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1、集成電路導(dǎo)論v 西安工業(yè)大學(xué)電子信息工程學(xué)院 趙趙 黎黎Contents1. 緒論2. 半導(dǎo)體基本特性與晶體管工作原理3. 集成電路中的器件構(gòu)成5. 基本的門電路6. 存儲(chǔ)器類集成電路4. 集成電路芯片制造技術(shù)7. 微處理器9. 設(shè)計(jì)流程和設(shè)計(jì)工具10. 集成電路的測(cè)試和封裝8. 專用集成電路和可編程集成電路本章內(nèi)容本章內(nèi)容v雙極型數(shù)字集成電路雙極型數(shù)字集成電路vNMOS門電路門電路 vCMOS門電路門電路v雙極型電路與雙極型電路與MOS電路的比較電路的比較數(shù)字信號(hào)的特性數(shù)字信號(hào)的特性v 數(shù)字電路所要處理的信號(hào)是數(shù)字電路所要處理的信號(hào)是邏輯變量邏輯變量,只有,只有0 0和和1 1兩種狀態(tài)。兩種
2、狀態(tài)。上升時(shí)間:上升時(shí)間:電平從穩(wěn)定狀態(tài)高電平的電平從穩(wěn)定狀態(tài)高電平的10%10%轉(zhuǎn)變到高電平轉(zhuǎn)變到高電平90%90%時(shí)所需的時(shí)間;時(shí)所需的時(shí)間;下降時(shí)間:下降時(shí)間:電平從穩(wěn)定狀態(tài)高電平的電平從穩(wěn)定狀態(tài)高電平的90%90%轉(zhuǎn)變到高電平轉(zhuǎn)變到高電平10%10%時(shí)所需的時(shí)間;時(shí)所需的時(shí)間;傳輸延遲:傳輸延遲:輸入電平和輸出電平各達(dá)到總電平的輸入電平和輸出電平各達(dá)到總電平的50%50%時(shí)兩者之間的時(shí)間差時(shí)兩者之間的時(shí)間差扇出門扇出門扇出門數(shù)扇出門數(shù)F F:一個(gè)門電路的輸出連接下一級(jí)門電路的輸入端的數(shù)目;一個(gè)門電路的輸出連接下一級(jí)門電路的輸入端的數(shù)目;扇出門數(shù)越大,門電路的負(fù)載就越大,會(huì)造成響應(yīng)時(shí)間加
3、長扇出門數(shù)越大,門電路的負(fù)載就越大,會(huì)造成響應(yīng)時(shí)間加長時(shí)鐘頻率時(shí)鐘頻率 頻率較低頻率較低 接近最大接近最大 時(shí)鐘頻率時(shí)鐘頻率 超過最大超過最大 時(shí)鐘頻率時(shí)鐘頻率電路的主要性能電路的主要性能速度速度v 速度:電路能夠可靠工作時(shí)的最大頻率速度:電路能夠可靠工作時(shí)的最大頻率功耗功耗 靜態(tài)功耗靜態(tài)功耗: 動(dòng)態(tài)功耗動(dòng)態(tài)功耗:取決于電路處于穩(wěn)定的邏輯狀態(tài)時(shí)的電流取決于電路處于穩(wěn)定的邏輯狀態(tài)時(shí)的電流取決于電路在邏輯狀態(tài)發(fā)生變化的過程中額外的電流取決于電路在邏輯狀態(tài)發(fā)生變化的過程中額外的電流HLLHttf8 . 01max芯片面積芯片面積微芯片硅圓片5.1 雙極型數(shù)字集成電路雙極型數(shù)字集成電路雙極型晶體管的開
4、關(guān)特性雙極型晶體管的開關(guān)特性 截止截止: 飽和飽和:V VININ=-V=-VB B 集電結(jié)和發(fā)射結(jié)均反偏集電結(jié)和發(fā)射結(jié)均反偏 i iB B0,i0,iC C0,V0,VCECE=V=VCCCCV VININ=V=VB B 調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)R Rb b,使,使 i iC C已接近于最大值已接近于最大值V VCCCC/R/RC C,已飽和,已飽和 CCCBRVi/3 . 02 . 0CESCCSCCCEVRIVVv 判斷判斷BJTBJT是否工作在飽和狀態(tài)的標(biāo)志:集電結(jié)和發(fā)射結(jié)均正偏是否工作在飽和狀態(tài)的標(biāo)志:集電結(jié)和發(fā)射結(jié)均正偏 飽和型飽和型: 非飽和型非飽和型:晶體管晶體管- -晶體管邏輯晶體管邏輯(T
