基于FPGA的高精度時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換電路設(shè)計(jì)

1、基于FPGA的高精度時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換電路設(shè)計(jì)摘要：本文介紹一種基于 1引言時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換電路 TDC (Time to Digital Converter)廣泛應(yīng)用于高能物理中粒子壽命檢測(cè)、自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備、激光探測(cè)、醫(yī)療圖形掃描、相位測(cè)量、頻率測(cè)量等研究領(lǐng)域1。如在醫(yī)療圖象掃描儀 PET中廣泛使用 TDC設(shè)備，其原理是檢測(cè)人體內(nèi)正 早期 TDC電路通常由印刷線路板（PCB）上的分立元件組成，且通常是模擬數(shù)字混合電路，因此功耗和體積較大、電路的一致性較差。超大規(guī)模 文獻(xiàn)4于 1993年報(bào)道了一種基于環(huán)形延時(shí)門的全數(shù)字 TDC設(shè)計(jì)。該設(shè)計(jì)以 1.5微米 CMOS工藝實(shí)現(xiàn)了 13位數(shù)字轉(zhuǎn)換輸出，芯片面積為

2、1.1mm 2,分辨率為 0.5ns。之后于 2003年，該作者在文獻(xiàn)5報(bào)道了一種全數(shù)字化的模數(shù)變換電路，該電路基于環(huán)形延時(shí)門的全數(shù)字TDC實(shí)現(xiàn)。文獻(xiàn)稱以 0.8微米 CMOS工藝在 0.45mm 2面積上實(shí)現(xiàn)了 18位全數(shù)字的 ADC。隨著集成電路（IC）制造工藝的不斷進(jìn)步，以FPGA（Field Programmable Gate Array）和CPLD（ Complex Programmable Logic Device）為代表可編程邏輯器件 PLD產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展，逐漸蠶食專用集成電路ASIC（Application Specific Integrated Circuit）所占市場(chǎng)份額。這

3、一發(fā)展使得基于PLD的TDC設(shè)計(jì)成為可能。眾所周知，基于PLD的設(shè)計(jì)可以有效地縮短研制周期，提高設(shè)計(jì)靈活性和可靠性，降低設(shè)計(jì)成本且無流片風(fēng)險(xiǎn)。成功設(shè)計(jì)的IP核（Intellectual Property Core ）與工藝相對(duì)獨(dú)立，可靈活地移植到其他SOC，使設(shè)計(jì)重用變得十分方便。本文借鑒文獻(xiàn)4和文獻(xiàn)5的環(huán)形延時(shí)門法提出一種基于 FPGA的高精度 TDC的設(shè)計(jì)方法，為了適應(yīng) FPGA設(shè)計(jì)，對(duì)延時(shí)門法做了改造。如果簡(jiǎn)單移植延時(shí)門設(shè)計(jì)，在 FPGA中實(shí)際是行不通的。因?yàn)榕c ASIC設(shè)計(jì)不同，在 FPGA里門電路是由 EDA軟件綜合后實(shí)現(xiàn)，首先很難保證各門之間的延時(shí)一致性；其次，在時(shí)序上也很難保證和

4、其他電路的配合。為了提高分辨率，與單純計(jì)數(shù)型 TDC不同，本設(shè)計(jì)中也采用類似環(huán)形延時(shí)門設(shè)計(jì)的粗計(jì)數(shù)和細(xì)計(jì)數(shù)兩部分電路對(duì)給定的時(shí)間量進(jìn)行測(cè)量，粗計(jì)數(shù)部分 2基本工作原理基于環(huán)形延時(shí)門的 TDC系統(tǒng)的原理框圖如圖 1 所示，PA是起始脈沖，由非門組成的特定結(jié)構(gòu)延時(shí)鏈提供脈沖 PA的延時(shí)信息。在 PB上升沿，延時(shí)信息經(jīng)鎖存編碼電路鎖存并編碼后輸出，脈沖 PB與 PA之間的時(shí)間差即由編碼輸出的數(shù)字量表示。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該方法適用于 ASIC實(shí)現(xiàn)，但不適用于 FPGA實(shí)現(xiàn)。原因是目前 EDA工具中綜合器的綜合結(jié)果是從設(shè)計(jì)對(duì)象的邏輯功能出發(fā)，而不注重設(shè)計(jì)者所特定的電路結(jié)構(gòu)，而根據(jù) FPGA電路的內(nèi)部電路特

