標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 2423.23-1995 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之一，全稱為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q：密封》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸、儲(chǔ)存及使用過(guò)程中對(duì)于密封性能要求的試驗(yàn)方法。其主要目的是通過(guò)模擬實(shí)際使用條件下的環(huán)境應(yīng)力來(lái)檢驗(yàn)產(chǎn)品的密封性是否滿足特定需求。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容，試驗(yàn)Q主要用于檢測(cè)產(chǎn)品外殼或內(nèi)部組件之間的密封效果，確保它們能夠有效防止外部物質(zhì)（如灰塵、水）進(jìn)入，同時(shí)也可阻止內(nèi)部液體或氣體泄漏。為了達(dá)到這一目的，標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了幾種不同的測(cè)試程序和技術(shù)參數(shù)設(shè)置，包括但不限于壓力變化、浸泡時(shí)間以及使用的介質(zhì)等。

此外，GB/T 2423.23-1995還對(duì)如何準(zhǔn)備試樣、選擇適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)設(shè)備和材料提出了具體要求，并給出了詳細(xì)的步驟說(shuō)明。這些指導(dǎo)原則有助于確保所有參與方都能按照統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行測(cè)試，從而保證結(jié)果的一致性和可靠性。

標(biāo)準(zhǔn)中還強(qiáng)調(diào)了安全注意事項(xiàng)，在進(jìn)行任何涉及高壓或有害物質(zhì)的操作時(shí)都必須嚴(yán)格遵守相關(guān)安全規(guī)程。同時(shí)，對(duì)于不同類型的產(chǎn)品可能需要采用略有差異的測(cè)試條件或方法，因此在實(shí)際應(yīng)用前仔細(xì)閱讀并理解整個(gè)文檔是非常重要的。


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  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.23-2013
  • 1995-01-27 頒布
  • 1995-08-01 實(shí)施
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GB/T 2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q：密封_第1頁(yè)
GB/T 2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q：密封_第2頁(yè)
GB/T 2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q：密封_第3頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

UDC621.3：620.193.29K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q：密封EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsTestQ:sealing1995-01-27發(fā)布1995-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

主題內(nèi)容與適用范圍2引用標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語(yǔ)4概述試驗(yàn)Qa:襯套、心軸和墊圈密封6試驗(yàn)Qe:容器的密封(漏氣)1試驗(yàn)Qd.容器的密封(漏液)8試驗(yàn)Qf:浸水……9試驗(yàn)Qk:用質(zhì)譜儀的示蹤氣體法10試驗(yàn)Ql:加壓漫漬試驗(yàn)…….試驗(yàn)Qm:內(nèi)部預(yù)先加壓的示蹤氣體密封試驗(yàn)附錄A試驗(yàn)Qa用的試驗(yàn)箱示例（補(bǔ)充件）……16附錄B試驗(yàn)Qe導(dǎo)則（補(bǔ)充件）118）附錄C試驗(yàn)Qd導(dǎo)則（補(bǔ)充件）……（19）附錄D試驗(yàn)Qk的試驗(yàn)參數(shù)間的相互關(guān)系（補(bǔ)充件)19）附錄E試驗(yàn)Qk導(dǎo)則(補(bǔ)充件)（22)附錄F武驗(yàn)Q1導(dǎo)則（補(bǔ)充件）（23)附錄G試驗(yàn)Qm導(dǎo)則(補(bǔ)充件)（24）

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)GB/T2423.23-1995試封代替GB2423.23-82GB2424.16-82EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsTestQ:sealing主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各種密封性能試驗(yàn)方法。試驗(yàn)Qa、Qe是粗檢，觀家從漏隙中冒出的氣泡;試驗(yàn)Qd是在加溫條件下觀家液體的滲漏;試驗(yàn)Qk、Qm是用示蹤氣體檢測(cè)細(xì)漏;試驗(yàn)Q、QI是在加壓條件下使液體通過(guò)漏隙進(jìn)入其中，然后測(cè)量其性能變化。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測(cè)各種電工電子產(chǎn)品的密封性能，也適用于其他密封零部件的密封性檢測(cè)，2引用標(biāo)準(zhǔn)GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則GB4208外殼防護(hù)等級(jí)的分類3術(shù)語(yǔ)3.1漏率1eakrate在已知漏泄處兩側(cè)壓差的情況下，單位時(shí)間內(nèi)流過(guò)漏泄處的給定溫度的干燥氣體量，注：采用國(guó)際單位制時(shí)，漏率為：Pa·m2/s在本標(biāo)準(zhǔn)中使用導(dǎo)出單位Pa·cm'/s和bar·cm'/s,這是因?yàn)樗鼈兣c工業(yè)上通常使用的量級(jí)較為接近的緣故。這里1Pa·m'/s=10Pa·cm2/s=10bar·cm/s3.2標(biāo)準(zhǔn)漏率standardleakrate在標(biāo)準(zhǔn)溫度和壓差條件下的漏率。就本標(biāo)準(zhǔn)而言，標(biāo)準(zhǔn)溫度是25C;標(biāo)準(zhǔn)壓差是10'Pa(lbar)。3.3測(cè)量漏率（R）measuredleakrate在規(guī)定條件下，使用規(guī)定的試驗(yàn)氣體所測(cè)得的給定器件的漏率。注：D測(cè)量漏率通常用氨作為試驗(yàn)氣體，在溫度為25C壓差為10Pa(1bar）下確定。為了與使用其他試驗(yàn)方法所確定的漏率相比較，調(diào)量漏率必須換算成等效標(biāo)準(zhǔn)漏率。3.4等效標(biāo)準(zhǔn)漏率（L）equivalentstandardleakrate在以空氣作為試驗(yàn)氣體情況下,給定器件的標(biāo)準(zhǔn)漏率。3.5漏泄時(shí)間常數(shù)(6）timeconstantofleakage假設(shè)保持漏泄處兩側(cè)壓差的變化率不變情況下，使其兩側(cè)壓力均衡所須的時(shí)間。。對(duì)本試驗(yàn)來(lái)說(shuō)，時(shí)間常數(shù)等于樣品的內(nèi)腔體積與等效標(biāo)準(zhǔn)漏率之比。3.6粗漏grosslea

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