5、TL)(TTL)發(fā)射極耦合邏輯發(fā)射極耦合邏輯(ECL)(ECL)TTL邏輯門電路邏輯門電路v TTLTTL邏輯門電路由若干邏輯門電路由若干BJTBJT和電阻組成和電阻組成TTLTTL與非門與非門B=1,A=1B=1,A=1T T1 1反向有源區(qū)反向有源區(qū)T T2 2飽和模式飽和模式B=1,A=0B=1,A=0T T1 1深度飽和模式深度飽和模式T T2 2截止模式截止模式TTLTTL或非門或非門輸入輸入=0=0,T T截止;輸入截止;輸入=1=1,T T飽和飽和v 對(duì)于對(duì)于NPNNPN型硅管來說,為使其工作于截止?fàn)顟B(tài),發(fā)射結(jié)并不一型硅管來說,為使其工作于截止?fàn)顟B(tài),發(fā)射結(jié)并不一定要求為反向偏置,
6、當(dāng)定要求為反向偏置,當(dāng)V VBEBE0.5V0.5V,即已進(jìn)入截止區(qū),即已進(jìn)入截止區(qū)TTLTTL與或非門與或非門STTLSTTL與非門與非門A=B=1,TA=B=1,T1 1反放大模式;反放大模式;T T2 2放大模式;放大模式;T T5 5飽和飽和 只有在集電結(jié)正偏的情只有在集電結(jié)正偏的情 況況下,使用肖特基晶體管才下,使用肖特基晶體管才能起到箝位的作用能起到箝位的作用發(fā)射極耦合邏輯門發(fā)射極耦合邏輯門(ECL)雙極型差分放大電路雙極型差分放大電路 線性區(qū)線性區(qū): 限幅區(qū)限幅區(qū):即通常小信號(hào)輸入時(shí)的線性放大范圍即通常小信號(hào)輸入時(shí)的線性放大范圍 過渡區(qū):過渡區(qū):qKTV-VBAqq4KTV-VK
7、TBAq4KTV-VBAECLECL或非門或非門 優(yōu)點(diǎn)優(yōu)點(diǎn): 缺點(diǎn)缺點(diǎn):開關(guān)速度快開關(guān)速度快功耗大,制造工藝要求高,抗干擾能力弱功耗大,制造工藝要求高,抗干擾能力弱5.2 NMOS門電路門電路NMOS門電路門電路NMOSNMOS反相器反相器耗盡型耗盡型V VGSGS=0=0時(shí)管子已經(jīng)導(dǎo)通時(shí)管子已經(jīng)導(dǎo)通增強(qiáng)型增強(qiáng)型N N溝增強(qiáng)型:在柵極上溝增強(qiáng)型:在柵極上必須加以正偏壓才必須加以正偏壓才能形成能形成N N型溝道;型溝道;P P溝增強(qiáng)型:在柵極上溝增強(qiáng)型:在柵極上必須施加負(fù)偏壓才必須施加負(fù)偏壓才能形成能形成P P型溝道;型溝道; 當(dāng)當(dāng)V VININ=0,=0,驅(qū)動(dòng)管截止,驅(qū)動(dòng)管截止,V VOUTO
8、UT= =邏輯邏輯1 1; 當(dāng)當(dāng)V VININ=1,=1,驅(qū)動(dòng)管導(dǎo)通,負(fù)載管導(dǎo)通,驅(qū)動(dòng)管導(dǎo)通,負(fù)載管導(dǎo)通,V VOUTOUT=V=VLOUTLOUT= =邏邏輯輯0 0;22satDS,22ITDDTDGSDVVV2LOUTLOUTNDDnDS2V2V-ITDDTVVV27. 4DnLWCOX27. 4NDDNDnLLWW56. 3DNWW2 . 1Dn耗盡管的飽和電流耗盡管的飽和電流驅(qū)動(dòng)管的電流驅(qū)動(dòng)管的電流= =耗盡管的飽和電流耗盡管的飽和電流VVVVVVVVLOUTTDTNDD5 . 0,4,1,5令 為了保證為了保證V VLOUTLOUT的值,需按比例設(shè)置耗盡管和的值,需按比例設(shè)置耗盡管
9、和增強(qiáng)管的溝道寬度。增強(qiáng)管的溝道寬度。NMOSNMOS與非門與非門v 基本思想:在基本思想:在NMOSNMOS反相器中串聯(lián)增加驅(qū)動(dòng)管反相器中串聯(lián)增加驅(qū)動(dòng)管2121effeffeffILWCOXn 輸入數(shù)量增加,與輸入數(shù)量增加,與非門的面積增加非門的面積增加 在相同工藝和溝道在相同工藝和溝道長度條件下,為了長度條件下,為了保證電流大小,只保證電流大小,只有增加有增加W W值值 當(dāng)當(dāng)A=B=1,A=B=1,驅(qū)動(dòng)管導(dǎo)通,驅(qū)動(dòng)管導(dǎo)通,V VOUTOUT= =邏輯邏輯0 0; 當(dāng)當(dāng)A A或或B B或或A A,B=0,B=0,驅(qū)動(dòng)管至少有一個(gè)截止,驅(qū)動(dòng)管至少有一個(gè)截止,V VOUTOUT= =邏輯邏輯1
