GB∕T 41114-2021 無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 相控陣超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊規(guī)范

?ICS19.100CCSJ04

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T41114—2021/ISO19675:2017

無損檢測(cè)超聲檢測(cè)

相控陣超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊規(guī)范

Non-destructivetesting—Ultrasonictesting—

Specificationforacalibrationblockforphasedarraytesting(PAUT)

(ISO19675：2017,IDT)

2021-12-31發(fā)布

2022-07-01實(shí)施

隱蠢惠霞O霊籌餐2H

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目次

tuW n

i翻 i

2規(guī)范性引用文件 1

3術(shù)語和定義 1

4鶴# 1

5讎 1

6椒己 3

7一致性聲明 5

8相控陣標(biāo)準(zhǔn)試塊允許的修改 6

附錄A（規(guī)范性） 材料各向異性的確定 8

附錄B（資料性）PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊可能的用法說明 12

參考t獻(xiàn) 17

I

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本文件按照GB/T1.1—2020（（標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。

本文件等同采用ISO19675:2017（（無損檢測(cè)超聲檢測(cè)相控陣超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊規(guī)范》。本文件做了下列最小限度的編輯性改動(dòng)：

一EN16018和ISO23243技術(shù)內(nèi)容一致，為與現(xiàn)有技術(shù)文件保持一致，EN16018改為ISO23243（第2章）；

——為適應(yīng)國內(nèi)技術(shù)應(yīng)用，增加5.1的注；

一為適應(yīng)國內(nèi)技術(shù)應(yīng)用，增加國家標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記［見6a）］；

為適應(yīng)國內(nèi)技術(shù)應(yīng)用，調(diào)整了圖2b）和圖2c）的尺寸標(biāo)記形式和視圖方向；

——增加對(duì)附錄B的引用（第8章）;

——增加公式（A.1）符號(hào)說明；

一增加了參考文獻(xiàn)GB/T1591—2018.以便于使用。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。

本文件由全國無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC56）提出并歸口。

本文件起草單位：上海材料研究所、浙江省電力鍋爐壓力容器檢驗(yàn)所有限公司、上海市特種設(shè)備監(jiān)督檢驗(yàn)技術(shù)研究院、山東瑞祥模具有限公司、浙江優(yōu)爾特檢測(cè)科技有限公司、上海寶冶工程技術(shù)有限公司。

本文件主要起草人：蔣建生、黃隱、張杰、趙洲峰、楊宇清、張平輝、李晴、呂君敏、汪麗麗、丁杰、張義鳳、馬君、薛峰、宋飛。

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無損檢測(cè)超聲檢測(cè)

相控陣超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊規(guī)范

1范圍

本文件規(guī)定了用于測(cè)試相控陣超聲檢測(cè)設(shè)備性能的鋼制試塊的尺寸、材料以及制作要求。2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。

ISO5577無損檢測(cè)超聲檢測(cè) 術(shù)語(Non-destructivetesting—Ultrasonictesting—Vocabula

ry)

注：GB/T12604.1—202()無損檢測(cè)術(shù)語超聲檢測(cè)(ISO5577：2017,MOD)

ISO23243無損檢測(cè)相控陣超聲檢測(cè)術(shù)語(Non-destructivetesting—Ultrasonictestingwitharrays—Vocabulary)

EN10025-2結(jié)構(gòu)鋼熱軋產(chǎn)品第2部分：非合金結(jié)構(gòu)鋼交貨技術(shù)條件(Hotrolledproductsofstructuralsteels—Part2:Technicaldeliveryconditionsfornon-alloystructuralsteels)