5、點(diǎn)，文獻(xiàn)2提供的延時(shí)鏈結(jié)構(gòu)并不適于在 FGPA上實(shí)現(xiàn)。FPGA內(nèi)部布線延時(shí)的不確定性會(huì)大大增加各單元延時(shí)信息的離散性。文獻(xiàn)6介紹了該方法的 CPLD實(shí)現(xiàn)，但該法針對(duì)具體芯片附加了許多約束條件，延時(shí)鏈中每個(gè)非門由片內(nèi)的一個(gè)邏輯宏單元 LE實(shí)現(xiàn)，由于 CPLD容量相對(duì)較小，導(dǎo)致芯片資源利率低，芯片間的移植性差,且由于 FPGA與 CPLD結(jié)構(gòu)上的差異暫無法在 FPGA上實(shí)現(xiàn)。以下介紹一種全新的基于 FPGA的高精度 TDC設(shè)計(jì)方法?；?FPGA的 TDC電路原理如圖 2所示，該電路包括 16位環(huán)形移位寄存器 (Ring Shift Register)、16位輸入 4位輸出的編碼電路 (Encod

6、er)、時(shí)鐘管理模塊(Clockmgr)、8位通用計(jì)數(shù)器單元(Counter)、復(fù)位邏輯(Reset Logic)和輸出邏輯部分(Out Logic)。其中環(huán)型移位寄存器和編碼器組成該電路的細(xì)計(jì)數(shù)器部分，用來控制電路測(cè)量精度；通用計(jì)數(shù)器作為粗計(jì)數(shù)部分，決定電路的時(shí)間測(cè)量范圍；時(shí)鐘管理模塊通過調(diào)用 FPGA內(nèi)部 PLL資源用來為移位寄存器提供合適的工作時(shí)鐘；復(fù)位邏輯控制整個(gè) TDC電路的復(fù)位動(dòng)作；輸出邏輯將轉(zhuǎn)換數(shù)字量的細(xì)計(jì)數(shù)和粗計(jì)數(shù)部分組合為昀終系統(tǒng)輸出。16位移位寄存器構(gòu)成如圖 3，由 16個(gè)帶異步復(fù)位和置位端的 D觸發(fā)器組成，初始狀態(tài)或復(fù)位后電路節(jié)點(diǎn) p15被置位高電平，其他節(jié)點(diǎn)（p14至

7、p0）被復(fù)位至低電平；正常工作時(shí)，在移位脈沖 clk上升沿時(shí)高電平在 16個(gè)電路節(jié)點(diǎn)中循環(huán)出現(xiàn)，通過檢查某時(shí)刻電路節(jié)點(diǎn)的狀態(tài)（高電平的位置）可以判斷系統(tǒng)所經(jīng)歷的移位脈沖 clk的數(shù)量，電路的時(shí)間分辨率即為 clk的時(shí)鐘周期。編碼器對(duì)移位寄存器節(jié)點(diǎn)狀態(tài)編碼并作為測(cè)量電路細(xì)計(jì)數(shù)部分的 4位輸出。通用計(jì)數(shù)器工作在移位寄存器節(jié)點(diǎn) p15的上升沿，其計(jì)數(shù)周期為移位脈沖周期的 16倍，完成低位到高位的進(jìn)位計(jì)數(shù)，并作為測(cè)量電路的粗計(jì)數(shù)部分的 8位輸出。復(fù)位邏輯負(fù)責(zé)環(huán)形移位寄存器和通用計(jì)數(shù)器的復(fù)位操作。輸出邏輯分別將粗計(jì)數(shù)和細(xì)計(jì)數(shù)輸出的 8位和 4位數(shù)據(jù)組合為測(cè)量電路的昀終輸出，并完成數(shù)據(jù)的校驗(yàn)?；?FPG

8、A的單計(jì)數(shù)器脈寬測(cè)量電路采用在脈沖寬度對(duì)應(yīng)的時(shí)間內(nèi)記數(shù)的方法，因高頻工作時(shí)計(jì)數(shù)器會(huì)出現(xiàn)跳碼或漏計(jì)現(xiàn)象，造成系統(tǒng)錯(cuò)誤輸出，所以分辨率很難提高 7。與單計(jì)數(shù)器脈寬測(cè)量電路相比采用結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的細(xì)計(jì)數(shù)電路能大大提高電路的時(shí)間分辨率，并避免了通用計(jì)數(shù)器極限工作頻率下的跳碼現(xiàn)象，且細(xì)計(jì)數(shù)電路占用極少的片上資源。3系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)及優(yōu)化Altera公司提供的 Stratix和 Cyclone系列 FPGA芯片具有 該系統(tǒng)時(shí)鐘管理模塊調(diào)用 FPGA內(nèi)部 PLL實(shí)現(xiàn)，通過 QuartusII設(shè)置參數(shù)為：Ratio為倍頻/分頻因子(Ratio)為 4，輸出時(shí)鐘相移 (Ph) 為 0，輸出時(shí)鐘占空比 (DC)為 50%。該