10、1;NMOSNMOS或非門或非門v 基本思想:在基本思想:在NMOSNMOS反相器中并聯(lián)增加驅(qū)動(dòng)管反相器中并聯(lián)增加驅(qū)動(dòng)管21effeffeffILWCOXn 輸入數(shù)量增加,或輸入數(shù)量增加,或非門的面積可維持非門的面積可維持原值甚至可縮小原值甚至可縮小 在相同工藝和溝道在相同工藝和溝道長度條件下,流經(jīng)長度條件下,流經(jīng)或非門的電流增大或非門的電流增大 當(dāng)當(dāng)A=B=0,A=B=0,驅(qū)動(dòng)管截止,驅(qū)動(dòng)管截止,V VOUTOUT= =邏輯邏輯1 1; 當(dāng)當(dāng)A A或或B B或或A A,B=1,B=1,驅(qū)動(dòng)管至少有一個(gè)導(dǎo)通,驅(qū)動(dòng)管至少有一個(gè)導(dǎo)通,V VOUTOUT= =邏輯邏輯0 0;NMOSNMOS通導(dǎo)管通
11、導(dǎo)管v 基本思想:在基本思想:在N N溝晶體管的一端接溝晶體管的一端接V VININ( (等于等于V VDDDD) ),另一端接負(fù)載電容,另一端接負(fù)載電容C CL L,這時(shí)這時(shí)MOSMOS管就用作通導(dǎo),稱為通導(dǎo)管。管就用作通導(dǎo),稱為通導(dǎo)管。NMOSNMOS觸發(fā)器觸發(fā)器v 基本思想:將兩個(gè)反相器的輸入和輸出進(jìn)行交叉耦合基本思想:將兩個(gè)反相器的輸入和輸出進(jìn)行交叉耦合 A A點(diǎn)點(diǎn) 電路處于電路處于0 0狀態(tài)狀態(tài) B B點(diǎn)點(diǎn) 電路處于電路處于1 1狀態(tài)狀態(tài) C C點(diǎn)點(diǎn) 亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn)亞穩(wěn)態(tài)點(diǎn) 電路值有兩個(gè)穩(wěn)定狀態(tài),如電路值有兩個(gè)穩(wěn)定狀態(tài),如果沒有外界作用,則電路果沒有外界作用,則電路原有邏輯狀態(tài)不會(huì)改變?cè)?/p>
12、邏輯狀態(tài)不會(huì)改變v 為了改變雙穩(wěn)態(tài)電路的邏輯狀態(tài),需要增加置位端為了改變雙穩(wěn)態(tài)電路的邏輯狀態(tài),需要增加置位端S S和復(fù)位端和復(fù)位端R R0SRQRSQ 當(dāng)當(dāng)S=1S=1,R=0,R=0,得得Q=1Q=1,推出,推出 =0=0Q5.3 CMOS門電路門電路CMOS門電路門電路CMOSCMOS反相器反相器pnTTPTNVVV,如果pPpOXpnNnOXnLWCLWCpPpnNnLWLW5 . 2pnNPWWpn如果 為了使反相器在電學(xué)上對(duì)稱,為了使反相器在電學(xué)上對(duì)稱,P P溝溝MOSMOS管的溝寬應(yīng)是管的溝寬應(yīng)是N N溝溝MOSMOS管的溝寬的管的溝寬的2.52.5倍,即倍,即P P溝溝MOSMO
13、S管必須相應(yīng)的加寬,以補(bǔ)償較低的空穴遷移率來獲得管必須相應(yīng)的加寬,以補(bǔ)償較低的空穴遷移率來獲得與與N N溝溝MOSMOS管相同的導(dǎo)電特性。管相同的導(dǎo)電特性。 當(dāng)當(dāng)V VININ=0=0時(shí)時(shí),N,N溝截止,溝截止,P P溝導(dǎo)通,溝導(dǎo)通,V VOUTOUT=V=VDDDD; 當(dāng)當(dāng)V VININ=V=VDDDD時(shí),時(shí),N N溝導(dǎo)通,溝導(dǎo)通,P P溝截止,溝截止,V VOUTOUT=0=0;CMOSCMOS與非門與非門v 基本思想:由串聯(lián)的基本思想:由串聯(lián)的N N溝下拉管和并聯(lián)的溝下拉管和并聯(lián)的P P溝上拉管組成溝上拉管組成 當(dāng)當(dāng)A=B=1,NA=B=1,N溝導(dǎo)通,溝導(dǎo)通,P P溝截止,溝截止,V V
