無損檢測超聲波二級考試題庫匯總

1、無損檢測超聲波題庫一 .是非題：246246 題二 .選擇題：256256 題三 .問答題：7070 題四.計(jì)算題：5656 題.是非題（在題后括弧內(nèi)，正確的畫。，錯誤的畫 X）由于機(jī)械波是由機(jī)械振動產(chǎn)生的，所以超聲波不是機(jī)械波。（X）只要有作機(jī)械振動的波源就能產(chǎn)生機(jī)械波。（X）振動是波動的根源，波動是振動狀態(tài)的傳播。（。）介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的振動方向與波的傳播方向互相垂直的波稱為縱波。（X）當(dāng)介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變剪切應(yīng)力作用時，產(chǎn)生切變形變，從而形成橫波。（。）液體介質(zhì)中只能傳播縱波和表面波，不能傳播橫波。（X）根據(jù)介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動方向相對于波的傳播方向的不同，波的波形可分為縱波、橫波、表面波和板波等。（

2、X）不同的固體介質(zhì)，彈性模量越大，密度越大，則聲速越大（X）同一時刻，介質(zhì)中振動相位相同的所有質(zhì)點(diǎn)所聯(lián)成的面稱為波前。（X）實(shí)際應(yīng)用超聲波探頭中的波源近似于活塞波振動，當(dāng)距離波源的距離足夠大時，活塞波類似于柱面波。（X）超聲波檢測中廣泛采用的是脈沖波，其特點(diǎn)是波源振動持續(xù)時間很長，且間歇輻射。（X）次聲波、聲波、超聲波都是在彈性介質(zhì)中傳播的機(jī)械波，在介質(zhì)中的傳播速度相同，他們的主要區(qū)別主要在于頻率不同。（。）同種波型的超聲波，在同一介質(zhì)中傳播時，頻率越低，其波長越長。（。）分貝值差表示反射波幅度相互關(guān)系，在確定基準(zhǔn)波高后，可以直接用儀器的衰減器讀數(shù)表示缺陷波相對波高。（。）一般固體中的聲速隨介

3、質(zhì)溫度升高而降低。（。）超聲波在同一介質(zhì)中橫波比縱波檢測分辨力高，但對于材料的穿透能力差。（。）超聲波在同一固體材料中，傳播縱波、橫波時聲阻抗都相同。（X）超聲場中任一點(diǎn)的聲壓與該處質(zhì)點(diǎn)傳播速度之比稱為聲阻抗。（X）固體介質(zhì)的密度越小，聲速越大，則它的聲阻抗越大。（X）在普通鋼焊縫檢測中，母材與填充金屬聲阻抗相差很小，若沒有任何缺陷，是不會產(chǎn)生界面回波的。（o）波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時，可以合成一個波繼續(xù)傳播。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，聲強(qiáng)反射率等于聲強(qiáng)透過率，兩者之和等于 1。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓，說明能量守

4、恒。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，在任何情況下，透射波聲壓總是小于入射波聲壓。（X）超聲波垂直入射到光滑平界面時，其聲壓反射率或透過率僅與界面兩種介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)。（。）超聲波垂直入射到 Z2Zl 的光滑平界面時，若聲壓透射率大于 1,說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。（X）聲壓往復(fù)透射率高低直接影響檢測靈敏度高低，往復(fù)透射率高，檢測靈敏度高,（O）超聲波垂直入射到光滑平界面時，聲壓往復(fù)透過率大于聲強(qiáng)透過率。（x）超聲波垂直入射到光滑平界面時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。（X）當(dāng)鋼中氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。（。）當(dāng)超聲波聲束以一定角度傾斜

5、入射到不同介質(zhì)的界面上，產(chǎn)生同類型的反射和折射波，這種現(xiàn)象就是波形轉(zhuǎn)換。（X）超聲波傾斜入射到界面時，界面上入射聲束的折射角等于反射角。（X）超聲波傾斜入射到界面在第一臨界角時，第二介質(zhì)中只有折射橫波。（。）只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為液體時，才會有第三臨界角。（X）當(dāng)橫波傾斜入射到固/固截面時，縱波反射角為 900時所對應(yīng)的橫波入射角稱為第三臨界角。此時第一介質(zhì)中沒有反射橫波。（x）橫波傾斜入射到鋼/水界面，水中既無折射橫波，又無折射縱波。（x）為使工件中只有單一的橫波，斜探頭入射角應(yīng)選擇為第一臨界角或第二臨界角。（x）超聲波入射到 C1C2 的凸曲面時（從入射方向看），其折射波發(fā)散。（x）以有機(jī)玻璃作

6、聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/水界面為凸曲面。（x）超聲波的擴(kuò)散衰減主要取決于波陣面的形狀，與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無關(guān)。（。）引起超聲波衰減的主要原因波速擴(kuò)散、晶粒散射、介質(zhì)吸收。（。）超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。（X）對同一介質(zhì)而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。（。）在同一介質(zhì)中，傳播縱波、橫波時的聲阻抗不一樣。（。）超聲波入射到 C1C2 的凸界面時，其透射波聚集。（。）超聲波垂直入射到光滑平界面時，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。（X）超聲場近場區(qū)內(nèi)聲壓分布不均勻、起伏變化是由于波的干涉造成的。（）超聲場近場區(qū)內(nèi)的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。（）聲源輻射的超聲能量，總是聲束中心線上的聲壓最高。（）超

7、聲波的半擴(kuò)散角大，超聲能量集中，聲束的指向性好，檢測靈敏度高，對缺陷定位準(zhǔn)確。（X）超聲場可分為近場區(qū)和遠(yuǎn)場區(qū)，波源軸線上最后一個聲壓極大值的位置至波源的距離稱為超聲場的近場區(qū)長度。2.6 因?yàn)榻鼒鰠^(qū)內(nèi)處于聲壓極小值處的較大缺陷回波可能較低，而處于聲壓極大值處的較小的缺陷回波可能較高，應(yīng)盡可能避免在近場區(qū)檢測。（）超聲頻率不變，晶片面積越大，超聲的近場長度越短。（）超聲場遠(yuǎn)場區(qū)聲壓隨距離增加單調(diào)減小是由于介質(zhì)衰減的結(jié)果。（）在其他條件相同時，橫波聲束的指向性比縱波好，橫波的能量更集中一些，因橫波波波長比縱波短。橫波斜探頭聲場假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。（）檢測時采用低頻是為了改善聲束指向性

