子 + 中子） + 電子 數(shù)量關(guān)系：原子量 = 質(zhì)子數(shù) + 中子數(shù) A=Z+N 例： 60 鈷 60=27+33質(zhì)子數(shù) Z=核的正電荷數(shù) =電子數(shù) =原子序數(shù)4原子結(jié)構(gòu)理論 - 玻爾理論（玻爾模型）* 20 世紀(jì)初二種不同的原子結(jié)構(gòu)模型1）1903 年：湯姆森假設(shè)：核子與電子在原子內(nèi) 均勻分布2）1911年：盧瑟福模型： 行星分布 （電子繞著原子核作行星式運(yùn)動(dòng)）* 散射實(shí)驗(yàn)否定了湯姆森假設(shè) , 肯定了盧瑟福模型* 盧瑟福模型不完善 ,1913 年玻爾提出了完善的原子結(jié)構(gòu)模型 - 玻爾模型* 玻爾理論（玻爾模型）的要點(diǎn)：a 、原子只能存在一些不連續(xù)的穩(wěn)定狀態(tài) , 這些穩(wěn)定狀態(tài)

52、各有一定的能量E1、 E2、E3En 。處于穩(wěn)定狀態(tài)中運(yùn)動(dòng)的電子雖然有加速度 , 但不發(fā)生能量輻射。能量的改變 , 由于吸收或放射輻射的結(jié)果或由于碰撞的結(jié)果。b 、原子從一個(gè)能量為 En 的穩(wěn)定狀態(tài)過(guò)度到能量為 Em的穩(wěn)定狀態(tài)時(shí) , 它發(fā)射（或吸收） 單色的輻射 , 其頻率決定于下列關(guān)系式（稱(chēng)為玻爾頻率條件） ：h =En-EmEn、 Em分別為較高、較低能級(jí)的能量值。穩(wěn)定狀態(tài)的改變（或能量的改變）是不連續(xù)的。5、玻爾理論中的幾個(gè)概念：* 基態(tài)：原子處于最低能量的狀態(tài)稱(chēng)為基態(tài) , 是穩(wěn)定狀態(tài)；* 激發(fā)態(tài)：電子獲得能量從低能級(jí)軌道進(jìn)入高能級(jí)軌道 , 該過(guò)程稱(chēng)為激發(fā)；此時(shí)原子處于 高能量狀態(tài) ,

53、稱(chēng)為激發(fā)態(tài) , 激發(fā)態(tài)是不穩(wěn)定的狀態(tài)；* 原子的狀態(tài)特性： 任何不穩(wěn)定狀態(tài)的原子必將自動(dòng)的回到穩(wěn)定狀態(tài)即回到基態(tài)； 該過(guò)程 將釋放出原子高于基態(tài)的能量 ,即產(chǎn)生輻射。釋放能量的過(guò)程可以一次回到基態(tài) , 也可以逐次 回到基態(tài)；* 躍遷：電子從一個(gè)軌道向另一個(gè)軌道的運(yùn)動(dòng) ,稱(chēng)為躍遷 （包括從低到高； 或從高到低的運(yùn) 動(dòng)）；* 能級(jí)：用平行線表示核外電子所處的能量級(jí)別稱(chēng)為能級(jí) , 外殼層能級(jí)最高 , 但外殼層上的 電子結(jié)合能最低。 圖 11 #二 原子核1 、原子核的結(jié)構(gòu)* 精確的結(jié)構(gòu)模型自今尚未建立* 多種模型并存的狀態(tài)：殼層模型 , 液滴模型 . 、2 、原子核的構(gòu)成* 均勻分布* 不同數(shù)量的質(zhì)

54、子和不同數(shù)量的中子構(gòu)成不同性質(zhì)（元素）的原子核* 原子的原子量 A 代表該原子的原子核的質(zhì)子和中子的總和A = Z + N3 、原子核的電荷正電荷 =原子序數(shù) Z4 、原子核的半徑 : 10 -1310 -12 cm5、原子核的質(zhì)量* 原子核的質(zhì)量 >> 電子的質(zhì)量（原子的質(zhì)量近似等于原子核的質(zhì)量）6、核的穩(wěn)定性* 核的穩(wěn)定性取決于質(zhì)子與中子數(shù)量的組合質(zhì)子與中子數(shù)量：2 、8、20、28、50 、82 、126最穩(wěn)定。7 、核內(nèi)的幾種作用力* 庫(kù)侖力* 核力 ：存在于質(zhì)子和中子間 , 是核穩(wěn)定性的重要因素核力的性質(zhì)：（1）核力與電荷無(wú)關(guān)；（ 2）核力是短程力；（3）核力100x 庫(kù)

55、侖力 , 是強(qiáng)相互作用力；（4）核力促成核子的二種結(jié)合形式成對(duì)結(jié)合： 質(zhì)子 + 中子對(duì)對(duì)結(jié)合： 一對(duì)質(zhì)子 + 一對(duì)中子 #三、 連續(xù) X射線（白色 X射線, 多色 X射線）* X 射線 : 射線束中包括 - 連續(xù) X 射線和特征 X 射線1 、產(chǎn)生機(jī)理 ：根據(jù)電動(dòng)力學(xué)理論 , 作加速運(yùn)動(dòng)（包括負(fù)加速運(yùn)動(dòng)）的帶電粒子將產(chǎn)生 電磁輻射。 X 射線管內(nèi)高速運(yùn)動(dòng)的電子與靶原子碰撞時(shí), 與原子核外庫(kù)侖場(chǎng)作用 , 而產(chǎn)生電磁輻射 ,稱(chēng)為韌致輻射。這種輻射又由于是電子急劇停速引起的所以又稱(chēng)停速輻射2 、連續(xù) X 射線譜及最短波長(zhǎng)：圖 22* 根據(jù)經(jīng)典電動(dòng)力學(xué)理論 , 韌致輻射的能量與停速時(shí)間 t 成反比1E t- 連續(xù)變化 ,E-連續(xù)變化 ,tE=h =hc /- 連續(xù)變化 # min的導(dǎo)出圖 21Ue1= MV2= h +p2電場(chǎng)能 =電子動(dòng)能= 光子能 +消耗能1 h = MV2 - p= Ue -p2 Ue 如果 p ->0則 h max Ue max = ; =c/ hc 12.4 h min = = （h、 c、 e 均為常數(shù)）Ue U單位： min：埃。 U ：千伏。 # 例： U=200Kv, m