14、OUTOUT=0=0; 當(dāng)當(dāng)A A或或B B或或A A,B=0,B=0,至少有一個(gè)至少有一個(gè)P P溝導(dǎo)通,溝導(dǎo)通,V VOUTOUT=1=1;CMOSCMOS或非門或非門v 基本思想:由并聯(lián)的基本思想:由并聯(lián)的N N溝下拉管和串聯(lián)的溝下拉管和串聯(lián)的P P溝上拉管組成溝上拉管組成 當(dāng)當(dāng)A=B=0,NA=B=0,N溝截止,溝截止,P P溝導(dǎo)通,溝導(dǎo)通,V VOUTOUT=1=1; 當(dāng)當(dāng)A A或或B B或或A A,B=1,B=1,至少有一個(gè)至少有一個(gè)N N溝導(dǎo)通,溝導(dǎo)通,V VOUTOUT=0=0;CMOSCMOS三態(tài)反相門三態(tài)反相門v 指輸出邏輯除了為低電平和高電平外,還可得到第三態(tài),即高阻抗態(tài),
15、指輸出邏輯除了為低電平和高電平外,還可得到第三態(tài),即高阻抗態(tài),這時(shí)輸出不受輸入這時(shí)輸出不受輸入A A的影響。的影響。 當(dāng)當(dāng)S=S=邏輯邏輯1,1,等同于一般反相器;等同于一般反相器; 當(dāng)當(dāng)S=S=邏輯邏輯0 0,則為高阻狀態(tài);,則為高阻狀態(tài);v 基本思想:由一個(gè)晶體管串和控制端基本思想:由一個(gè)晶體管串和控制端S S組成。組成。CMOSCMOS傳輸門傳輸門 t=0,t=0,兩管同時(shí)導(dǎo)通;兩管同時(shí)導(dǎo)通; 充電:電流同時(shí)流過并聯(lián)的兩管充電:電流同時(shí)流過并聯(lián)的兩管 當(dāng)當(dāng)VOUTVOUT=V=VDDDD-V-VTNTN時(shí),時(shí),N N溝截止溝截止 電流仍可流過電流仍可流過P P溝繼續(xù)充電溝繼續(xù)充電 最終輸
16、出電壓可完全達(dá)到最終輸出電壓可完全達(dá)到V VDDDD; 放電:放電:P P溝首先截止,溝首先截止,N N溝仍能流過電流,最終輸出電壓可完全降到溝仍能流過電流,最終輸出電壓可完全降到0 0;5.4 雙極型電路與雙極型電路與MOS電路比較電路比較雙極型電路與雙極型電路與MOS電路的比較電路的比較區(qū)別區(qū)別BJTBJT管輸出電流管輸出電流I IC C為常數(shù)時(shí)的電壓為常數(shù)時(shí)的電壓V VCECE仍很小,仍很小,MOSMOS管輸出電流管輸出電流I IDSDS接近常接近常數(shù)時(shí)的電壓數(shù)時(shí)的電壓V VGSGS-V-VT T要比要比V VCECE大很多;大很多;BJTBJT管輸出電流隨輸入電壓上升的變化比管輸出電流
17、隨輸入電壓上升的變化比MOSMOS管的快很多;管的快很多;BJTBJT管存在基極電流;管存在基極電流;性能比較性能比較 優(yōu)點(diǎn)優(yōu)點(diǎn) 缺點(diǎn)缺點(diǎn):高速時(shí)對(duì)電容負(fù)載具有較強(qiáng)的電流驅(qū)動(dòng)能力高速時(shí)對(duì)電容負(fù)載具有較強(qiáng)的電流驅(qū)動(dòng)能力 BJTBJT可靠性高可靠性高電路形式復(fù)雜電路形式復(fù)雜功耗大功耗大 優(yōu)點(diǎn)優(yōu)點(diǎn) 缺點(diǎn)缺點(diǎn):功耗低功耗低 MOSMOS結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠性低可靠性低電流驅(qū)動(dòng)能力低電流驅(qū)動(dòng)能力低各種電路比較總結(jié)各種電路比較總結(jié)TTLTTL電路電路:具有中等速度,門延遲小于:具有中等速度,門延遲小于1ns1ns,可靠性高,功耗大;,可靠性高,功耗大;STLSTL電路電路:具有中等速度,較高的集成度和較低的功耗;:具有中等速度,較高的集成度和較低的功耗;ECLECL電路電路:速度最快,內(nèi)部門延遲小于:速度最快,內(nèi)部門延遲小于1
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