電池片的等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)

1、電池片的檢驗(yàn)一、 檢驗(yàn)的條件1 不低于800LX的照射下，距離電池片30-50cm的距離，目視方向垂直于電池片表面觀察。二、 檢驗(yàn)的方法 1、 拿取電池片時(shí)要輕拿輕放 ，125的電池片保持在1-2的檢測(cè)速度，150及156的電池片要一片一片的進(jìn)行檢查。三、 檢測(cè)項(xiàng)目1 顏色色差2 絨面色斑3 亮斑4 裂紋、裂痕及穿孔5 彎曲的6 崩邊、缺口、掉角7 印制偏移8 TTV9 鋁珠、鋁苞10 印刷圖形11 漏漿12 外形尺寸注：08年3月底質(zhì)量部更新了新的檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)四、 顏色色差A(yù)級(jí)1、 多晶硅片：?jiǎn)误w電池的顏色均勻一致，顏色的范圍從藍(lán)色開(kāi)始，經(jīng)深藍(lán)色、紅色、黃褐色、到褐色之間允許相近色的色差（

2、藍(lán)色和深藍(lán)色存在單體電池上，但不允許跳色），主體顏色為深藍(lán)色，單體電池最多只允許兩種顏色。2、 單晶電池片：同一片電池片顏色均勻一致，顏色范圍中沒(méi)有褐色，其他同多晶A級(jí)的判別。新的標(biāo)準(zhǔn)：?jiǎn)纹暇鶆蛞恢碌牟煌伾碾姵仄?，按照淡藍(lán)、藍(lán)色、紅色三種進(jìn)行分類。B級(jí)1、 多晶硅片：?jiǎn)误w電池顏色不均勻，允許存在跳色色差，最多跳一個(gè)相近色（例如：紅色和褐色存在于單體電池上），主體顏色為藍(lán)色-紅色范圍，單體電池最多只允許存在三種顏色。2、 單晶電池片：與多晶電池片相比，只少了主體顏色，其他同多晶B級(jí)的判別。新的標(biāo)準(zhǔn)：與舊標(biāo)準(zhǔn)相同C級(jí)1 多晶硅片：同一片電池允許顏色不均勻（藍(lán)色-深藍(lán)色-紅色-黃褐色-褐色）允

3、許存在跳色色差，同以電池片上可以有2個(gè)相近色。2 單晶電池片：與多晶電池片相比，顏色范圍中少了褐色，其余同多晶C級(jí)的判別。新的標(biāo)準(zhǔn)：與舊標(biāo)準(zhǔn)相同注：當(dāng)單片上為均勻一致得到不同顏色，判為A級(jí)，但需按照淡藍(lán)、藍(lán)色、紅色三種進(jìn)行單測(cè)單包。五、 絨面色斑（水痕印、未制絨、未鍍膜、手指印、斑點(diǎn)等）A級(jí)變更前：允許有輕微缺陷，缺陷部分的總面積不超過(guò)電池片總面積的10%，個(gè)數(shù)不超過(guò)3個(gè)。A級(jí)暫定變更后：把絨面色斑分成兩種類型：發(fā)白色斑和淡藍(lán)色斑（1） 發(fā)白色斑 由于存在藍(lán)色到白色的跳色，故A級(jí)片絨面色斑中決不允許有發(fā)白色斑，缺陷總面積占電池片總面積的030%，個(gè)數(shù)不超過(guò)5個(gè)，符合此標(biāo)準(zhǔn)的均判為B級(jí)。（2）

4、淡藍(lán)色斑 淡藍(lán)色斑的B級(jí)判定標(biāo)準(zhǔn)不變新的標(biāo)準(zhǔn)：色斑部分的顏色和該電池片上其他地區(qū)的顏色不允許跳色，應(yīng)為相近色，即藍(lán)色和深藍(lán)色（或藍(lán)色和淡藍(lán)色）存在于單體電池上，數(shù)量和面積均不限。B級(jí)允許有不明顯缺陷，缺陷總面積不超過(guò)電池片總面積的30%，個(gè)數(shù)不超過(guò)5個(gè)。新的標(biāo)準(zhǔn)：允許有輕度色斑、亮點(diǎn)、允許跳一個(gè)相近色，單體電池上只允許存在3種顏色（例如藍(lán)色白色，藍(lán)色紅色），色斑部分的總面積不超過(guò)電池片總面積的10%，個(gè)數(shù)不超過(guò)5個(gè)。C級(jí)缺陷總面積不超過(guò)電池片總面積的30%，或者個(gè)數(shù)不超過(guò)5個(gè)。注完全沒(méi)有鍍膜的片子夜稱C級(jí)降級(jí)片。新的標(biāo)準(zhǔn)：色斑部分的總面積超過(guò)電池片總面積的10%，或者數(shù)量5個(gè)。六、 亮斑A級(jí)和

