絕緣性能測試學(xué)習(xí)教案

1、會計(jì)學(xué)1絕緣性能測試絕緣性能測試(csh)第一頁，共45頁。倒相法原理2第1頁/共44頁第二頁，共45頁。3西林電橋(din qio)的基本回路 tg212112CCtgCtgCtg 221CCC第2頁/共44頁第三頁，共45頁。4損耗電流(dinli)矢量分別在x軸和y軸進(jìn)行投影：tantancxrcxIC UIIC U第3頁/共44頁第四頁，共45頁。5121222rrrcccIIIIII112212112212() / 2 /() / 2() / ()rcxxxxxxxxItgIC UtgC UtgC UC UC tgCtgCC1212x1x22()/ 2Cx = (C +C)/ 2cc

2、cxxxIIICC UC U又由，即故第4頁/共44頁第五頁，共45頁。6第5頁/共44頁第六頁，共45頁。7第6頁/共44頁第七頁，共45頁。8第7頁/共44頁第八頁，共45頁。9第8頁/共44頁第九頁，共45頁。10局部放電的三電容模型局部放電的三電容模型(mxng)Cg：氣泡的電容：氣泡的電容Cb：和：和Cg相串聯(lián)部分的介質(zhì)電容相串聯(lián)部分的介質(zhì)電容Ca：其余大部分絕緣的電容：其余大部分絕緣的電容 /gbgbuuCCC第9頁/共44頁第十頁，共45頁。11局部放電時氣隙中的電壓和電流的變化(binhu)，u是工頻電壓 tUCCCCCuCumbgbbgbgsin/ug隨外加電壓u升高，當(dāng)u上

3、升到Us瞬時值，ug到達(dá)Cg的放電電壓Ug時，Cg氣隙放電。于是Cg上的電壓一下子從Ug 下降到Ur，然后放電熄滅(xmi)。Ur叫做殘余電壓，它可以接近為零值，也可以為小于Ug（均絕對值）的其它值 氣泡電壓：放電過程約放電過程約10-8s數(shù)量級數(shù)量級第10頁/共44頁第十一頁，共45頁。12局部(jb)放電時氣隙中的電壓和電流的變化 bgbsgCCCuu/第11頁/共44頁第十二頁，共45頁。13局部放電時氣隙中的電壓和電流(dinli)的變化 當(dāng)外部電壓u進(jìn)入下降(xijing)半波，Cg上電壓難以充到Ug，因此不會發(fā)生放電；隨著u進(jìn)入負(fù)的半波，Cg上的電壓要經(jīng)歷一個反向充電的過程，直到達(dá)

4、到Ug，重新開始新一次的放電第12頁/共44頁第十三頁，共45頁。14局部放電時氣隙中的電壓(diny)和電流的變化 第13頁/共44頁第十四頁，共45頁。15babaggCCCCCC/babagrgrCCCCCUUq/第14頁/共44頁第十五頁，共45頁。16babagrgrCCCCCUUq/bargbCCUUCU/第15頁/共44頁第十六頁，共45頁。17bargbCCUUCU/AqUCbabagrgrCCCCCUUq/AgababCCC CCC1rbababgabqUCC CCCCCCrbabqq CCC AqU C 第16頁/共44頁第十七頁，共45頁。18表征局部表征局部(jb)(j

5、b)放電的重要參數(shù)放電的重要參數(shù)AqU C 第17頁/共44頁第十八頁，共45頁。19第18頁/共44頁第十九頁，共45頁。20brgbgrgrCUUCCqUUqW2/2/bgbsgCCCUU/grgsUUUUqW2/ 2sWq U 放電能量的大小對電介質(zhì)的老化放電能量的大小對電介質(zhì)的老化(lohu)速度有很大影速度有很大影響響第19頁/共44頁第二十頁，共45頁。21形和頻率、電壓的作用時間、環(huán)境的溫度及濕度和氣壓等第20頁/共44頁第二十一頁，共45頁。22第21頁/共44頁第二十二頁，共45頁。23（a）串聯(lián)測量(cling)回路 Ck耦合電容，為耦合電容，為Cx與檢測與檢測阻抗阻抗Zm

