第七章無損檢測技術(shù)

1、超聲波在缺陷處的反射超聲波在缺陷處的反射超聲波傾斜入射到平界面上的反射、折射和波型變換超聲波傾斜入射到平界面上的反射、折射和波型變換(a) 縱波入射；縱波入射； (b) 橫波入射橫波入射 常見超聲波探頭的典型結(jié)構(gòu)常見超聲波探頭的典型結(jié)構(gòu)a a）縱波直探頭）縱波直探頭 b b）橫波斜探頭）橫波斜探頭1-1-接頭；接頭；2-2-殼體；殼體；3-3-阻尼塊；阻尼塊；4-4-壓電晶片；壓電晶片；5-5-保護(hù)膜；保護(hù)膜；6-6-接地環(huán)；接地環(huán)；7-7-吸聲材料；吸聲材料；8-8-透聲楔塊透聲楔塊各種探頭各種探頭 (a) 縱波直探頭；縱波直探頭； (b) 橫波斜探頭；橫波斜探頭； (c) 雙晶探頭雙晶探頭

2、 超聲波檢測儀超聲波檢測儀(a)、 (b)、 (c) 數(shù)字式超聲檢測儀；數(shù)字式超聲檢測儀； (d) 探傷小車探傷小車 耦合劑的選擇耦合劑的選擇選擇耦合劑主要考慮以下幾方面的要求：選擇耦合劑主要考慮以下幾方面的要求：（1）透聲性能好。）透聲性能好。 聲阻抗盡量和被探測材料的聲阻聲阻抗盡量和被探測材料的聲阻抗相近。抗相近。 （2）有足夠的潤濕性、）有足夠的潤濕性、 適當(dāng)?shù)母街驼扯取＿m當(dāng)?shù)母街驼扯取?（3）對試件無腐蝕，對人體無損害，對環(huán)境無污染。）對試件無腐蝕，對人體無損害，對環(huán)境無污染。 （4）容易清除，不易變質(zhì)，）容易清除，不易變質(zhì)， 價格便宜，來源方便。價格便宜，來源方便。 直射聲束

3、穿透法直射聲束穿透法 (a) 無缺陷；無缺陷； (b) 有缺陷有缺陷 接觸法單探頭直射聲束脈沖反射法接觸法單探頭直射聲束脈沖反射法(a) 無缺陷；無缺陷； (b) 有缺陷有缺陷 軸類件徑向和軸向檢測示意圖軸類件徑向和軸向檢測示意圖 焊接接頭形式焊接接頭形式(a) 對接接頭； (b) 搭接接頭； (c) T型接頭； (d) 角接接頭 主動式紅外成像原理主動式紅外成像原理1-1-紅外光源；紅外光源；2-2-攝像機；攝像機；3-3-監(jiān)視器監(jiān)視器三、l磁力線通過鐵磁性材料時，若材料內(nèi)部組織均勻磁力線通過鐵磁性材料時，若材料內(nèi)部組織均勻一致，磁力線通過零件的方向也是一致和均勻分布一致，磁力線通過零件的方

4、向也是一致和均勻分布的；如材料內(nèi)部有缺陷（裂紋、空洞、非磁性夾雜的；如材料內(nèi)部有缺陷（裂紋、空洞、非磁性夾雜物等），這些缺陷的地方磁阻增加或磁性不連續(xù)，物等），這些缺陷的地方磁阻增加或磁性不連續(xù)，磁力線便發(fā)生偏轉(zhuǎn)出現(xiàn)局部方向改變。當(dāng)缺陷在材磁力線便發(fā)生偏轉(zhuǎn)出現(xiàn)局部方向改變。當(dāng)缺陷在材料的表面或近表面（料的表面或近表面（2 25mm5mm以內(nèi)）時，缺陷外產(chǎn)生以內(nèi)）時，缺陷外產(chǎn)生漏磁場，如下圖所示，其強度取決于缺陷的尺寸、漏磁場，如下圖所示，其強度取決于缺陷的尺寸、位置及試件的磁化強度。這時把磁粉撒在試件的表位置及試件的磁化強度。這時把磁粉撒在試件的表面，則有缺陷的部位就會吸附更多磁粉而明顯區(qū)別面

5、，則有缺陷的部位就會吸附更多磁粉而明顯區(qū)別于沒有缺陷的部位，這就是磁粉探傷的原理。于沒有缺陷的部位，這就是磁粉探傷的原理。磁力線在鐵磁物質(zhì)中的方向磁力線在鐵磁物質(zhì)中的方向1-零件；零件；2-磁力線；磁力線；3-磁粉；磁粉；4-缺陷（裂紋）缺陷（裂紋）滲透探傷法是將特殊的滲透液涂于試件表面，滲透探傷法是將特殊的滲透液涂于試件表面，當(dāng)試件表面有開口缺陷時，滲透液滲到缺陷中，去當(dāng)試件表面有開口缺陷時，滲透液滲到缺陷中，去除表面多余的部分，經(jīng)過顯示處理、放大顯示等程除表面多余的部分，經(jīng)過顯示處理、放大顯示等程序來檢查零件表面缺陷的無損探傷方法。滲透探傷序來檢查零件表面缺陷的無損探傷方法。滲透探傷適用于零件表面有開口的缺陷，對零件的材料沒有適用于零件表面有開口的缺陷，對零件的材料沒有特別要求。特別要求。射線探傷直接照相法射線探傷直接照相法裂紋裂紋裂紋裂紋分層分層材料在外力作用下，形成裂紋、斷裂、分層等形式的材料在外力作用下，形成裂紋、斷裂、分層等形式的損傷時，也會發(fā)聲，產(chǎn)生聲發(fā)射信號！損傷時，也會發(fā)聲，產(chǎn)生聲發(fā)射信號！顆粒斷裂顆粒斷裂