8、，提高檢測靈敏度。（）因?yàn)槌暡ù嬖跀U(kuò)散衰減，所以，檢測時應(yīng)盡可能在進(jìn)場區(qū)進(jìn)行。（）在實(shí)際超聲波檢測中，測定探頭聲速軸線偏離與橫波探頭的K 值應(yīng)規(guī)定在 2N 以外進(jìn)行測定。當(dāng)其他條件一定時，若超聲波頻率增加，則近場區(qū)長度和半擴(kuò)散角都增加。橫波探頭晶片尺寸一定，K 值增大時，近場區(qū)長度減小。（）超聲波的能量主要集中在 2。0 以內(nèi)的錐形區(qū)域，此區(qū)域稱為主聲束。（）一般聲束指向角越小，則主聲束越窄，聲能量越集中，從而可以提高對缺陷的分辨能力以及準(zhǔn)確判斷缺陷的位置。（）在超聲場的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波近似看成平面波，其平均聲壓不變。（）頻率、晶片尺寸等條件相同時，在同一介質(zhì)中，橫波聲束指向性

9、比縱波差。（）其它條件相同時，鋼中橫波聲場近場長度隨探頭的折射角增大而減小。（）縱波聲場存在近場區(qū)，橫波聲場不存在近場區(qū)。（）超聲波的聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波形有關(guān)。（）面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場的近場區(qū)場區(qū)相同（）面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，聲束指向性也相同（）在同樣的檢測條件下，當(dāng)自然缺陷的反射回波，與某人工規(guī)則反射體的反射回波等高時，則該人工規(guī)則反射體的尺寸，就是此自然缺陷的實(shí)際尺寸。（）短橫孔是長度明顯小于聲束截面積的橫孔，其孔徑和長度一定，波高與距離的變化規(guī)律與平底孔相同。（）檢測條件一定，平底孔的波高與其面積成正比，與距離成反比。（）長橫孔是長度大

10、于聲束截面積的橫孔，其孔彳 5 一定，距離增加一倍其回波下降 9dB.（）對軸類工件作外圓徑向縱波檢測時，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平底回波聲壓反射規(guī)律不同。（）當(dāng) XR3N 時，超聲波在內(nèi)孔檢測圓柱體，其回波聲壓小于同距離大平底回波聲壓。（）實(shí)用 AVG 曲線只適用于特定的探頭，使用時不需要進(jìn)行歸一化處理。（）在通用 AVG 曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。（）通用 AVG 曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。（）超聲波探傷儀的 A 型顯示、B 型顯示、C 型顯示都屬于波形顯示。（）超聲波儀器的 C 型顯示能顯示工件中缺陷在探測方向上的面積投影，

11、但不能顯示其深度。探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件檢測面上掃查的電路。調(diào)節(jié)超聲波探傷儀“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變。調(diào)節(jié)超聲波探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時，可連續(xù)精確的調(diào)節(jié)時基線代表的檢測范圍，以對缺陷準(zhǔn)確定位。（）衰減器是用來調(diào)節(jié)檢測靈敏度的，衰減器讀數(shù)按衰減方式標(biāo)出的，讀數(shù)越大，靈敏度越高。（）調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時，抑制越大，儀器動態(tài)范圍越大。（）脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。（）所謂數(shù)字式超聲波探傷儀主要是指發(fā)射，接受電路的參數(shù)控制和接收信號的處理、顯示均采用數(shù)字化方式的儀器。（）數(shù)字式超聲波探傷與模擬式超聲波探傷儀

12、最根本白區(qū)別是，探頭接收的超聲信號需經(jīng)數(shù)/模轉(zhuǎn)換，將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，處理后顯示出來。（）在數(shù)字式超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。（）超聲波探頭中的關(guān)鍵部件是晶片，它的作用是電能和聲能的互換。（）超聲波探頭發(fā)射超聲波時產(chǎn)生正壓電效應(yīng)，接收超聲波時產(chǎn)生逆壓電效應(yīng)。（）壓電材料中，單晶材料發(fā)射靈敏度較高，多晶材料接受靈敏度較高。（）超聲波探頭所使用晶片的壓電效應(yīng)不受溫度的影響。（）焊接接頭超聲波檢測用斜探頭，當(dāng)楔塊底面后部磨損較大時，其折射角將變大。（）雙晶直探頭由于延遲塊的存在，避免了始脈沖引起的盲區(qū)問題，可以檢測近表面缺陷和進(jìn)行薄板檢測。（）縱波雙晶直探頭檢測工件時，對位于菱

13、形聲束會聚區(qū)內(nèi)缺陷的檢測靈敏度高。（）雙晶探頭只能用于縱波檢測。（）聚集探頭根據(jù)焦點(diǎn)形狀不同分為點(diǎn)聚焦和線聚焦。（）與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。（）使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。（）由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波檢測。（）水浸聚焦探頭檢測工件時，實(shí)際焦距比理論計(jì)算值大。（）工件表面比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。探頭的工作頻率是指探頭每秒鐘內(nèi)發(fā)射超聲脈沖的次數(shù)。（）標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)、形狀、尺寸及精度，使用單位可以根據(jù)自行確定。（）用雙晶直探頭檢測厚度不大于 20mm 的鋼板時，應(yīng)采用 CB-n 標(biāo)準(zhǔn)試塊對檢測系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。（）

14、CSin 試塊是一種適用于檢測面為曲面的鍛件檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊。（）CSK-IA 試塊上。50、（）44、。40 三孔的臺階，可用來測定斜探頭的分辨力。（）CSK-IA、CSK-mA、CSK-IV 試塊主要用于制作橫波距離-波幅曲線、校準(zhǔn)斜探頭的 K 值、橫波掃描速度和檢測靈敏度等。（）CSK-nA 試塊上的人工反射體是1X6。（）斜探頭的入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與檢測面的交點(diǎn)。（）測定探頭的 K 值或 3s 應(yīng)在近場區(qū)內(nèi)進(jìn)行，因?yàn)榻鼒鰞?nèi)聲壓最高點(diǎn)在聲束軸線上，測試誤差小。（）斜探頭的 K 值常用 CSK-IA 試塊上的。50 和。橫孔來測定。（）測定組合靈敏度時，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲

15、電平 w10%,再進(jìn)行測試。（）測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。（）儀器的垂直線性是指儀器顯示屏上時基線顯示的水平刻度與實(shí)際聲程之間成正比的程度。（）調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平線性。（）靈敏度余量就是儀器與探頭的綜合靈敏度。（）盲區(qū)是指從探測面到能發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，與儀器的阻塞時間和始脈沖寬度有關(guān)。（）盲區(qū)內(nèi)缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。（）為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。（）脈沖反射法可分為缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。液浸法檢測適用于表面粗糙的試件，探頭不易磨損，耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)

