《牙周病學(xué)》課件7-牙周檢查-09

1、牙周病的檢查8患者知情同意牙周病檢查 詳細(xì)的問診客觀的檢查牙周病類型 嚴(yán)重程度準(zhǔn)確判斷制定最佳治療方案共同完成治療計劃牙周病的檢查口腔衛(wèi)生狀況牙齦的炎癥狀況牙周探診其他臨床檢查附著齦齦緣位置牙齒松動度食物嵌塞牙齒磨損X線檢查輔助診斷方法口腔衛(wèi)生狀況檢查內(nèi)容菌斑軟垢牙石口腔衛(wèi)生狀況 菌斑的檢查直接觀察法：肉眼或口鏡反光觀察，或使用探針尖的側(cè)面劃過牙面來判斷菌斑染色法：用菌斑顯示液（堿性品紅）對菌斑進(jìn)行染色口腔衛(wèi)生狀況 菌斑的檢查 菌斑指數(shù)（plaque index, PLI，Silness&Loe,1964） 0：在近牙齦區(qū)的牙面上無菌斑1：在近游離齦區(qū)的牙面上有薄的菌斑；肉眼看不見，只有用探針

2、尖的側(cè)面劃過牙面時才能發(fā)現(xiàn)2：在齦緣區(qū)或鄰面可用肉眼看見中等量的菌斑3：在齦緣區(qū)或鄰面可用肉眼看見大量的菌斑口腔衛(wèi)生狀況 軟垢的檢查 軟垢指數(shù)（debris index, DI，Greene&Vermillion，1964 ） 0：無軟垢或著色1：軟垢不超過牙面的1/32：軟垢占牙面的1/3至2/33：軟垢超過牙面的2/3口腔衛(wèi)生狀況 牙石的檢查直接用肉眼或通過口鏡觀察牙石在牙面上的覆蓋積，并結(jié)合使用探針，以探查齦下石情況口腔衛(wèi)生狀況 牙石的檢查 牙石指數(shù)（calculus index, CI, Greene&Vermillion，1964 ） 0：無牙石1：齦上牙石蓋住暴露的牙面不超過1/3

3、2：1/3齦上牙石蓋住暴露的牙面2/3， 或有斑點狀齦下牙石3：齦上牙石蓋住暴露的牙面2/3， 或齦下牙石連續(xù)而厚牙齦的炎癥狀況牙齦的色、形、質(zhì)反映牙齦炎癥的指標(biāo)牙齦指數(shù)出血指數(shù)牙齦的炎癥狀況 色、形、質(zhì)牙齦指數(shù) (Gingival index, GI)0=牙齦正常 1=牙齦輕度炎癥：輕度顏色改變，輕度水腫，探診不出血2=牙齦中度炎癥：顏色紅、水腫、光亮，探診出血3=牙齦重度炎癥：明顯紅和水腫、或有潰瘍，自發(fā)出血與臨床牙齦狀態(tài)的關(guān)系0.11.0為輕度齦炎1.12.0為中度齦炎2.13.0為重度齦炎牙齦的炎癥狀況 反映牙齦炎癥的指標(biāo)牙齦的炎癥狀況 反映牙齦炎癥的指標(biāo)出血指數(shù)（Bleeding I

4、ndex, BI, Mazza,1981 ）用牙周探針輕探入齦溝或袋內(nèi)，取出探針30秒后，觀察有無牙齦出血及其出血量0：牙齦健康，無炎癥及出血1：牙齦顏色有炎性改變，探診不出血2：探診后有點狀出血3：探診后出血沿牙齦緣擴散4：出血流滿并溢出齦溝5：自動出血牙齦的炎癥狀況 反映牙齦炎癥的指標(biāo)探診后出血 (bleeding on probing, BOP)探診后出血 即BOP陽性計算BOP陽性的位點占總受檢位點的百分比牙齦的炎癥狀況 溢膿 (purulent exudates, suppuration)牙周探診 最重要的牙周檢查方法牙周袋探診工具 牙周探針 頂端為鈍頭，直徑為0.5mm，有刻度常用

5、為 Williams 刻度探針（刻度為1，2，3，5，7，8，9，10mm）牙周袋探診技術(shù)牙周探針的使用方法持法：改良握筆法支點：口內(nèi)支點/口外支點方向：與牙體長軸平行，且緊貼牙面，避開牙石，直達(dá)袋底力量：20-25g牙周袋探診技術(shù)牙周探針的使用方法移動方式：提插式 圍繞每個牙的每個牙面進(jìn)行探查，以便發(fā)現(xiàn)牙周袋最深的部位及袋的形態(tài)在探查鄰面時，要緊貼接觸區(qū)處探入，探針可稍傾斜以便能探入接觸點下方齦谷處全口牙周探診時，要按一定順序進(jìn)行探診深度（Probing depth, PD）附著水平（Attachment level, AL）根分叉病變的探查牙周袋探診 探查的內(nèi)容牙周袋探診 探查的內(nèi)容探診深