5、B級(jí)無(wú)論形狀和數(shù)量多少均不允許有亮斑C級(jí)允許有亮斑（數(shù)量與面積不限）缺陷/報(bào)廢片無(wú)新的標(biāo)準(zhǔn)與舊的相同七、 裂紋、裂痕及針孔A級(jí)和B級(jí)和C級(jí)無(wú)裂紋，也無(wú)裂痕，無(wú)針孔缺陷片：有一個(gè)或一個(gè)以上裂紋、裂痕，允許有穿孔報(bào)廢片：無(wú)新的標(biāo)準(zhǔn)與舊的相同八、 彎曲度（舊的標(biāo)準(zhǔn)）厚度A級(jí)B級(jí)C級(jí) 缺陷/報(bào)廢片300umSTF1031.0mm1.0mm< STF1031.5mm1.5mm <STF1032.0mm< STF1253.5mm< STF1503.5mm< STF156無(wú)STF1251.25mm1.25mm< STF1252.0mmSTF1501.5mm1.5mm<

6、; STF1503.5mmSTF1561.5mm1.5mm< STF1563.5mm270厚度<300umSTF1031.0mm1.0mm< STF1031.5mmSTF1251.5mm1.5mm< STF1252.0mmSTF1502.0mm2.0mm< STF1503.5mmSTF1562.0mm2.0mm< STF1563.5mm240厚度<270umSTF1031.5mm1.5mm< STF1032.0mm2.0mm <STF1032.5mm< STF1254.0mm< STF1504.0mm< STF156STF

7、1251.75mm1.75mm< STF1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF1564.0mm<240umSTF1031.5mm1.5mm< STF1032.0mmSTF1251.75mm2.0mm< STF1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF1564.0mm彎曲度（新的標(biāo)準(zhǔn)）厚度檢驗(yàn)要求及等級(jí)判定A級(jí)合格片B級(jí)合格片C級(jí)降級(jí)片缺陷/報(bào)廢片240厚度STF1031.5mm1.5mm<

8、STF1032.0mm1032.0mm無(wú)STF1251.75mm1.75mm< STF1252.5mm1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mm1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF1564.0mm1564.0mm厚度<240umSTF1031.5mm1.5mm< STF1032.0mm1032.0mmSTF1252.0mm2.0mm< STF1252.5mm1252.5mmSTF1502.5mm2.5mm< STF1504.0mm1504.0mmSTF1562.5mm2.5mm< STF156

9、4.0mm1564.0mm九、 崩邊、缺口、掉角電池邊緣崩邊喝缺口A級(jí)：其長(zhǎng)度3mm，深度0.5mm，數(shù)量2處B級(jí)：其長(zhǎng)度5mm，深度1.0mm，數(shù)量3處四角缺口A級(jí)：尺寸1.5*1.5mm，數(shù)量1處B級(jí)：尺寸2.0*2.0mm，數(shù)量1處注：?jiǎn)尉級(jí)和B級(jí)均不允許有三角形缺口和尖銳行缺口，以上缺口都不可以過(guò)電極(主柵線，副柵線)超過(guò)B級(jí)范圍單晶電池片超過(guò)了B級(jí)范圍，就直接作為缺陷片。多晶電池片超過(guò)了B級(jí)范圍，如符合C級(jí)需切角片的要求，可作C 級(jí)需切角片多經(jīng)允許邊角有缺口（包括三角形缺口和尖銳行缺口），對(duì)邊角缺口聽(tīng)要求如下125任一邊角缺損18*18mm 150任一邊角缺損8*8mm156任一邊

10、角缺損14*14mm注：多晶電池片超出了C級(jí)片的要求，作為缺陷片。完全破碎，無(wú)利用價(jià)值的作為報(bào)廢片新的標(biāo)準(zhǔn)與舊的相同十、 印刷偏移A級(jí)位移偏差0.75mm 角度偏差0.5°新的標(biāo)準(zhǔn)：位移偏差0.5mm 角度偏差0.3°B級(jí)：位移偏差1.0mm 角度偏差0.5°新的標(biāo)準(zhǔn)：0.5mm位移偏差0.5mm 角度偏差0.3°C級(jí)位移偏差1.0mm 角度偏差0.5新的標(biāo)準(zhǔn)：0.5mm位移偏差1.0mm 角度偏差0.3°缺陷片：電極圖形超出C級(jí)降級(jí)片的范圍（即A級(jí)、B級(jí)、C級(jí)均不允許電極圖形超出太陽(yáng)電池邊緣，C級(jí)背電場(chǎng)除外）報(bào)廢片：無(wú)十一、 TTV（即單片電