16、果重復(fù)性好，便于實(shí)現(xiàn)自動化檢測。（）縱波法實(shí)質(zhì)上就是使用直探頭進(jìn)行垂直入射檢測的方法。（）管材和焊接接頭的超聲檢測方法主要是垂直入射法，而橫波法是垂直入射法的一種有效的輔助檢測方法。（）手工超聲檢測法與自動超聲檢測法相比具有檢測結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)。（）超聲檢測方法中的單探頭法和雙探頭法對于工件中缺陷的檢出效果是一樣的，兩者的區(qū)別主要在探頭的數(shù)量。（）儀器水平線性的好壞直接影響到對缺陷當(dāng)量大小的判斷。（）超聲檢測前應(yīng)根據(jù)被檢對象的形狀、對超聲波的衰減和檢測技術(shù)要求等來選擇探頭。（）探頭的選擇包括探頭的型式、頻率、晶片尺寸、靈敏度余量和斜探頭 K 值等。（）般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部

17、位、方向等條件來選擇探頭的型式，使聲束軸線盡量與缺陷平行。（）實(shí)際檢測中，檢測面積大的工件時，為了提高檢測效率宜采用小晶片探頭。（）檢測小型工件時，為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭。（）超聲耦合是指超聲波在檢測面上的聲強(qiáng)透射率。（）曲面工件檢測時，檢測面曲率半徑越小，耦合效果越好。（）對于表面不太平整，曲率較大的工件，為了減小耦合損失，宜選用大晶片探頭。（）超聲檢測前，探傷儀校準(zhǔn)的主要內(nèi)容是儀器的掃描速度和檢測系統(tǒng)的水平線性校準(zhǔn)。（）橫波掃查速度的校準(zhǔn)方法有兩種：水平調(diào)節(jié)法和深度調(diào)節(jié)法。（）模擬式超聲波探傷儀橫波檢測較厚工件焊縫常用深度調(diào)節(jié)法進(jìn)行校準(zhǔn)。（）按水平距離校準(zhǔn)橫波掃描速度必須

18、在 CSK-IA 試塊上進(jìn)行。（）數(shù)字超聲檢測系統(tǒng)校準(zhǔn)實(shí)際上就是探頭入射零點(diǎn)的校準(zhǔn)和 K 值測量。（）檢測靈敏度意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲檢測的靈敏度越高越好。（）靈敏度的基本要素是基準(zhǔn)反射體的幾何尺寸、基準(zhǔn)反射體的最大探測距離、基準(zhǔn)反射體的基準(zhǔn)反射波高。（）在超聲檢測中，校準(zhǔn)檢測靈敏度的常用方法有波高比較法和曲線對比法。兩者相比，波高比較法實(shí)際應(yīng)用很方便，定量快速、準(zhǔn)確。（）鍛件利用試塊法校準(zhǔn)靈敏度主要應(yīng)用于無底波、厚度尺寸小于 3N 的工件檢測。（）用底波法校準(zhǔn)靈敏度時，如底面粗糙或粘有水跡，將會使底波降低，這樣利用底波校準(zhǔn)的靈敏度將會降低，缺陷定量將會偏小。（）基準(zhǔn)靈敏度和定量靈敏

19、度是一回事，（）在焊接接頭的超聲檢測中通常初始檢測采用掃查靈敏度進(jìn)行粗掃查，這個掃查靈敏度不得低于定量線靈敏度。（）實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將檢測靈敏度降低。（）在選擇掃查方式時，應(yīng)保證工件的整個檢測區(qū)域有足夠的聲束覆蓋，并使掃查過程中聲束盡量與缺陷垂直。（）當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化。（）儀器及探頭的性能、耦合與衰減、工件幾何形狀和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影響缺陷的定量。（）超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而減小。（）在焊接接頭超聲檢測中，依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準(zhǔn)確地判斷缺陷性質(zhì)。（）板材加工過程中產(chǎn)生的缺陷有分層

20、、非金屬夾雜物、折疊、重皮、白點(diǎn)、裂紋等。（）在板材超聲檢測中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，則說明板內(nèi)一定有白點(diǎn)。（）在板材超聲檢測中，其耦合方式有直接接觸法和液浸法。（）為提高工作效率，應(yīng)采用較大直徑的探頭對較薄的鋼板進(jìn)行檢測。（）由于板材在軋制過程中，缺陷往往沿壓延方向延伸，因此探頭移動方向應(yīng)與壓延方向垂直。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對板厚不大于 20mmHW 鋼板超聲波檢測時，用 CBI 試塊將工件等厚度部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的 50%,再提高 14dB 作為基準(zhǔn)靈敏度。（）JB/2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，板厚大于 10mm 到 40mm 鋼板的超聲檢測探頭，應(yīng)選用探頭晶片尺寸為 0

21、1420mm,公稱頻率為 MHz 的單晶直探頭。鋼板常用的掃查方式為全面掃查、列線掃查、邊緣掃查、格子線掃查。（）鋼板檢測時，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對鋼板進(jìn)行超聲檢測時，如發(fā)現(xiàn)缺陷指示面積小于 9cm2,鋼板可評為 n 級。（）JB/2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼板進(jìn)行橫波檢測時,對板厚超過 50mnm 勺鋼板，應(yīng)在試塊的上下底面各加工一個尖角槽。（）JB/2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼板檢測時若單個缺陷的指示長度小于 40mm 時，可不作記錄。（O）JB/2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，若 1mX1m 鋼板中只有 10mm 長的一處裂紋，該鋼板可評定為 I 級。（）利用雙晶直探頭

22、確定缺陷邊界或指示長度時，探頭移動方向應(yīng)與探頭分割面平行。（）復(fù)合鋼板超聲檢測時，可以從基板一側(cè)檢測，也可從復(fù)板一側(cè)檢測。（）復(fù)合鋼板超聲波檢測主要對象是檢測基板和復(fù)板層各自的缺陷。（）復(fù)合鋼鋼板缺陷的等級評定主要是針對未貼合缺陷而言的。（）復(fù)合板進(jìn)行沿鋼板寬度方向掃查時，間隔為 100mm 的平行線。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，將探頭置于復(fù)合板完全結(jié)合部位，調(diào)節(jié)第一次底波高度為顯示屏滿刻度的 80%以此作為基準(zhǔn)靈敏度。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，復(fù)合板檢測時，第一次底波低于示波屏滿刻度的 5%且未結(jié)合缺陷反射波大于20%寸，該部位稱為未結(jié)合。（）無縫鋼管中常見缺陷有裂紋、折疊、分層等

