光伏電站IV曲線測試的意義課件

1、光伏電站IV曲線測試的意義本PPT不能作為光伏IV曲線測試標準或者標準的替代版本操作者應(yīng)嚴格按照IEC61829，IEC62446及相關(guān)參考標準進行測試，任何由于違反操作規(guī)程或者由于對本PPT誤讀造成的傷害或損失，德國GMC-I高美測儀不承擔(dān)連帶責(zé)任免責(zé)聲明IV曲線測試的目的 測量串開路電壓（Voc）和短路電流（Isc）以及極性。最大功率點電壓（Vmpp）、電流（Impp）和峰值功率（Pmax）的測量。光伏組件/組串填充系數(shù)FF的測量。識別光伏組件/陣列缺陷或遮光等問題。積塵損失、溫升損失，功率衰減、串并聯(lián)適配損失計算等IV曲線的基礎(chǔ)概念 Voc 開路電壓Isc 短路電流Vmpp最大功率點電壓

2、Impp最大功率點電流Pmax峰值功率IV曲線的基礎(chǔ)概念 填充因子FF是太陽能電池品質(zhì)的量度，定義為實際的最大輸出功率除以理想目標的輸出功率(IscVoc)， FF越大，太陽能電池的質(zhì)量越高。FF的典型值通常處于6085%，并由太陽能電池的材料和器件結(jié)構(gòu)決定。影響IV曲線的因素 輻照度越大，短路電流越大，輻照度對于開路電壓影響不大影響IV曲線的因素 溫度越高，開路電壓越小，溫度對短路電流影響不大影響IV曲線的因素 溫度一定的情況下，輻照度越高，組件輸出功率越大組件的IV曲線分析 STC狀態(tài)下的組件電參數(shù)組件的IV曲線分析 IV曲線測試儀測試的數(shù)值轉(zhuǎn)換到STC條件下的值和廠家出廠的datashe

3、et值進行對比才有意義IV曲線測試步驟 確保待測組串和逆變器斷開被測試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測試設(shè)備。根據(jù)被測試組件的特性、類型和數(shù)量對測試儀器進行設(shè)置。與I-V 曲線測試儀相關(guān)的輻照度計應(yīng)安裝成與陣列平面匹配，并對其進行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。在使用參考電池裝置的情況下，應(yīng)對其進行檢查，以確保其與被測陣列具有相同的電池技術(shù)，或者針對技術(shù)上的差異進行適當(dāng)?shù)男拚?。IV曲線測試步驟 I-V曲線測試儀使用電池溫度探頭時，它應(yīng)與組件后部緊密接觸，并且在朝向模塊中心的電池中心，同時檢查并且串Voc值在期望的范圍內(nèi)。在輻照度達到儀器要求值并穩(wěn)定時開始測試IV曲線測試接線 注意事

4、項：參考組件和待測組件保持水平背板溫度傳感器放置待測組件中心位置輻照度不穩(wěn)定時或過低時會影響STC換算 IV曲線評估 1、階梯或凹陷2、低電流3、低電壓4、圓膝5、豎直腿淺坡6、水平腿陡坡IV曲線評估-階梯或凹陷 I-V 曲線中的階梯或凹陷表示被測試的陣列或組件的不同區(qū)域之間的不匹配情況，可能會有如下情況引起：陣列或組件局部遮擋。陣列或組件局部污漬或以其他方式遮蔽（比如雪等）PV電池片/組件損壞。旁路二極管短路。注意：即使組件中只有一個單元被部分遮蔽也可能會導(dǎo)致相關(guān)的旁路二極管導(dǎo)通，并在曲線中產(chǎn)生一個凹陷。IV曲線評估-低電流 許多因素可以導(dǎo)致預(yù)期電流和測量電流之間的變化，這些總結(jié)如下陣列原因

5、：均勻污染條紋遮擋（縱向組件）污垢壩（縱向組件）光伏組件劣化建模原因：PV組件數(shù)據(jù)輸入錯誤錯誤地輸入多個并聯(lián)串IV曲線評估-低電流 測量原因：輻照傳感器校準或測量問題。輻射傳感器未安裝在陣列的平面中。I-V曲線測量時輻照度改變。反射效應(yīng)導(dǎo)致輻照傳感器記錄偏高的輻照度。輻照太低或太陽太接近地平線。IV曲線評估-低電壓 電壓變化的潛在原因包括以下陣列原因：.旁路二極管導(dǎo)通或短路。光伏串的組件數(shù)量錯誤。電勢誘導(dǎo)衰減（PID）。對整個電池片/組件/組串有明顯的、均勻的遮擋。建模原因：錯誤地輸入PV組件數(shù)據(jù)。錯誤輸入串中的組件數(shù)目。測量原因：PV電池溫度與測量值不同。IV曲線評估-圓膝 I-V 曲線的膝

6、蓋的倒圓可能是老化過程的表現(xiàn)。在得出結(jié)論之前，檢查I-V曲線的水平和垂直腿的斜率。如果它們已經(jīng)改變，則會在膝蓋的形狀中產(chǎn)生視覺上類似的效果。IV曲線評估-豎直腿中的淺坡 最大功率點（V mpp）和V oc之間的I-V曲線的后一部分的斜率受到對被測電路的串聯(lián)電阻的影響。增加的電阻將減小曲線的該部分中的斜率的陡度。串聯(lián)電阻增加的潛在原因包括：光伏配線損壞或故障（或電纜尺寸不足）。組件或陣列互連處故障（連接不良）。組件自身串聯(lián)電阻增加（電池片連接導(dǎo)致高阻或接線盒老化腐蝕）當(dāng)使用長電纜測試陣列時，這些電纜的電阻將影響曲線形狀，并可能對曲線產(chǎn)生影響，建議使用四線法測量IV曲線評估-水平腿的陡坡 I-V曲線上部的斜率變化可能是由于：PV電池中的分流路徑。組件I sc不匹配。錐形陰影或污垢（例如污垢壩）。如何利用IV曲線測試儀快速定位問題組件 測量組串發(fā)現(xiàn)曲線 有臺階依次遮擋單個組件，短路電流會下降，但曲線臺階基本不變當(dāng)遮擋到某個組