3術(shù)語和定義

ISO5577和ISO23243界定的術(shù)語和定義適用于本文件。

ISO和IEC維護(hù)的標(biāo)準(zhǔn)化工作中使用的術(shù)語數(shù)據(jù)庫網(wǎng)址如下: IEC電-丁百科：/；

ISO在線瀏覽平臺(tái)：/obp。

4縮略語

下列縮略語適用于本文件。

ACG:角度增益修正

FSH:滿屏高度

RF:射頻

SDH:橫孔

SNR：信噪比

TCG:時(shí)間增益修正

5制作

5.1鋼

試塊應(yīng)采用符合EN10025-2規(guī)定的鋼號(hào)為S355J0的鋼或與此鋼號(hào)相當(dāng)?shù)匿撝谱鳌?/p>

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注：國內(nèi)牌號(hào)如GB/T1591—2018m中Q355C是與此鋼號(hào)相當(dāng)?shù)匿摗?/p>

5.2預(yù)加工和熱處理

5.2.1毛坯

在熱處理前，粗加工規(guī)格應(yīng)為320mmX120mmX30mm的長方體。

5.2.2熱處理

應(yīng)按如下要求進(jìn)行熱處理：

a） 加熱至920°C.保溫30min（奧氏體化）；

b） 水中快速冷卻（淬火）；

c） 加熱至650°C.回火3h；

d） 在靜止空氣中冷卻。

5.2.3最終機(jī)加工前的檢查

試塊預(yù)加工尺寸推薦值為305mmX101mmX26.5mm。

試塊所有的外表面應(yīng)進(jìn)行預(yù)加工，確保表面粗糙度不大于1.6Mm。

預(yù)加工后的試塊應(yīng)滿足以下要求。

a） 試塊內(nèi)部應(yīng)無不連續(xù)。試塊熱處理后應(yīng)進(jìn)行超聲檢測(cè)。超聲檢測(cè)采用標(biāo)稱中心頻率不低于10MHz且晶片尺寸為10mm?15mm之間的縱波直探頭進(jìn)行檢測(cè)。應(yīng)在試塊四個(gè)較大的表面上進(jìn)行檢測(cè)，保證超聲聲束覆蓋整個(gè)試塊體積。當(dāng)探頭置于試塊最大平面時(shí)，儀器增益應(yīng)設(shè)置為晶粒散射噪聲達(dá)到滿屏高度的10%，試塊內(nèi)部應(yīng)無任何高于晶粒散射噪聲的回波。

b） 試塊材料應(yīng)具有各向同性，按附錄A（見A.3）的規(guī)定測(cè)量橫波和縱波的聲速予以證實(shí)材料為各向同性。聲速測(cè)量時(shí)，探頭應(yīng)置于三個(gè)平面的中間位置。

c） 試塊應(yīng)具有較低的聲衰減。

注：由于冋波幅度取決于很多因素，因此很難對(duì)絕對(duì)衰減值進(jìn)行測(cè)M。衰減值可通過簡單的定性測(cè)試估算。相對(duì)衰減M可使用5.2.3推薦的探頭測(cè)試多次底面反射冋波的材質(zhì)衰減M。通常觀察到至少四個(gè)高于25%FSH的回波，即可證明試塊衰減滿足要求，見圖1所示。

標(biāo)引序號(hào)說明：

1 ——始脈沖；

1、2、3、4…N 多次底面冋波。

圖1可接受的聲衰減

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5.3最終機(jī)加工

5.3.1尺寸和表面粗糙度

相控陣標(biāo)準(zhǔn)試塊的尺寸和公差應(yīng)按附錄A（見A.2）和圖2的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試和記錄。所有外表面的粗糙度不應(yīng)大于0.8Mm。

5.3.2刻度標(biāo)記

應(yīng)按圖3和表1的規(guī)定在試塊上制作永久性標(biāo)記。

標(biāo)記應(yīng)整齊且不能過深（最大深度約為0.1mm）.也不應(yīng)采用導(dǎo)致試塊變形的方法加工。不應(yīng)使用沖壓方法制作永久性標(biāo)記。推薦使用蝕刻或者激光打標(biāo)方式制作永久性標(biāo)記。