23、。（）小徑管采用液浸法進(jìn)行超聲檢測時，以橫向缺陷檢測為主。（）小徑管采用液浸法進(jìn)行超聲檢測時，水層距離應(yīng)根據(jù)聚焦探頭的焦距確定。（）（）20X 的無縫鋼管可以按照 JB/2005 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超聲波檢測。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，無縫鋼管的超聲檢測時，每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各檢測一次。（）鍛件缺陷主要有縮孔、疏松、夾雜、白點(diǎn)、折疊、裂紋等。（）軸類鍛件，一般來說用縱波直探頭作軸向探測，檢測效果最佳。（）使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時，探頭應(yīng)用正反兩個方向掃查。（）對餅形鍛件采用縱波直探頭作徑向探測是最佳的檢測方法。（）對筒類鍛件采用縱波直探頭從端面檢測主要發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向

24、缺陷。（）筒類鍛件為檢測與檢測面成一定傾角的徑向缺陷，應(yīng)采用橫波斜探頭進(jìn)行檢測。（）鍛件的晶粒比較細(xì)小，單晶直探頭常米用頻率5MHz,雙晶直探頭常米用頻率 5MHz。（）鍛件檢測時如出現(xiàn)“林狀回波”，應(yīng)選用頻率較高的探頭，如 5MHz 探頭。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，壓力容器用碳鋼和低合金鋼鍛件超聲波檢測時，若工件檢測距離小于 45mm,則應(yīng)采用 CBH 標(biāo)準(zhǔn)試塊檢測。（）模擬式超聲波探傷儀可利用已知尺寸的試塊或鍛件用始波和一次反射波進(jìn)行掃描速度的校準(zhǔn)。（）鍛件超聲檢測時，波高比較法的檢測靈敏度校準(zhǔn)方法有兩種，一種是試塊法，另一種是底波法。（）用底波法校準(zhǔn)鍛件檢測靈敏度適用于鍛件被檢部位

25、厚度小于 3N 鍛件。（）用底波法校準(zhǔn)鍛件檢測靈敏度與實(shí)際掃查在同一面上，可不用考慮表面耦合補(bǔ)償。（）用試塊法校準(zhǔn)鍛件檢測靈敏度，當(dāng)試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時，要進(jìn)行耦合補(bǔ)償。（）利用工件底波校準(zhǔn)檢測靈敏度，由于是同材質(zhì)，所以在對缺陷定量時不需考慮材質(zhì)衰減。（）在鍛件本測中，對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用當(dāng)量法定量。（）在鍛件本測中，對于尺寸小于聲束截面的缺陷一般采用測長法來測定缺陷的指示面積。（）在鍛件檢測中，對于尺寸大于聲束截面的缺陷一般采用半波高度法測定缺陷的指示長度或面積。（）在鍛件本測中，顯示屏上的反射波可分為單個、分散、密集、游動缺陷反射波及底面回波。（）鍛件超聲檢測中，

26、當(dāng)缺陷回波很高、并有多次重復(fù)反射，而底波嚴(yán)重下降甚至消失，說明鍛件中存在平行于檢測面的大面積缺陷。（）鍛件超聲檢測中，常見的非缺陷回波分為三角反射波、遲到波、密集缺陷反射波。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，檢測面是曲面時，應(yīng)采用 CSH 試塊來測定由于曲率不同引起的聲能損失。（）JB/2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，碳鋼和低合金鋼鍛件超聲檢測時，應(yīng)記錄當(dāng)量直徑超過3mm的單個缺陷的波幅和位置。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，碳鋼和低合金鋼各類鍛件超聲檢測時，應(yīng)記錄大于或等于4mm 當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，碳鋼和低合金鋼鍛件的缺陷等級評定包括單個缺陷的等級評定，缺

27、陷引起的底波降低量等級評定和密集區(qū)缺陷等級評定。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，缺陷引起底波降低量劃分鍛件質(zhì)量等級的方法不適用于近場區(qū)內(nèi)的缺陷。（）JB/-2005 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，在靠近缺陷處的無缺陷完好區(qū)內(nèi)第一次底波幅度 BG 與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度 BF 之比值 BG/BF（dB）稱為由缺陷引起白底波降低量。（）鍛件檢測時，如缺陷被檢測人員判定為白點(diǎn)，則應(yīng)按照密集缺陷評定鍛件等級。（）鑄件中主要缺陷有孔洞類缺陷、裂紋冷隔類缺陷、夾渣類缺陷以及成分類缺陷。（）在鑄件超聲檢測中，檢測靈敏度根據(jù)一組系列平底孔試塊測定的距離一一波幅曲線進(jìn)行調(diào)節(jié)。（）焊接接頭中的氣孔是體積型缺陷，而裂紋、未熔合、

28、未焊透、夾渣是面積型缺陷。（）超聲檢測時基掃描速度的調(diào)整方法可分為聲程顯示調(diào)整法、水平距離顯示調(diào)整法、深度顯示調(diào)整法。（）在顯示屏上繪制距離-波幅曲線時，在檢測范圍內(nèi)不低于顯示屏滿刻度的 20%。（）在焊接接頭超聲檢測中，根據(jù)在試塊上測得的數(shù)據(jù)繪制而成的距離一一波幅曲線，若要計(jì)入表面補(bǔ)償3dB,則應(yīng)將三條線同時上移 3dB。（）7.5在焊接接頭超聲檢測中，可以用降低檢測面光潔度要求，而用提高耦合補(bǔ)償量的方法來達(dá)到檢測目的。（）干擾回波的幅度及其數(shù)量不僅與回波源的形狀、大小、高低有關(guān)，而且還與檢測靈敏度的高低及選用的探頭 K 值大小有關(guān)。在焊接接頭超聲檢測中，探頭前端部可能堆積耦合劑而引起回波，

29、若抹掉探頭前端部耦合劑則此波消失。（）無論遠(yuǎn)距探頭一側(cè)，還是近距探頭一側(cè)，上、下焊角都會產(chǎn)生干擾回波。（）在焊接接頭超聲檢測中，為了確定是否焊角干擾回波，可用手指沾上耦合劑敲打焊角位置。（）JB/2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測檢測面曲率半徑 RWW4時，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在與檢測面曲率相同的對比試塊上進(jìn)行。（）端點(diǎn) 6dB 法適用于測長過程中缺陷波中只有一個高點(diǎn)的情況。（）在焊接接頭超聲檢測中，波幅在判廢線或判廢線以上的缺陷予以判廢和返修，因此無需測長。（）JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼制對接焊接接頭超聲波檢測定量時，若相鄰兩缺陷在一條直線