11、池片最厚與最薄的誤差）A級(jí)：TTV的變化電池片標(biāo)準(zhǔn)厚度的15%B級(jí)TTV的變化電池片標(biāo)準(zhǔn)厚度的25%C級(jí)TTV的變化電池片標(biāo)準(zhǔn)厚度的25%缺陷/報(bào)廢片：無(wú)注：電池片標(biāo)稱厚度以硅片的標(biāo)稱厚度值為準(zhǔn)（5點(diǎn)測(cè)量法）新的標(biāo)準(zhǔn)與舊的相同十二、 鋁珠、鋁苞（不論其位置，一律按40um不做鋁苞片）A級(jí) ：鋁苞不論其位置，鋁苞高度在40um-0.15mm范圍內(nèi)，數(shù)量不限。新的標(biāo)準(zhǔn)：鋁苞高度為75um，數(shù)量不限。B級(jí)：鋁苞不論其位置，鋁苞高度在0.15mm-0.25mm范圍內(nèi)，數(shù)量不限。新的標(biāo)準(zhǔn): 鋁苞不論其位置，鋁苞高度在75-0.150mm范圍內(nèi)，數(shù)量不限。C級(jí)：無(wú)缺陷片：超過(guò)B級(jí)鋁苞范圍電池片的要求報(bào)廢片

12、：無(wú)注：以上鋁苞狀況均為非尖銳形，如為尖銳形則應(yīng)交由制造人員進(jìn)行返工（鋁珠同尖銳形鋁苞的處理），返工后的鋁苞片需依據(jù)以上規(guī)則重新判定。十三、 印制圖形主柵線：A級(jí)：主柵線允許有輕微斷線、缺失、扭曲、突出，斷線和缺失面積不超過(guò)主柵線面積的5%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的0.2mm ，不允許有變色現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃）新的標(biāo)準(zhǔn)：主柵粗細(xì)均勻，不允許有斷線，缺失、扭曲以及突出。B級(jí)：斷線和缺失面積不超過(guò)主柵線面積的10%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的0.2mm ，不允許有變色現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃）新的標(biāo)準(zhǔn)：主柵粗細(xì)均勻，允許有斷線，缺失面積不超過(guò)主柵線面積的5%，扭曲突出不超過(guò)正常位置的0.2mm ，不允許有變色

13、現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃）C級(jí)：斷線和缺失面積不超過(guò)主柵線面積的20%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的0.2mm ，不允許有變色現(xiàn)象新的標(biāo)準(zhǔn)：主柵線：斷線，缺失面積不超過(guò)主柵線面積的20%，扭曲、突出不超過(guò)正常位置的0.5mm ，副柵線：A級(jí)：副柵線允許粗細(xì)不均勻，存在寬度大于0.13mm，小于18mm的副柵線，段柵線6條，斷線距離2mm，允許有輕微虛印、缺印，面積小于電極總面積的5%.新的標(biāo)準(zhǔn)：副柵線清晰，允許有兩條柵線存在斷線，斷開(kāi)數(shù)量3條，斷開(kāi)距離0.5mm；不允許有任何虛印、粗點(diǎn)；不允許有變色現(xiàn)象。B級(jí)：允許粗細(xì)不均勻，存在寬度0.25mm的副柵線，段柵線10條，斷線距離2mm，允許有輕微虛印、缺印

14、，面積小于電極總面積的10%.新的標(biāo)準(zhǔn)：允許有兩條主柵線間存在斷線，其0.5mm斷開(kāi)距離1mm 的副柵線，3條斷開(kāi)數(shù)量6條，允許有輕微虛印、缺印，面積小于副柵線總面積的5%.，不允許有變色現(xiàn)象。C級(jí)：允許粗細(xì)不均勻，存在寬度0.3mm的副柵線，段柵線10條，斷線距離2mm，允許有輕微虛印、缺印，面積小于電極總面積的30%新的標(biāo)準(zhǔn)：副柵線1mm斷開(kāi)距離2mm，斷線數(shù)量不限，輕微虛印面積小于電極總面積的30%。背電極：A級(jí)：背電極允許有輕微斷線、缺失、扭曲、突出，斷線和缺失面積不超過(guò)背電極面積的5%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的0.5mm，變色面積不超過(guò)背電極總面積的5%。新的標(biāo)準(zhǔn)：背電極圖形清晰，粗