5.3.3聲速核查

應(yīng)按附錄A（見A.3）的規(guī)定測(cè)試和記錄縱波和橫波的聲速。

6標(biāo)記

應(yīng)在每個(gè)試塊產(chǎn)品的圖2c）區(qū)域制作永久性標(biāo)記。標(biāo)記包含如下信息:

a） 引用本文件，如GB/T41114—2021；

b） 制造商的產(chǎn)品序列號(hào)和商標(biāo)；

I ii

h I1

b）尺寸2（俯視圖）

圖2試塊尺寸（包含公差）

5

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單位為毫米

公差：

圖中人丁反射體公差和試塊整體尺寸的公差均為±0.1mm。

去除毛刺，打磨邊緣，無尖銳棱角。表面銑磨，所有表面的粗糙度Ra<0.8反射體和標(biāo)記的加工公差：

a） 孔的直徑，士0.2mm；

b） 所有相關(guān)角度，士r;

c） 參考反射體的中心位置，士0.1mm；

d） 角度標(biāo)識(shí)和刻度線的長度，士0.4mm。

圖2試塊尺寸（包含公差）（續(xù)）

a）主視圖

圖3刻度標(biāo)記尺寸和位置

d）位置C的細(xì)節(jié)

注：尺寸見表1。

圖3刻度標(biāo)記尺寸和位置（續(xù)）

7一致性聲明

對(duì)于每個(gè)試塊.制造商應(yīng)聲明或注明如下內(nèi)容：

a） 試塊符合本文件要求；

b） 試塊的主要尺寸和孔徑的測(cè)量數(shù)值；

c） 按5.2.3規(guī)定衰減的測(cè)量結(jié)果；

d） 按附錄A（見A.3）規(guī)定各個(gè)方向橫波和縱波的聲速測(cè)量結(jié)果。

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8相控陣標(biāo)準(zhǔn)試塊允許的修改

為便于使用較大激發(fā)孔徑的探頭進(jìn)行測(cè)試，允許試塊厚度大于25mm。注：相控陣標(biāo)準(zhǔn)試塊可能的用法說明，見附錄B。

表1刻槽距離

距離(a)

距基準(zhǔn)“A”的距離

帶角標(biāo)的刻槽

不帶角標(biāo)的刻槽

距離(6)

距基準(zhǔn)“B”的距離

帶角標(biāo)的刻槽

不帶角標(biāo)的刻槽

mm

mm

(°)

(°)

mm

mm

(°)

(°)

12.6

162.4

40

一

23.1

151.9

30

—

13.5

161.5

—

42

24.0

151.0

—

31

14.5

160.5

—

44

25.0

150.0

—

32

15.5

159.5

—

46

26.0

149.0

—

33

16.7

158.3

—

48

27.0

148.0

—

34

17.9

157.1

50

—

28.0

147.0

35

—

19.2

155.8

—

52

29.1

145.9

—

36

20.6

154.4

—

54

30.1

144.9

—

37

22.2

152.8

—

56

31.3

143.7

—

38

24.0

151.0

一

58

32.4

142.6

—

39

26.0

149.0

60

—

33.6

141.4

40

—

28.2

146.8

—

62

34.8

140.2

—

41

30.8

144.2

—

64

36.0

139.0

—

42

33.7

141.3

—

66

37.3

137.7

—

43

37.1

137.9

—

68

38.6

136.4

—

44

41.2

133.8

70

—

40.0

135.0

45

—

46.2

128.8

一

72

41.4

133.6

—

46

52.3

122.7

—

74

42.9

132.1

一

47

60.2

114.8

—

76

44.4

130.6

—

48

70.6

104.4

—

78

46.0

129.0

—

49

85.1

89.9

80

—

47.7

127.3

50

—

—

—

—

—

49.4

125.6

—

51

—

—

—

—

51.2

123.8

—

52

—

—

—

—

53.1

121.9

—

53

—

—

—

—

55.1

119.9

—

54

—

一

—

一

57.1

117.9

55

—

—

—

—

59.3

115.7

—

56

—

—

—

—

61.6

113.4

—

57

—

—

—

—

64.0

111.0

—

58

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表1刻槽距離（續(xù)）

距離（a）

距基準(zhǔn)“A”的距離

帶角標(biāo)的刻槽

不帶角標(biāo)的刻槽

距離（6）

距基準(zhǔn)“B”的距離

帶角標(biāo)的刻槽

不帶角標(biāo)的刻槽

mm

mm

(°)