30、上，其間距小于其中較小的缺陷長度時，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷的指示長度之和作為其指示長度（間距不計(jì)入缺陷長度）。（）JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，為了防止缺陷漏檢，檢測焊縫中縱、橫向缺陷必須采用相同的掃查靈敏度。（）板厚為 20mm 勺對接焊接接頭，采用 K=2 的探頭進(jìn)行水平 1:1 掃描調(diào)節(jié)檢測時，若顯示屏上讀出缺陷的水平距離為 50mm 則缺陷深度為 15mm。（）7.16JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼制對接焊接接頭超聲檢測中，最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷均應(yīng)評為 I 級。（）7.17JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，曲面工件縱向?qū)雍附咏宇^

31、超聲檢測時，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲球半徑之差應(yīng)小于 10%。（）7.18JB/2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，曲面工件環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測時時，對比試塊的曲率半徑應(yīng)與檢測面曲率半徑一致。（）7.19JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對堆焊層檢測應(yīng)從母材或堆焊層一側(cè)進(jìn)行。如對檢測結(jié)果有懷疑時，也可從另一測進(jìn)行補(bǔ)充檢驗(yàn)。（）JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對。60X8 的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測可采用 GS-2 型試塊。（）JB/2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)適用于壁厚大于或等于 6mm,外徑為 32mnrr159mm 或壁厚為 4mnv6mm,外

32、徑大于或等于 159mm 的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^的超聲檢測。（）JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對在用壓力管道環(huán)向焊縫對接接頭超聲檢測時，應(yīng)根據(jù)在用工業(yè)管道定期檢驗(yàn)規(guī)程等技術(shù)規(guī)程的要求對缺陷的超聲檢測結(jié)果進(jìn)行記錄。（。）JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，超聲檢測技術(shù)等級分為 A、B、C 三個檢測級別，超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。（）按照 JB/-2005承壓設(shè)備無損檢測規(guī)定，當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進(jìn)行檢測時，應(yīng)按照各自的方法評定級別。（）超聲波焊縫橫波檢測時采用液態(tài)耦合劑，說明橫波可以通過

33、液態(tài)介質(zhì)薄層。（）焊縫檢測所用的斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時，其 K 值將變小。（）為了減少雜波對對檢測的干擾應(yīng)盡可能降低被檢測管道的表面粗糙度，減少補(bǔ)償量。（）焊縫橫波檢測在滿足靈敏度要求的情況下，應(yīng)盡可能選用 K 值較大的探頭。（）探頭環(huán)繞掃查時，回波高度幾乎不變化，則可判定為點(diǎn)狀缺陷。（）由于管座角焊縫中危害最大的是未熔合和裂紋等縱向缺陷，因此一般以縱波直探頭探測為主。（）焊縫橫波檢測時，裂紋等危害性缺陷的反射回波一般很高并且包絡(luò)較寬。（）超聲檢測工藝按照相應(yīng)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行編制，不能僅限于本單位的特點(diǎn)和檢測能力。（）按照特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求，I 級超聲檢

34、測人員可在 n、出級超聲檢測人員的指導(dǎo)下進(jìn)行超聲檢測操作、記錄檢測數(shù)據(jù)、整理檢測資料、評定檢測結(jié)果、簽發(fā)檢測報告。（）超聲通用工藝應(yīng)當(dāng)對超聲檢測中的技術(shù)檔案資料的格式要求、傳遞要求、保管要求作出要求。XXOX(XXXXXXOXOXOXOOXXXXOXOXXOXXOXXXXXXOXOOOXOXXXOXXOCXXXOXOOOXXOOXXOXOXXCXOXOXXXXOOXXOXXXOOXOOXXXXXXXXXOXCXOXOOOOXXXXXOoXXOOXXXXoXOXOXOXXXXOOOOXOXOXoXXoXXOOXXOXOXOXOXOXOoXoXXoOXXXoXOOXXXOoOXXXXooOXooX

35、OoXXoOXOOXXOXo選擇題（將正確答案序號填在括號內(nèi)）以下關(guān)于諧振動的敘述，哪一條是錯誤的（A）A.諧振動就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動B.任何復(fù)雜振動都可視為多個諧振動的合成C.在諧振動中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零D.在諧振動中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零波動過程中，波在單位時間內(nèi)所傳播的距離稱為（A.波長B.周期C.波速D.頻率超聲波的波速C,波長入與頻率f之間的關(guān)系為A.C=XfB.f=C 入C.入=fCD.C=f2人頻率 f 在（d）范圍內(nèi)的機(jī)械波稱為超聲波。A.f020000B.f20000D.f20000在波動中，橫波又稱為（C）。A.蘭姆波B.疏密波C.切變波D

36、.瑞利波哪種類型波在固體、液體、氣體介質(zhì)中均能傳播。A.橫波B.縱波、橫波C.縱波D.縱波、橫波、超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（D）后美。A.介質(zhì)的彈性B.介質(zhì)的密度C.超聲波波型D.超聲波形狀(A)。(C)表面波固體介質(zhì)的彈性模量越小，密度越大，則聲速（赫茲赫茲A.越大 B.不變C.越小 D.無關(guān)在同種固體材料中，聲速與波的類型之間的關(guān)系為（B）。在相同的聲壓下，材料的聲阻抗越大，質(zhì)點(diǎn)振動速度就越小，因此聲阻抗表示（A）。A.超聲場中介質(zhì)對質(zhì)點(diǎn)振動的阻礙作用B.超聲場中材質(zhì)的晶粒對超聲波的衰減作用C.反射波和透過波的聲能分配比例D.以上都對在同一固體材料中，當(dāng)分別傳播縱波、橫波及表面波時，該物

37、質(zhì)的聲阻抗將（b）。A,不變 B.ZLZSZRC.ZRZSZLD.ZsZLZR超聲波探傷儀垂直線性好，說明(A)。A.任意兩波高之比以接近于聲壓員之比，一般情況下，可認(rèn)為二者相等H?可B.任意兩波之比 Hr 反比于聲壓之比且H2P2C.任意兩波之比也大于聲壓之比上H?P2臺垂直線性好的超聲波探傷儀，在顯示屏上的回波由 60%降至%（顯示屏垂直刻度）(D)。A.6dBB.24dBC.12dBD.18dB顯示屏上有一波高為 80%，另一個波高比它低 16dB,則另一個波高為（C）。A.74%B.%C.%D.%惠更斯原理的作用是（c）。A.可以確定超聲波的類型 B.可以描述波型轉(zhuǎn)換原理C.確定不同波

