4參數(shù)掃描實(shí)驗(yàn)報(bào)告orCAD

1、實(shí) 驗(yàn) 報(bào) 告 實(shí)驗(yàn)名稱(chēng) 參數(shù)掃描分析統(tǒng)計(jì)分析 課程名稱(chēng) 電子電路計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)院 系 部: 電氣與電子工程學(xué)院 專(zhuān)業(yè)班級(jí)：電子1301學(xué)生姓名： 韓輝 學(xué) 號(hào): 1131230106同 組 人: 實(shí)驗(yàn)臺(tái)號(hào):指導(dǎo)教師： 高雪蓮 成 績(jī)： 實(shí)驗(yàn)日期:華北電力大學(xué)參數(shù)掃描一、實(shí)驗(yàn)原理1、溫度特性：溫度變化必然通過(guò)元器件參數(shù)值的變化導(dǎo)致電路特性的變化。PSpice中所有的元器件參數(shù)和模型參數(shù)都設(shè)定為常溫下的值（默認(rèn)27C），在進(jìn)行基本分析的同時(shí)，可以用溫度分析指定不同的工作溫度。2、參數(shù)掃描分析：對(duì)指定的每個(gè)參數(shù)變化值，執(zhí)行一次相應(yīng)的直流、交流、瞬態(tài)電路分析?？梢赃M(jìn)行參數(shù)掃描分析的參數(shù)有：獨(dú)立電壓源

2、、獨(dú)立電流源、溫度、模型參數(shù)和全局參數(shù)。3、參數(shù)掃描分析的步驟：設(shè)置全局變量：（1）.將目標(biāo)元器件的值設(shè)置為參數(shù)，形式為參數(shù)名；（2）.從圖形符號(hào)庫(kù)中調(diào)出符號(hào)PARAM，在property設(shè)置中寫(xiě)入?yún)?shù)名（不帶大括號(hào)），并為該參數(shù)名設(shè)置一個(gè)具體數(shù)值參數(shù)。參數(shù)掃描分析設(shè)置：Options中的Parametric sweep，選中Global parameter，parameter填入?yún)?shù)名。二、實(shí)驗(yàn)結(jié)果1、RC電路溫度特性分析RC電路溫度特性分析實(shí)驗(yàn)的電路圖如圖4.1.1所示：圖4.1.1 RC電路溫度特性分析實(shí)驗(yàn)電路圖參數(shù)設(shè)置如圖4.1.2所示：圖4.1.2 溫度分析參數(shù)設(shè)置電路溫度特性分析結(jié)

3、果如圖4.1.3所示：圖4.1.3RC電路溫度特性分析結(jié)果2、差分電路溫度特性分析電路溫度特性分析實(shí)驗(yàn)的電路圖如圖4.1所示：圖4.2.1 差分電路溫度特性分析實(shí)驗(yàn)電路圖參數(shù)設(shè)置如圖4.2所示：圖4.2.2 溫度分析參數(shù)設(shè)置差分電路溫度特性分析結(jié)果如圖4.2.3所示：圖4.2.3差分電路溫度特性分析結(jié)果3、RC電路參數(shù)掃描分析RC電路參數(shù)掃描分析實(shí)驗(yàn)的電路圖如圖4.3.1所示：圖4.3.1 RC電路參數(shù)掃描分析實(shí)驗(yàn)電路圖參數(shù)設(shè)置如圖4.3.2所示：圖4.3.2 參數(shù)掃描參數(shù)設(shè)置RC電路參數(shù)掃描分析結(jié)果如圖4.3.3所示：圖4.3.3 RC電路參數(shù)掃描分析結(jié)果4、差分電路參數(shù)掃描分析差分電路參數(shù)

4、掃描分析實(shí)驗(yàn)的電路圖如圖4.4.1所示：圖4.4.1 RC電路參數(shù)掃描分析實(shí)驗(yàn)電路圖參數(shù)設(shè)置如圖4.4.2所示：圖4.4.2 參數(shù)掃描參數(shù)設(shè)置差分電路參數(shù)掃描分析結(jié)果如圖4.4.3所示：圖4.4.3 差分電路參數(shù)掃描分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)分析一、實(shí)驗(yàn)原理1、蒙特卡洛分析：首先根據(jù)實(shí)際情況確定元器件值分布規(guī)律，然后多次“重復(fù)”進(jìn)行指定的電路特性分析，每次分析是采用的元器件值都從元器件值分布著隨機(jī)抽樣，這樣元器件值不完全相同，代表了實(shí)際情況。 完成多次電路特性分析后，對(duì)各次分析結(jié)果進(jìn)行綜合統(tǒng)計(jì)分析，得到電路特性的分析變化規(guī)律。2、最壞情況分析：按引起電路特性向同一方向變化的要求，確定每個(gè)元器件的變化方向，然后再使這些元器件同時(shí)在相應(yīng)方向按其可能的最大范圍變化。最壞情況是一種極端情況，在實(shí)際中出現(xiàn)概率極低。但是最壞情況分析反映了電路設(shè)計(jì)質(zhì)量好壞。若最壞情況下電路特性也滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求，那么電路成品率肯定很高。二、 實(shí)驗(yàn)結(jié)果1、差分電路的蒙特卡洛分析差分電路的蒙特卡洛分析實(shí)驗(yàn)電路圖如圖4.5.1所示：圖4.5.1 差分電路的蒙特卡洛分析實(shí)驗(yàn)電路圖參數(shù)設(shè)置如圖4.5.2所示：圖4.5.2 蒙特卡洛分析參數(shù)設(shè)置差分電路的蒙特卡洛分析實(shí)驗(yàn)的分析結(jié)果如圖4.5.3所示：圖4.5.3 差分電路的蒙特卡洛分析結(jié)果2、差分電路的最壞情況分析實(shí)驗(yàn)電路圖如上圖4.