GB/T 16724.2-1996信息技術(shù)系統(tǒng)間的遠程通信和信息交換X.25DTE一致性測試第2部分：數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試套

TCS.35.100.20L79中華人民共和國國家標準CB/T167242-1996idtISO/IEC8882-2:1992信息技術(shù)系統(tǒng)間的遠程通信和信息交換！X.25DTE一致性測試第2部分：數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試套Informationtechnology-Telecommunicationandinformationexchangebetweensystems--x.25-DTEconformancetestingPart2:Datalinklayerconformancetestsuite1996-12-26發(fā)布1997-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T16724.2-1996前吉IS()/IEC前言引范圍2引用標準定義和縮略語3········一致性測試套數(shù)據(jù)鏈路層5抽象測試套…于PICS和PIXIT的抽象測試選擇規(guī)則6192附錄A(提示的附錄)-致性測試匯總矩陣209附錄B(提示的附錄)TTCN國際標準草案與國際標準的區(qū)別………·…………….……………….220

GB/T16724.2-1996本標準等同采用國際標準ISO/IEC8882-2：1992《信息處理·系統(tǒng)間遠程通信和信息交換X.25DTE一致性測試——第2部分：數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試套)。通過制定這項國家標準，有利于我國對網(wǎng)絡產(chǎn)品進行一致性測試，鑒于本標準主要規(guī)定數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試參數(shù)和用例，為了使用方便、準確，在參數(shù)表中保留原文GB/T16724在《信息技術(shù)系統(tǒng)間遠程通信和信息交換X.25DTE一致性測試》總標題下，目前包括以下3個部分：-第1部分：基本原理；-第2部分：數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試套;-第3部分：分組層一致測試套。本標準的附錄A和附錄B都是提示的附錄.本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標準由電子工業(yè)部標準化研究所歸口。本標準的起草單位：清華大學。本標準主要起草人：吳建平、尹霞、畢軍.

GB/T16724.2—1996ISO/IEC前言ISO(國際標準化組織)和IEC(國際電子委員會)構(gòu)成國際性標準的專門機構(gòu)。國家成員體（它們都是ISO或IEC的成員國)通過國際組織建立的各個技術(shù)委員會參與制定針對特定技術(shù)范圍的國際標準。ISO和IEC的各技術(shù)委員會在共同感興趣的領(lǐng)域內(nèi)進行合作。與ISO和IEC有聯(lián)系的其他官方和非官方國際組織也可參與國際標準的制定工作。對于信息技術(shù),ISO與IEC共同建立了一個聯(lián)合技術(shù)委員會,即ISO/IECJTC1,由聯(lián)合技術(shù)委員會提出的國際標準草案需分發(fā)給各國家成員體投票。發(fā)布一項國際標準，至少需要75%的參與表決的國家成員體投票贊成。國際標準ISO/IEC8882-2是由ISO/IECJTCI“信息技術(shù)"聯(lián)合技術(shù)委員會制定的。ISC)/IEC8882在《信息技術(shù)——系統(tǒng)間遠程通信和信息交換——X.25DTE一致性測試》總標題下，目前包括以下3個部分：一第1部分：基本原理；-第2部分：數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試套：第3部分：分組層一致測試套。附錄A和附錄B僅提供參考信息。

CB/T16724.2-1996本標準是X.25DTE一致性測試套中的數(shù)據(jù)鏈路層部分,在樹表結(jié)合標記法(TTCN)中描述。本標準的第1部分解釋本標準的目標及用途。本標準的第1章指出了本標準的范圍,它為本標準提供了實用性的客觀基礎(chǔ)。第2、3章分別指出了本標準使用的參考書目、定義和縮略語。第4章包括了有關(guān)一致性測試程序的信息。測試套結(jié)構(gòu)由表1中的組和分組定義。這個條款也給出了測試套的概貌。第5章包含X.25DTELAPB數(shù)據(jù)鏈路層協(xié)議的抽象測試套。最后，第6章提供了抽象測試的選擇規(guī)則、

中華人民共和國國家標準信息技術(shù)系統(tǒng)間的遠程通信和信息交換X.25DTE一致性測試第2部分：數(shù)據(jù)鏈路層一致性測試套Informationtechnology-Telecommunicationandinformationexchangebetwcensystems-X.25-DTEconrormancetesting-Part2.Datalinklayerconformancetestsuite本標準定義了一個抽象測試套,它用來測試與GB/T14399或CCITTX.25(1980,1984)有關(guān)的IUT數(shù)據(jù)鏈路層的一致性。數(shù)據(jù)終端設(shè)備(DTE)與以上國家標準或CCITT的一致性測試通過測試器與DTE之間的專門電路實現(xiàn)。要引起注意的是CCTTTX.25：1980和X.25:1984是從DCE的角度來寫的，因此并不明確定義DTE的操作。在這種情況下隱含表明一個DTE的操作被包括了，因為有與X.25DCE通信的需要。本標準不包括CCITT推薦中給以的LAP過程的測試。注：對擴展操作（modulo128)，多鏈路過程和DTE-DTE操作CB/T14399在以后會有進一步討論。本標準是為三種可能交互工作情況設(shè)計的，在圖1中表示，本標準指明了圖1所示三種情況的測試，但承認并不是每個測試都能應用到某一種別的DTE。一一個測試選擇過程必須被執(zhí)行以確定一個測試在某DTE上的可應用性。這樣的選擇以PICS和PIXIT為基礎(chǔ)。DTEDCECX.25LAPB84）（基于GB／T14399-1993)DTE(GB/T14399-1993)DTE(基于X.25LAPB84）(X.25LAPB84）DTEDCE（基于X.25LAPB80）（基于X.25LAPB80）圖1X.25-DTE/DCE和X.25-DTE/DTE互工作的測試在本標準的其余部分，術(shù)語"X.25標準”表示全部三個CCITTX.25:1980,CCITTX.25:1984和GB/T14399在內(nèi)，否則將特