9、TDC電路的時(shí)間分辨率取決于環(huán)形移位寄存器和編碼電路組成的細(xì)計(jì)數(shù)部分，要得到正確的測(cè)量數(shù)據(jù)必須保證對(duì)移位寄存器輸出狀態(tài)的正確編碼。與 ASIC設(shè)計(jì)不同，設(shè)計(jì)者很難預(yù)料 EDA軟件布局布線（Layout）后的情況，而且各種不同結(jié)構(gòu)和性能的可編程器件布局布線的結(jié)果也不盡相同，而且構(gòu)成移位寄存器的 D觸發(fā)器的時(shí)鐘到輸出時(shí)間（TCO）和 D觸發(fā)器輸入在金屬連線上穩(wěn)定建立的時(shí)間（TSU）也存在一定離散性，使得高頻移位脈沖（納秒級(jí)）工作下的移位寄存器在狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)出現(xiàn)毛刺現(xiàn)象，影響編碼正確輸出，同時(shí)編碼器的固有延時(shí)特性也限制系統(tǒng)的時(shí)間分辨率。該脈寬測(cè)量電路系統(tǒng)采用的優(yōu)化的編碼算法，使得高頻移位狀態(tài)下編碼輸出

10、能準(zhǔn)確反映環(huán)形移位寄存器上各節(jié)點(diǎn)狀態(tài)，從而保證了該系統(tǒng)的測(cè)量精度；移位時(shí)鐘為 333MHz（周期 3ns）時(shí)在 Altera公司 Stratix和 Cyclone系列芯片上實(shí)現(xiàn)了編碼器的正常工作。該系統(tǒng)包含了粗記數(shù)和細(xì)記數(shù)兩部分電路，粗記數(shù)電路在細(xì)記數(shù)字電路高位輸出（圖 3中 p15）的上升沿工作。但是由于粗記數(shù)電路的延時(shí)在被測(cè)脈沖（ clks）上升沿時(shí)可能會(huì)造成對(duì)輸出數(shù)據(jù)的誤讀。為解決誤讀現(xiàn)象，在輸出邏輯模塊里加入糾錯(cuò)電路。對(duì)被測(cè)脈沖 clks延時(shí) clk周期后產(chǎn)生新時(shí)鐘 clks1，在 clks和 clks1的上升沿同時(shí)對(duì) q1和 q0取樣并對(duì)取樣數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后作為昀終數(shù)據(jù)輸出，從而有效地

11、解決了誤讀現(xiàn)象。移位脈沖工作頻率即為該測(cè)量電路的時(shí)間分辨率，通過時(shí)鐘管理單元可采用不高的外部時(shí)鐘便可得到很高的測(cè)量精度。3仿真結(jié)果和測(cè)試數(shù)據(jù)為測(cè)試該系統(tǒng)的時(shí)間分辨率，為基本時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換電路附加特定功能電路，使其具有連續(xù)測(cè)量時(shí)鐘脈沖寬度的功能，測(cè)試對(duì)象是 clks的高電平延續(xù)時(shí)間。通過改變時(shí)鐘脈沖源的頻率來記錄該電路對(duì)應(yīng)的測(cè)量數(shù)據(jù)，從而得到該 TDC電路的時(shí)間分辨率。本文以 QuartusII Web Edition 4.2為軟件平臺(tái)，實(shí)驗(yàn)表明，本 TDC設(shè)計(jì)在 Altera各主流芯品上的時(shí)序仿真均能順利通過。適配 Cyclone EP1C3Q240C8芯片的時(shí)序仿真表明，移位時(shí)鐘為 333M(即分辨率為 3ns)，所得到的測(cè)試數(shù)據(jù)輸出正確地反映了被測(cè)脈沖的寬度，被測(cè)脈沖下降沿到測(cè)量數(shù)據(jù)建立的延時(shí)為 5ns。由該 TDC構(gòu)成的脈寬測(cè)量電路在 Cyclone EP1C3Q240C8芯片實(shí)現(xiàn)，系統(tǒng)外部時(shí)鐘 25Mhz，PLL設(shè)置倍頻因子 8，由 SP1641B信號(hào)發(fā)生器提供固定的被測(cè)脈沖頻率 F，時(shí)間分辨率 Res的分布如圖 4所示，測(cè)試數(shù)據(jù)表明 Res在 4.9-5.1ns之間，理論值為 5ns。測(cè)量和仿真數(shù)據(jù)表明該電路能達(dá)到納秒級(jí)時(shí)間分辨率，邏輯資源占用少，可在低密度芯片上實(shí)現(xiàn)作為專用測(cè)量電路使用，或在高密度芯片上作為功能模塊嵌入到特定功能的片上系統(tǒng)（SOC）中；該