15、細(xì)均勻，不允許有斷線，缺失、扭曲以及突出；不允許有變色現(xiàn)象。B級(jí)：背電極斷線和缺失面積不超過(guò)背電極面積的10%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的1.0mm, 變色面積不超過(guò)背電極總面積的10%。新的標(biāo)準(zhǔn)：背電極斷線、缺失面積不超過(guò)背電極面積的5%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的0.5mm, 變色面積不超過(guò)背電極總面積的5%。C級(jí)：背電極斷線和缺失面積不超過(guò)背電極面積的30%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的1.0mm, 變色面積不超過(guò)背電極總面積的20%。新的標(biāo)準(zhǔn)：背電極斷線、缺失面積不超過(guò)背電極面積的30%，扭曲突出部超過(guò)正常位置的1.0mm, 變色面積不超過(guò)背電極總面積的20%。背電場(chǎng)：A級(jí)：背電場(chǎng)完整，厚薄均

16、勻，允許有缺失，缺失面積不超過(guò)背電場(chǎng)總面積的5%，變色面積不超過(guò)背電場(chǎng)面積的15%。新的標(biāo)準(zhǔn)：背電場(chǎng)完整，厚薄均勻，不允許有缺失B級(jí)：允許有缺失，缺失面積不超過(guò)背電場(chǎng)總面積的10%，變色面積不超過(guò)背電場(chǎng)面積的30%。新的標(biāo)準(zhǔn)：允許有缺失，缺失面積不超過(guò)背電場(chǎng)總面積的5%，變色面積不超過(guò)背電場(chǎng)面積的15%。C級(jí)：允許有缺失，缺失面積不超過(guò)背電場(chǎng)總面積的10%，變色面積不超過(guò)背電場(chǎng)面積的50%。新的標(biāo)準(zhǔn)：缺失面積不超過(guò)背電場(chǎng)總面積的5%，變色面積不超過(guò)背電場(chǎng)面積的50%。粗點(diǎn)：A級(jí)：粗點(diǎn)寬度0.18mm，個(gè)數(shù)小于2個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)：不允許有粗點(diǎn)B級(jí)：粗點(diǎn)寬度0.25mm，個(gè)數(shù)小于5個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)：允許有粗點(diǎn)

17、，粗點(diǎn)寬度0.18mm，個(gè)數(shù)小于2個(gè)C 級(jí)：粗點(diǎn)寬度0.3mm，個(gè)數(shù)小于8個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)：當(dāng)主柵線或副柵線有明顯粗細(xì)不均時(shí)，應(yīng)用刻度顯微鏡進(jìn)行查檢。STF印制：A級(jí)：標(biāo)識(shí)要有虛印、粗印現(xiàn)象（字母線寬度應(yīng)小于0.22mm ）但仍可辨識(shí)時(shí)作為A級(jí)。若標(biāo)識(shí)存在缺印但仍可辨識(shí)時(shí)，按字母高度的1/3判定，缺失長(zhǎng)度小于字母高度1/3。B級(jí)：標(biāo)識(shí)要有虛印、粗印現(xiàn)象，字母線寬度應(yīng)小于0.22mm ，但仍可辨識(shí)時(shí)，如實(shí)心“P”，若標(biāo)識(shí)存在缺印但仍可辨識(shí)時(shí)，按字母高度的1/3判定，缺失長(zhǎng)度小于字母高度1/3。C級(jí)：若字母變形或無(wú)法辨識(shí)時(shí)直接降為C級(jí)。新的標(biāo)準(zhǔn)與舊的相同缺陷片：1 主柵線或副柵線或背電極或背電場(chǎng)超出c級(jí)

18、降級(jí)片的要求時(shí)，但仍有利用價(jià)值的片子。2 由于存儲(chǔ)不當(dāng)造成成電極氧化時(shí)，直接以報(bào)廢片處理3 僅印刷烘干而沒(méi)有經(jīng)過(guò)燒結(jié)的電池片，如果還有利用價(jià)值，則租鋪位缺陷片處理4 完全未印制背電場(chǎng)的電池片作缺陷片處理。5 疊片仍有利用價(jià)值的作為缺陷片，如果全疊片則作為報(bào)廢片處理。報(bào)廢片：超出缺陷片的要求常出現(xiàn)的印制圖形異常的原因說(shuō)明1、 電極脫落（疊片）：硅片與漿料沒(méi)形成足夠的合金層也就是說(shuō)沒(méi)有形成好的接觸。2、 斷線：有東西粘在網(wǎng)板上，造成堵網(wǎng)。解決方法：擦拭網(wǎng)板，擦拭堵網(wǎng)區(qū)域。3、 漏漿：網(wǎng)板有漏洞解決方法：較小且不在細(xì)柵線上用封網(wǎng)漿將小孔封住即可。較大時(shí)必須要更換網(wǎng)板。另注意漏漿千萬(wàn)不能漏在正面電極，