6、度（Probing depth, PD）袋（溝）底至齦緣的距離 以mm為單位 每個牙記錄六個位點：頰側(cè)近中、中央、遠(yuǎn)中及舌側(cè)近中、中央、遠(yuǎn)中位點探診深度（PD）與炎癥的關(guān)系健康狀態(tài) 探針進(jìn)入結(jié)合上皮約2/3長牙齦炎 探針止在距結(jié)合上皮最根方0.1mm處牙周炎 探針超過結(jié)合上皮進(jìn)入炎癥區(qū)達(dá)健康結(jié)締組織冠方臨床探診深度常是超過組織學(xué)上袋底的實際位置 基礎(chǔ)治療后探診深度變淺的原因A：治療前齦緣位置 B：治療后齦緣位置 結(jié)締組織對探診的抵抗力增強，探針不再穿透 進(jìn)入結(jié)締組織中牙齦水腫消失組織學(xué)的袋底位置并無改變，臨床探診深度仍會減小 牙周袋探診 探查的內(nèi)容附著水平（Attachment level,

7、AL）附著喪失（Attachment loss, AL） 袋（溝）底至釉牙骨質(zhì)界的距離附著水平是反映牙周組織破壞程度的重要指標(biāo)之一有無附著喪失是區(qū)分牙周炎與齦炎的重要指標(biāo) 探診深度(PD)與附著水平(AL)PD不同 AL相同PD相同 AL不同炎癥與附著水平A牙周袋內(nèi)壁結(jié)締組織有炎癥細(xì)胞浸潤，膠原纖維破壞，探針進(jìn)入炎癥組織的底部。B 治療后水腫消退，炎癥組織被新生的膠原組織代替，探針進(jìn)入長結(jié)合上皮的冠方。ICT：炎癥細(xì)胞浸潤結(jié)締組織 PPD：探診袋深 PAL：探診附著喪失 R：齦退縮 Gain PAL：臨床附著獲得牙周炎經(jīng)治療后，炎癥組織中有新生的膠原纖維，又有長結(jié)合上皮形成，牙周探針止于長結(jié)合

8、上皮的冠方，臨床附著水平改善，成為臨床附著獲得（attachment gain） 牙周探診影響牙周探診準(zhǔn)確性的因素探診力量探入角度探針的粗細(xì)及形狀探針刻度的精確度牙石的阻擋牙齦炎癥程度牙周探診 根分叉病變的探查工具：普通的彎探針或Nabers探針 牙周探診 根分叉病變的探查方法：上頜磨牙，先探查頰側(cè)中央處的根分叉區(qū)，再從腭側(cè)分別探查近中和遠(yuǎn)中的根分叉區(qū)下頜磨牙，從頰側(cè)和舌側(cè)中央處分別探查根分叉區(qū) 牙周探診 根分叉病變的探查探查的內(nèi)容能否水平方向探入分叉區(qū)水平探入的深度分叉的大小有無釉質(zhì)突起根柱的長度根分叉區(qū)是否有牙齦覆蓋根分叉病變（Furcation involvement , FI ） Gl

9、ickman分度標(biāo)準(zhǔn)度：探針尖能探到根分叉的外形 但水平方向上不能探入；X線片：無明顯的骨吸收根分叉病變（Furcation involvement, FI） Glickman分度標(biāo)準(zhǔn)度：探針能從水平方向探入根分叉處，但尚有一部分牙槽骨存在，使探針不能貫通根分叉區(qū)X線片：可見根分叉處有小范圍的密度減低區(qū)，或僅見該處牙周膜增寬根分叉病變（Furcation involvement, FI） Glickman分度標(biāo)準(zhǔn)度：探針能貫通根分叉區(qū)，但仍有牙齦覆蓋X線片：顯示根分叉區(qū)有明顯的三角形骨吸收區(qū)根分叉病變（Furcation involvement, FI） Glickman分度標(biāo)準(zhǔn)度：根分叉完全

10、暴露通暢，無牙齦覆蓋X線片：該區(qū)骨質(zhì)消失呈透射區(qū)牙周探診 其它探查內(nèi)容齦下牙石分布情況及量的多少，并探查根面有無齲壞、根面形態(tài)、根面粗糙度等其他臨床檢查 附著齦的寬度附著齦與牙槽粘膜的區(qū)別 膜齦聯(lián)合的確定根據(jù)顏色牽拉唇頰時，能否移動用探針的側(cè)方沿牙槽粘膜向齦方推移，能否移動其他臨床檢查 附著齦的寬度變異大其他臨床檢查 齦緣位置正常位于釉牙骨質(zhì)界冠方2-3mm檢查時觀察有無齦退縮，腫脹、增生其他臨床檢查 牙齒松動度檢查方法記錄方法移動方向 頰舌向移動 有近遠(yuǎn)中向移動 有垂直向移動頰舌向移動幅度 1mm 1-2mm 2mm受牙根數(shù)目、牙根長度、患根數(shù)目及有無鄰牙等因素的影響X線檢查常用：根尖片（全口） 牙合翼片 X線檢查常用：曲面體層片牙槽骨高度正常：骨嵴頂位于釉牙骨質(zhì)界的根方1-2mm 距離超過2mm表明有牙槽骨吸收 臨床記錄牙槽骨吸收占根長的1/3、1/2、2/3骨吸收的分布：骨吸收在全口不同區(qū)域牙的分布情況吸收方式：水平型、垂直型、凹坑狀骨硬板情況：正常：清晰而有連續(xù)性牙周炎、牙合創(chuàng)傷：連續(xù)性中斷、模糊或消失靜止期或適應(yīng)性強者：可有增寬牙槽骨密度：密度減低，說明有牙槽骨吸收X線檢查 觀察內(nèi)容牙槽骨嵴頂情況正常：前牙 后牙前牙骨嵴頂變平或凹陷，后牙凹陷成杯狀或角形吸收，密度減低，骨硬板影像模糊或消失，說明牙槽