(°)

mm

mm

(°)

(°)

—

—

—

—

66.6

108.4

—

59

—

—

一

—

69.3

105.7

60

—

—

—

—

一

72.2

102.8

一

61

—

—

—

—

75.2

99.8

—

62

—

—

—

—

78.5

96.5

—

63

—

—

—

—

82.0

93.0

—

64

—

—

—

—

85.8

89.2

65

一

—

—

—

—

89.8

85.2

—

66

—

—

—

—

94.2

80.8

—

67

—

—

—

一

99.0

76.0

一

68

—

一

—

一

104.2

70.8

—

69

—

—

—

—

109.9

65.1

70

—

7

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附錄A

（規(guī)范性）

材料各向異性的確定

A.1材料各向異性

材料的各向異性通常由材料不同方向上的不同聲速表征。

通常，無邊界的固體介質(zhì)中傳播三種波型。在各向同性材料中，它們是質(zhì)點(diǎn)運(yùn)動(dòng)方向與波傳播方向一致的縱波和質(zhì)點(diǎn)運(yùn)動(dòng)方向與波傳播方向垂直的兩個(gè)不同振動(dòng)方向的橫波。各向異性材料中同樣傳播這三種波型，但是質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)方向不是通常狀態(tài)下的與波的傳播方向一致或者垂直。因此，在各向異性材料中傳播的波型不是理論意義上的橫波或縱波。

縱波聲速容易測(cè)量；大多數(shù)碳鋼的縱波聲速基本不變，即使是具有明顯各向異性的碳鋼，其縱波聲速也基本不變。

橫波聲速更明顯地體現(xiàn)材料的各向異性程度。機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生橫波聲速變化與其光學(xué)雙折射現(xiàn)象等同。聲學(xué)雙折射現(xiàn)象見圖A.1。

在各向異性材料的同一位置旋轉(zhuǎn)橫波直探頭，在相互垂直的兩個(gè)方向上、可簡便測(cè)試出橫波最快和最慢聲速。

時(shí)間/jis 一

01,45

1

時(shí)f司/}1S

01,

45

1

時(shí)間/ps

1

01,45

1

菌液/dB

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圖A.l在各向異性材料同一位置偏轉(zhuǎn)探頭時(shí)橫波雙折射現(xiàn)象

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A.2試塊尺寸測(cè)定

選擇滿足測(cè)量精度且計(jì)量溯源的測(cè)量器具測(cè)量試塊的物理尺寸(見圖2)o試塊文件應(yīng)提供尺寸測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

A.3聲速測(cè)定

A.3.1概述

超聲探傷儀連接不同的直探頭(縱波和橫波)，測(cè)量底面回波傳播時(shí)間。利用同一測(cè)量點(diǎn)的厚度W)和傳播時(shí)間⑴計(jì)算聲速(V)，見公式(A.1)：

V=2d/t (A.1)

式中：

V 聲速；

d 試塊厚度；

t—傳播時(shí)間。

在3個(gè)相互垂直方向上(X,y,Z)測(cè)量聲速傳播時(shí)間，見圖A.2。

測(cè)量時(shí)的環(huán)境溫度應(yīng)為17°C?23°C。

標(biāo)引序號(hào)說明：

1、2、3——探頭位置(也可使用相對(duì)面)。

圖A.2測(cè)定聲速時(shí)探頭位置

A.3.2縱波

探頭的標(biāo)稱中心頻率至少為5MHz,寬帶脈沖且晶片直徑為10mm?12.5mm。在圖A.2中所示的三個(gè)位置，用該探頭測(cè)量一次底面回波和二次底面回波的傳播時(shí)間差（見A.3.3的注）。