19、這樣會(huì)使RSH（并聯(lián)電阻）過(guò)低。4、粗點(diǎn)？網(wǎng)板受損，刮條不平整解決方法：換網(wǎng)板，換刮條。5、虛?。河袝r(shí)會(huì)由于原材料原因?qū)е氯纾簱?jù)痕、厚薄不均。再者跟刮條和網(wǎng)板也有關(guān)系。解決方法：換網(wǎng)板或換刮條。十四、 漏漿A級(jí)：漏漿單個(gè)面積小于0.5*0.5mm，數(shù)量小于3個(gè)B級(jí)：漏漿單個(gè)面積小于1。0*1.0mm 數(shù)量不限C級(jí)：漏漿單個(gè)面積小于1。0*2。0mm 數(shù)量不限缺陷/報(bào)廢片：超出C級(jí)片的要求為缺陷片，超出缺陷片要求的為報(bào)廢片。注：（1）在正常印刷圖形上時(shí)，按照“印刷圖形”規(guī)定判斷，不在印刷圖形上時(shí)按照如上規(guī)定判別。（2）漏漿在背電場(chǎng)或背電極時(shí)，根據(jù)鋁苞規(guī)定判斷（3）漏漿在側(cè)面時(shí)，如果影像電池片電性

20、能和外觀時(shí)，則返工后重新分類檢測(cè)，然后重新判定，如果不影響電池片電性能和外觀時(shí)則正常流出（4）硅晶脫落按漏漿面積判定新的標(biāo)準(zhǔn)：與舊的標(biāo)準(zhǔn)相同側(cè)面漏漿片做打磨片處理打磨片處理方式非鋁苞片：一律外銷（不+Rsh6）零頭和滿包全入外銷庫(kù)位備注：DM 采用黃標(biāo)簽鋁苞片：暫不作自用片 待研發(fā)作組件試驗(yàn)（+Rsh6）零頭入鋁苞零頭庫(kù)位 滿包入鋁苞滿包庫(kù)位備注： DM+LB 采用白標(biāo)簽十五、 外形尺寸A級(jí)和B級(jí)：SIF125S：邊長(zhǎng)：125x125mm ；直徑150；或者148mm；或者165mmSIF125M：邊長(zhǎng)125*125mm SIF150N： 邊長(zhǎng)150*150mm；直徑：203mm ；或者200

21、mm；SIF150M：邊長(zhǎng)：150*150mm SIF156N：邊長(zhǎng)156*156mm；直徑203mm；或者200mmSIF156M：邊長(zhǎng)156*156mm以上電池片邊長(zhǎng)（長(zhǎng)，寬）精度：±0.5mmC級(jí)：尺寸精度：±1.0mm 缺陷/報(bào)廢片超出C級(jí)片的要求注：1、異常檢驗(yàn)的數(shù)據(jù)不記錄在檢驗(yàn)記錄中，但應(yīng)及時(shí)反饋此信息2、直徑，對(duì)角線精度為±0.5mm，檢驗(yàn)時(shí)將不同標(biāo)稱直徑的電池片分類標(biāo)識(shí)，單測(cè)單包，數(shù)據(jù)不在檢驗(yàn)記錄中。新的標(biāo)準(zhǔn)：與舊的標(biāo)準(zhǔn)相同發(fā)現(xiàn)異常情況應(yīng)該怎么做？首先該做什么？其次再做什么？何為異常？只要是連續(xù)出現(xiàn)或者間斷出現(xiàn)次數(shù)較多的異于正常情況都屬于異常（偏好或偏差）當(dāng)我們發(fā)祥這些情況應(yīng)該怎么辦？3、 首先要先判斷是屬于哪個(gè)制程？然后通知相關(guān)制程4、 在確信自己可以找到相關(guān)制程溝通提出改善現(xiàn)狀，并且能夠跟蹤改善結(jié)果，可以自己處理好那時(shí)非常好，如果做不到或通知后不起效果找領(lǐng)班去處理。5、 我們大家都要養(yǎng)成一個(gè)好的習(xí)慣，那就是善