材料表面層性能測(cè)試方法_第1頁(yè)
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利用具有一定光澤度的標(biāo)準(zhǔn)參照樣板與實(shí)際涂覆零件表面進(jìn)行目測(cè)對(duì)照以評(píng)定光澤度的方法光澤度標(biāo)準(zhǔn)參照樣板分級(jí)為1級(jí)光澤度樣板以加工標(biāo)定粗糙度為0.04μm<Ra<0.06μm的銅(或鐵質(zhì))試片,在電鍍光亮鎳套鉻后拋光而成2級(jí)光澤度樣板以加工標(biāo)定粗糙度為0.08μm<Ra<0.16μm的銅(或鐵質(zhì))試片,在電鍍光亮鎳套鉻后拋光而成3級(jí)光澤度樣板以加工標(biāo)定粗糙度為0.16μm<Ra<0.32μm的銅(或鐵質(zhì))試片,在電鍍光亮鎳套鉻后拋光而成4級(jí)光澤度樣板以加工標(biāo)定粗糙度為0.32μm<Ra<0.63μm的銅(或鐵質(zhì))試片,在電鍍光亮鎳套鉻后拋光而成評(píng)定操作在規(guī)定的測(cè)試條件下,與標(biāo)樣樣板比較,被檢樣品與標(biāo)樣某一等級(jí)相似,又低于更高一級(jí)的樣板,就定為該級(jí)別光澤度等級(jí)表面粗糙度的檢測(cè)檢測(cè)方法樣板對(duì)照法檢測(cè)輪廓儀法(觸針?lè)ǎz測(cè)干涉顯微鏡法散斑法顯微鏡調(diào)焦法掃描隧道顯微鏡法將待測(cè)樣品置于顯微鏡的物鏡下,(與普通金相檢驗(yàn)相同),保持被測(cè)面在水平方向的平行,調(diào)節(jié)物鏡(或載物臺(tái)),首先聚焦于視野內(nèi)的最高峰點(diǎn),然后在移動(dòng)物鏡,聚焦于同一視野內(nèi)的最低谷點(diǎn),物鏡移動(dòng)的距離即為該視野內(nèi)最大峰谷高度hy重復(fù)操作,測(cè)定一組hy,即可求出其平均值表面粗糙度的檢測(cè)檢測(cè)方法樣板對(duì)照法檢測(cè)輪廓儀法(觸針?lè)ǎz測(cè)干涉顯微鏡法散斑法顯微鏡調(diào)焦法掃描隧道顯微鏡法使用掃描隧道顯微鏡測(cè)定粗糙度可以獲得0.01nm的垂直方向分辨率和0.5nm的水平方向分辨率孔隙率檢測(cè)常用的孔隙率檢測(cè)方法

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