6、之間提供一個低阻抗的之間提供一個低阻抗的通道（電源本身由于高頻感抗而通道（電源本身由于高頻感抗而無法提供），無法提供）， Ck內(nèi)部必須無局內(nèi)部必須無局放，值較大以增大放，值較大以增大Zm上的信上的信號；號；Z低通濾波器，以防局放時放低通濾波器，以防局放時放電脈沖被電源的雜散電容旁路，電脈沖被電源的雜散電容旁路，同時也可阻止電源本身的干擾脈同時也可阻止電源本身的干擾脈沖進(jìn)入試品和測量支路沖進(jìn)入試品和測量支路第22頁/共44頁第二十三頁，共45頁。24（b）并聯(lián)）并聯(lián)(bnglin)測量回路測量回路 （c）橋式測量回路）橋式測量回路適合適合(shh)于試品一端接地的情于試品一端接地的情況況外部干擾

7、外部干擾(gnro)在在Zm和和Zm上上的干擾的干擾(gnro)信號基本抵消信號基本抵消測量儀器：示波器，峰值表，脈沖計(jì)數(shù)器測量儀器：示波器，峰值表，脈沖計(jì)數(shù)器檢測結(jié)果標(biāo)的量是檢測結(jié)果標(biāo)的量是視在放電量視在放電量第23頁/共44頁第二十四頁，共45頁。253/1 . 1mU第24頁/共44頁第二十五頁，共45頁。26第25頁/共44頁第二十六頁，共45頁。27第26頁/共44頁第二十七頁，共45頁。281.屏蔽屏蔽2.試驗(yàn)中所使用的設(shè)備應(yīng)盡量采用試驗(yàn)中所使用的設(shè)備應(yīng)盡量采用(ciyng)無暈設(shè)備，特別是試驗(yàn)變壓器和耦合電無暈設(shè)備，特別是試驗(yàn)變壓器和耦合電容容Ck。3.濾波器的性能要好，要做到電

8、源與測量回路的高頻隔離。濾波器的性能要好，要做到電源與測量回路的高頻隔離。4.試驗(yàn)時間應(yīng)盡量選擇在干擾較小的時段，如夜間等。試驗(yàn)時間應(yīng)盡量選擇在干擾較小的時段，如夜間等。5.測量回路的參數(shù)配合要適當(dāng)，測量回路的參數(shù)配合要適當(dāng)， 耦合電容要盡量不小于試品電容耦合電容要盡量不小于試品電容Cx，使得在局部放，使得在局部放電時電時Cx與與Ck間能很快地轉(zhuǎn)換電荷。間能很快地轉(zhuǎn)換電荷。6.必須對測量設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。必須對測量設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。第27頁/共44頁第二十八頁，共45頁。29第28頁/共44頁第二十九頁，共45頁。30第29頁/共44頁第三十頁，共45頁。31第30頁/共44頁第三十一頁，共45頁。3

9、2第31頁/共44頁第三十二頁，共45頁。33第32頁/共44頁第三十三頁，共45頁。34第33頁/共44頁第三十四頁，共45頁。故障類型主要?dú)怏w組分次要?dú)怏w組分油過熱CH4，C2H4H2，C2H6油和紙過熱CH4，C2H4，CO，CO2H2，C2H6油紙絕緣中局部放電H2，CH4，COC2H2，C2H6，CO2油中火花放電H2，C2H2油中電弧H2，C2H2CH4，C2H4，C2H6油和紙中電弧H2，C2H2，CO，CO2CH4，C2H4，C2H635第34頁/共44頁第三十五頁，共45頁。36第35頁/共44頁第三十六頁，共45頁。37第36頁/共44頁第三十七頁，共45頁。38第37頁/共44頁第三十八頁，共45頁。生事故的現(xiàn)象。n電力設(shè)備運(yùn)行(ynxng)電壓越來越高，而現(xiàn)行的部分預(yù)防性試驗(yàn)電壓偏低，如介質(zhì)損耗的測量，難以真實(shí)反映運(yùn)行(ynxng)電壓下的絕緣性能。39第38頁/共44頁第三十九頁，共45頁。40第39頁/共44頁第四十頁，共45頁。41第40頁/共44頁第四十一頁，共45頁。42第41頁/共44頁第四十二頁，共45頁。43第42頁/共44頁第四十三頁，共45頁。44辦公室監(jiān)測圖形化的數(shù)據(jù)特性；可視化數(shù)據(jù)圖表展示；綜合數(shù)據(jù)展現(xiàn)；人性化功能設(shè)計(jì)；支持Office等辦公文本(wnbn)接口