實驗四鎖存器觸發(fā)器功能測試及應(yīng)用

1、實 驗 報 告課程名稱： 實驗項目名稱：鎖存器、觸發(fā)器功能測試及應(yīng)用 專業(yè)： 報告人： 學號： 班級： 實驗時間： 天津城建大學控制與機械工程學院一 實驗?zāi)康模? 基本RS觸發(fā)器、JK觸發(fā)器、D觸發(fā)器和T觸發(fā)器的邏輯功能；2 熟悉觸發(fā)器的轉(zhuǎn)換；3 熟悉D鎖存器的功能及應(yīng)用。二 實驗設(shè)備和器材：電子學綜合實驗裝置；芯片74LS74； 74LS112； 74LS00三 實驗原理(電路)：1基本RS鎖存器基本RS鎖存器可以是由兩個與非門在輸出端交互反饋組成雙穩(wěn)態(tài)存儲電路。圖1所示為用與非門構(gòu)成的基本RS鎖存器。圖1用與非門構(gòu)成的基本RS鎖存器74LS00外引線排列和邏輯符號如圖2所示： 圖2 74L

2、S00的外引線排列圖2.D觸發(fā)器D觸發(fā)器在時鐘脈沖CP的前沿(上升沿01)觸發(fā)翻轉(zhuǎn)，觸發(fā)器的次態(tài) 取決于CP脈沖上升沿來到之前D端的狀態(tài)，特性方程為 = Dn。因此，它具置0、置1兩種功能。在CP = 0、CP = 1期間和下降沿到來，D端的數(shù)據(jù)狀態(tài)變化，都不會影響觸發(fā)器的輸出狀態(tài)。 圖3 74LS74邏輯符號圖 圖4 74LS74引腳排列圖3.JK觸發(fā)器JK觸發(fā)器(74HC112)是一種利用傳輸延遲時間的邊沿JK觸發(fā)器，它在時鐘脈沖CP的后沿即在CP脈沖的(下降沿10)觸發(fā)翻轉(zhuǎn)。本實驗采用的集成芯片為74LS112型(雙JK下降沿觸發(fā)，帶清零)，引腳排列圖形符號如圖所示。 圖5和必須接高電平

3、。JK觸發(fā)器利用CP的下降沿觸發(fā)，D觸發(fā)器利用CP的上升沿觸發(fā)。4 觸發(fā)器的轉(zhuǎn)換觸發(fā)器的轉(zhuǎn)換是在實際中是經(jīng)常用到的，其方法是將兩種觸發(fā)器的狀態(tài)方程相比較得到到J，K端的表示即可。例如將JK觸發(fā)器轉(zhuǎn)換成觸發(fā)器的功能。圖6四 實驗內(nèi)容(表格)：1.基本RS鎖存器的功能測試選用一片74LS00組成一個RS鎖存器。按圖1連接好測試電路，按照表1中條件，觀察并記錄鎖存器輸出端的變化情況，體會脈沖電平觸發(fā)的特點。表1基本RS鎖存器的功能表功能000110112.JK觸發(fā)器的功能測試根據(jù)圖5，選用74LS112，按表2要求測試74LS112的邏輯功能，觀察并記錄觸發(fā)器輸出端的變化情況。(1)直接復(fù)位、置位端

4、的功能測試，體會它決定觸發(fā)器初態(tài)的作用。(2)邏輯功能的測試。要求在不同的輸入狀態(tài)和初始狀態(tài)下測試輸出端狀態(tài)。表2 JK觸發(fā)器功能測試表CPJK01×××10×××1100110011011101111011101111111111113.JK觸發(fā)器構(gòu)成觸發(fā)器按圖6連接好測試電路，用實驗室提供的連續(xù)脈沖做時鐘脈沖，用示波器觀測并記錄CP和Q的波形，認真體會觸發(fā)器的分頻作用。表3 分頻作用波形圖波 形CP4.D觸發(fā)器的功能測試選用74LS74，按表4要求測試74LS74的邏輯功能，觀察并記錄觸發(fā)器輸出端的變化情況。(1)直接復(fù)位、置位端的功能測試，體會它決定觸發(fā)器初態(tài)的作用。(2)邏輯功能的測試。要求在不同的輸入狀態(tài)和初始狀態(tài)下測試輸出端狀態(tài)。表4 D觸發(fā)器功能測試表CPDQn××01××10111011×11××00五 實驗思考題：1.寫出實驗涉及到的觸發(fā)器