A.3.3橫波

使用頻率在4MHz至5MHz之間，寬帶脈沖且晶片直徑尺寸在10mm?12.5mm之間的橫波直探頭。在圖A.2中所示的三個(gè)位置，用該探頭測(cè)量一次底面回波和二次底面回波的傳播時(shí)間差（見注）。使用橫波直探頭測(cè)量聲速時(shí)，為了獲得更好的耦合效果，通常選擇高黏度的耦合劑。

由于橫波偏振特性，探頭在每個(gè)位置進(jìn)行兩次測(cè)量，第二次測(cè)量的探頭偏振面垂直于第一次測(cè)量的偏振面，見圖A.2和圖A.3所示。

因此，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊至少獲得6個(gè)橫波聲速測(cè)量值。

注：可使用多次底面回波，1mm/fzs=l000m/s。

b）第二偏振面確定VT2

圖A.3橫波聲速測(cè)量時(shí)探頭位置和方向

A.3.4聲速測(cè)定報(bào)告和驗(yàn)收

聲速最大允許誤差率應(yīng)為士0.2%，即橫波聲速測(cè)量的誤差值為±6m/s，縱波聲速測(cè)量的誤差值為+12m/s0

鋼的參考聲速M(fèi)如下：

10

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Vlo：5920m/s；

Vto:3255m/so

鋼的實(shí)際測(cè)量聲速允許范圍如下：

縱波聲速，Vl應(yīng)為Vu,±30m/s；

橫波聲速，^^和VT2應(yīng)為VT?！?5m/s;

應(yīng)按表A.1的規(guī)定記錄聲速測(cè)量結(jié)果。

表A.1聲速測(cè)量記錄表

位置

縱波L

橫波T

VL

m/s

與參考聲速的偏差

m/s

VT1

m/s

與參考聲速的偏差m/s

VT2

m/s

與參考聲速的偏差

m/s

1

2

3

所有縱波聲速測(cè)量結(jié)果應(yīng)在5890m/s?5950m/s之內(nèi)。所有橫波聲速測(cè)量結(jié)果應(yīng)在3240m/s?3270m/s之內(nèi)。應(yīng)報(bào)廢任何聲速超出上述范圍的試塊。

附錄B

（資料性）

PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊可能的用法說明

本附錄不替代測(cè)試相控陣儀器、相控陣探頭或組合系統(tǒng)性能的有關(guān)文件。本附錄的目的是比較本文件確定的PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊與ISO2400確定的試塊用途，并簡要說明本文件確定的PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊的適當(dāng)用法。具體見表B.1?表B.4。

表B.lPAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊測(cè)試相控陣超聲檢測(cè)系統(tǒng)性能

功能

單晶片模式（ISO2400）

推薦的PAUT模式

探頭人射點(diǎn)（斜探頭）

半徑為100mm的圓心

方法相同

聲束角度（斜探頭）

聲束對(duì)準(zhǔn)指向直徑為50mm或直徑為

1.5mm的孔時(shí)，人射點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的刻度線

方法相同，聲束指向距刻度線最近的

3mm橫孔

聲束偏向角

端角反射最高時(shí)探頭外殼與試塊邊緣的夾角

方法相同，使用量角器和直尺

時(shí)基線性

25mm的多次回波間隔

方法相同

時(shí)基校準(zhǔn)

