標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 22181.23-2012《等離子體顯示器件 第2-3部分:模塊顯示質(zhì)量測量方法》是針對等離子體顯示器件(PDP)模塊在顯示質(zhì)量方面的測量方法進(jìn)行規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于對等離子體顯示面板及其組件的質(zhì)量控制、性能評估以及產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證過程中的測試需求。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),主要涉及了以下幾個方面的內(nèi)容:

  1. 定義與術(shù)語:明確了與等離子體顯示技術(shù)相關(guān)的專業(yè)術(shù)語和定義,為后續(xù)章節(jié)中使用的術(shù)語提供了統(tǒng)一解釋。

  2. 測試條件:詳細(xì)規(guī)定了進(jìn)行各項(xiàng)測試時所需滿足的環(huán)境條件,包括但不限于溫度、濕度、電源電壓等參數(shù),以確保測試結(jié)果的一致性和可比性。

  3. 亮度特性測量:介紹了如何準(zhǔn)確測量等離子體顯示器的最大亮度、最小亮度以及對比度等關(guān)鍵指標(biāo)的方法,并指出了這些參數(shù)對于評價顯示效果的重要性。

  4. 色彩再現(xiàn)能力評估:闡述了通過特定軟件或硬件工具來檢測和分析等離子體顯示屏色彩準(zhǔn)確性的方式,涵蓋色域覆蓋率、灰階過渡平滑度等方面。

  5. 響應(yīng)時間測定:描述了用于確定等離子體顯示設(shè)備從一種狀態(tài)切換到另一種狀態(tài)所需時間的技術(shù)手段,這對于理解動態(tài)圖像的表現(xiàn)尤為關(guān)鍵。

  6. 視角依賴性研究:提供了一套系統(tǒng)化的方法論來考察不同觀察角度下圖像質(zhì)量的變化情況,幫助制造商優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)以適應(yīng)更廣泛的使用場景。

  7. 其他相關(guān)測試項(xiàng)目:還包括了一些輔助性的檢測項(xiàng)目如噪聲水平、功耗等,旨在全面覆蓋影響用戶體驗(yàn)的所有因素。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2012-12-31 頒布
  • 2013-06-01 實(shí)施
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GB/T 22181.23-2012等離子體顯示器件第2-3部分:模塊顯示質(zhì)量測量方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31120

L47.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2218123—2012

.

等離子體顯示器件

第2-3部分模塊顯示質(zhì)量測量方法

:

Plasmadisplaypanels—

Part2-3Measurinmethodsformoduleualit

:gqy

2012-12-31發(fā)布2013-06-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T2218123—2012

.

目次

前言…………………………

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語和定義………………

31

標(biāo)準(zhǔn)測量條件……………

42

環(huán)境條件……………

4.12

照明條件……………

4.22

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置條件………………………

4.32

測量方法…………………

53

缺陷單元的測量方法………………

5.13

圖像殘留的測量方法………………

5.27

壽命的測量方法……………………

5.39

圖測量系統(tǒng)布局…………………………

13

圖顯示區(qū)域的定義及示例………………

24

圖綠屏的暗缺陷及其亮度水平…………

34

圖白屏的亮缺陷及其亮度水平…………

45

圖黑屏的亮缺陷及其亮度水平…………

55

圖其他顏色的亮缺陷及其亮度水平……………………

65

圖圖像殘留的測量圖形…………………

77

圖圖像殘留的測量位置…………………

88

圖壽命測量的穩(wěn)定過程………………

910

圖壽命測量的例子……………………

1010

表缺陷點(diǎn)觀測的輸入信號………………

16

表缺陷點(diǎn)記錄舉例………………………

26

表圖像殘留系數(shù)測量舉例全屏紅色…………………

3()9

GB/T2218123—2012

.

前言

等離子體顯示器件分為以下幾個部分

GB/T22181《》:

第部分術(shù)語與文字符號

———1:(GB/T22181.1—2008,IEC61988-1:2003,IDT)

第部分光學(xué)參數(shù)測量方法

———2-1:(GB/T22181.21—2008,IEC61988-2-1:2002,IDT)

第部分光電參數(shù)測量方法

———2-2:(GB/T22181.22—2008,IEC61988-2-2:2003,IDT)

第部分模塊顯示質(zhì)量測量方法

———2-3:;

第部分視覺質(zhì)量測量方法

———2-4:;

第部分機(jī)械接口

———3-1:;

第部分電子接口

———3-2:;

第部分氣候和機(jī)械試驗(yàn)方法

———4:;

第部分總規(guī)范

———5:;

第部分?jǐn)?shù)字電視機(jī)用等離子體顯示模塊空白詳細(xì)規(guī)范

———6:;

第部分高清數(shù)字電視機(jī)用等離子體顯示模塊詳細(xì)規(guī)范

———6-1:;

第部分標(biāo)清數(shù)字電視機(jī)用等離子體顯示模塊詳細(xì)規(guī)范

———6-2:。

本部分為的第部分

GB/T221812-3。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口

本部分起草單位集團(tuán)股份有限公司

:TCL。

本部分主要起草人閆曉林黃衛(wèi)東房艷榮

:、、。

GB/T2218123—2012

.

等離子體顯示器件

第2-3部分模塊顯示質(zhì)量測量方法

:

1范圍

的本部分給出了在下列領(lǐng)域內(nèi)確定表征等離子體顯示模塊的性能的測量方法

GB/T22181:

缺陷

a);

圖像殘留

b);

壽命

c)。

本部分適用于等離子體顯示模塊的顯示質(zhì)量測量

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

,,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概本和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

電視廣播接收機(jī)測量方法第部分一般考慮射頻和視頻電性能測量

GB/T17309.1—19981:

及顯示性能的測量

(idtIEC60107-1:1995)

等離子體顯示器件第部分術(shù)語與文字符號

GB/T22181.1—20081:(IEC61988-1:2003,IDT)

等離子體顯示器件第部分光學(xué)參數(shù)測量方法

GB/T22181.21—20082-1:(IEC61988-2-1:

2002,IDT)

多媒體系統(tǒng)與設(shè)備色彩測量和管理第部分

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