38、源輻射的超聲波的傳播方向D.可以判斷超聲波的強(qiáng)弱A.CLVCSVCRB.CLCSCRC.CLCRCSD.以上都不對D.任意兩波之比也小于聲壓之比出H2P2當(dāng)兩列相干波在某處相遇，二者的波程差為c）時，合成振巾 M 最大.A.B.C.入D.2當(dāng)超聲波在介質(zhì)中傳播遇到障礙物時，在（a）情況下，波的繞射強(qiáng)，反射弱。（Df障礙物尺寸入超聲波波長）A.Dfvv 入B.DfDf=入D.Df=超聲波傳播過程中, 遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時將發(fā)生（C）。A.無繞射只反射B.只繞射無反射C.既繞射又反射D.以上都可能超聲波垂直入射到Zi/Z2光滑平界面時，聲壓反射率的公式是A.Z2乙B.Z2Z12Z2CZ2Z

39、1Z2乙D.Z2Zi4Z1Z2（Z2乙）2在同一界面上，聲強(qiáng)透過率 T 與聲壓反射率 r之間的關(guān)系是（B）。A.T=r2B.T=1-rC.T=1+rD.T=1在同一界面上，聲強(qiáng)反射率 R 與聲強(qiáng)透過率T 之間的關(guān)系是（D）。A.R+T=1B.T=1-RC.R=1-TD.以上全對縱波垂直入射到水/鋼界面時的聲壓反射率為94%,則聲強(qiáng)透過率為（A.%B.C.6%D.94超聲波垂直入射到均勻介質(zhì)中的異質(zhì)薄層，當(dāng)薄層厚度d2與薄層內(nèi)波長入2符合（b）時，超聲波全透射。A.d2=-C.d2=324 4B.d超聲波傾斜入射到異質(zhì)介面時，可能發(fā)生：（A.反射B.折射在反射、折射定律中，任何一種波的反射波或折

40、射波所對應(yīng)角度的正弦與相應(yīng)的聲速之比是（a）。在同一介質(zhì)中，縱波反射角（a）橫波反射角。A.大于 B.等于C.小于 D.以上都不一定對CLI為第一介質(zhì)縱波聲速，CL2為第二介質(zhì)縱波聲速，根據(jù)反射、折射定律，第一臨界角 aI 產(chǎn)生的條件是（a）。A.ai：=arcSinCL1B.ai=arcCosCL1CL2CL2C.ai=arctanCL1D.ai=arcSinCL2CL2CLI第一臨界角是（c）。A.折射縱波等于 900時的橫波入射角B.折射橫波等于 90時的縱波入射角C.折射縱波等于 90時的縱波入射角D.入射縱波接近 90時的折射角第二臨界角是（b）。A.折射縱波等于 900時橫波入射角

41、B.折射橫波等于 900時的縱波入射角C.折射縱波等于 900時的縱波入射角D.入射縱波接近 900時的折射角LL一縱波入射角。aI、an、am 分別為第一、第二、第二臨界角 aL一縱波入射角。ai、an、amI、an、am分別為第一、第二、第三臨界角，橫波斜入射時,使縱波全反射的條件是（A.SinaLSinsCLCsC.SinaLSinsCLCSB.D.SinaLSinsCLCSSinaLSinsCLCS分別為第第二、第三臨界角，縱波傾斜入射時,使第二介質(zhì)中只存在折射橫波的條件是(c)。A.aL3N 時，在檢測條件相同的情況下，平底孔直徑增加一倍，其回波（)0A.下降 6dBB.下降 12d

42、BC.上升 6dBD.上升 12dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，平底孔距離增加一倍，其回波（)0A.下降 6dBB.下降 12dBC.上升 6dBD.上升 12dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，回波聲壓與平底孔直徑的關(guān)系是（)0A.與直徑成正比B.與直徑的平方根成正比C.與直徑的平方成正比 D.以上都不對當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，面積比為 2 的兩個平底孔，其反射波高相差（A.6dBB.12dBC.9dBD.3dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，比3 平底孔回波小 7dB 的同聲程平底孔直徑是A.1mmB.2mmC.4mmD.當(dāng) X3N 時，在檢測條

43、件相同的情況下，長橫孔距離增加一倍其回波（)0A.下降 6dBB.上升 12dBC.上升 3dBD.下降 9dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，長橫孔直徑增加一倍，其回波（)0A.增大B.不變A.下降 3dBB.上升 3dBC.下降 6dBD.上升 6dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的條件下，孔徑比為 4 的兩個球形人工缺陷，其反射波相差（）。A.6dBB.12dBC.24dBD.18dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，直徑比為 3 的實(shí)心圓柱體，其曲底面回波相差（）。A.B.12dBC.6dBD.24dB當(dāng) X3N 時，在檢測條件相同的情況下，大平底面距離增加一倍，其回波（

44、）。A.下降 3dBB.上升 3dBC.下降 6dBD.上升 6dB外徑為 D,內(nèi)徑為 d 的空心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓檢測。如忽略耦合差異，則底波高度比為（）。A.D dB.DD d,dC.DdD.D,2萬遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為（）的變化規(guī)律A.平面波 B.柱面波 C.球面波 D.脈沖波焊縫超聲波檢測中常用的規(guī)則反射體是（）A.平底孔 B.長橫孔 C.球孔 D.大平底在同樣的檢測條件下， 當(dāng)自然缺陷反射回波與某人工規(guī)則反射體回波等高時， 則該人工規(guī)則反射體的尺寸就是此自然缺陷的（）。A.實(shí)際尺寸 B.檢測尺寸 C.顯示尺寸 D.當(dāng)量尺寸A 型顯示中，顯示屏上縱坐標(biāo)顯示是（）。A.

45、反射波幅度大小 B.缺陷的位置C.被檢材料的厚度 D.超聲波傳播時間A 型顯示中，橫坐標(biāo)顯示是（）。C.反射波傳播時間（或距離）D.缺陷尺寸大小一種超聲波探傷儀可直觀地顯示被檢工件任一縱截面上缺陷的分布及缺陷的深度，這種顯示是（）。A.A 型顯示 B.B 型顯示C.C 型顯示 D.以上都是超聲波探傷儀中的同步電路，其主要作用是（）。A.每秒鐘產(chǎn)生數(shù)十至數(shù)千個脈沖，用來觸發(fā)儀器中其它電路，使之能夠步調(diào)一致，有條不紊地工作B.用來產(chǎn)生鋸齒波電壓，使示波屏上的光點(diǎn)沿水平方向作等速運(yùn)動C.根據(jù)超聲波的傳播時間及幅度來判斷工件中缺陷位置的大小D.以上都對發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通常可達(dá)（）。A.1