范圍-延遲調(diào)整，91mm的縱波傳播時(shí)間等于50mm的橫波傳播時(shí)間

方法相同，但有機(jī)玻璃不能用于等效

50mm的橫波模式

垂直線性

調(diào)節(jié)3mm橫孔回波幅度，使之達(dá)到滿屏高度80%，然后加2dB，再減2dB,6dB,18dB,24dB

方法相同，使用1.6mm橫孔

屏高線性

保持兩個(gè)信號(hào)的比率，增加dB值，使較高幅度信號(hào)以滿屏高度10%的步進(jìn)增加

方法相同

脈沖寬度

底面回波峰值的10%處射頻脈沖時(shí)基寬度

方法相同

中心頻率測(cè)量

轉(zhuǎn)換為時(shí)基線，使用來自半徑或厚度的信號(hào)，以1戶為周期計(jì)數(shù)

方法相同

信噪比（SNR）

設(shè)置3mm橫孔回波幅度為滿屏高度的10%，移走探頭并將探頭面的賴合劑擦拭干凈;提高增益至噪聲達(dá)到滿屏高度的10%時(shí)的增益值

方法相同，使用1.6mm橫孔

表B.2PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊的附加功能應(yīng)用

功能

單晶片模式

推薦的PAUT模式

楔塊延時(shí)

—

楔塊延時(shí)可通過固定深度的反射體或固定距離的反射面進(jìn)行測(cè)定，例如半徑為100mm的圓弧面

#

庫七七標(biāo)準(zhǔn)下載

GB/T41114—2021/ISO19675=2017

表B.3PAUT試塊的可能應(yīng)用示例（常用功能）（續(xù)）

功能 推存應(yīng)用

功能

單晶片模式

推薦的PAUT模式

柵瓣評(píng)價(jià)

—

通過比較最淺深度橫孔偏軸響應(yīng)幅度與主軸響應(yīng)幅度，評(píng)價(jià)潛在的柵瓣

有效陣元評(píng)價(jià)

—

探頭置于楔塊或試塊上，以步進(jìn)為1的陣元設(shè)置依次激發(fā)探頭各陣元進(jìn)行線掃描，宜在B掃或未修正扇掃描中通過各陣元波幅響應(yīng)/成像顯示評(píng)價(jià)陣元的有效性

線掃描靈敏度一致性

—

使用橫孔調(diào)節(jié)線掃描靈敏度一致性

扇掃描靈敏度一致性（ACG）

—

使用K50mm或jRIOOmm圓弧調(diào)整扇掃描靈敏度一致性

成像檢查

—

對(duì)排成一線的3mm橫孔采用扇掃描顯示，通過扇掃可對(duì)定位成像精度及延遲法則進(jìn)行核查

陣元配置

—

斜表面的單晶片步進(jìn)線掃描。帶楔塊的探頭由楔塊提供斜面，0°線陣（無楔塊）探頭要求使用一個(gè)傾斜面，監(jiān)測(cè)單調(diào)增加的底面回波時(shí)間

各向異性評(píng)定

使用試塊和超聲系統(tǒng)，結(jié)合橫波和縱波聲速測(cè)量值評(píng)價(jià)試塊的各向異性

使用試塊和超聲系統(tǒng)，結(jié)合橫波和縱波聲速測(cè)量值評(píng)價(jià)試塊的各向異性

表B.3PAUT試塊的可能應(yīng)用示例（常用功能）

功能

推存應(yīng)用

1

.iv

探頭人射點(diǎn)（斜

探頭）

聲束角度（斜探頭）

龍朋湖

聲束偏向

70°和45°位置

.84

最大角反射回波，使用量角器獲取聲束偏向角

時(shí)基線性 25mm（或更?。┖穸榷啻位夭ǖ拈g隔

時(shí)基校準(zhǔn)

縱波fe式，25mm和100mm的間隔（可目旨還有更多方法）橫波模式，尺50mm和R100mm圓弧

垂直線性 直徑為3mm的橫孔回波號(hào)

