標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 28634-2012 微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點分析》是一項國家標(biāo)準(zhǔn),主要針對使用電子探針顯微分析技術(shù)對塊狀試樣進(jìn)行定量點分析時所遵循的方法和程序進(jìn)行了規(guī)范。該標(biāo)準(zhǔn)適用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域內(nèi)需要精確測定樣品成分的研究工作。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),首先明確了電子探針顯微分析的基本原理:通過聚焦的電子束轟擊樣品表面產(chǎn)生特征X射線,并利用波長色散光譜儀(WDS)檢測這些特征X射線來確定元素種類及其含量。對于塊狀試樣的準(zhǔn)備,標(biāo)準(zhǔn)給出了具體要求,包括但不限于試樣的尺寸、平整度以及清潔程度等方面,以確保分析結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

在實際操作過程中,《GB/T 28634-2012》詳細(xì)規(guī)定了從樣品制備到數(shù)據(jù)分析整個流程的技術(shù)細(xì)節(jié)。比如,在選擇合適的加速電壓、束流強度等參數(shù)時需考慮待測元素及其濃度;同時,還強調(diào)了背景校正的重要性以及如何正確選取標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行標(biāo)定。此外,對于數(shù)據(jù)處理方法也做了說明,指出應(yīng)該采用適當(dāng)軟件來進(jìn)行定量計算,并給出了推薦使用的數(shù)學(xué)模型。

該標(biāo)準(zhǔn)還特別關(guān)注到了分析過程中的質(zhì)量控制問題,提出了實施定期維護(hù)儀器設(shè)備、開展內(nèi)部或外部比對測試等一系列措施來保證長期穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。同時,對于可能出現(xiàn)的誤差來源及影響因素進(jìn)行了討論,并建議采取相應(yīng)策略予以避免或減小其影響。


如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2012-07-31 頒布
  • 2013-02-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 28634-2012微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析_第1頁
GB/T 28634-2012微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析_第2頁
GB/T 28634-2012微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析_第3頁
GB/T 28634-2012微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析_第4頁
GB/T 28634-2012微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析_第5頁
免費預(yù)覽已結(jié)束,剩余11頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 28634-2012微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS7104099

N53..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T28634—2012/ISO224892006

:

微束分析電子探針顯微分析

塊狀試樣波譜法定量點分析

Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—

Quantitativepointanalysisforbulkspecimenusingwavelength

dispersiveX-rayspectroscopy

(ISO22489:2006,IDT)

2012-07-31發(fā)布2013-02-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T28634—2012/ISO224892006

:

目次

前言…………………………

引言…………………………

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

縮略語……………………

31

定量過程…………………

41

實驗報告…………………

56

附錄資料性附錄物理效應(yīng)和校正…………………

A()8

附錄資料性附錄不同校正方法概述………………

B()9

附錄規(guī)范性附錄有化學(xué)效應(yīng)的k比值測量……………………

C()“”10

參考文獻(xiàn)……………………

11

GB/T28634—2012/ISO224892006

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則編寫

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定

ISO22489:2006《

量點分析英文版

》()。

本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改

:

用-6替代

10ppm。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人曾毅李香庭吳偉

:、、。

GB/T28634—2012/ISO224892006

:

引言

電子探針顯微分析已經(jīng)廣泛應(yīng)用于材料的化學(xué)成分定量分析這是一種有代表性的儀器分析電

。,

子探針儀使用的方便性已經(jīng)得到了很大改善要用這種有力的工具獲得準(zhǔn)確的定量結(jié)果需要正確地

。,

使用儀器為了獲得可靠的數(shù)據(jù)還需要最佳的操作程序例如試樣制備特征射線強度測量和由

。,:、XX

射線強度計算濃度等本標(biāo)準(zhǔn)給出了這些標(biāo)準(zhǔn)操作程序如果應(yīng)用不正確的定量分析方法會產(chǎn)生錯誤

,。

的結(jié)果因此為了獲得準(zhǔn)確的結(jié)果需要制定定量分析的標(biāo)準(zhǔn)方法

,,。

GB/T28634—2012/ISO224892006

:

微束分析電子探針顯微分析

塊狀試樣波譜法定量點分析

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用電子探針或者掃描電鏡的波譜儀通過電子束與試樣相互作用產(chǎn)

(SEM)(WDS),

生的射線對試樣微米尺度體積內(nèi)的元素進(jìn)行定量分析的要求

X。

內(nèi)容包括

:

定量分析原理

———;

本方法涉及的元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的一般范圍

———、;

儀器的一般要求

———;

有關(guān)試樣制備實驗條件的選擇分析測量等的基本過程及報告

———、、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子束垂直入射要求定量分析的塊狀試樣表面平滑均勻?qū)x器和數(shù)據(jù)處理軟件

,、。

沒有特殊的要求使用者應(yīng)該從儀器制造廠家獲得儀器安裝條件詳細(xì)的操作程序及儀器說明書

。、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

GB/T4930(ISO14595,IDT)

微束分析能譜法定量分析

GB/T17359—2012(ISO22309,IDT)

波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則

GB/T27025—2006(ISO17470:2004,IDT)

檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求

GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)

微束分析電子探針顯微分析波譜法實驗參數(shù)的測定導(dǎo)則

ISO14594(Guidelinesforthe

determinationofexperimentalparametersforwavelengthdispersivespectroscopy)

3縮略語

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用,未經(jīng)授權(quán),嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等,侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本(可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性,一經(jīng)售出,不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致,所以下載的文檔中可能包含空白頁,非文檔質(zhì)量問題。

評論

0/150

提交評論