46、伏 B.幾伏C.幾十伏 D.幾百伏到上千伏脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做（）。A.掃描電路 B.觸發(fā)電路C.同步電路 D.發(fā)射電路使用儀器的抑制可以抑制草狀雜波，但將破壞儀器的（）。A.水平線性 B.垂直線性 C.分辨力 D.盲區(qū)下列（）是脈沖反射式超聲波探傷儀中接收部分旋鈕。A.深度粗調(diào)旋鈕 B.頻率選擇旋鈕B.延遲旋鈕 D.工作方式選擇旋鈕下列可定量調(diào)節(jié)顯示回波高度，用于調(diào)節(jié)檢測靈敏度，評定缺陷反射波大小的旋鈕是（）。A.重復(fù)頻率旋鈕 B.增益微調(diào)旋鈕C.衰減器旋鈕 D.發(fā)射強(qiáng)度旋鈕以下哪一條，不屬于數(shù)字超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（）。A.控制和接收信號處理和顯示采用數(shù)字化A,

47、反射波幅度大小B.探頭移動距離C.頻帶寬C,可記錄存貯信號D.儀器有計(jì)算和距離波幅曲線自動生成表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（A.機(jī)電耦合系數(shù) KB.C.壓電電壓常數(shù) g33D.根據(jù)波型不同，探頭分為（）。A.接觸式探頭和液浸探頭C.聚焦探頭和非聚焦探頭介電常數(shù) s壓電應(yīng)變常數(shù) d33B.縱波探頭和橫波探頭D.單晶探頭和雙晶探頭探頭（）的性能，決定著探頭的性能。A.晶片C.保護(hù)膜縱波直探頭主要用于檢測（A.對接焊縫C.鍛件和板材B.阻尼塊D.隔聲層B.無縫鋼管D.以上都是超聲波探頭對晶片要求，下列說法哪種是正確的（）。A.機(jī)電耦合系數(shù) K 較大，以便獲得較高的轉(zhuǎn)換效率，壓電電壓常數(shù) g33和壓電

48、應(yīng)變常數(shù) d33較大B.機(jī)械品質(zhì)因子0m 較小，以便獲得較高分辨力和較小的盲區(qū)C.頻率常數(shù) Nt 較大，介電常數(shù)e較小，以便獲得較高的頻率D.以上都是單晶直探頭接觸法檢測中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋ǎ?。A.近場干擾C.盲區(qū)B.衰減D.折射國產(chǎn)斜探頭上標(biāo)出的K 值是針對檢測（制工件而言的。A.鋼A,縱波入射角的正切值，即 K=tan“LB.縱波入射角的正弦值，即 K=sin“LC.銅 D.國產(chǎn)斜探頭上標(biāo)出的 K 值是（非金屬B.C.橫波折射角的正切值,即 K=tan3sD.橫波折射角的正弦值,即 K=sin3s以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（A.檢測范圍大 B.C.

49、工件中近場長度小 D.雙晶直探頭的最主要用途是（）。A.探測近表面缺陷C.精確測定缺陷高度線聚焦探頭聲透鏡的形狀為（）。A.球面C.柱面探頭上標(biāo)的是指探頭的（）。A.重復(fù)頻率 B.C.觸發(fā)脈沖頻率 D.探頭上 X13K2 中“2”的含義是（A.探頭的工作頻率為 2MHzC.探頭的種類為 2以下哪一條， 不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)A.工作頻率C.探測深度下列哪組是焊接接頭標(biāo)準(zhǔn)試塊（A.CSI、CBIC.CSm、CSK-IAD.RBI、CSHCSK-IA 試塊白的 R50R100 圓弧面，可用來測定（）。A.直探頭的的遠(yuǎn)場分辨力 B.斜探頭的 K 值C.斜探頭的入射點(diǎn) D.斜探頭的聲束偏斜角超聲波探

50、傷儀水平線性的好壞直接會影響 （） 。盲區(qū)小雜波小B.精確測定缺陷長度D.用于表面缺陷檢測B.平面D.以上都可以工作頻率以上都不是）B.探頭的 K 值為 2D.以上都不是（）。B.晶片尺寸D.近場長度）B.CSK-mA、CSK-IAA.缺陷性質(zhì)判斷B.缺陷大小判斷C.缺陷的定位儀器的垂直線性好壞會影響（）。A.缺陷的當(dāng)量比較 B.AVGffi 線面板的使用C.缺陷的定位 D.以上都對超聲波檢測中，顯示屏上有用的最小缺陷信號幅度與無用的噪聲雜波幅度比稱為（A 信噪比 B 盲區(qū) C 分辨率 D 靈敏度聲波探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：（）。A.水平線性、垂直線性、衰減器精度B.靈敏度余量、盲區(qū)與始

51、脈沖寬度、分辨率C.動態(tài)范圍、頻帶寬度、檢測深度D.垂直線性、水平線性、重復(fù)頻率超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度（）。A.取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器B.取決于同步脈沖發(fā)生器C.取決于換能器機(jī)械阻尼D.隨分辨力提高而提高下幾種試塊中，能用于估計(jì)盲區(qū)范圍的是（）。A.CSK-IAB.CSK-mAC.CBIID.CS-2A 型掃描顯不中，盲區(qū)是指（）。A.近場區(qū) B.聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域C.從檢測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離 D.以上都不是超聲波探傷儀與探頭組合系統(tǒng)在顯示屏上區(qū)分相鄰兩缺陷的能力稱為（）。A.檢測系統(tǒng) B.時基線性C.垂直線性 D.分辨率D.以上都是增加發(fā)射強(qiáng)度，分辨力將（）。超聲波檢測方

52、法按原理分類，可分為（）。A.脈沖反射法 B.穿透法C.共振法 D.以上都對在脈沖反射法檢測中可根據(jù)（）判斷缺陷的存在A.端角反射波 B.缺陷回波、底波或參考回波的減弱或消失C.接收探頭接收到的能量的減弱 D.界面反射回波主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面平行的片狀缺陷的雙探頭法是（）。C.降低D.相同變化對接焊接接頭焊縫超聲波檢測最常采用的是（A.縱波法 B.C.橫波法 D.E.瑞利波法橫波檢測最常用于（）。A.焊縫、管材檢測 B.C.檢測厚板的分層缺陷 D.超聲檢測的單探頭法難以檢出的缺陷是A.與波束軸線垂直的片狀缺陷C.與波束軸線平行的片狀缺陷）蘭姆波法爬波法檢測表面光滑工件的近表面缺陷薄板測厚（）。

53、B.立體型缺陷D.A 和 BA.交叉式C.K 型串列式超聲檢測時對于定量要求高的情況應(yīng)選則（A.水平線性誤差小 B.C.盲區(qū)小、分辨率好 D.探頭的晶片尺寸增加對探頭的（A.聲束的指向性B.V 型串列式D.串列式）的儀器。垂直線性好、衰減器精度高靈敏度余量高、信噪比高、功率大）有不利影響。B.近場區(qū)長度C.遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力D.以上都是檢測時采用較高的檢測頻率，可有利于（采用頻率（）的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力。A.超聲檢測中，選用晶片尺寸大的探頭優(yōu)點(diǎn)是（）。超聲耦合層的厚度為（），透聲效果好，反射回波高。A.1波長的整數(shù)倍 B.工波長的奇數(shù)倍24C.1波長的奇數(shù)倍 D.