保持固定的兩個(gè)信號(hào)的比率

屏高線性

15

庫七七標(biāo)準(zhǔn)下載

脈沖寬度

在縱波或者橫波模式下，從聲程為100mm的回波射頻信號(hào)中，測(cè)量峰值10%以上波高電平的對(duì)應(yīng)時(shí)間

中心頻率測(cè)量已知1uS時(shí)間間隔的循環(huán)次數(shù)（使用測(cè)量脈沖寬度的同一回波測(cè)量）

信噪比（SNR）

設(shè)置1.6mm橫孔回波幅度為滿屏高度的10%，移走探頭并將探頭面的耦合劑擦拭干凈；提高增益至噪聲達(dá)到滿屏高度10%時(shí)的增益值

GB/T41114—2021/ISO19675=2017

表B.4PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊的可能應(yīng)用示例（增加的功能）

功能

推薦應(yīng)用

楔塊延時(shí)

任何橫孔甚至是半圓弧均用于確認(rèn)已知反射體的固定距離或深度

線掃描靈敏度

一致性

任何橫孔都可用于測(cè)定楔塊路徑變化引起的衰減效應(yīng)，以便系統(tǒng)在可能的情況下進(jìn)行補(bǔ)償

扇掃描靈敏度

一致性（ACG）

為保證回波透射率和楔塊路徑增加引起的扇掃波幅損失得到適當(dāng)?shù)男拚箐撝新暢毯愣?。由于橫孔增加的聲程導(dǎo)致修正的楔塊及角度損失發(fā)生變化，因此只可使用半圓弧

收集B掃描評(píng)估柵瓣振幅

#

庫七七標(biāo)準(zhǔn)下載

可接受的柵瓣波幅的幅度宜低于主瓣回波波幅的幅度（例如，一20dB）

在電脈沖的激勵(lì)下有效陣元響應(yīng)。每個(gè)陣元設(shè)置為步進(jìn)為1的線掃描，可分辨出哪個(gè)陣元在B掃或未修正扇掃描中未響應(yīng)。對(duì)于0°探頭，在25mm厚度方向進(jìn)行B掃描。

有效陣元評(píng)價(jià)

標(biāo)引序號(hào)說明：

1——楔塊界面信號(hào)。

GB/T41114—2021/ISO19675=2017

表B.4PAUT標(biāo)準(zhǔn)試塊的可能應(yīng)用示例（增加的功能）（續(xù)）

功能 推薦應(yīng)用

對(duì)于帶有楔塊的線性陣列探頭，可使用與有效陣元評(píng)估相同的設(shè)置，每個(gè)陣元到達(dá)時(shí)間宜呈單調(diào)遞增趨勢(shì)。對(duì)于沒有楔塊的0°線性陣列探頭，探頭可置于具有傾角的斜面上，實(shí)現(xiàn)與使用楔塊類似的響應(yīng)

陣元配置（根據(jù)

ISO18563-3）

對(duì)排成一線的3mm橫孔采用扇掃描顯示，通過扇掃可對(duì)定位成像精度及延遲法則進(jìn)行核查。軟件提供的坐標(biāo)系中X方向顯示以某個(gè)探頭參考點(diǎn)為基準(zhǔn)的參考值。為確定成像合適，依據(jù)峰值信號(hào)確定的橫孔位置宜與實(shí)際位置誤差在1mm之內(nèi)。

成像檢查

17

庫七七標(biāo)準(zhǔn)下載

標(biāo)引序號(hào)說明：

d參考基準(zhǔn)位置；

v——垂直位置（包含孔半徑），定位誤差在1mm范圍內(nèi)；

h——水平位置（包含孔半徑），定位誤差在1mm范圍內(nèi)。

要求特別關(guān)注對(duì)扇掃聚焦法則使用TCG均衡靈敏度。對(duì)于重復(fù)手動(dòng)?xùn)鸥駫卟樾拚^程的線掃，TCG簡單修正了在更大聲程處相同反射體因聲程增加引起的幅度損失，可使用任何統(tǒng)一的反射體。

對(duì)于扇掃，TCG過程不僅修正因聲程變化引起的幅度損失