54、1 倍波長的奇數(shù)倍8如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長為入，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）。A.入/4 的奇數(shù)倍 B.入/2 整數(shù)倍C.小于入/4 且很薄 D.以上 B 和 C檢測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用（）。A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑.聲阻抗小且粘度小的耦合劑A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B.區(qū)分開相鄰的缺陷C.改善聲束指向性D.以上都對C.5MHZD.10MHZ被檢工件晶粒粗大，通常會引起（A.草狀回波增多C.底波次數(shù)減少 D）B.信噪比下降.以上的全部或部分現(xiàn)象發(fā)生A.曲面檢測時可減少耦合損失C.輻射聲能大 D.耦合劑的最重要作用是（）。A.便于探頭移動C.使超聲波能傳入工件不是影響聲耦

55、合的主要因素有（A.耦合層的厚度C.工件表面粗糙度和工件表面形狀B.可減少材質(zhì)衰減損失聲束能量B.防止探頭磨損工件表面D.減少摩擦B.耦合劑的聲阻抗D.耦合劑的涂刷A.2dBB.4dBC.用實(shí)驗(yàn)方法測定的補(bǔ)償 dB 值考慮檢測靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵ǎ?。A.被檢工件厚度太大 B.C.耦合劑有較大聲能損耗 D.（）B.使用軟保護(hù)膜探頭D.使用高頻率探頭）D.任意規(guī)定補(bǔ)償?shù)?dB 值工件底面與檢測面不平行工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度有差異）A.對缺陷準(zhǔn)確定位 B.C.判斷結(jié)構(gòu)的反射波和缺陷波 D.模擬式超聲波探傷儀按水平法校準(zhǔn)后，顯示屏上的水平刻度值直接顯示反射體的（）。A.聲程距離 B.水平距離C.深

56、度距離 D.以上都不對有一個厚度為 300mm 的鍛件需做直探頭縱波掃查，現(xiàn)欲利用 CSK-I 試塊厚 100mm 的底面將儀器的掃描速度調(diào)節(jié)為 1:4,使底波 B2、B4 分別對準(zhǔn)熒光屏的水平刻度（）就可以實(shí)現(xiàn)。A.25、100B.50、100C.25、50D.25、75模擬式超聲波探傷儀用的橫波斜探頭用 CSK-I 試塊按深度 1:1 進(jìn)行掃描速度校C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D工件表面形狀不同時，對耦合效果將產(chǎn)生不同影響，下面的說法中（.聲阻抗適中黏度適中的耦合劑）是正確的。A.平面最好，凸曲面居中，凹曲面效果最差B.凹曲面最好，平面居中，凸曲面效果最差C.凸曲面最好，凹曲面居中，平面

57、效某最差D.粗糙表面比平滑表面更容易實(shí)現(xiàn)耦合為減少凹面檢測時的耦合損耗，通常采用以下方法:A.使用高聲阻抗耦合劑C.減少探頭耦合面尺寸由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補(bǔ)償應(yīng)為（對接焊接接頭超聲檢測時應(yīng)正確校準(zhǔn)儀器掃描比例，其目的是（判斷缺陷波幅以上 A 和 C準(zhǔn)，R5。R100 圓弧面的回波應(yīng)分別對準(zhǔn)水平刻度（A.C.、D.在較薄對接焊接接頭超聲檢測中，一般宜使用（）方法校準(zhǔn)橫波掃描速度。A.水平調(diào)節(jié)法 B.深度調(diào)節(jié)法C.聲程調(diào)節(jié)法 D.以上都是A.水平法C.聲程法 D.二次波法用的直探頭檢測厚度 90mm 的餅型鍛件，校準(zhǔn)靈敏度的方法錯誤的是（）。C.距離-波幅-當(dāng)量曲線法 D

58、.AVG 曲線法為觀察缺陷動態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用（）等探頭基本掃查方式A.A.前后、左右 B.B.轉(zhuǎn)角C.C.環(huán)繞 D.D.以上都是利用 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀對缺陷定位時，影響缺陷定位的主要因素有（）。A.儀器和探頭 B.操作人員的影響C.工件的影響 D.耦合劑的影響橫波探頭在檢測過程中，斜楔將會磨損。下列說法錯誤的是（）。A.探頭磨損會使入射點(diǎn)發(fā)生變化B.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭 K 值的增大或減小C.探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化D.探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化超聲檢測中需經(jīng)常校驗(yàn)探頭 K 值的原因是（）。A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)

59、據(jù)B. K 值隨電壓的變化而變化B.在厚焊縫斜探頭檢測時，一般宜使用（）校準(zhǔn)儀器時基線A.試塊調(diào)整法B.底波調(diào)整法C. K 值常因磨損而發(fā)生變化D.以上都對缺陷反射聲壓的大小取決于（）。A.缺陷反射面大小 B.缺陷性質(zhì)C.缺陷取向 D.以上全部使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果（）。A.小于實(shí)際尺寸 B.接近聲束寬度C.稍大于實(shí)際尺寸 D.等于晶片尺寸對接焊接接頭斜探頭檢測時，與主聲束垂直的缺陷，缺陷表面狀態(tài)對回波高度的影響是（）。A.缺陷回波波高隨粗糙度增大而下降 B.無影響C.缺陷回波波高隨粗糙度增大而增大 D.以上都對超聲檢測時，缺陷的特征是指缺陷的（）。A.形狀 B

60、.大小C.密集程度 D.以上都對下面有關(guān) 61。反射波說法，（）是錯誤的A.產(chǎn)生 61反射時，縱波入射角與橫波反射角之和為 90B.產(chǎn)生 61反射時，縱波入射角為 61,橫波反射角為 29C.產(chǎn)生 61反射時，橫波入射角為 29,縱波反射角為 61D.產(chǎn)生 61反射時，其聲程是恒定直徑為 d 的鋼棒徑向檢測時，遲到波出現(xiàn)的位置是（）。A.和 B,和C.和 D.以上都不是單斜探頭檢測時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能是（）。A.來自工件表面的雜波 B.來自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合劑噪聲縱波直探頭在檢測工件時，有時會產(chǎn)生側(cè)壁干涉。側(cè)壁干涉對檢測結(jié)